JPH0372379U - - Google Patents

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JPH0372379U
JPH0372379U JP13265289U JP13265289U JPH0372379U JP H0372379 U JPH0372379 U JP H0372379U JP 13265289 U JP13265289 U JP 13265289U JP 13265289 U JP13265289 U JP 13265289U JP H0372379 U JPH0372379 U JP H0372379U
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Description

【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案の実施例の要部を示すブロツ
ク図、第2図は従来のIC試験装置の一部を示す
ブロツク図である。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 各チヤネルごとに、被試験素子へ印加するテス
    トパタンの通路の遅延時間を調整する遅延補償回
    路と、上記被試験素子からの出力の取込みタイミ
    ング信号の通路の遅延時間を調整する遅延補償回
    路とがそれぞれ設けられ、各チヤネルにおけるテ
    ストパタン出力、取込みタイミング信号をそれぞ
    れ基準タイミング信号に合せるように上記各遅延
    補償回路を調整するタイミング調整手段を有する
    IC試験装置において、 温度測定器と、 温度と対応させて各チヤネルごとに遅延量の補
    正データを記憶する補正データ回路と、 上記温度測定器の測定温度が所定値以上変化す
    ると、その時の温度と対応する補正データが上記
    補正データ回路に記憶されている場合は、その補
    正データを対応するチヤネルの遅延補償回路にそ
    の遅延量を補正するように設定し、補正データが
    補正データ回路に記憶されていない場合は、上記
    タイミング調整手段によるタイミング調整を行う
    と共に、その調整後の各遅延補償回路の遅延量と
    対応した補正データを上記補正データ回路に記憶
    する手段と、 を具備することを特徴とするIC試験装置。
JP13265289U 1989-11-15 1989-11-15 Ic試験装置 Expired - Lifetime JPH0742149Y2 (ja)

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JPH0372379U true JPH0372379U (ja) 1991-07-22
JPH0742149Y2 JPH0742149Y2 (ja) 1995-09-27

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