JPH037253B2 - - Google Patents
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- JPH037253B2 JPH037253B2 JP18233283A JP18233283A JPH037253B2 JP H037253 B2 JPH037253 B2 JP H037253B2 JP 18233283 A JP18233283 A JP 18233283A JP 18233283 A JP18233283 A JP 18233283A JP H037253 B2 JPH037253 B2 JP H037253B2
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- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 48
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 25
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 23
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 18
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims description 7
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 7
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 5
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000007526 fusion splicing Methods 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
- G01M11/333—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face using modulated input signals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
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- G01M11/335—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face using two or more input wavelengths
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- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
（技術分野）
本発明は、光フアイバの伝送帯域を高精度に測
定する方法および装置に関する。
定する方法および装置に関する。
（従来技術とその問題点）
光フアイバの伝送帯域は、通信路としての性能
を支配する重要な特性であり、これを精度良く測
定することは極めて重要である。
を支配する重要な特性であり、これを精度良く測
定することは極めて重要である。
従来、光フアイバの伝送帯域測定は、第１図に
示すように、信号発生器２により適当な信号波形
（パルスあるいは正弦波）で変調された光源１か
らの出力光を励振用ダミーフアイバ３を介して、
被測定光フアイバ５に入射させ、被測定光フアイ
バの出射端で光検出器６により受光される光信号
を信号処理部７にて処理することにより、伝送帯
域を測定する。
示すように、信号発生器２により適当な信号波形
（パルスあるいは正弦波）で変調された光源１か
らの出力光を励振用ダミーフアイバ３を介して、
被測定光フアイバ５に入射させ、被測定光フアイ
バの出射端で光検出器６により受光される光信号
を信号処理部７にて処理することにより、伝送帯
域を測定する。
ここで、励振用ダミーフアイバ３と被測定光フ
アイバ５の接続は、Ｖ溝を用いたつき合わせ、あ
るいは融着接続等で行なわれていた。ところが、
光フアイバの伝送帯域は、被測定光フアイバの入
射端における励振条件に大きく依存する性質をも
つている。このため、励振用ダミーフアイバと被
測定光フアイバの接続状態によつて伝送帯域測定
値は変化しやすいという欠点があつた。これは、
被測定光フアイバのコア部が偏心している場合に
特に著しい。
アイバ５の接続は、Ｖ溝を用いたつき合わせ、あ
るいは融着接続等で行なわれていた。ところが、
光フアイバの伝送帯域は、被測定光フアイバの入
射端における励振条件に大きく依存する性質をも
つている。このため、励振用ダミーフアイバと被
測定光フアイバの接続状態によつて伝送帯域測定
値は変化しやすいという欠点があつた。これは、
被測定光フアイバのコア部が偏心している場合に
特に著しい。
このような原因による再現性の劣化を改善する
方法として、従来から行なわれている方法は、第
２図に示すように、励振用ダミーフアイバ３と被
測定光フアイバ５の接続点において、一方の光フ
アイバ端を微動可能な調心装置８に固定し、受光
部において受光される光出力が最大となるよう出
力レベルモニタ９により監視しながら接続部にお
いて光フアイバの軸調心を行なう方法である。し
かし、半導体レーザ等の伝送帯域測定用光源自体
が一般に出力安定度が悪い上に、被測定光フアイ
バを透過した光出力には不可避的にモード雑音と
呼ばれる出力変動が発生する。従つて上記のよう
に受光部において光出力が最大となるよう高精度
に軸調心を行なうことは極めて困難であつた。
方法として、従来から行なわれている方法は、第
２図に示すように、励振用ダミーフアイバ３と被
測定光フアイバ５の接続点において、一方の光フ
アイバ端を微動可能な調心装置８に固定し、受光
部において受光される光出力が最大となるよう出
力レベルモニタ９により監視しながら接続部にお
いて光フアイバの軸調心を行なう方法である。し
かし、半導体レーザ等の伝送帯域測定用光源自体
が一般に出力安定度が悪い上に、被測定光フアイ
バを透過した光出力には不可避的にモード雑音と
呼ばれる出力変動が発生する。従つて上記のよう
に受光部において光出力が最大となるよう高精度
に軸調心を行なうことは極めて困難であつた。
（発明の内容）
本発明は、かかる欠点を解消し、常に一定の励
振条件を実現して再現性良く光フアイバの伝送帯
域を測定する方法および装置を提供するものであ
る。
振条件を実現して再現性良く光フアイバの伝送帯
域を測定する方法および装置を提供するものであ
る。
このため本発明による方法は、伝送帯域測定用
光源としての半導体レーザと参照用光源としての
発光ダイオードの両光源からの出力光を励振用光
フアイバの一端に入射させ、該励振用光フアイバ
の他端を調心装置を介して被測定光フアイバに接
続し、該被測定光フアイバの出射端を受光部に結
合し、該受光部内で前記２つの光源からの光信号
を分離し、該分離された参照用光源からの信号を
励振用光フアイバと被測定光フアイバの接続状態
を最適とすべく調心装置を制御するための参照信
号とし、該分離されたもう一方の光源からの信号
を伝送帯域測定用信号とすることを特徴とする。
光源としての半導体レーザと参照用光源としての
発光ダイオードの両光源からの出力光を励振用光
フアイバの一端に入射させ、該励振用光フアイバ
の他端を調心装置を介して被測定光フアイバに接
続し、該被測定光フアイバの出射端を受光部に結
合し、該受光部内で前記２つの光源からの光信号
を分離し、該分離された参照用光源からの信号を
励振用光フアイバと被測定光フアイバの接続状態
を最適とすべく調心装置を制御するための参照信
号とし、該分離されたもう一方の光源からの信号
を伝送帯域測定用信号とすることを特徴とする。
また、本発明による装置は伝送帯域測定用光源
としての半導体レーザと、参照用光源としての発
光ダイオードと、両光源からの出力光を一端に入
射される励振用光フアイバと、該励振用光フアイ
バの他端に調心装置を介して接続された被測定光
フアイバと、該被測定光フアイバの出射端に結合
された受光部とを含み、該受光部内に前記２つの
光源からの光信号を分離する信号分離手段を有
し、該受光部に該信号分離手段により分離された
参照用光源からの信号を受ける励振用光フアイバ
と被測定光フアイバの接続状態を監視する出力レ
ベルモニタともう一方の光源からの信号を受ける
伝送帯域測定用信号処理部とを接続したことを特
徴とする。
としての半導体レーザと、参照用光源としての発
光ダイオードと、両光源からの出力光を一端に入
射される励振用光フアイバと、該励振用光フアイ
バの他端に調心装置を介して接続された被測定光
フアイバと、該被測定光フアイバの出射端に結合
された受光部とを含み、該受光部内に前記２つの
光源からの光信号を分離する信号分離手段を有
し、該受光部に該信号分離手段により分離された
参照用光源からの信号を受ける励振用光フアイバ
と被測定光フアイバの接続状態を監視する出力レ
ベルモニタともう一方の光源からの信号を受ける
伝送帯域測定用信号処理部とを接続したことを特
徴とする。
以下、本発明の内容を添附図に示した実施例に
沿つて説明する。
沿つて説明する。
第３図は本発明方法を実施するための装置構成
例を示し、同図において第１，２図と同一参照番
号は同一構成要素を示す。
例を示し、同図において第１，２図と同一参照番
号は同一構成要素を示す。
本装置においては、伝送帯域測定用光源（半導
体レーザ）１の他に、参照用光源１０として高度
に安定化された光源（LED光源例えば面発光ダ
イオードあるいは端面発光ダイオード）をもち、
その出力光が光合波器１１を介して励振用フアイ
バ３に導入されている。受光部において、これら
の２つの光源からの光信号を分離し、参照用光の
みの出力を参照しつつ、該出力が最大となるよう
出力レベルモニタ９により監視しながら接続部の
軸調心を行なえば、高精度な軸合せができる。
体レーザ）１の他に、参照用光源１０として高度
に安定化された光源（LED光源例えば面発光ダ
イオードあるいは端面発光ダイオード）をもち、
その出力光が光合波器１１を介して励振用フアイ
バ３に導入されている。受光部において、これら
の２つの光源からの光信号を分離し、参照用光の
みの出力を参照しつつ、該出力が最大となるよう
出力レベルモニタ９により監視しながら接続部の
軸調心を行なえば、高精度な軸合せができる。
受光部において参照用光出力のみを分離する方
法としては、第３図ａに示すように、伝送帯域測
定用光源と参照用光源の波長を離して設定し（こ
の場合0.05μm以上離せば十分である）、受光部に
おいて波長選択性のある分波器１２で両光出力を
分離するか、或は第３図ｂに示すように、参照用
光源に伝送帯域測定用信号の周波数と異なる一定
周波数の連続波形で変調をかけ、受光部におい
て、光検出器６の電気信号出力から該周波数の信
号成分のみを電気回路１３にて分離する等の方法
があるが、いずれも有効である。
法としては、第３図ａに示すように、伝送帯域測
定用光源と参照用光源の波長を離して設定し（こ
の場合0.05μm以上離せば十分である）、受光部に
おいて波長選択性のある分波器１２で両光出力を
分離するか、或は第３図ｂに示すように、参照用
光源に伝送帯域測定用信号の周波数と異なる一定
周波数の連続波形で変調をかけ、受光部におい
て、光検出器６の電気信号出力から該周波数の信
号成分のみを電気回路１３にて分離する等の方法
があるが、いずれも有効である。
このように、高度に安定化された参照用光を利
用して励振用光フアイバ３と被測定光フアイバ５
との高精度な軸合わせを行うことにより、被測定
光フアイバの励振条件が一定となるよう高度に制
御されて安定かつ精度の高い伝送帯域測定が可能
となる。
用して励振用光フアイバ３と被測定光フアイバ５
との高精度な軸合わせを行うことにより、被測定
光フアイバの励振条件が一定となるよう高度に制
御されて安定かつ精度の高い伝送帯域測定が可能
となる。
（発明の効果）
本発明における接続部の軸調心能力を調べるた
め、第３図ａの構成で接続点における軸ずれ量と
参照用光出力の関係を測定した。測定結果を第４
図に示す。使用した光フアイバのコア径は50μm
である。また、参照用光出力の時間変動を測定し
たところ１分間内の最大変動軸は0.01dB以下で
あつた。ここで参照用光源としてはLEDを用い
ている。第４図の結果から本発明方法によれば容
易に1μm以内の精度で軸合わせ可能であることが
わかる。一方、帯域測定用光出力（光源として半
導体レーザを用いた）の時間変動は、１分間内の
最大変動軸が0.3dBにも達した。第４図から、従
来の装置では5μmの程度の精度でしか調心できな
いことがわかる。
め、第３図ａの構成で接続点における軸ずれ量と
参照用光出力の関係を測定した。測定結果を第４
図に示す。使用した光フアイバのコア径は50μm
である。また、参照用光出力の時間変動を測定し
たところ１分間内の最大変動軸は0.01dB以下で
あつた。ここで参照用光源としてはLEDを用い
ている。第４図の結果から本発明方法によれば容
易に1μm以内の精度で軸合わせ可能であることが
わかる。一方、帯域測定用光出力（光源として半
導体レーザを用いた）の時間変動は、１分間内の
最大変動軸が0.3dBにも達した。第４図から、従
来の装置では5μmの程度の精度でしか調心できな
いことがわかる。
以上の結果から、本発明によれば、被測定光フ
アイバの励振条件を高度に制御でき、これによつ
て安定かつ精度の高い伝送帯域測定が可能となる
ことが明白である。また、本発明においては、極
めて安定な参照用信号が得られることから、この
参照用信号を用いて接続部を自動的に調心する装
置を付加することも極めて容易に実現し得る。
アイバの励振条件を高度に制御でき、これによつ
て安定かつ精度の高い伝送帯域測定が可能となる
ことが明白である。また、本発明においては、極
めて安定な参照用信号が得られることから、この
参照用信号を用いて接続部を自動的に調心する装
置を付加することも極めて容易に実現し得る。
第１図、第２図は、従来法による装置の構成図
である。第３図ａ，ｂは本発明に基づく装置の構
成図である。第４図は、本発明方法による接続点
における軸ずれ量と参照用光出力の関係を測定し
た結果を示すグラフである。 図面において１は伝送帯域測定光源、２は信号
発生器、３は励振用フアイバ、４は接続点、５は
被測定光フアイバ、６，６′は光検出器、７は信
号処理部、８は接続部調心機構、９は出力レベル
モニタ、１０は参照用光源、１１は光合波器、１
２は光分波器、１３は信号分離回路をそれぞれ示
す。
である。第３図ａ，ｂは本発明に基づく装置の構
成図である。第４図は、本発明方法による接続点
における軸ずれ量と参照用光出力の関係を測定し
た結果を示すグラフである。 図面において１は伝送帯域測定光源、２は信号
発生器、３は励振用フアイバ、４は接続点、５は
被測定光フアイバ、６，６′は光検出器、７は信
号処理部、８は接続部調心機構、９は出力レベル
モニタ、１０は参照用光源、１１は光合波器、１
２は光分波器、１３は信号分離回路をそれぞれ示
す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 伝送帯域測定用光源としての半導体レーザと
参照用光源としての発光ダイオードの両光源から
の出力光を励振用光フアイバの一端に入射させ、
該励振用光フアイバの他端を調心装置を介して被
測定光フアイバに接続し、該被測定光フアイバの
出射端を受光部に結合し、該受光部内で前記２つ
の光源からの光信号を分離し、該分離された参照
用光源からの信号を励振用光フアイバと被測定光
フアイバの接続状態を最適とすべく調心装置を制
御するための参照番号とし、該分離されたもう一
方の光源からの信号を伝送帯域測定用信号とする
ことを特徴とする光フアイバの伝送特性測定方
法。 ２ 伝送帯域測定用光源の波長と参照用光源の波
長とを0.05μm以上離し、受光部にて波長選択性
のある光分波器のより両光源からの光信号を分離
することを特性とする特許請求の範囲第１項記載
の方法。 ３ 参照用光源に伝送帯域測定用信号の周波数と
異なる一定の周波数の変調をかけ、受光部にて該
周波数の信号成分を電気回路により分離すること
を特徴とする特許請求の範囲第１項記載の方法。 ４ 伝送帯域測定用光源としての半導体レーザ
と、参照用光源としての発光ダイオードと、両光
源からの出力光を一端に入射される励振用光フア
イバと、該励振用光フアイバの他端に調心装置を
介して接続された被測定光フアイバと、該被測定
光のフアイバの出射端に結合された受光部とを含
み、該受光部内に前記２つの光源からの光信号を
分離する信号分離手段を有し、該受光部に該信号
分離手段により分離された参照用光源からの信号
を受ける励振用光フアイバと被測定光フアイバの
接続状態を監視する出力レベルモニタともう一方
の光源からの信号を受ける伝送帯域測定用信号処
理部とを接続してなる光フアイバの伝送特性測定
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18233283A JPS6073334A (ja) | 1983-09-30 | 1983-09-30 | 光フアイバの伝送特性測定方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18233283A JPS6073334A (ja) | 1983-09-30 | 1983-09-30 | 光フアイバの伝送特性測定方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6073334A JPS6073334A (ja) | 1985-04-25 |
| JPH037253B2 true JPH037253B2 (ja) | 1991-02-01 |
Family
ID=16116451
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18233283A Granted JPS6073334A (ja) | 1983-09-30 | 1983-09-30 | 光フアイバの伝送特性測定方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6073334A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0212804A3 (en) * | 1985-08-19 | 1989-04-05 | Tektronix, Inc. | Multiple wavelength optical fiber measurement system |
-
1983
- 1983-09-30 JP JP18233283A patent/JPS6073334A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6073334A (ja) | 1985-04-25 |
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