JPS6073334A - 光フアイバの伝送特性測定方法および装置 - Google Patents
光フアイバの伝送特性測定方法および装置Info
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- JPS6073334A JPS6073334A JP18233283A JP18233283A JPS6073334A JP S6073334 A JPS6073334 A JP S6073334A JP 18233283 A JP18233283 A JP 18233283A JP 18233283 A JP18233283 A JP 18233283A JP S6073334 A JPS6073334 A JP S6073334A
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- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 title claims description 27
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 12
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 21
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 16
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 13
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 4
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
- G01M11/333—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face using modulated input signals
-
- G—PHYSICS
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- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
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- G01M11/335—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face using two or more input wavelengths
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（技術分野）
本発明は、光ファイバの伝送帯域を高精度に測定する方
法および装置に関する。
法および装置に関する。
（従来技術とその問題点）
光ファイバの伝送帯域は、通信路としての性能を支配す
る重要な特性であり、これを精度良く測定することは極
めて重要である。
る重要な特性であり、これを精度良く測定することは極
めて重要である。
従来、光ファイバの伝送帯域測定は、第１図に示すよう
に、信号発生器２により適当な信号波形（パルスあるい
は正弦波）で変調された光源１からの出力光を励１辰用
ダミーファイバ３を介して、被測定光ファイバ５に入射
させ、被測定光ファイバの出射端で光検出器６により受
光される光信号を信号処理部７にて処理することにより
、伝送帯域を測定する。
に、信号発生器２により適当な信号波形（パルスあるい
は正弦波）で変調された光源１からの出力光を励１辰用
ダミーファイバ３を介して、被測定光ファイバ５に入射
させ、被測定光ファイバの出射端で光検出器６により受
光される光信号を信号処理部７にて処理することにより
、伝送帯域を測定する。
ここて、励振用ダミーファイバ３と被測定光ファイバ５
の接続は、Ｖ溝を用いたつき合わせ、あるいは融着接続
等で行なわれていた。ところが、光ファイバの伝送帯域
は、被測定光ファイバの入射端における励損条件に大き
く依存する性質をもっている。このため、励振用ダミー
ファイバと被測定光ファイバの接続状態によって伝送帯
域測定値は変化しやすいという欠点があった。これは、
被測定光ファイバのコア部が偏心している場合に特に著
しい。
の接続は、Ｖ溝を用いたつき合わせ、あるいは融着接続
等で行なわれていた。ところが、光ファイバの伝送帯域
は、被測定光ファイバの入射端における励損条件に大き
く依存する性質をもっている。このため、励振用ダミー
ファイバと被測定光ファイバの接続状態によって伝送帯
域測定値は変化しやすいという欠点があった。これは、
被測定光ファイバのコア部が偏心している場合に特に著
しい。
このような原因による再現性の劣化を改善する方法とし
て、従来から行なわれている方法は、第２図に示すよう
に、励損用ダミーファイバ３と被測定光ファイバ５の接
続点において、一方の光ファイバ端を微動可能な調心装
置８に固定し、受光部において受光される光出力が最大
となるよう出力レベルモニタ９により監視しながら接続
部において光ファイバの軸調心を行なう方法である。し
かし、半導体レーザ等の伝送帯域測定用光源自体が一般
に出力安定度が悪い上に、被測定光ファイバを透過した
光出力には不可避的にモード雑音と呼ばれる出力変動が
発生する。従って上記のように受光部において光出力が
最大となるよう高精度に軸調心を行なうことは極めて困
＠＋１であった。
て、従来から行なわれている方法は、第２図に示すよう
に、励損用ダミーファイバ３と被測定光ファイバ５の接
続点において、一方の光ファイバ端を微動可能な調心装
置８に固定し、受光部において受光される光出力が最大
となるよう出力レベルモニタ９により監視しながら接続
部において光ファイバの軸調心を行なう方法である。し
かし、半導体レーザ等の伝送帯域測定用光源自体が一般
に出力安定度が悪い上に、被測定光ファイバを透過した
光出力には不可避的にモード雑音と呼ばれる出力変動が
発生する。従って上記のように受光部において光出力が
最大となるよう高精度に軸調心を行なうことは極めて困
＠＋１であった。
（発明の内容）
本発明は、かかる欠点を解消し、常に一定の励振条件全
実現して再現性良く光ファイバの伝送帯域を測定する方
法および装置を提供するものである。
実現して再現性良く光ファイバの伝送帯域を測定する方
法および装置を提供するものである。
このため本発明による方法は、伝送帯域測定用光源と出
力が高安定な参照用光源の両光源からの出力光を励振用
光ファイバの一端に入射させ、該励振用光ファイバの他
端を調心装置を介して被測定ブＣファイバに接続し、該
被測定光ファイバの出射端を受光部に結合し、該受光部
内で前記２つの光源からの光信号を分離し、該分離され
た参照用光源からの信号を励振用光ファイバと被測定光
ファイバの接続状態を最適とすべく調心装置全制御する
ための参照信号とし、該分離されたもう一方の光源から
の信号全伝送帯域測定用信号とすることを％漱とする。
力が高安定な参照用光源の両光源からの出力光を励振用
光ファイバの一端に入射させ、該励振用光ファイバの他
端を調心装置を介して被測定ブＣファイバに接続し、該
被測定光ファイバの出射端を受光部に結合し、該受光部
内で前記２つの光源からの光信号を分離し、該分離され
た参照用光源からの信号を励振用光ファイバと被測定光
ファイバの接続状態を最適とすべく調心装置全制御する
ための参照信号とし、該分離されたもう一方の光源から
の信号全伝送帯域測定用信号とすることを％漱とする。
また、本発明による装置は伝送帯域測定用光源と、出力
が高安定な参照用光源と、両光源からの出力光を一端に
入射される励振用光ファイバと、該励振用元ファイバの
他端に調心装置を介して接続された被ｉＮ、ｌＩ定光フ
ァイバと、該被測定光ノア゛イバの出射端に結合された
受光部とを含み、該受光部内に前記２つの光源からの光
ｊ言置を分１ｔｆＩするイ装置分離手段を有し、該受光
部に該信号分離手段により分離された参照用光源からの
信号を受ける励振用光ファイバと被測定光ファイノ（の
接続状態を監視する出力レベルモニタともう一方の光源
からの信号金堂ける伝送帯域測定用信号処理部とを接続
したことを特徴とする。
が高安定な参照用光源と、両光源からの出力光を一端に
入射される励振用光ファイバと、該励振用元ファイバの
他端に調心装置を介して接続された被ｉＮ、ｌＩ定光フ
ァイバと、該被測定光ノア゛イバの出射端に結合された
受光部とを含み、該受光部内に前記２つの光源からの光
ｊ言置を分１ｔｆＩするイ装置分離手段を有し、該受光
部に該信号分離手段により分離された参照用光源からの
信号を受ける励振用光ファイバと被測定光ファイノ（の
接続状態を監視する出力レベルモニタともう一方の光源
からの信号金堂ける伝送帯域測定用信号処理部とを接続
したことを特徴とする。
以下、本発明の内容を添ト１」図に示した実施例に沿っ
て説明する。
て説明する。
第３図は本発明方法を実施するだめの装置構成例を示し
、同図において第１．２図と同−参ｆｆ＠番号は同一構
成要素を示す。
、同図において第１．２図と同−参ｆｆ＠番号は同一構
成要素を示す。
本装置においては、伝送帯域測定用光源１の他に、参照
用光源１０として高度に安定化さ４ｔた光源（例えばＬ
ＥＤ光源）をもち、その出力光が光合波ａｌｉｔ−介し
て励振用ファイノく３に導入されている。受光部におい
て、これら２つの光源からの光信号を分離し、参照用光
のみの出力を参照しつつ、該出力が最大となるよう出力
レベルモニタ９により監視しながら接続部の軸調心を行
なえば、高１青度な軸合せができる。
用光源１０として高度に安定化さ４ｔた光源（例えばＬ
ＥＤ光源）をもち、その出力光が光合波ａｌｉｔ−介し
て励振用ファイノく３に導入されている。受光部におい
て、これら２つの光源からの光信号を分離し、参照用光
のみの出力を参照しつつ、該出力が最大となるよう出力
レベルモニタ９により監視しながら接続部の軸調心を行
なえば、高１青度な軸合せができる。
受光部において参照用光出力のみを分離する方法として
は、第３図（、ｚ）に示すように、伝送帯域測定用光源
と参照用光源の波長を離して設定しくこの場合０．０５
μｍ以上離せば十分である）、受光部において波長選択
性のある分波器１２で両党出力を分離するか、或は第３
図（１））に示すように、参照用光源に伝送帯域（ａす
定角信号の周波数と異なる一定周波数の連続波形で変調
音かけ、受光部において、光検出器６の電気信号出力か
ら該周波数の１吉号成分のみを嘔気回路１３にて分離す
る等の方、去があるが、いずれも有効である。
は、第３図（、ｚ）に示すように、伝送帯域測定用光源
と参照用光源の波長を離して設定しくこの場合０．０５
μｍ以上離せば十分である）、受光部において波長選択
性のある分波器１２で両党出力を分離するか、或は第３
図（１））に示すように、参照用光源に伝送帯域（ａす
定角信号の周波数と異なる一定周波数の連続波形で変調
音かけ、受光部において、光検出器６の電気信号出力か
ら該周波数の１吉号成分のみを嘔気回路１３にて分離す
る等の方、去があるが、いずれも有効である。
このように、高麓に安定化された参照用光を利用して励
振用ファイバ３と被測定光ファイバ５との高２蒲度な軸
合わせを行うことにょシ、被測定光ファイバの励振条件
が一定となるよう高度に制御卸されて安定かつ精度の高
い伝送帯域測定が可能となる。
振用ファイバ３と被測定光ファイバ５との高２蒲度な軸
合わせを行うことにょシ、被測定光ファイバの励振条件
が一定となるよう高度に制御卸されて安定かつ精度の高
い伝送帯域測定が可能となる。
（発明の効果）
本発明における接続部の軸調心能力音調べるため、第３
図（α）の構成で接続点（でおける軸ずれ量と参’Ｉｔ
（を出光出力の間係を測定した。１ｌｌｌｌ定結果全第
４図に示す。使用した光ファイバのコア径は５０μｍで
ある。また、参照用光出力の時間変動を測定したところ
１分間内の最大変動幅は０．０１ ｄＢ以下であった。
図（α）の構成で接続点（でおける軸ずれ量と参’Ｉｔ
（を出光出力の間係を測定した。１ｌｌｌｌ定結果全第
４図に示す。使用した光ファイバのコア径は５０μｍで
ある。また、参照用光出力の時間変動を測定したところ
１分間内の最大変動幅は０．０１ ｄＢ以下であった。
ここで参照用光源としてはＬＥＤｔ用いている。第４図
の結果から本発明方法によれば容属に１μｍ以内の精度
て軸合わせ可能であることがわかる。一方、帯域測定用
光出力（光源として半導体レーザを用いた）の時間変動
は、１分間内の最大変動１層が０．８ ｄＢにも達した
。第４図から、従来の装置では５Ａｍ程夏の精度でしか
調心できないことがわかる。
の結果から本発明方法によれば容属に１μｍ以内の精度
て軸合わせ可能であることがわかる。一方、帯域測定用
光出力（光源として半導体レーザを用いた）の時間変動
は、１分間内の最大変動１層が０．８ ｄＢにも達した
。第４図から、従来の装置では５Ａｍ程夏の精度でしか
調心できないことがわかる。
以上の結果から、本発明によれば、被ホ１ｊ定光ファイ
バの励振条件を高度に１ｔｌｌｉ即でき、これによって
安定かつ精度の高い伝送帯域測定が可能となることが明
白である。また、本発明においては、極めて簀定な参照
用信号が得られることから、この参照用信号を用いて接
続部を自動的に調心する装置全付加することも極めて容
易に実現し得る。
バの励振条件を高度に１ｔｌｌｉ即でき、これによって
安定かつ精度の高い伝送帯域測定が可能となることが明
白である。また、本発明においては、極めて簀定な参照
用信号が得られることから、この参照用信号を用いて接
続部を自動的に調心する装置全付加することも極めて容
易に実現し得る。
第１図、第２図は、従来法による装置の構成図である。
第３図（ｃＬｌ（ｂｌは本発明に基づく装置の構成図で
ある。 第４図は、本発明方法による接続点における軸ずれ量と
参照用光出力の関係を測定した結果を示すグラフである
。 図面において１は伝送帯域測定用光源、２（は信号発生
器、３は励振用ファイバ、４は接続点、５は′ｅ１．測
定光ファイバ、６．６′は光検出器、７は信号処理部、
８（は接り先部調心機構、９は出力レベルモニタ、１０
は参照用光源、１１は光合波器、１２は光分波器、１３
は旧号分離回路全それぞれ示す。 （外４名）
ある。 第４図は、本発明方法による接続点における軸ずれ量と
参照用光出力の関係を測定した結果を示すグラフである
。 図面において１は伝送帯域測定用光源、２（は信号発生
器、３は励振用ファイバ、４は接続点、５は′ｅ１．測
定光ファイバ、６．６′は光検出器、７は信号処理部、
８（は接り先部調心機構、９は出力レベルモニタ、１０
は参照用光源、１１は光合波器、１２は光分波器、１３
は旧号分離回路全それぞれ示す。 （外４名）
Claims (4)
- （１）伝送帯域測定用光源と出力が高安定な参照用光源
の両光源からの出力光を励振用光ファイバの一端に入射
させ、該励振用光ファイバの他端を調心装置を介して被
測定光ファイバに接続し、該被１ｔｉｌｌ定光フアイバ
の出射端を受光部に結合し、該受光部内で前記２つの光
源からの光信号を分離し、該分離された参照用光源から
の信号全励振用光ファイバと被ｔｔ１＋定光ファイバの
接続状態を最適とすべく調心装置ｔｆ ｆｌｌｌｉｌす
るだめの参照信号とし、該分離されたもう一方の光源か
らの信号を云送帯域両定用信号とすることを特徴とする
光ファイバの伝送特性測定方法。 - （２）伝送帯域ｚ１１］定用光源の波長と参照用光書の
波長とを０．０５μｍ以上離し、受光部にて波長選択性
のある光分波器Ｑτより両光源からの光信号を分離する
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の方法。 - （３）参照用光源に伝送帯域測定用信号の周波数と異な
る一定の周波数の変調をかけ、受光部にて該周波数の信
号成分を電気回路により分離することを特徴とする特許
請求の範囲第１項記載の方法。 - （４） 伝送帯域測定用光源と、出力が高安定な参照用
光源と、両光源からの出力光を一端に入射される励振用
光ファイバと、該励振用光ファイバの他端に調心装置を
介して接続された被測定光ファイバと、該被測定光ファ
イバの出射端に結合された受光部とを含み、該受光部内
に前記２つの光源からの光信号を分離する信号分離手段
を有し、該受光部に該信号分離手段により分離された参
照用光源からの信号を受ける励振用光ファイバと被測定
光ファイバの接続状態を監視する出力レベルモニタとも
う一方の光源からの信号を受ける伝送帯域測定用信号処
理部とを接続してなる光ファイバの伝送特性測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18233283A JPS6073334A (ja) | 1983-09-30 | 1983-09-30 | 光フアイバの伝送特性測定方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18233283A JPS6073334A (ja) | 1983-09-30 | 1983-09-30 | 光フアイバの伝送特性測定方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6073334A true JPS6073334A (ja) | 1985-04-25 |
| JPH037253B2 JPH037253B2 (ja) | 1991-02-01 |
Family
ID=16116451
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18233283A Granted JPS6073334A (ja) | 1983-09-30 | 1983-09-30 | 光フアイバの伝送特性測定方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6073334A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0212804A3 (en) * | 1985-08-19 | 1989-04-05 | Tektronix, Inc. | Multiple wavelength optical fiber measurement system |
-
1983
- 1983-09-30 JP JP18233283A patent/JPS6073334A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0212804A3 (en) * | 1985-08-19 | 1989-04-05 | Tektronix, Inc. | Multiple wavelength optical fiber measurement system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH037253B2 (ja) | 1991-02-01 |
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