JPH0373583A - 半導体レーザ光源装置 - Google Patents
半導体レーザ光源装置Info
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- JPH0373583A JPH0373583A JP20794489A JP20794489A JPH0373583A JP H0373583 A JPH0373583 A JP H0373583A JP 20794489 A JP20794489 A JP 20794489A JP 20794489 A JP20794489 A JP 20794489A JP H0373583 A JPH0373583 A JP H0373583A
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- waveguide
- light
- laser light
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分W>
本発明は、発振スにクトルの線輻を決事化するとともに
、IIl波数を安定化し、コに一しント光通信等に使用
し得る半導体レーザ光源装置・に関する。
、IIl波数を安定化し、コに一しント光通信等に使用
し得る半導体レーザ光源装置・に関する。
〈従来の技術)
将来の大容嚢光通信方式の一つこして、コヒーレント光
通信方式に関する研究が近年活発に行なわれている。こ
の方式は、半導体レーザダイオードの出力光を注入電流
によって電接強度変調する従来の方式に比較して、大幅
に受信感度を改善できるεεもに、また光周波数の多重
を行なうここができる。:2に一しント光通信方式は、
充I[a>時間的コ1;−レンスを積極的に利用するた
めに、出来ろ限り狭い、例えば1〜0. I MHz
Q下の狭いスペクトル線幅を必要とする。しかしながら
、半導体レーザダイオード単位としては、スペクトル線
幅が数10MHzの特性のものしか得られていないため
、スペクトル線幅を大幅に狭窄化するものが必要である
。また、この方式は、光受信系のヘテロダイン検波にお
いて中間周波数の変動を押えるために光源の周波数安定
度を十分高めることが必要である。
通信方式に関する研究が近年活発に行なわれている。こ
の方式は、半導体レーザダイオードの出力光を注入電流
によって電接強度変調する従来の方式に比較して、大幅
に受信感度を改善できるεεもに、また光周波数の多重
を行なうここができる。:2に一しント光通信方式は、
充I[a>時間的コ1;−レンスを積極的に利用するた
めに、出来ろ限り狭い、例えば1〜0. I MHz
Q下の狭いスペクトル線幅を必要とする。しかしながら
、半導体レーザダイオード単位としては、スペクトル線
幅が数10MHzの特性のものしか得られていないため
、スペクトル線幅を大幅に狭窄化するものが必要である
。また、この方式は、光受信系のヘテロダイン検波にお
いて中間周波数の変動を押えるために光源の周波数安定
度を十分高めることが必要である。
このスペクトル線幅の狭窄化および周波数の安定化を行
なうために反射鏡または回折格子を半導体レーザダイオ
ードの外部に設けた従来の外部共振器を使用した半導体
レーザ光源装置について第5図(a)および(b)を参
照して説明する。
なうために反射鏡または回折格子を半導体レーザダイオ
ードの外部に設けた従来の外部共振器を使用した半導体
レーザ光源装置について第5図(a)および(b)を参
照して説明する。
第5図(a)は反射鏡を使用した従来の半導体レーザ光
源装置の構成図である。同図に示すように、半導体レー
ザダイオード1の一端に対向して屈折率分布型レンズ3
が設けられている。半導体レーザダイオード1と対向す
る屈折率分布型レンズ3の一端には反射防止膜6が設け
られており、屈折率分布型レンズ3の他端には、反射鏡
4が設けられ、この反射鏡4を挾んで例えばピエゾ素子
等を用いた微動位置合わせ装置5が設けられている。そ
して、これら前記屈折率分布型レンズ32反射!!4.
微動位置合わせ装置5および反射防止膜6によって外部
共liI器2が構成されている。
源装置の構成図である。同図に示すように、半導体レー
ザダイオード1の一端に対向して屈折率分布型レンズ3
が設けられている。半導体レーザダイオード1と対向す
る屈折率分布型レンズ3の一端には反射防止膜6が設け
られており、屈折率分布型レンズ3の他端には、反射鏡
4が設けられ、この反射鏡4を挾んで例えばピエゾ素子
等を用いた微動位置合わせ装置5が設けられている。そ
して、これら前記屈折率分布型レンズ32反射!!4.
微動位置合わせ装置5および反射防止膜6によって外部
共liI器2が構成されている。
また、図において、7はレーザダイオード1の活性層、
8ば外部共振N2内を通るレーザダイオード1からの出
射光ビーム、9は前記出射光ビーム8の反射鏡4による
反射戻り光ビーム、10はレーザダイオード1からの出
力光である。
8ば外部共振N2内を通るレーザダイオード1からの出
射光ビーム、9は前記出射光ビーム8の反射鏡4による
反射戻り光ビーム、10はレーザダイオード1からの出
力光である。
このように構成された半導体レーザ光源装置において、
レーザダイオード1から出射光ビーム8を屈折率分布型
レンズ3に入射させろと、該レンズ3を通過して反射鏡
4にて反射し、反射戻り光ビーム9としてレーザダイオ
ード1に結合する。その電力比をη2、レーザダイオー
ド1の活性層7の一端面と反射鏡4との間との間隔をL
1レーザダイオード1単体時のスペクトルの線幅および
中心周波数をそれぞれδf、f とすると、この外部反
射鏡付半導体レーザ光源装置そのスペクトル線幅δfお
よび発振周波数fは近似的には次式%式% (1) (2) ここで、A、B、Cはレーザダイオード1の材質、構造
等によって決る定数であり、Cは光速である。
レーザダイオード1から出射光ビーム8を屈折率分布型
レンズ3に入射させろと、該レンズ3を通過して反射鏡
4にて反射し、反射戻り光ビーム9としてレーザダイオ
ード1に結合する。その電力比をη2、レーザダイオー
ド1の活性層7の一端面と反射鏡4との間との間隔をL
1レーザダイオード1単体時のスペクトルの線幅および
中心周波数をそれぞれδf、f とすると、この外部反
射鏡付半導体レーザ光源装置そのスペクトル線幅δfお
よび発振周波数fは近似的には次式%式% (1) (2) ここで、A、B、Cはレーザダイオード1の材質、構造
等によって決る定数であり、Cは光速である。
式(1)、+2)かられかるように、スペクトル線幅δ
fおよび中心周波数fは間隔りに対してに波長の周期で
変動し、ηLの大きさを大きくする程、スペクトル線幅
δfを狭くできろ。
fおよび中心周波数fは間隔りに対してに波長の周期で
変動し、ηLの大きさを大きくする程、スペクトル線幅
δfを狭くできろ。
例えば、1.5μm帯InG5AspH分布帰還型半導
体レーザ素子を用いて、L、= −10am。
体レーザ素子を用いて、L、= −10am。
η=−10%とした場合、スペクトル線幅δfとして−
100kHzの特性が得られろ。
100kHzの特性が得られろ。
第5図(a)の装置の場合、スペクトル線幅δfわよび
中心周波数fを安定に保つために、ピエゾ素子等を用い
た微動位置合わせ装置5によって反射1[4を機械的に
最適な位置に調整している。しかしながら、間隔りの大
きさの変動を0.01μm以下の極めて微細な量に抑え
る必要があるため微動位置合わせ装置5の制御機構が極
めて複雑になるとともに、更にわずかな機械的振動や温
度変動等によって屈折率分布型レンズ3および反射鏡4
が軸ずれを生じ、ηが変動して動作が不安定になり易く
なっている。
中心周波数fを安定に保つために、ピエゾ素子等を用い
た微動位置合わせ装置5によって反射1[4を機械的に
最適な位置に調整している。しかしながら、間隔りの大
きさの変動を0.01μm以下の極めて微細な量に抑え
る必要があるため微動位置合わせ装置5の制御機構が極
めて複雑になるとともに、更にわずかな機械的振動や温
度変動等によって屈折率分布型レンズ3および反射鏡4
が軸ずれを生じ、ηが変動して動作が不安定になり易く
なっている。
第5図(b)は回折格子を使用した従来の半導体レーザ
光源装置の構成図である。同図の装置は、前述した第5
図(alの装置におけろ屈折率分布型レンズ3および反
射鏡4の代りにそれぞれレンズ11およびグレーテイン
グ板12を使用するとともに、このグレーテイング板1
2が取り付けられる微動位置合わせ装置5の面を角度θ
傾斜させて構成しているものである。グレーテイング板
12は波長フィルタ機能を持たせた反射鏡になっており
、その設置傾斜角度θを適当に設定することによりレー
ザダイオード1の出射光ビーム8のうち特定波長のもの
を選択して反射戻り光ビーム9としてレーザダイオード
1に戻している。
光源装置の構成図である。同図の装置は、前述した第5
図(alの装置におけろ屈折率分布型レンズ3および反
射鏡4の代りにそれぞれレンズ11およびグレーテイン
グ板12を使用するとともに、このグレーテイング板1
2が取り付けられる微動位置合わせ装置5の面を角度θ
傾斜させて構成しているものである。グレーテイング板
12は波長フィルタ機能を持たせた反射鏡になっており
、その設置傾斜角度θを適当に設定することによりレー
ザダイオード1の出射光ビーム8のうち特定波長のもの
を選択して反射戻り光ビーム9としてレーザダイオード
1に戻している。
このように構成された第5図(b)の半導体レーザ光源
装置においては、スペクトル中心周波数fを角度θによ
って可変できるとともに、更に第5図(a)の装置に比
較して、特定の周波fifの光のみをレーザダイオード
1にフィードバックするようにしているので、スペクト
ル中心周波数fを安定化できるようになっている。なお
、この装置においても、スペクトル線幅δfは式(1)
の関係で与えられる。しかしながら、ピエゾ素子等から
なろw!ll111位置合わせ装置5によってグレーテ
イング板12の位置合わせ制御を機械的に行なっている
ので第5図(a)の装置の場合と同様に微動位置合わせ
装置5の制御機構が極めて複雑になっている。
装置においては、スペクトル中心周波数fを角度θによ
って可変できるとともに、更に第5図(a)の装置に比
較して、特定の周波fifの光のみをレーザダイオード
1にフィードバックするようにしているので、スペクト
ル中心周波数fを安定化できるようになっている。なお
、この装置においても、スペクトル線幅δfは式(1)
の関係で与えられる。しかしながら、ピエゾ素子等から
なろw!ll111位置合わせ装置5によってグレーテ
イング板12の位置合わせ制御を機械的に行なっている
ので第5図(a)の装置の場合と同様に微動位置合わせ
装置5の制御機構が極めて複雑になっている。
〈発明が解決しようとする課題〉
上述したように、従来の半導体レーザ光源装置では、微
動位置合わせ装置の制御機構が極めて複雑になるととも
に、わずかな機械的振動や温度変動等により光学的軸ず
れが発生し、ηが変動して不安定になるという問題があ
る。
動位置合わせ装置の制御機構が極めて複雑になるととも
に、わずかな機械的振動や温度変動等により光学的軸ず
れが発生し、ηが変動して不安定になるという問題があ
る。
本発明は、上記に鑑みてなされたもので、その目的とす
るところは、発振スペクトルの線幅を狭窄化するととも
に、周波数を安定化した半導体レーザ光源装置を提供す
ることにある。
るところは、発振スペクトルの線幅を狭窄化するととも
に、周波数を安定化した半導体レーザ光源装置を提供す
ることにある。
〈課題を解決するための手段〉
上記目的を達成する本発明の半導体レーザ光源装置にか
かる構成は、レーザ光を発生するレーザ光発生手段と、
前記レーザ光発生手段に隣接して設置されている半導体
基板と、該半導体基板に形成され、一端が前記レーザ光
発生手段の出射端面に対向し光結合して配設されている
少なくとも1つの量子井戸構造半導体から成る光導波路
と、該光導波路に電圧を印加する電極と、前記半導体基
板に形成され、一端が前記光導波路の他端に接続されて
いる量子井戸構造半導体から成るグレーティング導波路
と、該グレーティング導波路に電圧を印加する電極とを
有することを要旨とする。
かる構成は、レーザ光を発生するレーザ光発生手段と、
前記レーザ光発生手段に隣接して設置されている半導体
基板と、該半導体基板に形成され、一端が前記レーザ光
発生手段の出射端面に対向し光結合して配設されている
少なくとも1つの量子井戸構造半導体から成る光導波路
と、該光導波路に電圧を印加する電極と、前記半導体基
板に形成され、一端が前記光導波路の他端に接続されて
いる量子井戸構造半導体から成るグレーティング導波路
と、該グレーティング導波路に電圧を印加する電極とを
有することを要旨とする。
く作
用〉
本発明の半導体レーザ光源装置では、レーザ光発生手段
からの出射光は、半導体基板に形成されている光導波路
を通ってグレーティング導波路に達し、グレーティング
導波路のフィルタ機能によって選択された波長の光のみ
が反射され、光導波路を通ってレーザ光発生手段から出
射される。ここで、グレーティング導波路における反射
戻り光の波長選択およびレーザ光発生手段の出射端面か
らグレーティング導波路までの実効的光波長は、光導波
路、グレーティング導波路中に含まれる皿子井戸構造の
半導体の電気光学的効果を利用すれば電気的に*aする
ことができろ。即ち量子井戸構造の半導体に外部より電
界を印加すると、吸収端近傍の波長の光に対する吸収係
数が著しく変化することが知られており(J、 E、
Znekerら人pp1. Phys、 Lett、
vol、 52. P945.1988) 、これに
伴い屈折率も通常のバルク結晶に比べて大きな変化が生
じる(H,NagiiらElect、 Lett、 、
vol。
からの出射光は、半導体基板に形成されている光導波路
を通ってグレーティング導波路に達し、グレーティング
導波路のフィルタ機能によって選択された波長の光のみ
が反射され、光導波路を通ってレーザ光発生手段から出
射される。ここで、グレーティング導波路における反射
戻り光の波長選択およびレーザ光発生手段の出射端面か
らグレーティング導波路までの実効的光波長は、光導波
路、グレーティング導波路中に含まれる皿子井戸構造の
半導体の電気光学的効果を利用すれば電気的に*aする
ことができろ。即ち量子井戸構造の半導体に外部より電
界を印加すると、吸収端近傍の波長の光に対する吸収係
数が著しく変化することが知られており(J、 E、
Znekerら人pp1. Phys、 Lett、
vol、 52. P945.1988) 、これに
伴い屈折率も通常のバルク結晶に比べて大きな変化が生
じる(H,NagiiらElect、 Lett、 、
vol。
22、 P2S5.1986 )。この外部電界による
屈折率変化分Δnは吸収係数変化分Δaとは独立ではあ
り得ず、Kramers−X+Qi i(の関係式で結
ばれている。第6図に、量子井戸構造半導体における外
部電界F印加による吸収係数の変化分Δaと屈折率変化
分Δnの波長λ依存性を示す。
屈折率変化分Δnは吸収係数変化分Δaとは独立ではあ
り得ず、Kramers−X+Qi i(の関係式で結
ばれている。第6図に、量子井戸構造半導体における外
部電界F印加による吸収係数の変化分Δaと屈折率変化
分Δnの波長λ依存性を示す。
ここでは電界強度Fをパラメータにしている。
第6図に示すように、電界印加によりΔaの大きさは短
波長領域ではマイナス(吸収係数が減少)になり、長波
長領域ではプラス(吸収係数の増加)になる傾向を示す
。これに対しΔnの大きさは、短波長および長波長領域
(第6図(blのa、c)では増大し、中間の領域(第
6図(b)のb)の波長では、減少する傾向を示す。さ
らに、この特性の波長依存性(波長領域a、b、c)は
、量子井戸層の厚さにより制御でき、その厚さを薄くす
る程、波長領域a、b、cは短波長側にシフトする傾向
を示す。
波長領域ではマイナス(吸収係数が減少)になり、長波
長領域ではプラス(吸収係数の増加)になる傾向を示す
。これに対しΔnの大きさは、短波長および長波長領域
(第6図(blのa、c)では増大し、中間の領域(第
6図(b)のb)の波長では、減少する傾向を示す。さ
らに、この特性の波長依存性(波長領域a、b、c)は
、量子井戸層の厚さにより制御でき、その厚さを薄くす
る程、波長領域a、b、cは短波長側にシフトする傾向
を示す。
尚、量子井戸層に用いられろGaAgやGaAjAs
、 InGaAs 、 InGaAsP 、 InP等
の半導体バルク結晶は、外部より電界を印加するとポッ
ケルス効果のj14Jc光学効果により屈折率が変化す
ることが知られている(A、Yartv著。
、 InGaAs 、 InGaAsP 、 InP等
の半導体バルク結晶は、外部より電界を印加するとポッ
ケルス効果のj14Jc光学効果により屈折率が変化す
ることが知られている(A、Yartv著。
Introduction to 0ptical E
lectronies、 Ho1t Rinehart
and Winston社US人)。この電気光学効果
による屈折率変化の大きさΔnは半導体の材質により異
なり、また、結晶の方位によっても異なる。
lectronies、 Ho1t Rinehart
and Winston社US人)。この電気光学効果
による屈折率変化の大きさΔnは半導体の材質により異
なり、また、結晶の方位によっても異なる。
例えばGaAsやInP等の立方晶系の結晶点群43m
の構造をもつ半導体では、第7図に示すように、C軸(
[001]方向)に電界Fを印加すると、[110]方
位に伝搬するTEモードの光波【こ対しては、Δnがプ
ラス(屈折率が増加)になり、[110]方位に伝搬す
るTEモード光波に対してはマイナス(屈折率が減少)
になる。その大きさは電界強度Fに比例して変化する。
の構造をもつ半導体では、第7図に示すように、C軸(
[001]方向)に電界Fを印加すると、[110]方
位に伝搬するTEモードの光波【こ対しては、Δnがプ
ラス(屈折率が増加)になり、[110]方位に伝搬す
るTEモード光波に対してはマイナス(屈折率が減少)
になる。その大きさは電界強度Fに比例して変化する。
この電気光学効果による屈折率変化の大きさは、第6図
(blの量子井戸効果とは異なり、光の波長依存性は比
較的小さい。ただし、バルク結晶の禁制帯幅に対応する
吸収端近傍の波長の光に対しては、この吸収作用にもと
ずいて、第6図と同様な特性の屈折率の外部電界による
変化があり、この効果は、波長依存性がある。
(blの量子井戸効果とは異なり、光の波長依存性は比
較的小さい。ただし、バルク結晶の禁制帯幅に対応する
吸収端近傍の波長の光に対しては、この吸収作用にもと
ずいて、第6図と同様な特性の屈折率の外部電界による
変化があり、この効果は、波長依存性がある。
く実 施 例〉
第1図(a)、(blは本発明の−*M!1例であり、
第1図(1)はその中央部断面図、第4図(b)はその
斜視図を表わし、光の波長を1.5μm帯にする場合に
多重量子井戸層としてI nGaAg層を用いたもので
ある。
第1図(1)はその中央部断面図、第4図(b)はその
斜視図を表わし、光の波長を1.5μm帯にする場合に
多重量子井戸層としてI nGaAg層を用いたもので
ある。
第1図に示す半導体レーザ光源装置は、半導体レーザダ
イオード1は対向させて光学的に結合した外部共1tM
l・3を有している。この外部共振器13において、1
4はP側電極、15はp−InGaAs層、16はp−
1nPクラッド層、17はノンドープInPクラッド層
、18は周期的なグレーティング構造をもつノンドープ
I nGaAsP導波層、19はノンドープI nGa
Ag量子井戸層/InGiAsPバリ1層からなる多重
量子井戸層、20は表面が(001)面になっているn
−InP基板、21はn側電極である。ここで、長さり
、の光導波路22および周期がΔの周期構造になってい
る長さり。
イオード1は対向させて光学的に結合した外部共1tM
l・3を有している。この外部共振器13において、1
4はP側電極、15はp−InGaAs層、16はp−
1nPクラッド層、17はノンドープInPクラッド層
、18は周期的なグレーティング構造をもつノンドープ
I nGaAsP導波層、19はノンドープI nGa
Ag量子井戸層/InGiAsPバリ1層からなる多重
量子井戸層、20は表面が(001)面になっているn
−InP基板、21はn側電極である。ここで、長さり
、の光導波路22および周期がΔの周期構造になってい
る長さり。
のグレーティング導波路23はn−4nP基板上に半導
体結晶方位[110]の向きに形成されている。光導波
路22およびグレーティング導波路23の両端には電極
14.21を通して、電圧がそれぞれに−VP、 −V
、のマイナスの電圧が印加されている。
体結晶方位[110]の向きに形成されている。光導波
路22およびグレーティング導波路23の両端には電極
14.21を通して、電圧がそれぞれに−VP、 −V
、のマイナスの電圧が印加されている。
レーザダイオード1の活性層7と光導波路22とは光軸
が合せられて構成され、レーザダイオード1からの出射
光が光導波路22に効率良く結合できろようにしている
。またそれぞれの端面には反射防止1116が設けられ
ている。
が合せられて構成され、レーザダイオード1からの出射
光が光導波路22に効率良く結合できろようにしている
。またそれぞれの端面には反射防止1116が設けられ
ている。
グレーティング導波路23は周期へで構成され、第2図
に示すように特定波長の光のみを反射する特性を有して
いる。このグレー−ティング導波路23において、ブラ
ッグ波長、すなわちグレーティング導波路23からなる
フィルタの中心波長λ、におけろ最大電力反射率Roわ
よび反射特性の帯域幅Δλはグレーティング導波路の損
失が充分小さい時、次式で与えられる。
に示すように特定波長の光のみを反射する特性を有して
いる。このグレー−ティング導波路23において、ブラ
ッグ波長、すなわちグレーティング導波路23からなる
フィルタの中心波長λ、におけろ最大電力反射率Roわ
よび反射特性の帯域幅Δλはグレーティング導波路の損
失が充分小さい時、次式で与えられる。
R0=tmh” k L、 −(
、()λ52n、A/q ・・
・(5)ここで、n、!!グレーティング導波1123
の等価屈折率、qはブラッグ反射器の次数であり、整数
値をとる。kは結合係数であり、グレーティングの溝の
深さや導波路材料の屈折率の大きさ等により決まる定数
である。
、()λ52n、A/q ・・
・(5)ここで、n、!!グレーティング導波1123
の等価屈折率、qはブラッグ反射器の次数であり、整数
値をとる。kは結合係数であり、グレーティングの溝の
深さや導波路材料の屈折率の大きさ等により決まる定数
である。
従って、グレーティング導波lI23の材質。
構造、すなわち長さL1局期A1等価屈折率Ω1グレー
ティング溝の深さ等を適当に選択することにより、反射
特性の中心波長λ、を任意に設定することができる。更
に、電極に適当な電圧■3を印加することにより、導波
路の基板である多重量子井戸層19におけろ第6図に示
した電気光学効果を利用して、等係属折率n、を変化さ
せることができるので、式(6)の関係から反射特性の
中心波長λ、を電気的に変えることができる。
ティング溝の深さ等を適当に選択することにより、反射
特性の中心波長λ、を任意に設定することができる。更
に、電極に適当な電圧■3を印加することにより、導波
路の基板である多重量子井戸層19におけろ第6図に示
した電気光学効果を利用して、等係属折率n、を変化さ
せることができるので、式(6)の関係から反射特性の
中心波長λ、を電気的に変えることができる。
この場き、グレーティング導波路23は、電圧印加によ
り屈折率の変化が生じると同時に、第6図(alに示す
ように損失の変動が生じる。この損失変動はできる限り
小さい事が望しいので、光の波長λが1.5μ諏帯の時
、量子井戸層の厚さは、約70五前後の値を選定すれば
良い。この場合、量子井戸効果による屈折率変化の特性
は、波長λの大きさが第6開山)のC領域に入ることに
なり、電界印加によりΔnはプラスの値になり、屈折率
は増加する傾向を示す。また光導波Isは(i I O
)方向に形成しているので、半導体バルク結晶の屈折率
も、第7図に示すように、電界印加により増加する。こ
のため、光導波路部の屈折率は量子井戸効果とバルク結
晶の電気光学効果成分が相重なるために大きく変化する
ことになる。
り屈折率の変化が生じると同時に、第6図(alに示す
ように損失の変動が生じる。この損失変動はできる限り
小さい事が望しいので、光の波長λが1.5μ諏帯の時
、量子井戸層の厚さは、約70五前後の値を選定すれば
良い。この場合、量子井戸効果による屈折率変化の特性
は、波長λの大きさが第6開山)のC領域に入ることに
なり、電界印加によりΔnはプラスの値になり、屈折率
は増加する傾向を示す。また光導波Isは(i I O
)方向に形成しているので、半導体バルク結晶の屈折率
も、第7図に示すように、電界印加により増加する。こ
のため、光導波路部の屈折率は量子井戸効果とバルク結
晶の電気光学効果成分が相重なるために大きく変化する
ことになる。
一方、レーザダイオード1の端面からグレーティング導
波路23までの実効的光路長りは光導波路22の屈折率
をnpとすると、次式の関係で与えられる。
波路23までの実効的光路長りは光導波路22の屈折率
をnpとすると、次式の関係で与えられる。
L=nP−LP ・・・(6)
ここで、LPは光導波lI22の長さである。
ここで、LPは光導波lI22の長さである。
そして、電極14に適当な電圧Vpを印加することによ
り、グレーティング導波路23の場合こ同様に光導波路
22の屈折率nPを可変できるので、レーザダイオード
1の端面からグレーティング導波lI23までの実効的
光路長りを電気的にW鰭することができろ。
り、グレーティング導波路23の場合こ同様に光導波路
22の屈折率nPを可変できるので、レーザダイオード
1の端面からグレーティング導波lI23までの実効的
光路長りを電気的にW鰭することができろ。
以上説明したように、グレーティング導波路によって特
定の波長λ6を中心波長とした光のみを選択してレーザ
ダイオード1にフィードバックし、光導波I22化よっ
て光路長りをahaすることにより、中心波長がほぼλ
、で、式(1)で与えられるスペクトル線幅δfの狭ス
ペクトル線幅の半導体レーザ光源装置が構成されるので
ある。
定の波長λ6を中心波長とした光のみを選択してレーザ
ダイオード1にフィードバックし、光導波I22化よっ
て光路長りをahaすることにより、中心波長がほぼλ
、で、式(1)で与えられるスペクトル線幅δfの狭ス
ペクトル線幅の半導体レーザ光源装置が構成されるので
ある。
上記実施例において、例えばグレーティング導波路にお
ける多重量子井戸層19にF=200 KV/ax1M
度の電界を印加すると、多重量子井戸層の屈折率は2%
程度変化するので、グレーティング導波路の実効的な屈
折率変化Δn、は〜1%**になり、式(5)の関係よ
りλ。を〜1%程度変化させる事になり、半導体レーザ
1の発振波長を10 nm以上電気的に可変できるので
、広帯域の波長可変半導体レーザ光源装置を実現できる
。
ける多重量子井戸層19にF=200 KV/ax1M
度の電界を印加すると、多重量子井戸層の屈折率は2%
程度変化するので、グレーティング導波路の実効的な屈
折率変化Δn、は〜1%**になり、式(5)の関係よ
りλ。を〜1%程度変化させる事になり、半導体レーザ
1の発振波長を10 nm以上電気的に可変できるので
、広帯域の波長可変半導体レーザ光源装置を実現できる
。
次に、本発明の第2.第3の実施例について、第3図、
第4図を参照して説明する。
第4図を参照して説明する。
第3図は半導体レーザダイオード1と外部共振器13と
の間に光フアイバ24を挿入し、これによりレーザダイ
オード1の端面からグレーティング導波I23までの実
効的光路長りを長くした実施例である。25ば光ファイ
バのコア部である。この場合、Lを長くできるので、式
(1)の関係より、半導体レーザ1からの出力光10の
スペクトル線幅δfを狭くでき、コヒーレントの優れた
半導体レーザ光源を実現できる。
の間に光フアイバ24を挿入し、これによりレーザダイ
オード1の端面からグレーティング導波I23までの実
効的光路長りを長くした実施例である。25ば光ファイ
バのコア部である。この場合、Lを長くできるので、式
(1)の関係より、半導体レーザ1からの出力光10の
スペクトル線幅δfを狭くでき、コヒーレントの優れた
半導体レーザ光源を実現できる。
第4図は、半導体レーザダイオード部26と外部共振9
1113を同一の半導体基板20上にモノリシックに形
成した実施例である。ここで27は半導体レーザ部の電
極である。この場合、外部共amと半導体レーザを一体
化しであるため、光導波路22と活性層7との光結合が
安定になるため、高信頼な半導体レーザ光源を実現でき
ろ。なお、この実施例において、第4図に示す半導体レ
ーザ26の電極部を電気的に2分割し、分割された一方
の活性層を位相!11vi領域として動作させる事によ
り、特願平1−70346号「波長可変半導体レーザ光
源装置」で述べられるように、発振波長がf!ky41
!され活性層7と光導波路22の接続部での反射もどり
光の影響による半導体レーザ発振の不安定性を除去でき
るので、広帯域な単一モード発振波長可変光源を実現で
きろ。
1113を同一の半導体基板20上にモノリシックに形
成した実施例である。ここで27は半導体レーザ部の電
極である。この場合、外部共amと半導体レーザを一体
化しであるため、光導波路22と活性層7との光結合が
安定になるため、高信頼な半導体レーザ光源を実現でき
ろ。なお、この実施例において、第4図に示す半導体レ
ーザ26の電極部を電気的に2分割し、分割された一方
の活性層を位相!11vi領域として動作させる事によ
り、特願平1−70346号「波長可変半導体レーザ光
源装置」で述べられるように、発振波長がf!ky41
!され活性層7と光導波路22の接続部での反射もどり
光の影響による半導体レーザ発振の不安定性を除去でき
るので、広帯域な単一モード発振波長可変光源を実現で
きろ。
上記実施例では、半導体基板20として、基板面が(0
01)面であり、さらに光導波路の向きを[110]結
晶方位に形成した場合を説明したが、基板面として(1
11)面等の半導体基板を用いても、光導波路の向きを
それに合せて適当に形成すれば、本発明の効果を同様に
利用できる。また、半導体材料として、上記では一例に
ついて説明したが、使用する光の波長に合せて、例えば
GaAs、 I nGaAs。
01)面であり、さらに光導波路の向きを[110]結
晶方位に形成した場合を説明したが、基板面として(1
11)面等の半導体基板を用いても、光導波路の向きを
それに合せて適当に形成すれば、本発明の効果を同様に
利用できる。また、半導体材料として、上記では一例に
ついて説明したが、使用する光の波長に合せて、例えば
GaAs、 I nGaAs。
I nGaAjAs、 Garb等、多重量子井戸構造
の光デバイスに用いられている材料を用いても、上記と
同様の効果を利用できろ。
の光デバイスに用いられている材料を用いても、上記と
同様の効果を利用できろ。
また、多重量子井戸構造としては、上記の多層化した量
子井戸構成に限らず、量子井戸ワイヤー、量子井戸ボッ
クスの構造を用いると (D、人、B、Miller
らAppl、Phys、Lett、、vol、52.n
o、25゜pp2154〜2156.1988) 、第
6図(b)に示した外部印加電圧による屈折率変化の効
果はさらに大きくなるので、上記実施例よりさらに高性
能な半導体レーザ光源を実現できろ。
子井戸構成に限らず、量子井戸ワイヤー、量子井戸ボッ
クスの構造を用いると (D、人、B、Miller
らAppl、Phys、Lett、、vol、52.n
o、25゜pp2154〜2156.1988) 、第
6図(b)に示した外部印加電圧による屈折率変化の効
果はさらに大きくなるので、上記実施例よりさらに高性
能な半導体レーザ光源を実現できろ。
〈発明の効果〉
以上説明したように、本発明によれば、レーザ光発生手
段からの出射光は半導体基板に形成されている量子井戸
構造の光導波路を通ってグレーティング導波路に達し、
グレーティング導波路のフィルタ機能によって選択され
た波長の光のみが反射され、光導波路を通ってレーザ光
発生手段から出射されることになる。ここで、グレーテ
ィング導波路における反射戻り光の波長選択およびレー
ザ光発生手段の出射端面からグレーティング導波路まで
の実効的光路長は電気的に制御することができ、これに
より極めて安定な狭スペクトル光を得ることができる。
段からの出射光は半導体基板に形成されている量子井戸
構造の光導波路を通ってグレーティング導波路に達し、
グレーティング導波路のフィルタ機能によって選択され
た波長の光のみが反射され、光導波路を通ってレーザ光
発生手段から出射されることになる。ここで、グレーテ
ィング導波路における反射戻り光の波長選択およびレー
ザ光発生手段の出射端面からグレーティング導波路まで
の実効的光路長は電気的に制御することができ、これに
より極めて安定な狭スペクトル光を得ることができる。
このため、従来の機械的制御装置に比較して制御部の構
成が極めて簡単となるとともに、グレーティング導波路
によって特定波長の光のみをフィードバックしているの
でスペクトル中心周波数を安定化できる。また、半導体
基板に形成された光導波路およびグレーティング導波路
からなる外部共振器内の光路は導波路を使用しているの
で、従来のように光結合系における軸ずれがなく、極め
て安定に動作することができる。
成が極めて簡単となるとともに、グレーティング導波路
によって特定波長の光のみをフィードバックしているの
でスペクトル中心周波数を安定化できる。また、半導体
基板に形成された光導波路およびグレーティング導波路
からなる外部共振器内の光路は導波路を使用しているの
で、従来のように光結合系における軸ずれがなく、極め
て安定に動作することができる。
第1図(a)、(b)は本発明の一実施例の中央部断面
図、斜視図、第2図は本発明におけるグレーティング導
波路における光の反射特性の波長依存性を示したグラフ
、第3図、第4図は本発明はよる他の実施例の中央部断
面図、第5図(a)。 山)は従来の半導体レーザ光源装置の構成図、第6図(
a)、 [b)は量子井戸構造半導体の量子井戸効果に
もとすく吸収係数と屈折率の波長依存性及びその外部印
加電界依存性を示したグラフ、第7図は半導体バルク結
晶の電気光学効果(ポッケルス効果)にもとづく屈折率
の外部印加電界依存性を示したグラフである。 図 面 中、 1は半導体レーザダイオード、 2は外部共振器、 3は屈折率分布型レンズ、 4は反射鏡、 5は微動位置合わせ装置、 6は反射防止膜、 7はレーザダイオードの活性層、 8は出射光ビーム、 9は入射光ビーム、 10は半導体レーザ光源!!電の出力光、11はレンズ
、 12はグレーテイング板、 13は外部共振器、 14はp側電極、 15 (よ p−InGaAs1l 、16はp−In
Pクラッド層、 17はノンドープ1nPクラツド層、 18はノンドープIrhGaAsP導波層、19はノン
ドープE nGaAs/ I n、P多重量子井戸層、 20はn−1nP基板、7 21はn側電極、 22は光導波路、 23はグレーティ・、グ導波路、 241よ光ファイバ、 25は光ファイバのコア部、 26は半導体レーザダイオード、 271よレーザダイオードの電極である。 (a) (b) (a) 第 図 −・−F −一一一一一′″1犬 第 ア 図
図、斜視図、第2図は本発明におけるグレーティング導
波路における光の反射特性の波長依存性を示したグラフ
、第3図、第4図は本発明はよる他の実施例の中央部断
面図、第5図(a)。 山)は従来の半導体レーザ光源装置の構成図、第6図(
a)、 [b)は量子井戸構造半導体の量子井戸効果に
もとすく吸収係数と屈折率の波長依存性及びその外部印
加電界依存性を示したグラフ、第7図は半導体バルク結
晶の電気光学効果(ポッケルス効果)にもとづく屈折率
の外部印加電界依存性を示したグラフである。 図 面 中、 1は半導体レーザダイオード、 2は外部共振器、 3は屈折率分布型レンズ、 4は反射鏡、 5は微動位置合わせ装置、 6は反射防止膜、 7はレーザダイオードの活性層、 8は出射光ビーム、 9は入射光ビーム、 10は半導体レーザ光源!!電の出力光、11はレンズ
、 12はグレーテイング板、 13は外部共振器、 14はp側電極、 15 (よ p−InGaAs1l 、16はp−In
Pクラッド層、 17はノンドープ1nPクラツド層、 18はノンドープIrhGaAsP導波層、19はノン
ドープE nGaAs/ I n、P多重量子井戸層、 20はn−1nP基板、7 21はn側電極、 22は光導波路、 23はグレーティ・、グ導波路、 241よ光ファイバ、 25は光ファイバのコア部、 26は半導体レーザダイオード、 271よレーザダイオードの電極である。 (a) (b) (a) 第 図 −・−F −一一一一一′″1犬 第 ア 図
Claims (2)
- (1)レーザ光を発生するレーザ光発生手段と、前記レ
ーザ光発生手段に隣接して設置されている半導体基板と
、該半導体基板に形成され、一端が前記レーザ光発生手
段の出射端面に対向し光結合して配設されている少なく
とも1つの量子井戸構造をもつ半導体層で構成した光導
波路と、該光導波路に電圧を印加する電極と、前記半導
体基板に形成され、一端が前記光導波路の他端に接続さ
れている量子井戸構造をもつ半導体層で構成したグレー
ティング導波路と、前記光導波路、該グレーティング導
波路にそれぞれ電圧を印加する電極とを有することを特
徴とする半導体レーザ光源装置。 - (2)前記レーザ光発生手段と前記光導波路の間におい
て、一端が該レーザ光発生手段の出射端面に光結合され
、他端が前記光導波路の一端に光結合された光ファイバ
が配設されることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
載の半導体レーザ光源装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20794489A JPH0373583A (ja) | 1989-08-14 | 1989-08-14 | 半導体レーザ光源装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20794489A JPH0373583A (ja) | 1989-08-14 | 1989-08-14 | 半導体レーザ光源装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0373583A true JPH0373583A (ja) | 1991-03-28 |
Family
ID=16548124
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20794489A Pending JPH0373583A (ja) | 1989-08-14 | 1989-08-14 | 半導体レーザ光源装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0373583A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0457384A (ja) * | 1990-06-27 | 1992-02-25 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体レーザ |
| JPH0715095A (ja) * | 1993-05-06 | 1995-01-17 | Cselt Spa (Cent Stud E Lab Telecomun) | 水平放射による半導体レーザー及びそのレーザーの光導波管への接続 |
| JP2002055370A (ja) * | 1999-12-06 | 2002-02-20 | Fuji Photo Film Co Ltd | 光波長変換モジュール |
| EP1130717A3 (en) * | 1999-12-06 | 2003-03-19 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Semiconductor laser light source with external cavity |
| JP2008005748A (ja) * | 2006-06-28 | 2008-01-17 | Three H:Kk | 魚信報知器 |
-
1989
- 1989-08-14 JP JP20794489A patent/JPH0373583A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0457384A (ja) * | 1990-06-27 | 1992-02-25 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体レーザ |
| JPH0715095A (ja) * | 1993-05-06 | 1995-01-17 | Cselt Spa (Cent Stud E Lab Telecomun) | 水平放射による半導体レーザー及びそのレーザーの光導波管への接続 |
| JP2002055370A (ja) * | 1999-12-06 | 2002-02-20 | Fuji Photo Film Co Ltd | 光波長変換モジュール |
| EP1130717A3 (en) * | 1999-12-06 | 2003-03-19 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Semiconductor laser light source with external cavity |
| JP2008005748A (ja) * | 2006-06-28 | 2008-01-17 | Three H:Kk | 魚信報知器 |
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