JPH0374859A - ウェーハハンドリング方法 - Google Patents
ウェーハハンドリング方法Info
- Publication number
- JPH0374859A JPH0374859A JP1210031A JP21003189A JPH0374859A JP H0374859 A JPH0374859 A JP H0374859A JP 1210031 A JP1210031 A JP 1210031A JP 21003189 A JP21003189 A JP 21003189A JP H0374859 A JPH0374859 A JP H0374859A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wafer
- handler
- electromagnet
- distance
- electromagnets
- Prior art date
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- Pending
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- Manipulator (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
半導体装置製造時におけるウェーハのハンドリング方法
に関し、 真空中でも非接触でハンドリング可能とすることを目的
とし、 ウェーハには、そのチップ形成領域以外の領域の一直線
上にない少なくとも3個所に磁性体膜を設けておくと共
に、ウェーハハンドラには、前記磁性体膜を吸引してウ
ェーハを吊り上げる少なくとも3個の電磁石と、該電磁
石とウェーハ間の距離を検出する少なくとも3個の距離
センサとを具備せしめておき、該距離センサからの情報
により電磁石とウェーハ間の距離を一定に保つように各
電磁石のコイルに流す電流を制御してウェーハを非接触
でハンドリングするように構成する。
に関し、 真空中でも非接触でハンドリング可能とすることを目的
とし、 ウェーハには、そのチップ形成領域以外の領域の一直線
上にない少なくとも3個所に磁性体膜を設けておくと共
に、ウェーハハンドラには、前記磁性体膜を吸引してウ
ェーハを吊り上げる少なくとも3個の電磁石と、該電磁
石とウェーハ間の距離を検出する少なくとも3個の距離
センサとを具備せしめておき、該距離センサからの情報
により電磁石とウェーハ間の距離を一定に保つように各
電磁石のコイルに流す電流を制御してウェーハを非接触
でハンドリングするように構成する。
本発明は半導体装置製造時におけるウェーハのハンドリ
ング方法に関する。
ング方法に関する。
近年、半導体デバイスの高集積化に伴い、清浄な雰囲気
下において製造を行わなければならなくなってきている
。このため現在はクリーンルームにおいてその製造が行
われている。しかしこのクリーンルームは巨視的に見る
と清浄度が保たれているが、微視的に見ると、その清浄
度には疑問がある。
下において製造を行わなければならなくなってきている
。このため現在はクリーンルームにおいてその製造が行
われている。しかしこのクリーンルームは巨視的に見る
と清浄度が保たれているが、微視的に見ると、その清浄
度には疑問がある。
上記の問題の1つとして、ウェーハハンドリング時にお
けるダスト付着の問題がある。この問題に対処するため
、従来は■ウェーハとハンドラの接触を最小とするよう
に複数個の爪で支持する方法、■静電チャックを用いる
方法、■第4図に示すようにハンドラ1とウェーハ2と
の間に空気膜3を作ってウェーハを非接触でハンドリン
グする方法等が用いられている。
けるダスト付着の問題がある。この問題に対処するため
、従来は■ウェーハとハンドラの接触を最小とするよう
に複数個の爪で支持する方法、■静電チャックを用いる
方法、■第4図に示すようにハンドラ1とウェーハ2と
の間に空気膜3を作ってウェーハを非接触でハンドリン
グする方法等が用いられている。
上記従来のウェーハハンドリングにおいて、■及び■の
方法は真空中でも用いることができるがウェーハとハン
ドラとの接触が避けられず、ダストの付着する問題が残
る。また■の方法は非接触でダスト付着の問題はないが
真空中では用いることができないという問題がある。
方法は真空中でも用いることができるがウェーハとハン
ドラとの接触が避けられず、ダストの付着する問題が残
る。また■の方法は非接触でダスト付着の問題はないが
真空中では用いることができないという問題がある。
本発明は、上記従来の問題点に鑑み、真空中でも非接触
でハンドリングできるウェーハハンドリング方法を提供
することを目的とする。
でハンドリングできるウェーハハンドリング方法を提供
することを目的とする。
上記目的を達成するために、本考案のウェーハハンドリ
ング方法では、ウェーハ13にはそのチップ形成領域1
4以外の領域の一直線上にない少なくとも3個所に磁性
体膜15を設けておくと共に、ウェーハハンドラ12に
は、前記磁性体膜15を吸引してウェーハ13を吊り上
げる少なくとも3個の電磁石18と、該電磁石18とウ
ェーハエ3間の距離を検出する少なくとも3個の距離セ
ンサ19とを具備せしめておき、該距離センサ19から
の情報により電磁石18とウェーハ13間の距離を一定
に保つように各電磁石18のコイルに流す電流を制御し
てウェーハ13を非接触でハンドリングすることを特徴
とする。
ング方法では、ウェーハ13にはそのチップ形成領域1
4以外の領域の一直線上にない少なくとも3個所に磁性
体膜15を設けておくと共に、ウェーハハンドラ12に
は、前記磁性体膜15を吸引してウェーハ13を吊り上
げる少なくとも3個の電磁石18と、該電磁石18とウ
ェーハエ3間の距離を検出する少なくとも3個の距離セ
ンサ19とを具備せしめておき、該距離センサ19から
の情報により電磁石18とウェーハ13間の距離を一定
に保つように各電磁石18のコイルに流す電流を制御し
てウェーハ13を非接触でハンドリングすることを特徴
とする。
一直線上にない少なくとも3個所に磁性体膜15を形威
したウェーハ13をウェーハハンドラ12に設けた電磁
石18で吊り上げ、ウェーハ13とウェーハハンドラ1
2間の距離が一定となるように距離センサ19からの信
号をフィードバックして電磁石18のコイルに流す電流
を制御することにより非接触でウェーハ13をハンドリ
ングすることができる。
したウェーハ13をウェーハハンドラ12に設けた電磁
石18で吊り上げ、ウェーハ13とウェーハハンドラ1
2間の距離が一定となるように距離センサ19からの信
号をフィードバックして電磁石18のコイルに流す電流
を制御することにより非接触でウェーハ13をハンドリ
ングすることができる。
第1図は本発明方法を実施することができる装置を示す
図である。
図である。
同図において、10は機構部、11は制御回路部である
。機構部10はウェーハハンドラ12と該ウェーハハン
ドラによりハンドリングするウェーハ13とよりなり、
該ウェーハ13には第2図に示すようにチップ形成領域
14以外の領域で且つ一直線上にない3個所以上の領域
に、例えばパーマロイ等の磁性体膜15を形威しである
。なお該磁性体膜15はパーティクルが発生し、デバイ
スに影響を与えないようにするため、パッシベーション
膜16 、16’でサンドインチ構造とすることが望ま
しい。
。機構部10はウェーハハンドラ12と該ウェーハハン
ドラによりハンドリングするウェーハ13とよりなり、
該ウェーハ13には第2図に示すようにチップ形成領域
14以外の領域で且つ一直線上にない3個所以上の領域
に、例えばパーマロイ等の磁性体膜15を形威しである
。なお該磁性体膜15はパーティクルが発生し、デバイ
スに影響を与えないようにするため、パッシベーション
膜16 、16’でサンドインチ構造とすることが望ま
しい。
またウェーハハンドラ12には第3図に示すように非磁
性体の枠17に前記ウェーハ13の磁性体膜15に対向
して少なくとも3個の電磁石18と該電磁石のそれぞれ
の近傍に例えば光又はレーザによる距離センサ19が設
けられている。
性体の枠17に前記ウェーハ13の磁性体膜15に対向
して少なくとも3個の電磁石18と該電磁石のそれぞれ
の近傍に例えば光又はレーザによる距離センサ19が設
けられている。
一方制御回路部11は、第1図(図には1個の電磁石に
対してのみ示し、他は省略した)に示すように目標間隔
設定回路20と、コンパレータ21と、電磁石コイルコ
ントロール回路22とよりなり、コンパレータ21が距
離センサ19からの信号を目標間隔設定回路20からの
信号と比較して電磁石コイルコントロール回路22を介
して電磁石18のコイルに流す電流を制御するようにな
っている。
対してのみ示し、他は省略した)に示すように目標間隔
設定回路20と、コンパレータ21と、電磁石コイルコ
ントロール回路22とよりなり、コンパレータ21が距
離センサ19からの信号を目標間隔設定回路20からの
信号と比較して電磁石コイルコントロール回路22を介
して電磁石18のコイルに流す電流を制御するようにな
っている。
このように準備されたウェーハ及び装置を用いた本発明
方法は、先ず目標間隔設定回路20によりつ羊−ハンド
リングとウェーハ13間の距離を決める。これは例えば
可変抵抗で電圧値を決めることにより行うことができる
0次に電磁石コイルコントロール回路22からウェーハ
ハンドラ12の電磁石18に電流を流し、ウェーハ13
の磁性体膜15を吸引しウェーハ13を吊り上げる。ウ
ェーハハンドラ12の距離センサ19からの出力信号B
はコンパレータ21に送られているが、ウェーハ13が
ウェーハハンドラ12に近ずくとその出力は大きくなる
。コンパレータ21はこの距離センサ19からの出力B
を目標間隔設定回路20の設定値Aと比較し、A>Bの
場合、即ちウェーハハンドラとウェーハ間の距離が目標
間隔より小さくなった場合は電磁石コイルコントロール
回路22より電磁石18のコイルに流す電流を少なくし
て!磁石18の吸引力を弱くする。またA>Bとなった
場合、即ちウェーハハンドラとウェーハ間の距離が目標
間隔より大きくなった場合は電磁石コイルコントロール
回路22より電磁石18のコイルに流す電流を多くして
電磁石18の吸引力を強くする。このようにして残りの
電磁石も距離センサと制御回路部により制御することに
まりウェーハハンドラ12とウェーハ13間の距離を一
定に保持して非接触でウェーハをハンドリングすること
ができる。なお電磁石18及び距離センサ19を3個以
上とすることにまりウェーハを傾けることなく安定して
保持することができる。
方法は、先ず目標間隔設定回路20によりつ羊−ハンド
リングとウェーハ13間の距離を決める。これは例えば
可変抵抗で電圧値を決めることにより行うことができる
0次に電磁石コイルコントロール回路22からウェーハ
ハンドラ12の電磁石18に電流を流し、ウェーハ13
の磁性体膜15を吸引しウェーハ13を吊り上げる。ウ
ェーハハンドラ12の距離センサ19からの出力信号B
はコンパレータ21に送られているが、ウェーハ13が
ウェーハハンドラ12に近ずくとその出力は大きくなる
。コンパレータ21はこの距離センサ19からの出力B
を目標間隔設定回路20の設定値Aと比較し、A>Bの
場合、即ちウェーハハンドラとウェーハ間の距離が目標
間隔より小さくなった場合は電磁石コイルコントロール
回路22より電磁石18のコイルに流す電流を少なくし
て!磁石18の吸引力を弱くする。またA>Bとなった
場合、即ちウェーハハンドラとウェーハ間の距離が目標
間隔より大きくなった場合は電磁石コイルコントロール
回路22より電磁石18のコイルに流す電流を多くして
電磁石18の吸引力を強くする。このようにして残りの
電磁石も距離センサと制御回路部により制御することに
まりウェーハハンドラ12とウェーハ13間の距離を一
定に保持して非接触でウェーハをハンドリングすること
ができる。なお電磁石18及び距離センサ19を3個以
上とすることにまりウェーハを傾けることなく安定して
保持することができる。
以上説明した様に、本発明によれば、磁性体膜を形成し
たウェーハを少なくとも3個の電磁石及び距離センサを
有するウェーハハンドラと、該距離センサからの信号で
電磁石のコイルに流す電流を制御する制御回路部とを用
いることにより、ウェーハを非接触でハンドリングする
ことが可能となる。また磁力を利用しているので真空中
でのハンドリングも可能であり、且つ非接触であるので
塵埃の発生もない。
たウェーハを少なくとも3個の電磁石及び距離センサを
有するウェーハハンドラと、該距離センサからの信号で
電磁石のコイルに流す電流を制御する制御回路部とを用
いることにより、ウェーハを非接触でハンドリングする
ことが可能となる。また磁力を利用しているので真空中
でのハンドリングも可能であり、且つ非接触であるので
塵埃の発生もない。
第1図は本発明方法を実施するための装置を示す図、
第2図は本発明方法に用いるウェーハを示す図、第3図
は本発明方法に用いるウェーハハンドラを示す図、 第4図は従来のウェーハハンドラの1例を示す図である
。 図において、 10は機構部、 11は制御回路部、 12はウェーハハンドラ、 13はウェーハ、 14はチップ形成領域、 15は磁性体膜、 16 、16’は誘電体膜、 17は枠、 18は電磁石、 19は距離センナ、 20は目標間隔設定回路、 21はコンパレータ、 22は電磁石コイルコントロール回路 を示す。 本発明方法1こ用いるウェーハを示す図第2(g 16、 + 6’・・・誘一体膜 (Q)平面図 本発明方法に用いるウェハハンドラを示す図第 図 19・・・距離センサ 従来のウェーハハンドラの1例を示す図第 図
は本発明方法に用いるウェーハハンドラを示す図、 第4図は従来のウェーハハンドラの1例を示す図である
。 図において、 10は機構部、 11は制御回路部、 12はウェーハハンドラ、 13はウェーハ、 14はチップ形成領域、 15は磁性体膜、 16 、16’は誘電体膜、 17は枠、 18は電磁石、 19は距離センナ、 20は目標間隔設定回路、 21はコンパレータ、 22は電磁石コイルコントロール回路 を示す。 本発明方法1こ用いるウェーハを示す図第2(g 16、 + 6’・・・誘一体膜 (Q)平面図 本発明方法に用いるウェハハンドラを示す図第 図 19・・・距離センサ 従来のウェーハハンドラの1例を示す図第 図
Claims (1)
- 1、ウェーハ(13)には、そのチップ形成領域(14
)以外の領域の一直線上にない少なくとも3個所に磁性
体膜(15)を設けておくと共に、ウェーハハンドラ(
12)には、前記磁性体膜(15)を吸引してウェーハ
(13)を吊り上げる少なくとも3個の電磁石(18)
と、該電磁石(18)とウェーハ(13)間の距離を検
出する少なくとも3個の距離センサ(19)とを具備せ
しめておき、該距離センサ(19)からの情報により電
磁石(18)とウェーハ(13)間の距離を一定に保つ
ように各電磁石(18)のコイルに流す電流を制御して
ウェーハ(13)を非接触でハンドリングすることを特
徴とするウェーハハンドリング方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1210031A JPH0374859A (ja) | 1989-08-16 | 1989-08-16 | ウェーハハンドリング方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1210031A JPH0374859A (ja) | 1989-08-16 | 1989-08-16 | ウェーハハンドリング方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0374859A true JPH0374859A (ja) | 1991-03-29 |
Family
ID=16582665
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1210031A Pending JPH0374859A (ja) | 1989-08-16 | 1989-08-16 | ウェーハハンドリング方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0374859A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0523989A (ja) * | 1991-07-15 | 1993-02-02 | Hitachi Ltd | 宇宙ロボツト用のマグネツト式エンドエフエクタ |
-
1989
- 1989-08-16 JP JP1210031A patent/JPH0374859A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0523989A (ja) * | 1991-07-15 | 1993-02-02 | Hitachi Ltd | 宇宙ロボツト用のマグネツト式エンドエフエクタ |
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