JPH0376523B2

JPH0376523B2 -

Info

Publication number: JPH0376523B2
Application number: JP11523784A
Authority: JP
Inventors: Kyoaki Takiguchi; Kosaku Hirota; Yukyasu Nakane; Seiji Mitsui
Original assignee: Toppan Printing Co Ltd
Current assignee: Toppan Inc
Priority date: 1984-06-04
Filing date: 1984-06-04
Publication date: 1991-12-05
Also published as: JPS60258769A

Description

【発明の詳細な説明】本発明は磁気カードに記録されたデータの記録
状態を測定する磁気カードのデータ記録状態測定
方法に関し、特に磁気カードに記録されたデータ
の波高値を測定できる磁気カードのデータ記録状
態測定方法に関するものである。

一般に磁気カードには、多くのものがJIS−
B9561規格に基づいて必要なデータが記録されて
いる。前記磁気カードにおける記録データの間隔
は、当該基格によれば、8.268bit／mm±４％と規
定されている。しかして、その記録データの間隔
は、具体的には、0.12mmであり、許容誤差が±４
％とあるので、±約5μｍとなる。このように5μｍ
の如き微小な磁気記録状態における記録データの
波高値を測定する必要が生じてきた。

本発明は上述のことに鑑みてなされたものであ
り、磁気カードに記録された各種データを再生
し、その再生信号の波高値をデイジタル信号に変
換すると共に、その波高値間毎の時間間隔を測定
して記憶し、その記憶された時間間隔を読み出し
て一測定前の時間間隔と比較し、その比較結果に
より当該比較された時間間隔が一方の論理と判定
されたときにはその間の波高値を、他方の論理と
判定されたときにはその間の波高値と一測定後の
波高値との平均をとつた波高値を出力する磁気カ
ードの記録状態測定方法を提供することにある。

以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明す
る。

第１図Ａは磁気カードを示す平面図であり、第
１図Ｂは磁気カードに設けられた磁気ストライプ
に記録されたデーターの記録状態を示す説明図で
ある。

第１図Ａにおいて、符号１は磁気カードであ
り、この磁気カード１には磁気ストライプ２が設
けられると共に、磁気カード１の発行元名称３、
所定のコード番号４、個人氏名５、有効期限６な
どが記されている。

磁気カード１に設けられた磁気ストライプ２に
は、第１図Ｂに示すように、必要なデータが論理
“１”、“０”をもつて記録されている。磁気スト
ライプ２は、“０”、“１”とも基本的には同一間
隔で記録されているものであり、“０”はその間
隔内で磁化の変化がなく、また、“１”はその間
隔内で磁化の変化がある。同図Ｂに示す矢符は磁
気の方向であり、“０”は磁気の方向は変つてい
てもその間隔中に磁化変化がなく、また“１”は
その間隔中に必ず磁化変化があることが理解でき
る。

第２図は本発明に係る磁気カードのデータ記録
状態測定方法の実施例を実現する測定装置を示す
斜視図である。第２図において、第１図と同一構
成要素には同一符号を付して説明を省略する。

第２図において、符号７は読取装置であり、こ
の読取装置７には、電源スイツチ８、電源スイツ
チ８を“ON”したときに点灯する電源表示灯
９、磁気カード１をカード挿入口１０に挿入し該
磁気カード１の磁気ストライプ２に記録されたデ
ータを読み取るリーダー１１、マスターキー１
２、磁気カード１のデータの記録状態が正常又は
異常のときにそれぞれ点灯するOK表示灯１３又
はNG表示灯１４、リーダー１１で磁気カード１
のストライプ２から読み出した再生信号を取り出
せるプラグ１５とが設けられている。

この読取装置７はケーブル１６を介して処理装
置１７に接続されている。

処理装置１７には、キーボード１８が設けられ
ている。この処理装置１７には、種々の情報を表
示するCRTデイスプレイ装置１９と、当該処理
装置１７を動作させるプログラムや各種のデータ
を記憶するフロツピーデイスク装置２０と、及び
該処理装置からの各種印刷データを印刷するプリ
ンタ２１とが接続されている。

第３図は本発明の実施例が適用される測定装置
の信号系統を示すブロツク図である。

第３図において、上記読取装置７における信号
系統は、リーダー１１のカード挿入口１０に挿入
された磁気カード１の磁気ストライプ２に記録さ
れたデータを電気信号に再生できる磁気ヘツド２
２と、この磁気ヘツド２２からの再生信号を一定
のレベルで増幅する増幅器２３と、この増幅器２
３からの出力信号の波高値（上下のピーク値）を
ホールドするサンプルホールド回路２４と、該サ
ンプルホールド回路２４からの出力信号の波高値
をデジタル信号に変換するアナログ−デジタル
（AD）変換器２５と、該増幅器２３からの出力
信号を基に時間間隔測定信号（タイムインターバ
ル測定信号ともいう）を形成すると共にサンプル
ホールド回路２４にサンプリング指令を出力する
比較回路２６と、該比較回路２６からの出力信号
により磁気カード１の磁気ストライプ２に記録さ
れたデータの上下ピークらピークまでの時間間隔
を測定すると共に該AD変換器２５AD変換のタ
イミング信号を形成できる時間間隔測定回路２７
と、上記処理装置１７にデータ取り込みタイミン
グを指示し、また処理装置１７からの指令により
増幅器２３の増幅度を設定すると共に測定のタイ
ミングの制御をする制御回路２８とを含んで構成
されている。しかして、AD変換器２５及び時間
間隔測定回路２７から出力される信号は、処理装
置１７に供給されるようになつている。

次に、処理装置１７の信号系統について説明す
る。

処理装置１７は、各種の演算処理や制御を行う
中央演算処理装置（CPU）２９と、該CPU２９
の基本的動作等を実行させるプログラムが記憶さ
れたリードオンリメモリ（ROM）３０と、当該
測定方法を実行するプログラム、所定の定数、外
部から取り込んだデータ等を記憶できるランダム
アクセスメモリ（RAM）３１と、該AD変換器
２５からのデータを取り込むためのデイジタル入
力ポート３２と、該時間間隔測定回路２７からの
データを取り込むためのデイジタル入力ポート３
３と、該読取装置７との間で各種指令の入出力を
行うための入出力ポート３４と、キーボード１
８、CRTデイスプレイ装置１９、フロツピーデ
イスク装置２０及びプリンタ２１を該CPU２９
に接続するための入出力制御装置３５，３６，３
７及び３８と、各ポート３２〜３４、RAM３
１、入出力制御装置３５〜３８及びCPU２９間
を接続するバス３９とを含んで構成されている。

上述のように構成された測定装置の動作を以下
に説明する。

第４図〜は上記読取装置７の動作を説明す
るために示すタイムチヤートであり、第５図〜
は測定装置の動作を説明するために示すフロー
チヤートである。

第４図において、は磁気ストライプ２に記録
されたデータの記録状態を、は増幅器２３から
の出力信号を、はから得られるデイジタル信
号を、はデイジタル信号から得られる微分信
号を、は信号を基に得られるビツトインター
バル測定信号を、はビツトインターバル信号
によつて測定される時間間隔（T₁，T₂，…）を、
それぞれ示すものであり、また各横軸は時間がと
られている。尚、図〜は比較回路２６内で形
成される信号であり、がそれの出力信号として
出力される。

それでは、第１図〜第５図を参照して動作を説
明することにする。

まず、第５図を参照しながら磁気カード１の
データの読み込みについて説明する。

磁気カードを読取装置７のリーダー１１のカー
ド挿入口１０に挿入する（ステツプS41）。する
と、リーダー１１は、磁気カード１が挿入された
のを検知して磁気カード１の磁気ストライプ２に
記録されたデータ（第４図参照）を磁気ヘツド
２２で読み出す（ステツプS42）。その読み出し
た再生信号は、増幅器２３で増幅されてサンプホ
ールド回路２４及び比較回路２６に供給される
（ステツプS43）。サンプルホールド回路２４では
上記比較回路２６からの指令信号により上のピー
ク値又は下のピーク値を保持する（ステツプ
S44）。このサンプルホールド回路２４でホール
ドされたピーク値をAD変換器２５でデジタル信
号に変換し入出力ポート３２を介してRAM３１
の所定の第１のエリアに前記デジタル信号が記憶
される（ステツプS45）。

一方、増幅器２３から出力された信号（第４図
参照）は、比較回路２６において、まず第４図
に示す信号に変換される（ステツプS46）。次
に、第４図に示す信号は、同様に比較回路２６
において、微分されて同図に示す微分信号とさ
れ、これにより同図に示すようなビツトインタ
ーバル測定信号を得る（ステツプS47）。このビ
ツトインターバル測定信号は、時間間隔測定回路
２７に供給されて、ビツトインターバル測定信号
の立下りから立下りまでの時間が測定される（ス
テツプS48）。尚、時間間隔測定回路２７は、実
際には、該測定信号の立下りから立下りまで測定
するのではなく、例えばワンシヨツトマルチバイ
ブレータを該測定信号で駆動し、この素子より出
力された信号から該測定信号の次の立下りまでの
時間T_Tを測定し、この時間T_Sをワンシヨツトマ
ルチバイブレータの動作時間T_Sに加えて使用す
る回路構成がとられている。しかして、ワンシヨ
ツトマルチバイブレータが動作している時間T_S
の間は、その測定時間T_Tを処理装置１７に転送
するために使用されている。このように測定され
たタイムインターバルデータT₁，T₂，T₃，…T_N
（同図参照）は、時間間隔測定回路２７より入
出力ポート３３を介してRAM３１の所定の第２
のエリアに記憶される（ステツプS49）。すなわ
ち、AD変換器２５及び時間間隔測定回路２７か
らの出力データは、一坦、RAM３１の所定のエ
リアに全て記憶されることになる。以上が磁気カ
ード１からのデータ読み込みの動作である。

次に、ビツトインターバルデータの処理につい
て第５図を参照して説明する。

ステツプ50において、RAM３１の第２のエリ
アに記憶されたタイムインターバルデータT₁，
T₂，T₃…を読み出し、これらを加算してその加
算値の平均をとり、これを基に第１の基準幅が得
られる。すなわち、下式の如き演算をさせる。

Tmean＝T₁＋T₂＋T₃＋…T_N／Ｎ ……(1) ただし、Ｎ；T₁〜T_Nまでの数しかして、その演算結果を基にして第１の基準
幅T_S1｛＝（１±α）Tmean｝を得る。尚、αは前
述の如く例えば４％である。

また、ビツトインターバルデータT_Mは、RAM
３１から順次読み出され（ステツプ51）、ステツ
プS52で論理が“１”か“０”かを判定される。
このステツプS52において、論理が“０”と判定
されたらステツプS53に移る。ステツプS53では、
そのビツトインターバルデータT_Mを第１の基準
幅T_S1（例えば、0.12ｍ±5μｍに相当するもの）と
比較し、そのビツトインターバルデータT_Mが第
１の基準幅T_S1内に入つている否かを判定する。

このステツプS53で前記データT_Mが所定の第１
の基準値幅T_S1に入つていると判定されるとステ
ツプS54に移り、その判定結果（“OK”）をRAM
３１の第３のエリアに記憶させる。

一方、ステツプS53で前記データT_Mが第１の基
準幅T_S1内に入つていないと判定されるとステツ
プS55に移り、その判定結果（“NG”）をRAM３
１の第４のエリアに記憶させる。

前述のステツプS54、S55の次にはRAM３１の
第２のエリアに記憶されているビツトインターバ
ルデータT_Mの全てが終了したか否かをステツプ
S56で判定する。このステツプS56で全ビツトイ
ンターバルデータの比較が終了していないとき
は、ステツプS51に戻り、全ビツトインターバル
データの比較が終了したときには次のステツプ
S57に移る。

また、ステツプS52でRAM３１の第２エリア
からのビツトインターバルデータが論理“１”で
あると判定されるとステツプS58に移り、ここで
RAM３１の第２エリアから次のビツトインター
バルデータ（T_M+1）を読み出す。次いで、ステ
ツプS59において、先のビツトインターバルデー
タ（T_M）と、今読み出してきたビツトインター
バルデータ（T_M+1）とを加算（T_M＋T_M+1）し、
この加算結果をステツプS53のビツトインターバ
ルデータとして使用可能とし、ステツプS53に移
る。

次に、ステツプS57ではRAM３１の第２のエ
リアから最初のビツトインターバルデータT₁を
読み出して、T_A（１＋α）の演算をし、これを仮
りの第２の基準値T_S2とし、ステツプS60に移る。
ステツプS60ではRAM３１の第２のエリアから
次のビツトインターバルデータT_Mを読み出し、
これが論理“１”か“０”かを判定する。ここで
ビツトインターバルデータT_Mが“０”と判定さ
れるとステツプS61に移り、ステツプS61でこの
データT_Mを第２の基準幅T_S2と比較する。このス
テツプS61で前記データT_Mが第２の基準幅T_S2内
に入つていれば、“OK”としてその判定結果を
RAM３１の第３のエリアに記憶させる（ステツ
プS62）。

一方、このステツプS61で前記データT_Mが第２
の基準幅T_S2内に入つていなければ、“NG”とし
てその判定結果をRAM３１の第３エリアに記憶
させる（ステツプS63）。

ステツプS62、S63からはステツプS64に移り、
このステツプS64にて第２の基準値T_S2をこのデ
ータT_Mから下記第(2)式で演算し、 T_S2＝（１±α）T_M ……(2) この演算結果を次の第２の基準値T_S2とする。

次いで、ステツプS65に移り、ここで全部のビ
ツトインターバルデータT_Nの比較が終了したか
判定し、終了していなければステツプS60に戻
り、また終了していればステツプS66に移る。

一方、ステツプS60で前記データT_Mが“１”と
判定されると、ステツプS67に移る。ステツプ
S67では、次のビツトインターバルデータT_M+1を
RAM３１の第２のエリアから読み出す。次い
で、ステツプS68で先のデータT_Mから第３基準値
T_S3｛＝（１±α）T_M｝を演算して、これで次のデ
ータT_M+1と比較する（ステツプS69）。比較結果
が、“NG”ならばステツプS70に、“OK”ならば
ステツプS71に移る。ステツプS70ではその比較
結果をRAM３１の第４のエリアに記憶させる。
ステツプS71ではその比較結果をRAM３１の第
３のエリアに記憶させる。これらステツプS70、
S71を通過したら、先のデータT_Mと後のデータ
T_M+1とをステツプS72において加算（T_M＋T_M+1）
し、その加算結果をステツプS61におけるデータ
T_Mとして用いられるようにし、ステツプS61に移
る。

ステツプS66では、RAM３１の第３及び第４
のエリアを検索し、“NG”がなければOK表示灯
１３を点灯させ、“NG”があればNG表示灯１４
点灯させる。尚、“NG”の数に等によつてNG表
示灯１４を点灯させるか否かを調整することもで
きる。

このように当該測定装置によれば、AD変換器
２５によりピーク値をデジタル信号に変換し、そ
のピーク値からピーク値までの時間間隔を測定
し、これを所定の基準値幅と比較して正確な間隔
でデータが磁気カードの磁気ストライプに記録さ
れているか否かを判定することができるものであ
る。

さらに、ビツトインターバルデータにおける波
高値を出力する動作について第５図を参照して
説明する。

波高値を出力する指示が入力されたとする（ス
テツプS80）。

すると、ビツトインターバルT₁の前後縁のデ
イジタルデータV_1F，V_1BがRAM３１から読み出
され、V₁＝V_1F−V_1Bの計算がなされる（ステツ
プS81）この波高値V₁がビツトインターバルデー
タT₁における波高値として用いられ、これは
CPU２９のバツフアに一時記憶される。

次に、このビツトインターバルデータT₁は、
一測定前のビツトインターバルデータT₀から得
た一定の基準幅｛T_S＝（１±α）T₀｝と比較され
る（ステツプS82）。ここでは、このビツトイン
ターバルデータT₁が一定基準幅T_Sにあるので、
論理“０”として、上記CPU２９のバツフアに
ある波高値V₁を出力する（ステツプS83）。しか
して、全データが終了したか判定し、ここでは終
了してないので次の動作に移る（ステツプS84）。

次に、ビツトインターバルデータT₂の後縁の
デイジタルV_2BがRAM３１から読み出され、
V₂′＝V_2F−V_2B＝V_1B−V_2B（V_2F＝V_1B）の計算が
なされる（ステツプS81）。この波高値V₂′がビツ
トインターバルデータT₂の波高値として用いら
れ、CPU２９のバツフアに一時記憶される。

次に、このビツトインターバルデータT₂は、
一測定前のビツトインターバルデータT₁から得
た一定の基準幅｛T_S＝（１±α）T₁｝と比較され
る（ステツプS82）。ここでは、該ビツトインタ
ーバルデータT₂は、一定基準幅内にないので、
論理“１”として次のステツプS85に移る。

ここでは、ビツトインターバルデータT₃の後
縁の波高値V_3BをRAM３１から読み出し、V₂″＝
V_3F−V_3B＝V_2B−V_3B（V_3F＝V_2B）の計算がなされ
る（ステツプS85）。

この波高V₂″がビツトインターバルデータT₃の
波高値として用いられ、CPU２９のバツフアに
波高値V₂′と同様に記憶される。

しかして、ビツトインターバルデータT₃ビツ
トインターバルデータT₂から得る基準幅｛T_S′＝
（１±α）T₂｝と比較される（ステツプS86）。こ
こで、ビツトインターバルデータT₃基準幅T_S′に
入つている場合には下記の計算をさせると共に、
波高値V₂を出力させる（ステツプS87）。

V₂＝V₂′＋V₂″／２ T₂′＝T₂＋T₃ 尚、ここで、基準幅T_S′に入らない場合は、上
記計算をせずにエラーデータを出力する（ステツ
プS88）。上記両ステツプS87、S88共全データが
終了したか判定され（ステツプS84）、終了して
いないので下記動作に移る。

さらに、ビツトインターバルデータT₄の後縁
のデイジタルデータT_4BをRAM３１から読み出
し、V₃＝V_4F−V_4B＝V_3B−V_4Bの計算をする（ス
テツプS81）。ここで、ビツトインターバルデー
タT₄が基準幅｛T_S（１±α）T₂′｝に入つている
か否かを判定する（ステツプS82）。この場合は、
基準幅T_Sに入つているので、論理“０”として
波高値V₃を出力することになる。（ステツプS83）このように次々と各ビツトインターバルデータ
における波高値が全データが終了するまで出力さ
れる。

すなわち、あるビツトインターバルデータT_M
の前後縁の波高値からそのビツトインターバルデ
ータT_Mにおける波高値V_Mを求め（ステツプ
S81）、この波高値V_Mにおけるビツトインターバ
ルデータT_Mを、一測定前のビツトインターバル
データT_M-1から得た基準幅T_Sと比較し（ステツ
プS82）、その比較結果が論理“０”のときはそ
の波高値V_Mを出力し（ステツプS83）、その比較
結果が論理“１”のときはその波高値と一測定後
のビツトインターバルデータT_M+1の波高値V_M+1
との平均をとつた波高値V_MM＝（V_M＋V_M+1／２）を出力するものである（ステツプS85〜S88）。

しかして、上記のようにして求めた波高値V_M
は、CRTデイスプレイ装置１９に表示されある
いはプリンタ２１から印刷出力されることにな
る。

以上は、一つの動作例を説明したが、もちろん
ビツトインターバルデータT_Mの比較を先にして
から波高値V_Mを求めてもよいことはいうまでも
ない。

以上述べたように本発明によれば、磁気カード
の磁気記録波高値データが測定できる利点があ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図Ａは磁気カードを示す平面図、第１図Ｂ
は磁気ストライプに記録されたデータの状態を説
明するために示す説明図、第２図は本発明に係る
実施例を実現するための測定装置を示す斜視図、
第３図は同測定装置の信号系を示すブロツク図、
第４図は〜は読取装置の動作を説明するため
に示すタイムチヤート、第５図〜は測定装置
の動作を説明するために示すフローチヤートであ
る。１……磁気カード、２……磁気ストライプ、７
……読取装置、１１……リーダー、１６……ケー
ブル、１７……処理装置、１９……CRTデイス
プレイ装置、２０……フロツピーデイスク装置、
２１……プリンタ。

Claims

【特許請求の範囲】

１磁気カードに記録された各種データを再生
し、その再生信号の波高値をデイジタル信号に変
換すると共に、その波高値間毎に時間間隔を測定
して記憶し、その記憶された時間間隔を読み出し
て一測定前の時間間隔と比較し、その比較結果に
より上記時間間隔が一方の論理と判定されたとき
にはその波高値を、他方の論理と判定されたとき
にはその波高値と一測定後の波高値の平均をとつ
た波高値を出力することを特徴とする磁気カード
のデータ記録状態測定方法。