JPH0380501A - チップ抵抗器及びその製造方法 - Google Patents
チップ抵抗器及びその製造方法Info
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- JPH0380501A JPH0380501A JP1216570A JP21657089A JPH0380501A JP H0380501 A JPH0380501 A JP H0380501A JP 1216570 A JP1216570 A JP 1216570A JP 21657089 A JP21657089 A JP 21657089A JP H0380501 A JPH0380501 A JP H0380501A
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Landscapes
- Details Of Resistors (AREA)
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- Non-Adjustable Resistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、プリント基板にチップ状電子部品として装着
するのに適したリードの無いチップ抵抗器及びその製造
方法に関する。
するのに適したリードの無いチップ抵抗器及びその製造
方法に関する。
(従来の技術及び発明が解決しようとする課題)従来、
チップ抵抗器としては、チップ状絶縁板上にスクリーン
印刷法で抵抗膜を設け、さらに端部電極をA g−p
dペーストの塗布、焼き付け、その後のN i、 P
b−3n(又はSn)めっき等で形成する厚膜・湿式(
端部電極に関してはめっき)法によるものが一般的であ
る。
チップ抵抗器としては、チップ状絶縁板上にスクリーン
印刷法で抵抗膜を設け、さらに端部電極をA g−p
dペーストの塗布、焼き付け、その後のN i、 P
b−3n(又はSn)めっき等で形成する厚膜・湿式(
端部電極に関してはめっき)法によるものが一般的であ
る。
この場合、端部電極形成時のAg−Pdペーストの塗布
精度が問題となり、製品形状の寸法精度が悪化する。
精度が問題となり、製品形状の寸法精度が悪化する。
一方、チップ抵抗器の端部電極を薄膜技術で形成するこ
とが特開昭63−172401号に提案されている。
とが特開昭63−172401号に提案されている。
この場合には、チップ状絶縁板に対する薄膜の付着強度
の問題やプリント基板にはんだ付けする際のはんだ耐熱
性等が問題となり、これらについての対策を講じる必要
がある。
の問題やプリント基板にはんだ付けする際のはんだ耐熱
性等が問題となり、これらについての対策を講じる必要
がある。
また、製造工程においても、絶縁基板をチップ状絶縁板
に分割する作業を円滑に実施可能とすることが要望され
ている。
に分割する作業を円滑に実施可能とすることが要望され
ている。
本発明の第1の目的は、上記の点に鑑み、端部電極の寸
法精度の向上や信頼性の向上を図り得るチップ抵抗器を
提供することにある。
法精度の向上や信頼性の向上を図り得るチップ抵抗器を
提供することにある。
また、本発明の第2の目的は、製造工程が簡単で、抵抗
値シフトが発生せず、絶縁基板を容易かつ確実に所要の
大きさのチップ状絶縁板に分割可能として、歩留り及び
信頼性の向上を図ったチップ抵抗器の製造方法を提供す
るにある。
値シフトが発生せず、絶縁基板を容易かつ確実に所要の
大きさのチップ状絶縁板に分割可能として、歩留り及び
信頼性の向上を図ったチップ抵抗器の製造方法を提供す
るにある。
(課題を解決するための手段)
上記目的を達成するために、本発明のチップ抵抗器は、
チップ状絶縁板と、該チップ状絶縁板の一主面に形成さ
れた抵抗膜と、前記チップ状絶縁板の端部を略コ字状に
囲んで前記抵抗膜に接続する端部電極とを有する構成に
おいて、前記チップ状絶縁板への付着性の良い第1の金
属薄膜と、該第1の金属薄膜上に形成された低抵抗の@
2の金属薄膜と、該第2の金属薄膜上に形成された耐は
んだ性の(はんだの拡散防止及びはんだ耐熱性を持つ)
第1の金属めっき膜と、該第1の金属めっき膜上に形成
されたはんだ付着性の良い第2の金属めっき膜との積層
構造で前記端部電極を構成している。
チップ状絶縁板と、該チップ状絶縁板の一主面に形成さ
れた抵抗膜と、前記チップ状絶縁板の端部を略コ字状に
囲んで前記抵抗膜に接続する端部電極とを有する構成に
おいて、前記チップ状絶縁板への付着性の良い第1の金
属薄膜と、該第1の金属薄膜上に形成された低抵抗の@
2の金属薄膜と、該第2の金属薄膜上に形成された耐は
んだ性の(はんだの拡散防止及びはんだ耐熱性を持つ)
第1の金属めっき膜と、該第1の金属めっき膜上に形成
されたはんだ付着性の良い第2の金属めっき膜との積層
構造で前記端部電極を構成している。
また、本発明のもう一つのチップ抵抗器は、チップ状絶
縁板と、該チップ状絶縁板の一主面に形成された抵抗膜
と、前記チップ状絶縁板の端部を略コ字状に囲んで前記
抵抗膜に接続する端部電極とを有する構成において、チ
ップ状絶縁板の一主面に一対の一次電極膜を形成し、該
一対の一次電極膜間に抵抗膜を形成するとともに、前記
端部電極を、前記チップ状絶縁板への付着性の良い第1
の金属薄膜と、該#lJ1の金属薄膜上に形成された耐
はんだ性の第3の金pA薄膜と、該第3の金属薄膜上に
形成されたはんだ付着性の良い第4の金属薄膜との積層
構造としている。
縁板と、該チップ状絶縁板の一主面に形成された抵抗膜
と、前記チップ状絶縁板の端部を略コ字状に囲んで前記
抵抗膜に接続する端部電極とを有する構成において、チ
ップ状絶縁板の一主面に一対の一次電極膜を形成し、該
一対の一次電極膜間に抵抗膜を形成するとともに、前記
端部電極を、前記チップ状絶縁板への付着性の良い第1
の金属薄膜と、該#lJ1の金属薄膜上に形成された耐
はんだ性の第3の金pA薄膜と、該第3の金属薄膜上に
形成されたはんだ付着性の良い第4の金属薄膜との積層
構造としている。
本発明のチップ抵抗器の製造方法は、複数の棒状部が一
体に形成される如くスリ・ント状穴を設けるとともに各
棒状部の両主面にチップ状絶縁板に分割するための分割
溝を形成してなる穴あき絶縁基板の各棒状部の一主面に
、厚膜技術により抵抗厚膜を形成した後、薄膜技術によ
り前記絶縁基板への付着性の良い第1の金属薄膜及び該
第1の金属薄膜上に低抵抗の第2の金I4薄膜を形成し
、さらに電気めっきにより前記第2の金属薄膜上に耐は
んだ性の(はんだの拡散防止及びはんだ耐熱性を持つ)
第1の金属めっき膜及び該第1の金属めっき膜上にはん
だ付着性の良い第2の金属めつF!膜を形成して前記棒
状部の端部を略コ字状に囲むように積層構造の端部電極
を形成した後、前記棒状部を前記分割溝に沿って複数個
に切断分離することを特徴としている。
体に形成される如くスリ・ント状穴を設けるとともに各
棒状部の両主面にチップ状絶縁板に分割するための分割
溝を形成してなる穴あき絶縁基板の各棒状部の一主面に
、厚膜技術により抵抗厚膜を形成した後、薄膜技術によ
り前記絶縁基板への付着性の良い第1の金属薄膜及び該
第1の金属薄膜上に低抵抗の第2の金I4薄膜を形成し
、さらに電気めっきにより前記第2の金属薄膜上に耐は
んだ性の(はんだの拡散防止及びはんだ耐熱性を持つ)
第1の金属めっき膜及び該第1の金属めっき膜上にはん
だ付着性の良い第2の金属めつF!膜を形成して前記棒
状部の端部を略コ字状に囲むように積層構造の端部電極
を形成した後、前記棒状部を前記分割溝に沿って複数個
に切断分離することを特徴としている。
本発明によるもう一つのチップ抵抗器の製造方法は、複
数の棒状部が一体に形成される如くスリット状穴を設け
るとともに各棒状部の両主面にチップ状絶縁板に分割す
るための分割溝を形成してなる穴あき絶縁基板の各棒状
部の一主面に、厚膜技術により抵抗厚膜を形成した後、
薄膜技術により前記絶縁基板への付着性の良いtI&1
の金属IWIlKと該第1の金属薄膜上に耐はんだ性の
第3の金属薄膜と該第3の金属薄膜上にはんだ付着性の
良い第4の金属薄膜とを形成して前記棒状部の端部を略
コ字状に囲むように積層構造の端部電極を形成した後、
前記棒状部を前記分割溝に沿って複数個に切断分離する
ことを特徴としている。
数の棒状部が一体に形成される如くスリット状穴を設け
るとともに各棒状部の両主面にチップ状絶縁板に分割す
るための分割溝を形成してなる穴あき絶縁基板の各棒状
部の一主面に、厚膜技術により抵抗厚膜を形成した後、
薄膜技術により前記絶縁基板への付着性の良いtI&1
の金属IWIlKと該第1の金属薄膜上に耐はんだ性の
第3の金属薄膜と該第3の金属薄膜上にはんだ付着性の
良い第4の金属薄膜とを形成して前記棒状部の端部を略
コ字状に囲むように積層構造の端部電極を形成した後、
前記棒状部を前記分割溝に沿って複数個に切断分離する
ことを特徴としている。
(作用)
本発明においては、チップ状絶縁板の端部に形成される
べき端部電極をAg−Pdペーストの塗布、焼き付けで
構成する必要がなく、厚みの管理が容易な金属薄膜の積
層構造又は金属薄膜と金属めっき膜の積層構造で端部電
極を構成でき、製品寸法精度の向上が可能である。また
、高価なAg−Pdペーストを端部電極に使用しないた
め、原価低減を図る上でも有利である。
べき端部電極をAg−Pdペーストの塗布、焼き付けで
構成する必要がなく、厚みの管理が容易な金属薄膜の積
層構造又は金属薄膜と金属めっき膜の積層構造で端部電
極を構成でき、製品寸法精度の向上が可能である。また
、高価なAg−Pdペーストを端部電極に使用しないた
め、原価低減を図る上でも有利である。
また、端部電極は抵抗膜の抵抗値シフトを防止可能な低
温プロセスで形成でき、端部電極を構成する金属薄膜の
積層構造又は金属薄膜と金属めっき膜の積層構造の各材
質を工夫することにより、チップ状絶縁板への付着強度
やはんだ耐熱性に優れた構成とすることができる。
温プロセスで形成でき、端部電極を構成する金属薄膜の
積層構造又は金属薄膜と金属めっき膜の積層構造の各材
質を工夫することにより、チップ状絶縁板への付着強度
やはんだ耐熱性に優れた構成とすることができる。
さらに、複数の棒状部が一体に形成される如くスリット
状穴を設けるとともに各棒状部の両主面にチップ状絶縁
板に分割するための分割溝を形成してなる穴あき絶縁基
板を採用することにより、各チップ状絶縁板に切断、分
割する際のぼりの発生を極力防止することができる。
状穴を設けるとともに各棒状部の両主面にチップ状絶縁
板に分割するための分割溝を形成してなる穴あき絶縁基
板を採用することにより、各チップ状絶縁板に切断、分
割する際のぼりの発生を極力防止することができる。
(実施例)
以下、本発明に係るチップ抵抗器及びその製造方法の実
施例を図面に従って説明する。
施例を図面に従って説明する。
まず、完成状態のチ・ンブ抵抗器の第1実施例を第1図
で説明する。アルミナ等のチップ状絶縁板1の一主面(
上面)にはA g−p dペーストのスクリーン印刷に
よる塗布焼き付は等の厚膜技術によって一対の一次電極
厚膜2が形成される。チップ状絶縁板1上の一次電極厚
膜2間には例えばRu OZ系抵抗ペーストのスクリー
ン印刷による塗布焼き付は等の厚膜技術によQRuO□
系の抵抗厚膜3が形成される。該抵抗厚膜3の両端部は
前記−次組極厚Il!J2に重なって電気的に接続され
ている。
で説明する。アルミナ等のチップ状絶縁板1の一主面(
上面)にはA g−p dペーストのスクリーン印刷に
よる塗布焼き付は等の厚膜技術によって一対の一次電極
厚膜2が形成される。チップ状絶縁板1上の一次電極厚
膜2間には例えばRu OZ系抵抗ペーストのスクリー
ン印刷による塗布焼き付は等の厚膜技術によQRuO□
系の抵抗厚膜3が形成される。該抵抗厚膜3の両端部は
前記−次組極厚Il!J2に重なって電気的に接続され
ている。
前記抵抗厚膜3の上には低融点鉛ガラス等の保護コート
4が被着形成され、抵抗厚膜3を全面的に覆っている。
4が被着形成され、抵抗厚膜3を全面的に覆っている。
但し、−大電極厚膜2の大半は外部に露出している。
前記抵抗厚膜3に一次電極厚膜2を介して接続する端部
電極7は、チップ状絶縁板1の両方の端部を略コ字状に
囲むようにスパッタ、イオンブレーティング、P−CV
D等の薄膜技術により形成される@i及び第2の金属薄
膜5A、5Bと、電スめっきにより形成される第1及び
第2の金属めっき膜6 A、6 Bとの4層構造である
。
電極7は、チップ状絶縁板1の両方の端部を略コ字状に
囲むようにスパッタ、イオンブレーティング、P−CV
D等の薄膜技術により形成される@i及び第2の金属薄
膜5A、5Bと、電スめっきにより形成される第1及び
第2の金属めっき膜6 A、6 Bとの4層構造である
。
ここで、最下層の金属Tg膜5Aはチップ状絶縁板1へ
の付着性の良いNiCrスパッタ膜、Tiスパッタ膜又
はCrスパッタ膜等であり、この金属薄膜5A上に被着
される金属薄膜5Bは低抵抗のCuスパッタ膜等である
。
の付着性の良いNiCrスパッタ膜、Tiスパッタ膜又
はCrスパッタ膜等であり、この金属薄膜5A上に被着
される金属薄膜5Bは低抵抗のCuスパッタ膜等である
。
また、金属薄膜5B上に被着される金属めっき膜6Aは
耐はんだ性(はんだの拡散防止及びはんだ耐熱性)のN
iめっき膜等であり、この金属めっき膜6A上に被着さ
れる金属めっき膜6Bはpb−3nめっき膜又はSnめ
っき膜等である。
耐はんだ性(はんだの拡散防止及びはんだ耐熱性)のN
iめっき膜等であり、この金属めっき膜6A上に被着さ
れる金属めっき膜6Bはpb−3nめっき膜又はSnめ
っき膜等である。
上記ff11図に示したチップ抵抗器の製造は、次の順
序で行う。まず、第2図のようにスリット状穴11によ
って区画された複数の棒状部12を一体に有するアルミ
ナ等の穴あき絶縁基板10を受は入れ、表面を洗浄して
おく。ここで、第3図の如く各棒状部12の上下主面に
はチップ状絶縁板に分割するための分割溝13が形成さ
れている。
序で行う。まず、第2図のようにスリット状穴11によ
って区画された複数の棒状部12を一体に有するアルミ
ナ等の穴あき絶縁基板10を受は入れ、表面を洗浄して
おく。ここで、第3図の如く各棒状部12の上下主面に
はチップ状絶縁板に分割するための分割溝13が形成さ
れている。
次に第4図のように、Ag−Pdペーストをスクリーン
印刷し、乾燥、焼成(焼成温度850℃)する等の厚膜
技術で一対の一次電極厚膜2を分割溝13で区分された
チップ状絶縁板となるべき棒状部2の各区画14上に独
立的にそれぞれ形成する。
印刷し、乾燥、焼成(焼成温度850℃)する等の厚膜
技術で一対の一次電極厚膜2を分割溝13で区分された
チップ状絶縁板となるべき棒状部2の各区画14上に独
立的にそれぞれ形成する。
それから第5図のように、例えばRu O2系の抵抗ペ
ーストをスクリーン印刷し、乾燥、焼成(焼成温度85
0°C)する等の厚膜技術でRu○2系抵抗厚膜3を棒
状部12の各区画14上に独立的に設ける。このとき抵
抗厚膜3の端部は一次電極厚膜2に重な2)ている。
ーストをスクリーン印刷し、乾燥、焼成(焼成温度85
0°C)する等の厚膜技術でRu○2系抵抗厚膜3を棒
状部12の各区画14上に独立的に設ける。このとき抵
抗厚膜3の端部は一次電極厚膜2に重な2)ている。
前記一対の一次電極厚膜2間にプローブを立てて抵抗値
を測定しながら抵抗厚膜3のトリミング(抵抗値調整)
を行う。このトリミングは例え1!ドーザ−トリマーに
より第6図のように抵抗厚膜3に切り込み溝15を形成
することにより実行できる。
を測定しながら抵抗厚膜3のトリミング(抵抗値調整)
を行う。このトリミングは例え1!ドーザ−トリマーに
より第6図のように抵抗厚膜3に切り込み溝15を形成
することにより実行できる。
それから、第7図の如く、低融点鉛ガラス等の保護コー
ト4をガラスペーストのスクリーン印刷、乾燥、焼成等
による厚膜技術でトリミング後の抵抗厚膜3上に全面的
に設け、抵抗厚膜3の表面を包み込んで保護する。
ト4をガラスペーストのスクリーン印刷、乾燥、焼成等
による厚膜技術でトリミング後の抵抗厚膜3上に全面的
に設け、抵抗厚膜3の表面を包み込んで保護する。
穴あき絶縁基板の状態のままでスパッタ、イオンブレー
ティング、P−CVD等の薄膜技術による金属薄膜を5
A、5Bの順に設け、さらに電気めっき法により金属め
っき膜を6A、6Bの順で設けて、4層構造の端部電極
7を第8図の如く前記−大電極厚膜2上の一部を含む棒
状部12の両端部を略コ字状に囲むように当該棒状部裏
面の一部にまで延長して形成する。
ティング、P−CVD等の薄膜技術による金属薄膜を5
A、5Bの順に設け、さらに電気めっき法により金属め
っき膜を6A、6Bの順で設けて、4層構造の端部電極
7を第8図の如く前記−大電極厚膜2上の一部を含む棒
状部12の両端部を略コ字状に囲むように当該棒状部裏
面の一部にまで延長して形成する。
抵抗厚膜3及び端部電極7を形成した穴あき絶縁基板1
0を各棒状部12の分割溝13を利用して複数個のチッ
プ状絶縁板1に切断分離する。切断分離作業は、棒状部
12の両主面に分割溝13が形成されていることから、
手作業で実施でき、必要に応じてグイシングツ−等で第
8図1点鎖線Xに沿って(分割溝13に沿って)切断す
ることもできる。いずれにしても、分割溝13があるた
め、切断時にばりの発生が少なく、チップ状絶縁板1の
後加工を不要にできる。
0を各棒状部12の分割溝13を利用して複数個のチッ
プ状絶縁板1に切断分離する。切断分離作業は、棒状部
12の両主面に分割溝13が形成されていることから、
手作業で実施でき、必要に応じてグイシングツ−等で第
8図1点鎖線Xに沿って(分割溝13に沿って)切断す
ることもできる。いずれにしても、分割溝13があるた
め、切断時にばりの発生が少なく、チップ状絶縁板1の
後加工を不要にできる。
このような穴あき絶縁基板10の分離によりチップ状絶
縁板1上に抵抗厚膜と端部電極とが形成された第1図に
示した如き個々のチップ抵抗器が得られる。
縁板1上に抵抗厚膜と端部電極とが形成された第1図に
示した如き個々のチップ抵抗器が得られる。
上記第1実施例の場合、端部電極7をチップ状絶縁板1
への付着性の良い第1の金属薄膜5Aと、低抵抗の第2
の一!lr、I@薄膜5Bと、耐はんだ性の第1の金属
めっき膜6Aと、はんだ付着性の良い第2の金属めっき
膜6Bとの4層構造としたので、端部電極をA g−p
dペーストの塗布、焼き付けでvI威したものよりも
、寸法精度を向上させることができ、しかも材料費を低
減することができる。
への付着性の良い第1の金属薄膜5Aと、低抵抗の第2
の一!lr、I@薄膜5Bと、耐はんだ性の第1の金属
めっき膜6Aと、はんだ付着性の良い第2の金属めっき
膜6Bとの4層構造としたので、端部電極をA g−p
dペーストの塗布、焼き付けでvI威したものよりも
、寸法精度を向上させることができ、しかも材料費を低
減することができる。
また、抵抗厚膜3の形成後は、焼成(焼き付け)を必要
としない低温プロセスであり、抵抗値のシフトを防止で
きる。また、端部電極7ははんだ付着性が良好で、しか
もはんだ耐熱性も良好であり、はんだ付は時に端部電極
7が劣化しないので信頼性が高い。
としない低温プロセスであり、抵抗値のシフトを防止で
きる。また、端部電極7ははんだ付着性が良好で、しか
もはんだ耐熱性も良好であり、はんだ付は時に端部電極
7が劣化しないので信頼性が高い。
第9図は本発明の@2実施例を示す。この図において、
抵抗厚膜3に一次電極rrf−膜2を介して接続する端
部電極マAは、チップ状絶縁f21の両方の端部を略コ
字状に囲むようにスパッタ、イオンブレーティング、P
−CV D等の薄膜技術により形成されるttSl、
第3及びf54の金属薄膜5A。
抵抗厚膜3に一次電極rrf−膜2を介して接続する端
部電極マAは、チップ状絶縁f21の両方の端部を略コ
字状に囲むようにスパッタ、イオンブレーティング、P
−CV D等の薄膜技術により形成されるttSl、
第3及びf54の金属薄膜5A。
5 C,5Dの3層構造である。
ここで、最下層の金属薄膜5Aはチップ状絶縁板1への
付着性の良いNiCrスパッタ膜、Tiスパッタ膜又は
Crスパッタ膜等であり、この金属薄膜5A上に被着さ
れる金属薄膜5Cは耐はんだ性のNiスパッタ膜、Ni
Crスパッタ膜、AgNiスパッタ膜又はSnNiスパ
ツタ膜等であり、この金属薄膜5C上に被着される一金
属薄膜5DはAgスパッタ膜、Pb−3nスパツタ膜又
はSnスパッタ膜等である。
付着性の良いNiCrスパッタ膜、Tiスパッタ膜又は
Crスパッタ膜等であり、この金属薄膜5A上に被着さ
れる金属薄膜5Cは耐はんだ性のNiスパッタ膜、Ni
Crスパッタ膜、AgNiスパッタ膜又はSnNiスパ
ツタ膜等であり、この金属薄膜5C上に被着される一金
属薄膜5DはAgスパッタ膜、Pb−3nスパツタ膜又
はSnスパッタ膜等である。
なお、チップ状絶縁板1上の一対の一次電極厚膜2、該
−大電極厚膜2間の抵抗厚膜3及び保護コート4等の構
成は前述の第1実施例と同じである。また、製造工程は
ff11図から第7図までは同じであり、端部電極7A
をスパッタ、イオンブレーティング、P−CVD等の薄
膜技術のみにより形威し、電気めっきを使用しない点が
第1実施例の場合と異なっている。
−大電極厚膜2間の抵抗厚膜3及び保護コート4等の構
成は前述の第1実施例と同じである。また、製造工程は
ff11図から第7図までは同じであり、端部電極7A
をスパッタ、イオンブレーティング、P−CVD等の薄
膜技術のみにより形威し、電気めっきを使用しない点が
第1実施例の場合と異なっている。
この!@2実施例の場合、端部電極7Aは電気めっきを
使用しない乾式プロセスである点が特徴であり、製造工
数が第1実施例の場合よりも少なくなる。
使用しない乾式プロセスである点が特徴であり、製造工
数が第1実施例の場合よりも少なくなる。
第10図は本発明の第3実施例を示す。この場合、チッ
プ状絶縁板1の一主面(上面)には例えばRu 02
j1% 抵抗ペーストのスクリーン印刷による塗布焼き
付は等の厚膜技術によ’)RuOz系の抵抗厚膜3が形
威される。
プ状絶縁板1の一主面(上面)には例えばRu 02
j1% 抵抗ペーストのスクリーン印刷による塗布焼き
付は等の厚膜技術によ’)RuOz系の抵抗厚膜3が形
威される。
前記抵抗器1i3に接続する端部電極7は、第1実施例
と同じ構造であり、すなわちチップ状絶縁板1の両方の
端部を略コ字状に囲むようにスパッタ、イオンブレーテ
ィング、P−CVD等の薄膜技術により形成される第1
及び第2の金属薄膜5A、5Bと、電気めっきにより形
威される第1及び第2の金属めっき膜6 A、6 Bと
の4層構造である。
と同じ構造であり、すなわちチップ状絶縁板1の両方の
端部を略コ字状に囲むようにスパッタ、イオンブレーテ
ィング、P−CVD等の薄膜技術により形成される第1
及び第2の金属薄膜5A、5Bと、電気めっきにより形
威される第1及び第2の金属めっき膜6 A、6 Bと
の4層構造である。
前記抵抗厚膜3の端部電極7で覆われない部分は樹脂製
保護コー)4Aが被着、形威されている。
保護コー)4Aが被着、形威されている。
この第3実施例の場合の製造工程は、第2図の穴明き基
板10の各棒状部12における分離溝13で区分された
各区画14に抵抗厚膜3を形威しく一次電極膜は省略)
、その復温1及び第2の41.属rg膜5A、5Bのm
膜技術による形成、第1及び第2の金属めっき膜6 A
、6 Bの電気めっきによる形成を実行した後、チップ
状絶縁板1に分割し、分割された個々のチップ抵抗器(
半完成品)に対してトリミングを施してから保護コー)
4Aを設けるものである。
板10の各棒状部12における分離溝13で区分された
各区画14に抵抗厚膜3を形威しく一次電極膜は省略)
、その復温1及び第2の41.属rg膜5A、5Bのm
膜技術による形成、第1及び第2の金属めっき膜6 A
、6 Bの電気めっきによる形成を実行した後、チップ
状絶縁板1に分割し、分割された個々のチップ抵抗器(
半完成品)に対してトリミングを施してから保護コー)
4Aを設けるものである。
この第3実施例の場合、−大電極厚膜を省略できる利点
があるが、反面トリミングをチップ状絶縁板に切断分離
してから実行しなければならない。
があるが、反面トリミングをチップ状絶縁板に切断分離
してから実行しなければならない。
(発明の効果)
以上説明したように、本発明によれば、製品の寸法精度
の向上や端部電極の信頼性の向上(絶縁板への付着強度
や耐はんだ性の向上)を図ることができ、さらに、製法
上においても穴あき絶縁基板の各棒状部の両主面に分割
溝を形成しておくことにより、チップ状絶縁板に分割す
る作業を容易かつ確実とし、ぼり等の発生を未然に防止
できる。
の向上や端部電極の信頼性の向上(絶縁板への付着強度
や耐はんだ性の向上)を図ることができ、さらに、製法
上においても穴あき絶縁基板の各棒状部の両主面に分割
溝を形成しておくことにより、チップ状絶縁板に分割す
る作業を容易かつ確実とし、ぼり等の発生を未然に防止
できる。
第1図は本発明の第1実施例を示す正断面図、第2図は
第1実施例における製造工程で使用する穴あき絶縁基板
の平面図、第3図は穴あき絶縁基板の要部側面図、fI
IJ4図乃至第8図は第1実施例のおける製造工程を説
明する斜視図、第9図は本発明の第2実施例を示す正断
面図、第10図は本発明のfjIJ3実施例を示す正断
面図である。 1・・・チップ状絶縁板、2・・・−大電極厚膜、3・
・・抵抗厚膜、4,4A・・・保護コート、5 A、5
B、5C,5D・・・金属薄膜、6A、6B・・・金
属めっき膜、7.7A・・・端部電極、10・・・穴あ
き絶縁基板、11・・・スリット状穴、12・・・棒状
部、13・・・分割溝。
第1実施例における製造工程で使用する穴あき絶縁基板
の平面図、第3図は穴あき絶縁基板の要部側面図、fI
IJ4図乃至第8図は第1実施例のおける製造工程を説
明する斜視図、第9図は本発明の第2実施例を示す正断
面図、第10図は本発明のfjIJ3実施例を示す正断
面図である。 1・・・チップ状絶縁板、2・・・−大電極厚膜、3・
・・抵抗厚膜、4,4A・・・保護コート、5 A、5
B、5C,5D・・・金属薄膜、6A、6B・・・金
属めっき膜、7.7A・・・端部電極、10・・・穴あ
き絶縁基板、11・・・スリット状穴、12・・・棒状
部、13・・・分割溝。
Claims (9)
- (1)チップ状絶縁板と、該チップ状絶縁板の一主面に
形成された抵抗膜と、前記チップ状絶縁板の端部を略コ
字状に囲んで前記抵抗膜に接続する端部電極とを有する
チップ抵抗器において、前記チップ状絶縁板への付着性
の良い第1の金属薄膜と、該第1の金属薄膜上に形成さ
れた低抵抗の第2の金属薄膜と、該第2の金属薄膜上に
形成された耐はんだ性の第1の金属めっき膜と、該第1
の金属めっき膜上に形成されたはんだ付着性の良い第2
の金属めっき膜との積層構造で前記端部電極を構成した
ことを特徴とするチップ抵抗器。 - (2)前記チップ状絶縁板の前記一主面上には一対の一
次電極膜が形成されており、該一対の一次電極膜間に前
記抵抗膜が形成されている請求項1記載のチップ抵抗器
。 - (3)チップ状絶縁板と、該チップ状絶縁板の一主面に
形成された抵抗膜と、前記チップ状絶縁板の端部を略コ
字状に囲んで前記抵抗膜に接続する端部電極とを有する
チップ抵抗器において、チップ状絶縁板の一主面に一対
の一次電極膜を形成し、該一対の一次電極膜間に抵抗膜
を形成するとともに、前記端部電極を、前記チップ状絶
縁板への付着性の良い第1の金属薄膜と、該第1の金属
薄膜上に形成された耐はんだ性の第3の金属薄膜と、該
第3の金属薄膜上に形成されたはんだ付着性の良い第4
の金属薄膜との積層構造としたことを特徴とするチップ
抵抗器。 - (4)前記第1の金属薄膜がNiCr薄膜、Ti薄膜又
はCr薄膜である請求項1、2又は3記載のチップ抵抗
器。 - (5)前記第2の金属薄膜がCu薄膜である請求項1又
は2記載のチップ抵抗器。 - (6)前記第1の金属めっき膜がNiめっき膜である請
求項1又は2記載のチップ抵抗器。 - (7)前記第3の金属薄膜がNi薄膜、NiCr薄膜、
AgNi薄膜又はSnNi薄膜である請求項3記載のチ
ップ抵抗器。 - (8) 複数の棒状部が一体に形成される如くスリット
状穴を設けるとともに各棒状部の両主面にチップ状絶縁
板に分割するための分割溝を形成してなる穴あき絶縁基
板の各棒状部の一主面に、厚膜技術により抵抗厚膜を形
成した後、薄膜技術により前記絶縁基板への付着性の良
い第1の金属薄膜及び該第1の金属薄膜上に低抵抗の第
2の金属薄膜を形成し、さらに電気めっきにより前記第
2の金属薄膜上に耐はんだ性の第1の金属めっき膜及び
該第1の金属めっき膜上にはんだ付着性の良い第2の金
属めっき膜を形成して前記棒状部の端部を略コ字状に囲
むように積層構造の端部電極を形成した後、前記棒状部
を前記分割溝に沿って複数個に切断分離することを特徴
とするチップ抵抗器の製造方法。 - (9) 複数の棒状部が一体に形成される如くスリット
状穴を設けるとともに各棒状部の両主面にチップ状絶縁
板に分割するための分割溝を形成してなる穴あき絶縁基
板の各棒状部の一主面に、厚膜技術により抵抗厚膜を形
成した後、薄膜技術により前記絶縁基板への付着性の良
い第1の金属薄膜と該第1の金属薄膜上に耐はんだ性の
第3の金属薄膜と該第3の金属薄膜上にはんだ付着性の
良い第4の金属薄膜とを形成して前記棒状部の端部を略
コ字状に囲むように積層構造の端部電極を形成した後、
前記棒状部を前記分割溝に沿って複数個に切断分離する
ことを特徴とするチップ抵抗器の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1216570A JP2526131B2 (ja) | 1989-08-23 | 1989-08-23 | チップ抵抗器及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1216570A JP2526131B2 (ja) | 1989-08-23 | 1989-08-23 | チップ抵抗器及びその製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0380501A true JPH0380501A (ja) | 1991-04-05 |
| JP2526131B2 JP2526131B2 (ja) | 1996-08-21 |
Family
ID=16690496
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1216570A Expired - Fee Related JP2526131B2 (ja) | 1989-08-23 | 1989-08-23 | チップ抵抗器及びその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2526131B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0837104A (ja) * | 1994-07-21 | 1996-02-06 | Kamaya Denki Kk | チップ型抵抗器の製造方法 |
| US6859133B2 (en) | 2001-03-01 | 2005-02-22 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Resistor |
| JP2008251751A (ja) * | 2007-03-29 | 2008-10-16 | Tdk Corp | 電子部品およびその製造方法 |
| JP2012028540A (ja) * | 2010-07-23 | 2012-02-09 | Koa Corp | ジャンパーチップ部品 |
| WO2013146671A1 (ja) * | 2012-03-26 | 2013-10-03 | コーア株式会社 | 抵抗器およびその実装構造 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61102703A (ja) * | 1984-10-26 | 1986-05-21 | 興亜電工株式会社 | チツプ状電子部品 |
| JPS62176101A (ja) * | 1986-01-29 | 1987-08-01 | コーア株式会社 | セラミツク基板 |
| JPS63172401A (ja) * | 1987-01-12 | 1988-07-16 | ティーディーケイ株式会社 | チツプ抵抗器、その集合体及びチツプ抵抗器の製造方法 |
| JPH01154501A (ja) * | 1987-12-11 | 1989-06-16 | Koa Corp | 角形チップ抵抗器 |
-
1989
- 1989-08-23 JP JP1216570A patent/JP2526131B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| US6859133B2 (en) | 2001-03-01 | 2005-02-22 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Resistor |
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| WO2013146671A1 (ja) * | 2012-03-26 | 2013-10-03 | コーア株式会社 | 抵抗器およびその実装構造 |
| JP2013201339A (ja) * | 2012-03-26 | 2013-10-03 | Koa Corp | 抵抗器およびその実装構造 |
| US9437352B2 (en) | 2012-03-26 | 2016-09-06 | Koa Corporation | Resistor and structure for mounting same |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2526131B2 (ja) | 1996-08-21 |
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