JPH0380504A - 抵抗体のトリミング方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は抵抗体のトリミング方法に関し、特にレーザト
リマ用ソフトウェアを用いて抵抗体のトリミングをなす
方法に関するものである。

従来技術 従来の抵抗体のトリミング方法は抵抗体をレーザにより
カットして調整し、このときの測定値と予め設定された
抵抗の目標値とを比較しつつ当該カットを繰返してゆき
、最終的に測定値が目標値に達したところでトリミング
が終了するようになっている。

高精度なトリミング仕上りが達成再能なインデックスト
リミング方法では、高精度な測定が必要であるために測
定時間が長くなり、そのために測定とカットとを同時に
実行することが困難である。

よって、トリミング開始時点から、抵抗測定とカットと
を交互に繰返しつつ目標値までのトリミングを行ってい
るのが現状である。

この様な従来のインデックストリミング方法では、トリ
ミング開始から、測定とカットとを交互に繰返し実行し
ているが、実際にＪｌｌｌ定が７必要になるのは、目標
値付近だけでよいはずである。

しかしながら、現実には調整される抵抗測定値が目標値
から離れている場合でも、測定を行っており、時間を要
する一因となっている。また、゛高精度のトリミングを
行うためには、１回にカットするカット長をできるだけ
小さくする必要があるので、目標値に達するまでのカッ
ト回数及びそれに伴う測定回数が非常に多くなり、これ
またトリミングに要する時間が大となるという欠点を有
する。

発明の目的 本発明の目的は、インデックストリミングに要する時間
を極力小とするようにした抵抗体のトリミング方法を提
供することである。

発明の構成 本発明による抵抗体のトリミング方法は、トリミング対
象の抵抗体を予め定められたカット長ずつ順次繰返して
カットしつつその都度そのときの抵抗値を測定する工程
と、これ等測定抵抗値の初期値に対する各部を対応する
カット長と共にメモリへ格納する工程と、トリミング対
象抵抗体のトリミング目標値の初期値に対する比を算出
する工程と、この算出結果に応じて前記メモリに格納さ
れているカット長を読出してこのカット長を用いて実際
のトリミング用の最初のカット長とする工程とを含むこ
とを特徴としている。

実施例 以下に、図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明する
。

第１図は本発明の実施例のシステムブロック図である。

図において、マイクロコンピュータ１はトリミング動作
全てをコントロールするものであり、各部の動作制御を
行う。レーザ発振器制御部２はトリミング用のレーザ光
を発振するレーザ発振器３を制御するものであり、この
レーザ出力はビームスキャナ光学系部４により照射状態
が制御される。

このビームスキャナ光学系部４はビームスキャナ制御部
５により制御され、被トリミング回路６における抵抗体
（図示せず）のカットを行う様動作する。トリミングさ
れた抵抗体の抵抗値は測定器７にて測定され、マイクロ
コンピュータ１へ出力されることになる。

マイクロコンピュータ１はメモリ８内のプログラムによ
り動作するようになっており、このメモリ８はプログラ
ム格納領域８０と、トリミング用データ格納領域８１と
、本発明の特徴となるサンプリングカット時のデータを
格納する領域８２と、トリミングデータ入出力操作領域
８３とからなっている。

本発明では、実際のトリミング動作開始前にサンプリン
グカット動作を行うものである。このサンプリングカッ
ト動作は、実際にトリミングを行うべきトリミング対象
の抵抗体と同一抵抗体について、第６図に示す様に、指
定長ａによるカット及びそのときの抵抗測定を繰返し実
行し、第４図に示す如きカット長と（測定値／初期値）
との相関に係を得るためのものである。

第２図にこのサンプリング動作のフローチャートが示さ
れている。このサンプリング動作時には、カット速度、
カット長、リミット長、Ｑスイッチの繰返し周波数等の
データがメモリ８のトリミング用データ格納領域８１か
ら読出されてセットされる。

しかる後に、第６図に示した様に指定カット長ａずつ順
次繰返してカットし、その都度測定器７にて抵抗値を測
定する。この測定値の初期値に対する比（測定値／初期
値）と、それに対応するカット長との関係（第４図参照
）を求めてメモリ８内のサンプリングカット時のデータ
格納領域８２内に格納する。

以上の動作が予め定められたリミット長になるまで繰返
し行われ、最終的に第４図に示すデータが得られるので
ある。

次に、こうして得られたサンプリング時のデータを用い
て実際のインデックストリミング動作が開始されるわけ
であるが、このときの動作フローチャートが第３図に示
されている。先ず、トリミングに必要な情報（例えば、
カット速度、カット長、リミット長、Ｑスイッチ繰返し
周波数、目標値等）を、メモリ８内のトリミング用デー
タ格納領域８１より読出し、レーザ発振器制御部２やビ
−ムスキャナ制御部５にセットする。このとき、ビーム
ポジションはトリミング開始装置へ移動制御されること
になる。

次に、トリミング対象の抵抗体の初期値が測定され、目
標値との比（目標値／初期ｌｌ？Ｕ）が算出される。こ
の算出された比の値に最も近い比を、メモリ８内のサン
プリングカット時のデータ格納領域８２から探し出し、
その比に対応するカット長を求める。こうして得られた
カット長りがトリミング仕上り時のカット長となるが、
このカット長りから、予め定められている微調整のため
の長さｇを差引いて、その値Ｌ　−（１−ｍ　（第５図
参照）を第１回目の直線カット長とするのである。

この直線カット長だけでは目標値に達しないので、この
直線カット後、インデックストリミングを指定長ａずつ
カットして行い、測定値が目標値になるようにするもの
である。

以上の方法をとることにより、トリミング開始時点から
カットと測定とを交互に繰返す従来の方法（第６図の方
法でもある）に比較して、著しく高速化を図ることがで
きることは明白である。

発明の効果 叙上の如く、本発明によれば、実際のインデックストリ
ミング開始前に、トリミング対象の抵抗体と同一の抵抗
体についてサンプリングカット動作を行い、（Ａ１１ｌ
定値／初明値）なる比の値とカット長との関係を予め求
めておき、このカット長を用いて実際のインデックスト
リミングを開始するようにしているので、第１回目のカ
ット長を大とすることができ、よって測定動作の回数が
減少するために、インデックストリミングの高速化が可
能になるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例のシステムブロック図、第２図
はサンプリングカット時の動作を示すフローチャート、
第３図はインデックストリミング動作時のフローチャー
ト、第４図はインデックスカット時に得られるデータを
示す図、第５図は本発明の実施例の動作を説明する図、
第６図はサンプリングカット時の動作を説明する図であ
る。 主要部分の符号の説明 １・・・・・・マイクロコンピュータ ６・・・・・・被トリミング回路 ７・・・・・・測定回路 ８・・・・・・メモリ ８１・・・・・・トリミング用データ格納領域８２・・
・・・・サンプリングカット時のデータ格納領域

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）トリミング対象の抵抗体を予め定められたカット
   長ずつ順次繰返してカットしつつその都度そのときの抵
   抗値を測定する工程と、これ等測定抵抗値の初期値に対
   する各比を対応するカット長と共にメモリへ格納する工
   程と、トリミング対象抵抗体のトリミング目標値の初期
   値に対する比を算出する工程と、この算出結果に応じて
   前記メモリに格納されているカット長を読出してこのカ
   ット長を用いて実際のトリミング用の最初のカット長と
   する工程とを含むことを特徴とする抵抗体のトリミング
   方法。