JPH0383356A - ボンディングツール - Google Patents
ボンディングツールInfo
- Publication number
- JPH0383356A JPH0383356A JP1219254A JP21925489A JPH0383356A JP H0383356 A JPH0383356 A JP H0383356A JP 1219254 A JP1219254 A JP 1219254A JP 21925489 A JP21925489 A JP 21925489A JP H0383356 A JPH0383356 A JP H0383356A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lead
- bonding
- tool
- bump
- equation
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、ボンディングツールに関し、特に、フィルム
キャリアテープのリード先端部を半導体素子のバンプま
たはパッドへインナーリードボンディングを行う際に用
いられるボンディングツールに関する。
キャリアテープのリード先端部を半導体素子のバンプま
たはパッドへインナーリードボンディングを行う際に用
いられるボンディングツールに関する。
[従来の技術]
従来のこの種ボンディングツールの側面図を第5図(a
)に、そのA部の拡大図を第5IN(b)に示す、第5
図に示されるように、従来のボンディングツールは、先
端部1の圧着面3は、水平面となっていた。すなわち、
フィルムキャリアテープのリード表面と平行に接触し圧
着するいわゆる平行工具となっていた。なお、2はボン
ディングツールのシャンク部である。
)に、そのA部の拡大図を第5IN(b)に示す、第5
図に示されるように、従来のボンディングツールは、先
端部1の圧着面3は、水平面となっていた。すなわち、
フィルムキャリアテープのリード表面と平行に接触し圧
着するいわゆる平行工具となっていた。なお、2はボン
ディングツールのシャンク部である。
[発明が解決しようとする課題]
上述した従来のボンディングツールでは、インナーリー
ドボンディング時に、バンプの剥離事故あるいはその下
のシリコン基板がバンプとともに挾り取られるという事
故が発生する。このような事故が発生するのは次の理由
によるものと考えられる。
ドボンディング時に、バンプの剥離事故あるいはその下
のシリコン基板がバンプとともに挾り取られるという事
故が発生する。このような事故が発生するのは次の理由
によるものと考えられる。
第6図は、従来のボンディングツールによるボンディン
グ状態を示す図であって、5は、フィルムキャリアテー
プのリード、6は、半導体素子基板7上に設けられたバ
ンプである。
グ状態を示す図であって、5は、フィルムキャリアテー
プのリード、6は、半導体素子基板7上に設けられたバ
ンプである。
第6図(a)は、平行工具であるボンディングツール1
による据込みによって材料の微小要素に作用する力の釣
り合い状態を模式的に表わした図である。ここで、リー
ド5の微小要素dx部分のX軸に垂直な断面上の力の釣
り合いを考えると、この部分でのツール接触面の圧力を
G7とし、この部分でのリード5上下面の摩擦係数をμ
としくリード5の上、下面で摩擦係数は現実には異なる
が、ここでは説明を簡単にするために、両者の値を等し
いものとする)、x軸方向の平均応力をσ□、リード5
の厚さをhとして(1)式が得られる。
による据込みによって材料の微小要素に作用する力の釣
り合い状態を模式的に表わした図である。ここで、リー
ド5の微小要素dx部分のX軸に垂直な断面上の力の釣
り合いを考えると、この部分でのツール接触面の圧力を
G7とし、この部分でのリード5上下面の摩擦係数をμ
としくリード5の上、下面で摩擦係数は現実には異なる
が、ここでは説明を簡単にするために、両者の値を等し
いものとする)、x軸方向の平均応力をσ□、リード5
の厚さをhとして(1)式が得られる。
h・σ、−2μσndx=h (σX、+dσ、1.)
・・・(1) これを変形整理して+21式が得られる。
・・・(1) これを変形整理して+21式が得られる。
G6.、/dx=−2)tσfi/h =12
Jさらに、トレス力の降伏条件を近似的に用いて、σ□
−σ。=2k(k:降伏せん断応力)・・・(31 また、リード5およびバンプ6を構成している材料は、
非硬化性の剛・完全塑性体と仮定すると、塑性変形が進
展しても(3)式の関係がそのまま適用できるので、(
3)式の両辺をXで微分すると、dawn/dx=da
n /dx −G41を得る。(■およびに
)式から、 da、/dx=−2ttao /h −(51
が得られる。(5)式は変数分離できるので、両辺を直
接積分して、(6)式を得る。
Jさらに、トレス力の降伏条件を近似的に用いて、σ□
−σ。=2k(k:降伏せん断応力)・・・(31 また、リード5およびバンプ6を構成している材料は、
非硬化性の剛・完全塑性体と仮定すると、塑性変形が進
展しても(3)式の関係がそのまま適用できるので、(
3)式の両辺をXで微分すると、dawn/dx=da
n /dx −G41を得る。(■およびに
)式から、 da、/dx=−2ttao /h −(51
が得られる。(5)式は変数分離できるので、両辺を直
接積分して、(6)式を得る。
I n a、 =−<2u/h ) x+C・161こ
こでCは積分定数である。リード5の先端部の外側面と
バンプ6の両外側面はX方向(X軸)に垂直なままであ
ると仮定し、境界条件をx=b (bはバンプ6のX方
向の寸法)にて、σ。=O1σ。−一2にとして算出す
ると、ツール圧着面の圧力分布σ。はXの関数として(
7)式であられされる。
こでCは積分定数である。リード5の先端部の外側面と
バンプ6の両外側面はX方向(X軸)に垂直なままであ
ると仮定し、境界条件をx=b (bはバンプ6のX方
向の寸法)にて、σ。=O1σ。−一2にとして算出す
ると、ツール圧着面の圧力分布σ。はXの関数として(
7)式であられされる。
σ。=σ、(x)
=−2kexp [2μ(b−x>/h](0≦X≦b
)・・・(7) この式に基づいて、ツール圧着面の圧力分布を模式的に
表わすと第6図(b)が得られる。
)・・・(7) この式に基づいて、ツール圧着面の圧力分布を模式的に
表わすと第6図(b)が得られる。
また、第7図は、リード表面の摩擦係数μを変化させた
ときのツール圧着面の圧力分布の状態を示した図である
。さらに、この圧力分布σ。を第6図(C)に示すよう
な等偏集中荷重Pに換算する為に、全圧着面にわたって
積分すると、P=J:l−2kexp (2μ(b−x
)/h)ldx =几2kexp (2μ(b−x)/hlx = (kh/μ)<exp (2,czb/h)−1)
・・・(8)が得られ
る。(8)式で求められた等偏集中荷重Pを用いて第6
[J(c)に示すモーメント荷重MをM=P−aで表わ
される。ここでaはモーメントアームである。
ときのツール圧着面の圧力分布の状態を示した図である
。さらに、この圧力分布σ。を第6図(C)に示すよう
な等偏集中荷重Pに換算する為に、全圧着面にわたって
積分すると、P=J:l−2kexp (2μ(b−x
)/h)ldx =几2kexp (2μ(b−x)/hlx = (kh/μ)<exp (2,czb/h)−1)
・・・(8)が得られ
る。(8)式で求められた等偏集中荷重Pを用いて第6
[J(c)に示すモーメント荷重MをM=P−aで表わ
される。ここでaはモーメントアームである。
このようなモーメント荷重がバンプに加えられることに
より、バンプ6の剥離や基板の破損が発生する。
より、バンプ6の剥離や基板の破損が発生する。
[課題を解決するための手段]
本発明のボンディングツールは、フィルムキャリアテー
プのリードの先端部を半導体素子のバンプまたはパッド
にボンディングする際に用いられるものであって(突出
した電極すなわちバンプはリードの先端部または半導体
素子上の少なくとも一方に形成されているものとする)
、ツールのリードと接触する圧着面にはボンディング時
にバンプまたはパッドに加わる圧力分布が均一になるよ
うにテーバが設けられている。
プのリードの先端部を半導体素子のバンプまたはパッド
にボンディングする際に用いられるものであって(突出
した電極すなわちバンプはリードの先端部または半導体
素子上の少なくとも一方に形成されているものとする)
、ツールのリードと接触する圧着面にはボンディング時
にバンプまたはパッドに加わる圧力分布が均一になるよ
うにテーバが設けられている。
上記テーバは、平行工具による平面ひずみ据込みの解析
手段(例えばスラブ法)あるいはKarmanの圧延方
程式等を用いて算出することができる。すなわち、例え
ばスラブ法を用いる場合には、平行工具による据込み時
にツールがバンプ等に与える圧力分布を計算し、この圧
力分布に比例した形状の逃げを圧着面に設けるようにす
る。
手段(例えばスラブ法)あるいはKarmanの圧延方
程式等を用いて算出することができる。すなわち、例え
ばスラブ法を用いる場合には、平行工具による据込み時
にツールがバンプ等に与える圧力分布を計算し、この圧
力分布に比例した形状の逃げを圧着面に設けるようにす
る。
[実施例]
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第1図(a>は、本発明の一実施例を示す側面図、第1
図(b)は、そのA部の拡大図、第1図(C)は、その
下面図である。第1図に示されるように、この実施例で
は、ツール先端部1のリード表面と接触する圧着面3は
据込み角(テーバ)4を有している。尚、この圧着面3
の面積は、熱圧着が施されるフィルムキャリアテープの
リード表面を全て覆う広さであれば良く、したがって、
リード表面の熱圧着部位より広くても差しつかえない。
図(b)は、そのA部の拡大図、第1図(C)は、その
下面図である。第1図に示されるように、この実施例で
は、ツール先端部1のリード表面と接触する圧着面3は
据込み角(テーバ)4を有している。尚、この圧着面3
の面積は、熱圧着が施されるフィルムキャリアテープの
リード表面を全て覆う広さであれば良く、したがって、
リード表面の熱圧着部位より広くても差しつかえない。
次に、本実施倒の据込み角4の算出方法について説明す
る。据込み角4をスラブ法を用いて算出する場合には、
先に求めた(7)式を用いる。概略値を求めるために(
7)式をTaylor展開して、μに関する高次の項を
省くと、 σn (x)/2k”v[1+2μ(b−x)/h] (0≦X≦b)・・・(9) と書き換えられる。ここでσ6 (x)を2kにより、
またXをbにより正規化すると(9)′式が得られる。
る。据込み角4をスラブ法を用いて算出する場合には、
先に求めた(7)式を用いる。概略値を求めるために(
7)式をTaylor展開して、μに関する高次の項を
省くと、 σn (x)/2k”v[1+2μ(b−x)/h] (0≦X≦b)・・・(9) と書き換えられる。ここでσ6 (x)を2kにより、
またXをbにより正規化すると(9)′式が得られる。
−σIl (x)”=[1+2μb (1−x)/h
](O≦X≦b)・・・(9)′ この(9)′式はXの一次式であるので据込み角4をθ
とすると、tanθ−dσn (x>/dnであるから
、αω式が得られる。
](O≦X≦b)・・・(9)′ この(9)′式はXの一次式であるので据込み角4をθ
とすると、tanθ−dσn (x>/dnであるから
、αω式が得られる。
θ’;tan−’(2μb/h) −QO
I第2図は、00式にて与えられた角度θを据込み角4
として設けた場合のボンディング状態を、これも、力学
的取扱いが容易なように模式的に表わしたものである。
I第2図は、00式にて与えられた角度θを据込み角4
として設けた場合のボンディング状態を、これも、力学
的取扱いが容易なように模式的に表わしたものである。
第2図にて、リード5の先端部はX方向に据込み角4に
相応する拘束を受けており、このため、第6図(b)お
よび第7図に示されるような不均一な圧力分布は均一な
圧力分布になるように矯正されることになる。ここで、
第2図中のり、は、Xおよび据込み角θに関する関数で
あり、 hl =h (x)=h−x−tanθと表わされる。
相応する拘束を受けており、このため、第6図(b)お
よび第7図に示されるような不均一な圧力分布は均一な
圧力分布になるように矯正されることになる。ここで、
第2図中のり、は、Xおよび据込み角θに関する関数で
あり、 hl =h (x)=h−x−tanθと表わされる。
また、σ。′はテーバを有するツール圧着面に垂直な圧
力、h2はリード先端部の圧着後の厚さ、dh、はリー
ドの微小長さdXに対応したリードの高さの増分である
。
力、h2はリード先端部の圧着後の厚さ、dh、はリー
ドの微小長さdXに対応したリードの高さの増分である
。
第3図(a)は、本発明の他の実施例を示す側面図であ
り、第3図(b)は、そのA部拡大図である。先の実施
例で(7)式をT a y 1 o r展開してテーバ
を求めていたのに対し、この実施例では(7)式をTa
ylor展開せず、圧着面の曲線は、−σ。(x )
/ 2 k =e xp [2μ(b−x) /h ) ](0≦X
≦b) なる式の右辺の軌跡そのものか、もしくはそれに非常に
近い曲率半径8を有するものとする。これにより、前述
した(9)式および00式のように一次近似した場合よ
りもより的確にX方向の拘束が施されるので、圧力分布
の図心、すなわち、モーメントアームaの減少が忠実に
行われる。
り、第3図(b)は、そのA部拡大図である。先の実施
例で(7)式をT a y 1 o r展開してテーバ
を求めていたのに対し、この実施例では(7)式をTa
ylor展開せず、圧着面の曲線は、−σ。(x )
/ 2 k =e xp [2μ(b−x) /h ) ](0≦X
≦b) なる式の右辺の軌跡そのものか、もしくはそれに非常に
近い曲率半径8を有するものとする。これにより、前述
した(9)式および00式のように一次近似した場合よ
りもより的確にX方向の拘束が施されるので、圧力分布
の図心、すなわち、モーメントアームaの減少が忠実に
行われる。
尚、aXな据込み角を設定するにあたっては、前述した
(7)式乃至01式のみを用いて行うのではなく、次に
述べることに注意する必要がある。つまり、ボンディン
グプロセスは定常なプロセスではなく、据込み角に応じ
た圧着面の面積が押し込みが進行するにつれて広がり、
また、ボンディング時の熱負荷により、ボンディングツ
ール1とリード5間の摩擦係数及びリード5、パン16
間の摩擦係数がダイナミックに影響し、摩擦が最も大き
くなると、熱間の圧延や据込み加工法の場合と同様に、
固着摩擦の領域が形成され、摩擦係数が1に近づく、従
って、最適な据込み角を決定するには実際のボンディン
グプロセスに即して非定常の平面ひずみ据込みの解析が
必要であって、従来のスラブ法やカルマンの圧延理論等
をさらに拡張しなければならない、このようにして決定
された据込み角を有するツールを用い、そして物理シュ
ミレーション用のモデル材料(商品名プラスティシンな
ど)を用いて、ボンディングプロセスをまねた模擬物理
実験を行うと、第4図に実線で示されるような均一の圧
力分布に修正される。
(7)式乃至01式のみを用いて行うのではなく、次に
述べることに注意する必要がある。つまり、ボンディン
グプロセスは定常なプロセスではなく、据込み角に応じ
た圧着面の面積が押し込みが進行するにつれて広がり、
また、ボンディング時の熱負荷により、ボンディングツ
ール1とリード5間の摩擦係数及びリード5、パン16
間の摩擦係数がダイナミックに影響し、摩擦が最も大き
くなると、熱間の圧延や据込み加工法の場合と同様に、
固着摩擦の領域が形成され、摩擦係数が1に近づく、従
って、最適な据込み角を決定するには実際のボンディン
グプロセスに即して非定常の平面ひずみ据込みの解析が
必要であって、従来のスラブ法やカルマンの圧延理論等
をさらに拡張しなければならない、このようにして決定
された据込み角を有するツールを用い、そして物理シュ
ミレーション用のモデル材料(商品名プラスティシンな
ど)を用いて、ボンディングプロセスをまねた模擬物理
実験を行うと、第4図に実線で示されるような均一の圧
力分布に修正される。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明によれば、ボンディングツ
ールの圧着面にはボンディング面に均一な圧力が加えら
れるようにテーバが設けられてぃるので、ボンディング
時にバンプはがれ等のせん断破壊を助長するモーメント
荷重が生じることがなく、ボンディング工程における不
良の発生を防止することができる。
ールの圧着面にはボンディング面に均一な圧力が加えら
れるようにテーバが設けられてぃるので、ボンディング
時にバンプはがれ等のせん断破壊を助長するモーメント
荷重が生じることがなく、ボンディング工程における不
良の発生を防止することができる。
第1図(a)は、本発明の一実施例を示す側面図、第1
図(b)は、その部分拡大図、第1図(C)は、第1図
(a)の下面図、第2図は、第1図の実施例の使用状態
を示す圧力分布図、第3図(a)は、本発明の他の実施
例を示す側面図、第3図(b)は、その部分拡大図、第
4図は、本発明の効果を示す図、第5図(a)は、従来
例を示す側面図、第5図(b)は、その部分拡大図、第
6図(a)〜(c)は、それぞれ従来例の使用状態を示
す図、第7図は、従来例の使用時の圧力分布を示す図で
ある。 1・・・ボンディングツールの先端部、 2・・・ボ
ンディングツールのシャンク部、 3・・・ボンディ
ングツールの圧着面、 4・・・据込み角(θ)、5・
・・フィルムキャリアテープのリード、 6・・・
バンプ、 7・・・半導体素子基板、 8・・・ツ
ール圧着面の近似曲率半径、 σ。・・・ツール圧着
面圧力分布、 σ、・・・リード内部のX方向の平均
応力、 μ・・・ツール圧着面とリード表面との間お
よびリード表面とバンプ表面との間の摩擦係数、 d
x・・・リードの微小要素部分、dσ、・・・リード内
部のX方向平均応力の増分、h・・・リードのボンディ
ング前の厚さ、 b・・・バンプのX方向の寸法、
P・・・等偏集中荷重、a・・・モーメントアーム、
M・・・モーメント荷重(=P −a) 。
図(b)は、その部分拡大図、第1図(C)は、第1図
(a)の下面図、第2図は、第1図の実施例の使用状態
を示す圧力分布図、第3図(a)は、本発明の他の実施
例を示す側面図、第3図(b)は、その部分拡大図、第
4図は、本発明の効果を示す図、第5図(a)は、従来
例を示す側面図、第5図(b)は、その部分拡大図、第
6図(a)〜(c)は、それぞれ従来例の使用状態を示
す図、第7図は、従来例の使用時の圧力分布を示す図で
ある。 1・・・ボンディングツールの先端部、 2・・・ボ
ンディングツールのシャンク部、 3・・・ボンディ
ングツールの圧着面、 4・・・据込み角(θ)、5・
・・フィルムキャリアテープのリード、 6・・・
バンプ、 7・・・半導体素子基板、 8・・・ツ
ール圧着面の近似曲率半径、 σ。・・・ツール圧着
面圧力分布、 σ、・・・リード内部のX方向の平均
応力、 μ・・・ツール圧着面とリード表面との間お
よびリード表面とバンプ表面との間の摩擦係数、 d
x・・・リードの微小要素部分、dσ、・・・リード内
部のX方向平均応力の増分、h・・・リードのボンディ
ング前の厚さ、 b・・・バンプのX方向の寸法、
P・・・等偏集中荷重、a・・・モーメントアーム、
M・・・モーメント荷重(=P −a) 。
Claims (1)
- フィルムキャリアテープのリード先端部を半導体素子上
のバンプまたはパッドへボンディングするボンディング
ツールにおいて、リード先端部に接触する圧着面にはボ
ンディング時にバンプまたはパッドに加わる圧力分布が
均一となるようにテーパが設けられていることを特徴と
するボンディングツール。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1219254A JP2793282B2 (ja) | 1989-08-26 | 1989-08-26 | ボンディングツール |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1219254A JP2793282B2 (ja) | 1989-08-26 | 1989-08-26 | ボンディングツール |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0383356A true JPH0383356A (ja) | 1991-04-09 |
| JP2793282B2 JP2793282B2 (ja) | 1998-09-03 |
Family
ID=16732640
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1219254A Expired - Lifetime JP2793282B2 (ja) | 1989-08-26 | 1989-08-26 | ボンディングツール |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2793282B2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6373532A (ja) * | 1986-09-16 | 1988-04-04 | Nec Corp | ボンデイング装置 |
-
1989
- 1989-08-26 JP JP1219254A patent/JP2793282B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6373532A (ja) * | 1986-09-16 | 1988-04-04 | Nec Corp | ボンデイング装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2793282B2 (ja) | 1998-09-03 |
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