JPH038377A - ダイヤモンドを用いた発光装置およびその作製方法 - Google Patents

ダイヤモンドを用いた発光装置およびその作製方法

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JPH038377A
JPH038377A JP1143553A JP14355389A JPH038377A JP H038377 A JPH038377 A JP H038377A JP 1143553 A JP1143553 A JP 1143553A JP 14355389 A JP14355389 A JP 14355389A JP H038377 A JPH038377 A JP H038377A
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diamond
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light emitting
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JP1143553A
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Shunpei Yamazaki
舜平 山崎
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Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
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Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「発明の利用分野」 本発明は、ダイヤモンドを用いた可視光発光装置および
その作製方法に関するものである。
「従来の技術」 発光素子に関しては、赤色発光はGaAs等の■−■化
合物半導体を用いることにより、既に10年以上も以前
に成就している。しかしこの発光素子は、赤色であり、
青色、緑色を出すことはきわめて困難であり、いわんや
白色光等の連続可視光を結晶材料で出すことは全く不可
能であった。
ダイヤモンドを用いて発光素子を作るという試みは本発
明人により既に示され、例えば昭和56年特許願146
930号(昭和56年9月17日出願)に示されている
ダイヤモンドは耐熱性を有し、きわめて化学的に安定で
あるという長所があり、かつ原材料も炭素という安価な
材料であるため、発光素子の市場の大きさを考えると、
その工業的多量生産の可能性はきわめて大なるものがあ
る。
しかし、このダイヤモンドを用いた発光素子を安定に、
かつ高い歩留まりで作る方法またはそれに必要な構造は
これまでまったく示されていない。
「従来の欠点」 本発明は、ダイヤモンドを用いた可視光発光素子を構成
せしめ、かつその歩留まりを大とし、また、発光効率を
高めるためなされたものである。
本発明人は、従来のダイヤモンドにおける発光中心がい
かなるものであるかを調べた。そしてこれまで大きな電
流を素子を構成する一対の電極に加えた時、多量の熱が
発生してしまい、十分な可視光の発光はないという欠点
を調査した。その結果、以下の事実が判明した。
ショットキ接合が十分安定な機能を有さないため、必要
以上に高い電圧を印加しなければならない。またその電
圧もショットキ接合の程度が素子毎にバラつき、高い製
造歩留まりを期待できない。
上側に設けられる電極と発光をするための再結合中心と
が直接密接していると、ここでの電極材料と損傷を有す
るダイヤモンドとが互いに反応し、損傷を消滅させてし
まう。特にこの損傷を有しているダイヤモンドは、炭素
の不対結合手を多数格子欠陥として有しているため、こ
の不対結合手が他の元素と結合即ち反応しやすく、ここ
に電極材料がくると、速やかに反応してしまう。
即ち、このダイヤモンドに発光中心を作るために設けら
れた損傷、即ち格子欠陥とそれを緩和するために添加さ
れた添加物が電極材料とアロイ化して発光中心としての
機能を失ってしまう。
「発明の目的J 本発明は、かかる欠点を除去するために成されたもので
ある。即ち、上側に配設された電極と発光をさせるため
の格子欠陥を作るための損傷を有する層との間にバッフ
ァ層として他のダイヤモンドを設ける。このバッファ層
材料は、欠陥を多数有する領域の電極材料とダイヤモン
ド材料との局部的な異常化学反応を進行させない効果を
も合わせて有せしめた。そしてダイヤモンドの内部の発
光源に効率よく電荷を注入して、再結合を発光中心間、
バンド間(価電子帯−価電子帯間)または発光中心−バ
ンド(伝導帯または価電子帯)間でなさしめんとしたも
のである。
「発明の構成」 本発明は、P型の半導体または導体等の基板上または絶
縁物表面を有する基板上に、■型またはP型の第1のダ
イヤモンドと、このダイヤモンドの上表面または上部に
損傷を設け、さらに加えてVIb族の不純物を添加し、
この第1のダイヤモンド上に第2のダイヤモンドを結晶
成長させ、多層の層(以下バッファ層ともいう)を設け
、この上に1つまたは複数の電極を設ける。1つの電極
の場合は基板を導体とし、この基板と電極との間にパル
スまたは直流、交流電流を流すことにより可視光を発生
させる。
即ち本発明の構造の一例として、P型(珪素基板)−P
またはI(第1のダイヤモンド)−損傷層または/およ
び0.S+Se、Teの不純物が添加された層(第1の
ダイヤモンド)−第2のダイヤモンド−上側の電極構造
を安定に生ぜしめたものである。
複数の電極を形成する場合は、絶縁表面を有する基板上
に第1のダイヤモンドを設け、この上部のt員傷層に不
純物の添加層を設ける。さらにその上に第2のダイヤモ
ンドを形成する。その第2のダイヤモンド上に複数の電
極、例えば導体の電極を形成する。この複数の電極間に
同様の電流を流して発光装置、例えば可視光発光装置を
設けたものである。
本発明は、この上側の電極と第1のダイヤモンドとの間
に第2のダイヤモンドを設け、電極材料と格子欠陥を多
数有する損傷層または不純物がここに合わせて添加され
た層とが直接密接しないようにして長期間の実使用条件
下での信頼性を向上せしめた。
さらに本発明は、青色発光をより有効に発生させるため
、このダイヤモンド中にVIb族の不純物を添加物とし
て加えた。即ちO(酸素)、S(イオウ)、Se(セレ
ン)、Te(テルル)より選ばれた元素を損傷層に積極
的に添加した。またダイヤモンド合成にはメタノール(
CH:tol+)等の炭素と酸素との化合物を用いた。
具体的には!1□S、HzSe+11zTe、 (Cl
l:+) 2S+ (C1lff) zSe+ (CH
3) zTeを第1のダイヤモンド成膜中に添加して加
えた。
また他の方法としては、0. S、 Se、 Teをイ
オン注入法により第1のダイヤモンド成膜後添加しても
よい。かくするとダイヤモンド中に格子欠陥を作るため
の損傷を作り、かつ不純物も同時に添加できるため、再
結合中心または発光中心をより多く作ることができる。
このイオン注入法を用いる場合、この後不活性気体中で
アニール、例えば300〜600°Cにしても格子歪を
緩和できるが、炭素の不対結合手同士を互いに共有結合
をさせ、即ち互いに連結して単結晶化することができな
い。
これは珪素の半導体をイオン注入した後熱アニールをし
て単結晶化し、同時に不純物の活性化(ドナー化または
アクセプタ化)するとは大きく異なる。ダイヤモンドで
はイオン注入により生じた損傷が、熱アニールを施して
も格子歪を緩和しつつも格子欠陥としてそのまま残り、
原子的な意味での添加された不純物の結合手とその一部
が結合するのみであるため、逆に再結合中心を多く存在
させ、発光効率を高めることができる。
しかしこの炭素の不対結合手は、炭素同士とでは反応し
にくくても電極材料とは逆に反応しやすいため、バッフ
ァ層としてこの上に第2のダイヤモンドを成長させ、損
傷を有する界面を電極材料から離すこととにより化学的
に安定にし、かつダイヤモンド中を電流が流れ、バンド
間遷移、バンド−再結合中心または発光中心間の遷移、
または再結合中心同士または発光中心同土間での遷移に
よるキャリアの再結合が起きて、結果としてその再結合
のエネルギバンド間隔(ギャップ)に従って可視光発光
をなさしめんとしたものである。特にその可視光は、こ
の遷移バンド間に従って青色、緑を出すことができる。
さらに複数のバンド間の再結合中心のエネルギレベルを
作ることにより、白色光等の連続光をも作ることが可能
である。
以下に本発明を実施例に従って記す。
「実施例1」 本発明において、ダイヤモンドはシリコン半導体または
金属導体上に第3図に示す有磁場マイクロ波CVD装置
を用いて作製した。この有磁場マイクロ波CVD装置に
より、ダイヤモンド膜を形成する方法等に関しては、本
発明人の出願になる特願昭61−292859 (薄膜
形成方法(昭和61年12月8日出願)に示されている
。その概要を以下に示す。
P型に高濃度に添加された半導体基板を、ダイヤモンド
粒を混合したアルコールを用いた混合液中に浸し、超音
波を1分〜1時間加えた。
するとこの半導体基板上に微小な損傷を多数形成させる
ことができる。この損傷は、その後のダイヤモンド形成
用の核のもととすることができる。この基板(1)を有
磁場マイクロ波プラズマCVD装置(以下単にプラズマ
CVD装置ともいう)内に配設した。このプラズマCV
D装置は、2.45GHzの周波数のマイクロ波エネル
ギを最大10KWまでマイクロ波発振器(18)、アテ
ニュエイタ(16)、石英窓(15)より反応室(19
)に加えることができる。また磁場(17) 、 (1
7”)でヘルムホルツコイルを用い、875ガウスの共
鳴面を構成せしめるため最大2.2KG  (キロガウ
ス)にまで加えた。このコイルの内部の基板(1)をホ
ルダ(13)に基板おさえ(14)で配設させた。また
基板位置移動機構(12)で反応炉内での位置を調節し
た。
さらに10−3〜10−’torrまでに真空引きをし
た。
この後これらに対して、メチルアルコール(CI+。
011)またはエチルアルコール(CHI45011)
等のアルD −ル(22)を水素(21) テ40〜2
00体積z体積oo体積体積基合はCH3011:H2
=1:1に対応)、例えば70体積%に希釈して導入し
た。さらに必要に応じてP型不純物としてトリメチルボ
ロン(B(CI+3)3)を系(23)より B(C1
h)3/CllOH=0.5〜5χ導入して、ダイヤモ
ンドをP型化した。
圧力は0.01〜3 torr例えば0.26torr
とした。
2.2KG(キロガウス)の磁場を加えて、基板の位置
またはその近傍が875ガウスとなるようにした。マイ
クロ波は5KWを加え、このマイクロ波の熱エネルギで
基板の温度を200−1000″C1例えば800°C
とした。
するとこのマイクロ波エネルギで分解されプラズマ化し
たアルコール中の炭素は、基板上に成長し、単結晶のダ
イヤモンドを多数柱状に成長させることができる。同時
にこのダイヤモンド以外にグラファイト成分も形成され
やすいが、これは酸素および水素と反応し、炭酸ガスま
たはメタンガスとして再気化し、結果として結晶化した
炭素即ちダイヤモンド(2)を第1図(A)に示した如
<、0.5〜5μm例えば平均厚さ1.3μm(成膜時
間2時間)の成長をさせることができた。
即ち、第1図において、P型理素基板(1)上にBが添
加された、またはノンドープの第1のダイヤモンドの層
(2)を163μmの平均厚さにく形成した。これは基
板側にP型の添加物が添加された届を0.5〜0.8μ
m1この上にノンドープのダイヤモンドの層を0.8〜
0.5 μmの厚さに形成してもよい。
この後、この第1のダイヤモンドを前記したと同じくア
ルコール中にダイヤモンドパウダを添加した混合液体中
に浸して、機械圧力を加えた。すると第1のダイヤモン
ドの上部に損傷層(10)を0.1〜0.5μmの深さ
まで形成させることができた。もちろんこのダイヤモン
ド上表面は最も損傷の程度が大きい。こうして第1のダ
イヤモンドの上表面および上部に多数の格子欠陥を存在
させた。
次に第3図に示した有磁場マイクロ波CVD装置を用い
、S、 Se、 Te、を添加して第2のダイヤモンド
を作った。即ち、CH30H/Hz = 70体積%と
して、さらに((C)Iz)zsまたはIb5)/CH
iOH= O〜5体積%で加えた。0体積%の時はノン
ドープとする。圧力は0.26torr、マイクロ波出
力は555KH1その他の条件は第1のダイヤモンドを
合成する条件と同じとした。
すると第1図(B)に示したが、シリコン基板(1)上
にホウ素が添加された第1のダイヤモンド(2)、その
上にS、SeまたはTeが添加された第2のダイヤモン
ド(3)が積層される。この場合、損傷層(10)はホ
ウ素が添加された層である。また他の構造としては、基
板(1)上にBが添加された層とノンドープ層との多層
構造の第1のダイヤモンド(2)、さらにその上にS、
SeまたはTeが添加されたまたはノンドープの第2の
ダイヤモンド(3)が積層される。そして第1と第2の
ダイヤモンドとの間にノンドープの層を利用して損傷層
(10)が存在している。
第2のダイヤモンドを形成する際、S、SeまたはTe
は欠陥を有する層(lO)にその一部は拡散添加され、
発光中心としての効果をも有する。
これらの成膜はホウ素またはS、Se、Teと異なる不
純物をそれぞれのダイヤモンド上に添加するため、マル
チチャンバ方式としてホウ素が添加されたダイヤモンド
成膜用反応室、ノンドープダイヤモンド成膜用反応室、
VIb族不純物を添加するためのダイヤモンド用反応室
として、それらを互いに連結して互いの不純物がそれぞ
れのダイヤモンド膜中に混合しないようにしつつ多量生
産を図ることは有効である。
次にこの第2のダイヤモンドの上側に電極部材を真空蒸
着法、スパッタ法で形成した。この電極としては透光性
のITO(酸化インジューム・スズ)(4)とその上に
アルミニウム、銀、クロム、モリブデン等の金属(5)
を多層に形成した。
この電極を形成する他の方法は、クロムを形成し、それ
を珪素と反応させてCrS i化合物(透光性かつ導電
性)を10〜50人形成し、その後残った金属クロムを
除去し、このクロム珪素合金(4)上にアルミニウム(
5)をワイヤボンディング用に形成した。
すると、第1図(C)において、P型珪素基板(1)−
P型ダイヤモンド−P型またはノンドープの損傷層(1
0)を有するダイヤモンド−ノンドブまたはS、Seま
たはTeが添加された第2のダイヤモンド(3)−透光
性導電膜(4)−アルミニウム等の金属電極(5)構成
とし、透光性を利用して光を外部に発生させる構造にす
ることができる。
この第1図(C)の構造において、一対をなす電極即ち
基板(1)と透光性電極(4)、外部連結用電極(5)
との間に10〜200V(直流〜10011zデュプイ 一4比1)例えば60Vの電圧で印加した。するとこの
ダイヤモンドの部分に電流を流した後、ここから可視光
発光特に青色の発光をさせることが可能となった。強度
は14カンデラ/ m 2を有していた。接合部におい
て酸素のみの非意図的な添加とし、イオウ、セレンまた
はテルルを添加しない場合、発光強度は5力ンデラ7m
2シか有さなかった。
「実施例2」 この実施例においては、第2図に示す実施例1において
、シリコン単結晶基板(1−1)、窒化珪素膜(1−2
)を0.5μmの厚さに形成し、絶縁性表面を有する基
板(1)とした。この上に実施例1に用いた有磁場マイ
クロ波CVD装置を用い、ノンドープのダイヤモンド(
2−1)を0.5〜5μm1例えば1.2μmの平均厚
さでダイヤモンドを形成した。さらにこの上にB(CI
+3)3/CH30H=0.5〜5体積%でBをドープ
したダイヤモンド(2−2)を0.3〜3μm例えば1
.2 μmの厚さに形成した。
この後、このダイヤモンド表面に対し、ダイヤモンド粒
の混合したアルコール液体中で超音波を加え、形成され
たダイヤモンド表面および上部に損傷層(10)(斜線
部分)を形成した。
するとこのダイヤモンドの上表面には再結合中心例えば
発光中心を多数作ることができた。
この上にノンドープまたはS、SeまたはTeが添加さ
れた第2のダイヤモンド(3)を第2図(B)に示すよ
うに0.1〜1μmの厚さに形成した。次に第2図(C
)に示すようにこれらの上側に対をなす複数の電極(5
−1) 、 (5−2)を形成した。材料は一方をチタ
ン、他方をタングステンとし、この1対の電極、例えば
一対の電極(5−1)。
(5−2)間に40Vの電圧を印加した。するとここか
ら480 nmの波長の青色発光を認めることができた
。その強度は25カンデラ/ m 2 と実施例1より
さらに明るくすることができた。
これらの電流が電極(5−1)−第2のダイヤモンド(
3)−損傷層(10) (横方向に電流を流す)−第2
のダイヤモンド(3)−電極(5−2)と流れて、損傷
層のすべてにピンホールの影響なしに電流を流し得るた
めではないかと推定される。
「実施例3」 この実施例はダイヤモンド粒の混入したアルコール液で
第1のダイヤモンドに損傷を与えるのではなく、第1の
ダイヤモンドを形成した後このダイヤモンドにVIb族
の元素をイオン注入法により50〜200KeVの加速
電圧を用いて、l×10′9〜3 XIO”am−’の
濃度に添加した。
すると、この不純物は上部のダイヤモンドを損傷し、か
つ発光中心としての不純物添加をすることができた。
この後、これを大気中でアニールし、さらにこれらの上
に第2のダイヤモンドを実施例1と同様に形成した。
その結果、長期安定性を有するに加えて、青色発光を波
長480nm、20カンデラ/ m 2以上の強さに作
ることができた。
「効果」 これまでは基板に40νの電圧を10分加えるとダイヤ
モンドが60’C近い温度となり、上側電極とダイヤモ
ンドとが反応し劣化してしまった。
しかし以上に示した本発明の構造とすることにより、6
0Vのパルス電圧を印加しても、可視光発光を成就する
に加えて、約1ケ月間連続で印加してもその発光輝度に
何らの低下もみられなかった。
本発明は1つの発光素子を作る場合を主として示した。
しかし同一基板上に複数のダイヤモンドを用いた発光装
置を作り、電極を形成した後適当な大きさにスクライブ
、ブレイクをして1つづつ単体または集積化した発光装
置とすることは有効である。さらにかかる発光装置を含
め、同じダイヤモンドを用いてまたこの上または下側の
シリコン半導体を用いてダイオード、トランジスタ、抵
抗、コンデンサを一体化して作り、複合した集積化電子
装置を構成せしめることは有効である。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は本発明のダイヤモンド発光素子の
作製工程およびその縦断面図を示す。 第3図は本発明のダイヤモンドを形成するための有磁場
マイクロ波装置の1例を示す。 ・基板 ・第1のダイヤモンド ・第2のダイヤモンド ・透光性導電膜 ・アルミニウム ・損傷部

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、珪素基板上に第1のダイヤモンドと、該ダイヤモン
    ド上に第2のダイヤモンドとを有 せしめたことを特徴とするダイヤモンドを 用いた発光装置。 2、特許請求の範囲第1項において、第1のダイヤモン
    ドと第2のダイヤモンドとの界面 またはその近傍には損傷層またはS、SeまたはTeの
    周期律表VIb族元素が添加されたことを特徴とするダイ
    ヤモンドを用いた発光 装置。 3、基板上にプラズマ気相法により第1のダイヤモンド
    を形成する工程と、該ダイヤモン ド上部に損傷を形成する工程と、前記第1 のダイヤモンド上に第2のダイヤモンドを 形成する工程と、該ダイヤモンド上に1つ または複数の電極を形成する工程とを有す ることを特徴とするダイヤモンドを用いた 発光装置の作製方法。 4、P型半導体上にP型不純物が添加された第1のダイ
    ヤモンドをプラズマ気相法により 形成する工程と、前記第1のダイヤモンド 上部に損傷を与える工程または上部に元素 周期律表VIb族の不純物を添加する工程と、前記第1の
    ダイヤモンド上に I 型または前 記第1のダイヤモンドより低い濃度のP型 の不純物が添加された、またはS、SeまたはTeの元
    素が添加された第2のダイヤモンドを形成することを特
    徴とするダイヤモンド を用いた発光装置の作製方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2024181575A1 (ja) * 2023-03-01 2024-09-06 京セラ株式会社 電流センサ及び電流検出装置

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