JPH038390Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 技術分野 本考案は電子部品などの部品に位して所定の検
査を施し、且つ、検査結果に応じてこれを選別す
る部品選別装置に関する。

背景技術 例えば数多くの集積回路（以下、ICと称する）
に対して電気的特性検査等を行つてその検査結果
に応じて各集積回路を選別する場合、これを手作
業によつていたのでは、特に作業量が多い生産ラ
インなどにおいては作業能率及び選別精度の向上
を図ることは困難である。そこで、かかる選別作
業を自動化し、以て作業能率及び選別精度の飛躍
的な向上を可能にするものとして第６図に示され
る部品選別装置が開発されている。

図示されるように、該部品選別装置は上下方向
（矢印Ｚ方向及びその反対方向）において延在す
る矩形板状のベース部材１を有している。ベース
部材１の上端部には支持駒２が設けられており、
複数のIC３を保持した長手部品供給ステイツク
４が該支持駒に着脱自在に取り付けられている。
なお、IC３の詳細が第７図に示されている。ベ
ース部材１の中央部には、検査結果判定ユニツト
５と協働してIC３に対して所定の電気的特性検
査をなすための検査機構６が配設されている。検
査機構６はIC３の端子３ａに接触する複数の触
針７を有している。また、ベース部材１の下端部
には互いに左右方向（矢印Ｘ方向及びその反対方
向）において並べられて、上述の検査を終了した
IC３を各々収納し得る３本の長手部品収納ステ
イツク８，９及び１０が配置されている。但し、
該各部品収納ステイツクも部品供給ステイツク４
と同様に、支持駒１１，１２及び１３を介してベ
ース部材１に取り付けられており、該ベース部材
に対して着脱自在となつている。

部品供給ステイツク４の部品流出口の近傍から
検査機構６の後方に亘つて延在してIC３を案内
する案内部材１５が設けられている。案内部材１
５の上端部、中央部及び下端部には各々、該案内
部材に沿つて移動するIC３を一時的に停止せし
めるためのストツパ１６，１７及び１８が設けら
れている。

上記した案内部材１５、ストツパ１６ないし１
８により、部品供給ステイツク４内の最先部品を
分離して検査機構６の検査位置に案内し且つ位置
決めする分離案内機構が構成されている。

案内部材１５と各部品収納ステイツク８ないし
１０の間には左右方向（矢印Ｘ方向及びその反対
方向）に伸長する一対のガイドシヤフト２０が設
けられており、該両ガイドシヤフトには、上述の
検査を終了したIC３を各部品収納ステイツク８
ないし１０の部品流入口に案内するための小さな
案内部材２１が摺動自在に取り付けられている。
この案内部材２１は、ガイドシヤフト２０と平行
に設けられた環状の駆動ベルト２２の一部と連結
されている。駆動ベルト２２はプーリ２３に掛け
られ、また、駆動源２４によつて駆動力を付与さ
れる。案内部材２１の下端部には、該案内部材上
を移動してきたIC３を一旦停させるためのスト
ツパ２５が設けられている。

次いで、この部品選別装置の動作を簡単に説明
する。

各ストツパ１６，１７及び１８が順次動作する
ことにより、部品供給ステイツク４内の複数の
IC３のうち最先（最下）ICが分離され、案内部
材１５に沿つて検査機構６の検査位置に案内され
る。なお、該検査位置に達したIC３の端子３ａ
（第７図参照）に触針７が接触せられる。この状
態でIC３の電気的特性検査が行われる。検査が
終了すると触針７がIC３の端子３ａから離脱せ
られ、同時にストツパ１８によるIC３の移動規
制状態が解除されて、IC３は案内部材２１上に
至る。上述した検査の結果に応じて、IC３を担
持した移動部材２１が部品収納ステイツク８ない
し１０のうち、いずれかに対応する位置に移動せ
られる。ここで、ストツパ２５による移動規制状
態が解除され、IC３は所定の部品収納ステイツ
ク内に収納される。以下、部品供給ステイツク４
内の各ICについて上記の動作が繰り返され、該
部品供給ステイツク内のICが無くなると、作業
者によつて該部品供給ステイツクは取り外され、
ICが装填された新しい部品供給ステイツクが取
り付けられる。

上記した部品選別装置においては取り付けられ
る部品供給ステイツク４が１本のみであり、該部
品供給ステイツクの交換の頻度が高く、部品選別
装置１台あるいは２台に作業者を１人常に配置し
なければならないという問題があつた。

考案の概要 本考案は上記した点に鑑みてなされたものであ
つて、その目的とするところは複数の部品供給ス
テイツクを設置することができ、よつて部品供給
ステイツクの交換頻度が低い部品選別装置を提供
することである。

本考案による部品選別装置は、複数の部品を保
持する長手部品供給ステイツクと、該部品に対し
て所定の検査をなすための検査機構と、互いに並
設されて該検査を終了した部品を各々収納し得る
複数の長手部品収納ステイツクと、上記部品供給
ステイツク内の最先端部品を分離して上記検査機
構の検査位置に案内し且つ位置決めする分離案内
機構と、上記検査を終了した部品を上記部品収納
ステイツク内に案内するための案内部材とを含
み、上記検査機構、分離案内機構及び案内部材は
所定支持部材上に設けられ、上記部品供給ステイ
ツク及び部品収納ステイツクと上記支持部材とは
上記複数の部品収納ステイツクの並設方向におい
て相対的に移動自在であり、上記部品供給ステイ
ツク及び部品収納ステイツクと上記支持部材とを
相対的に移動せしめる駆動手段を備えていること
を特徴としている。

実施例 以下、本考案の実施例としての部品選別装置を
添付図面を参照しつつ説明する。

第１図に示されるように、当該部品選別装置は
架台３１を有している。架台３１上には上方（矢
印Ｚ方向）に伸びるフレーム３２が設けられてお
り、該フレームの上端部近傍には左方（矢印Ｘ方
向）に伸長するシヤフト３３が固設されている。
第２図にも示されるように、シヤフト３３の先端
部にはベース部材３４が回動自在に取り付けられ
ている。ベース部材３４の一端部には３本の長手
部品供給ステイツク３５，３６及び３７が左右方
向（矢印Ｘ方向及びその反対方向）において並べ
て配置されており、且つ、支持駒３８ないし４０
を介してベース部材３４に着脱自在に取り付けら
れている。各部品供給ステイツク３５ないし３７
内には複数のIC３（詳細は第７図参照）が装填
されている。ベース部材３４の上記一端部の近傍
と他端部近傍には左右方向に伸長する一対のガイ
ドシヤフト４２が設けられており、全体として矩
形板状に形成された支持部材４３が該両ガイドシ
ヤフトに摺動自在に取り付けられている。支持部
材４３は、互いにロツド４４ａ，４５ａが連結さ
れて各々ベース部材３４及び支持部材４３に取り
付けられた一対のエアシリンダ４４及び４５によ
つて駆動される。

支持部材４３の中央部には、ケーブル４６ａに
よつて互いに接続された検査結果判定ユニツト４
６（第１図示）と協働してIC３に対して所定の
電気的特性検査をなすための検査機構４７が設け
られている。この検査機構４７はIC３の端子３
ａ（第７図示）に接触する複数の触針４８を有し
ている。ベース部材３４の他端部には３本の長手
部品収納ステイツク５０ないし５２が左右方向
（矢印Ｘ方向及びその反対方向）において並べて
配置されており、且つ、支持駒５３なし５５を介
してベース部材３４に着脱自在に取り付けられて
いる。これら各部品収納ステイツク５０ないし５
２は、上述の電気的特性検査を終了したIC３を
収納するものである。

支持部材４３には、各部品供給ステイツク３４
ないし３７の部品流出口の近傍から検査機構４７
上に亘つて延在してIC３を案内する案内部材５
７が設けられている。この案内部材５７の一端
部、中央部及び他端部には各々、該案内部材に沿
つて移動するIC３を一時的に停止させるための
ストツパ５８ないし６０が設けられている。これ
ら案内部材５７、ストツパ５８ないし６０によつ
て、各部品供給ステイツク３５ないし３７内の最
先部品を分離して検査機構４７の検査位置に案内
し且つ位置決めする分離案内機構が構成されてい
る。

支持部材４３上であつてストツパ６０の近傍に
は、左右方向（矢印Ｘ方向及びその反対方向）に
伸長する一対のガイドシヤフト６２が設けられて
いる。第３図から特に明らかなように、ガイドシ
ヤフト６２にはスライダ６３が摺動自在に取り付
けられており、該スライダはエアシリンダ６４に
よつて移動せしめられる。スライダ６３の上面に
は、上述の検査を終了したIC３を、各部品収納
ステイツク５０ないし５２内に案内するための案
内部材６５が設けられている。また、スライダ６
３の右側面（反矢印Ｘ方向における面）には上記
検査を終了したIC３を支持部材４３の裏面側へ
案内するための二枚の案内プレート６６及び６７
が設けられている。ここで、第２図に示される案
内部材６５の位置、すなわち、ガイドシヤフト６
２の中央部に対応する位置を案内位置と称し、こ
れに対して、左方（矢印Ｘ方向）移動限界位置を
非案内位置と称する。案内部材６５は該案内位置
と非案内位置の間で移動するのであるが、案内部
材６５が該非案内位置にあるときには案内プレー
ト６６，６７がIC３が支持部材４３の裏面側に
案内するようになつているのである。このように
構成したことによつて、上記の検査の結果不良品
と判定されたICがすべて、支持部材４３の裏面
側に配置された不良品収納ケース（図示せず）内
に収納されるので、該不良品の取り扱いが容易と
なるのである。

なお、第２図に示されるように、支持部材４３
の一端部には該支持部材の移動に伴つて任意の１
本の部品供給ステイツクからのICの流出のみを
許すIC流出防止部材６８が取り付けられている。

次に、上記した構成の部品選別装置の動作を簡
単に説明する。

動作指令が発せられると、まず、当該部品選別
装置の動作制御をなす制御部（図示せず）はエア
シリンダ４４及び４５に圧搾空気を供給してこれ
を駆動し、支持部材４３を移動させる。第４図ａ
ないしｃはエアシリンダ４４，４５の動きを示す
ものである。エアシリンダ４４及び４５が第４図
ａに示される状態にあるときには支持部材４３は
右方（反矢印Ｘ方向）移動限界位置に位置し、第
４図ｂに示される状態のときには支持部材４３は
その移動ストロークの中央に位置する。なお、支
持部材４３が該各位置にあるときには案内部材５
７の端部は部品供給ステイツク３６及び３７の各
部品流出口に対応して位置決めされる。第２図は
エアシリンダ４４，４５が第４図ｃの状態にある
ときを示し、案内部材５７の端部は一番左側の部
品供給ステイツク３５の部品流出口に対応すべく
位置している。

この状態で、各ストツパ５８，５９及び６０が
順次動作することにより、部品供給ステイツク３
５内の被数のIC３のうち最先のICが分離され、
案内部材５７に沿つて検査機構４７の検査位置に
案内される。なお、該検査位置に達したIC３の
端子３ａ（第７図参照）に触針４８が接触せられ
る。この状態でIC３の電気的特性検査が行われ
る。該検査が終了すると触針４８がIC３の端子
３ａから離脱せられ、同時にストツパ６０による
IC３の移動規制状態が解除されて、該ICは案内
部材６５上に至る。上述した検査の結果に応じ
て、IC３を担持した案内部材６５が各部品収納
ステイツク５０ないし５２のいずれかに対応する
位置に移動せられ、IC３は所定の部品収納ステ
イツク内に収納される。以下、部品供給ステイツ
ク３５内のICが無くなるまで上記の動作が繰り
返され、該部品供給ステイツク内のICが無くな
ると、次の部品供給ステイツク３６内のICにつ
いて上記の動作が行われる。このようにして選別
が続けられて、すべての部品供給ステイツク３５
ないし３７内のICが無くなると、作業者はこの
３本の部品供給ステイツク３５ないし３７を新し
い部品供給ステイツクと交換する。上記の選別動
作において不良品と判定されたICは、案内部材
６５が非案内位置（前述）に移動することによつ
て、案内プレート６６，６７により案内されて不
良品収納ケース（前述）内に収納される。

尚、本実施例においては第４図に示されるよう
に、エアシリンダ４４及び４５の各ロツドの動作
ストロークが等しくされ、これによつて支持部材
４３の位置決め停止位置が３ケ所となつている
が、第５図ａないしｄに示すように各エアシリン
ダのロツドの動作ストロークを異なるように構成
すれば、支持部材４３の位置決め停止位置を４ケ
所とすることもできる。

また、本実施例においては部品供給ステイツク
３５ないし３７並びに部品収納ステイツク５０な
いし５２をベース部材３４に固定し、検査機構４
７等を担持した支持部材４３を移動せしめている
が、この逆に、支持部材４３をベース部材３４に
固定して該各ステイツクを移動側としたり、ある
いは、この両者を共に相対的に移動させる構成と
することも可能である。

考案の効果 以上詳述した如く、本考案による部品選別装置
においては、複数の部品を保持する長手部品供給
ステイツク３５と、該部品に対して所定の検査を
なすための検査機構４７と、互いに並設されて該
検査を終了した部品を各々収納し得る複数の長手
部品収納ステイツク５０，５１，５２と、上記部
品供給ステイツク内の最先部品を分離した上記検
査機構の検査位置に案内し且つ位置決めする分離
案内機構（案内部材５７、ストツパー５８，５
９，６０から成る）と、上記検査を終了した部品
を上記部品収納ステイツク内に案内するための案
内部材６５とを含み、上記検査機構，分離案内機
構及び案内部材は所定支持部材４３上に設けら
れ、上記部品供給ステイツク及び部品収納ステイ
ツクと上記支持部材とは上記複数の部品収納ステ
イツクの並設方向において相対的に移動自在であ
り、上記部品供給ステイツク及び部品収納ステイ
ツクと上記支持部材とを相対的に移動せしめる駆
動手段（エアシリンダ４４及び４５）を備えてい
る。

従つて、この構成に加えて、上記の相対的移動
に伴つて常に任意の１本の部品供給ステイツクか
らの部品流出を可能とする手段（IC流出防止部
材６８）を設けることにより、複数の部品供給ス
テイツク３６，３７を設置することができるので
ある。故に、部品供給ステイツクの交換頻度が低
く、１人の作業員が多くの部品選別装置を受け持
つことも可能となり、作業能率が向上するのであ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案に係る部品選別装置の全体斜視
図、第２図ないし第４図は該部品選別装置の要詳
細図、第５図は該部品選別装置の一部変形例を示
す図、第６図及び第７図は既に開発されている部
品選別装置を説明するための図である。 主要部分の符号の説明、３５，３６，３７……
部品供給ステイツク、４３……支持部材、４４，
４５，６４……エアシリンダ、４７……検査機
構、５０，５１，５２……部品収納ステイツク、
５７，６５……案内部材、５８，５９，６０……
ストツパ、６６，６７……案内プレート、６８…
…IC流出防止部材。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 複数の部品を保持する長手部品供給ステイツ
   クと、前記部品に対して所定の検査をなすため
   の検査機構と、互いに並設されて前記検査を終
   了した部品を各々収納し得る複数の長手部品収
   納ステイツクと、前記部品供給ステイツク内の
   最先部品を分離して前記検査機構の検査位置に
   案内し且つ位置決めする分離案内機構と、前記
   検査を終了した部品を前記部品収納ステイツク
   内に案内するための案内部材とを含み、前記検
   査機構、分離案内機構及び案内部材は所定支持
   部材上に設けられ、前記部品供給ステイツク及
   び部品収納ステイツクと前記支持部材とは前記
   複数の部品収納ステイツクの並設方向において
   相対的に移動自在であり、前記部品供給ステイ
   ツク及び部品収納ステイツクと前記支持部材と
   を相対的に移動せしめる駆動手段を備えている
   ことを特徴とする部品選別装置。 (2) 前記案内部材は前記支持部材に対して案内位
   置と非案内位置の間で移動し得、前記案内部材
   が前記非案内位置にあるときには前記検査を終
   了した部品が所定位置に案内されるようにされ
   ていることを特徴とする実用新案登録請求の範
   囲第１項記載の部品選別装置。