JPH0566551B2 - - Google Patents

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JPH0566551B2
JPH0566551B2 JP84232258A JP23225884A JPH0566551B2 JP H0566551 B2 JPH0566551 B2 JP H0566551B2 JP 84232258 A JP84232258 A JP 84232258A JP 23225884 A JP23225884 A JP 23225884A JP H0566551 B2 JPH0566551 B2 JP H0566551B2
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adapter pin
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Ruuteru Eritsuhi
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R12/00Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
    • H01R12/70Coupling devices
    • H01R12/71Coupling devices for rigid printing circuits or like structures
    • H01R12/712Coupling devices for rigid printing circuits or like structures co-operating with the surface of the printed circuit or with a coupling device exclusively provided on the surface of the printed circuit
    • H01R12/714Coupling devices for rigid printing circuits or like structures co-operating with the surface of the printed circuit or with a coupling device exclusively provided on the surface of the printed circuit with contacts abutting directly the printed circuit; Button contacts therefore provided on the printed circuit
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
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    • G01R1/07371Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch using an intermediate card or back card with apertures through which the probes pass
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    • G01R1/07378Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch using an intermediate adapter, e.g. space transformers
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    • H01R31/06Intermediate parts for linking two coupling parts, e.g. adapter

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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、格子状に配された多数の検査接触子
を、複数のアダプター・ピンを介して検査される
べき印刷配線基板の検査用接触部に接続せしめ、
印刷配線基板の検査を行い得るようにする印刷配
線基板検査用装置及びその使用方法に関する。
従来の技術 所定の格子状配置をもつて配された多数の検査
接触子を、検査されるべき印刷配線基板に斯かる
所定の格子状配置及び/または所定の格子状配置
から外れた配置をもつて配された検査用接触部に
アダプター・ピンを介して接続せしめ、印刷配線
基板の検査をなし得るようにする印刷配線基板検
査用装置として、欧州特許出願第0026824号に記
載されている如くの印刷配線基板検査用アダプタ
ーが知られている。このアダプターは、検査され
るべき印刷配線基板の検査用接触部の配置パター
ンに対応して設けられたアダプター・ピン用案内
孔を有する第1の案内板部材と、この第1の案内
板部材から離隔するとともに第1の案内板部材と
平行に配され、所定の格子状配置をもつて配され
た多数の検査接触子に対応する配置をもつて設け
られたダプター・ピン用案内孔を有する第2の案
内板部材と、これら第1及び第2の案内板部材の
間に両者と平行に配され、アダプター・ピン用案
内孔が設けられた第3の案内板部材とを備えて、
検査されるべき印刷配線基板の検査用接触部に接
触するアダプター・ピンの先端部を第1の案内板
部材に設けられたアダプター・ピン用案内孔から
突出させるように構成され、作動位置への進退動
が可能なものとされている。そして、このような
アダプターによれば、印刷配線基板の検査にあた
り、所定の格子状配置をもつて配された検査接触
子に、この所定の格子状配置及びそれから外れた
配置をもつて配された検査されるべき印刷配線基
板の検査用接触部が位置合わせされて接続せしめ
られることになる。
発明が解決しようとする問題点 上述の如くのアダプターの場合、アダプター・
ピンは、所定の格子状配置及びそれから外れた配
置をもつて配された案内孔を有する複数の案内板
部材の案内孔を貫通して位置決めされ、これら複
数の案内部材による支持を受けるようにされる。
このため、斯かるアダプターを作動位置に至らし
めるローデイングにあたつては、アダプター・ピ
ンを複数の案内板部材に設けられた互いに整列状
態にない案内孔の夫々に挿入することが必要とな
る。しかしながら、従来知られたアダプターにあ
つては、そのローデイングに際してアダプター・
ピンの変位範囲を制御することができないため、
アダプター・ピンの所定の位置の案内孔への挿入
は、極めて慎重になされるにしても不確実にな
り、煩わしい手動操作が余儀無くされるという不
都合がある。
斯かる点に鑑み本発明は、作動位置に至らしめ
るローデイング及び作動位置から撤退せしめるア
ンローデイングを極めて簡単に行うことができ
る、所定の格子状配置をもつて配された多数の検
査接触子を、検査されるべき印刷配線基板に配さ
れた検査用接触部にアダプター・ピンを介して接
続せしめ、印刷配線基板の検査をなし得るように
する新規な印刷配線基板検査用装置を提供するこ
と、さらには、このような新規な印刷配線基板検
査用装置の効果的な使用方法を提供することを目
的とする。
問題点を解決するための手段 上述の目的を達成すべく、本発明に係る印刷配
線基板検査用装置は、検査されるべき印刷配線基
板の検査用接触部の配置パターンに対応する配置
をもつて設けられたアダプター・ピン用案内孔を
有する第1の案内板部材と、所定の格子状配置を
もつて配された多数の検査接触子に対応して格子
状配置をもつて設けられたアダプター・ピン用案
内孔を有し、第1の案内板部材と所定の距離を隔
てて平行に配された第2の案内板部材とに加え
て、上述の所定の格子状配置をもつて配されたア
ダプター・ピン用案内孔を有し、第1及び第2の
案内板部材の間に両者と平行に配されて両者に直
交する方向に移動され得るようにされた第3の案
内板部材を備えて構成され、この第3の案内板部
材に設けられたアダプター・ピン用案内孔の夫々
がそこに挿入されるアダプター・ピンに制限され
た範囲内での挿入方向に直交する各方向への移動
を許容する径を有するものとされる。そして、検
査されるべき印刷配線基板の検査用接触部に接触
するアダプター・ピンの先端部が、第1の案内板
部材に設けられたアダプター・ピン用案内孔から
突出せしめられる。
このように構成されることにより、第3の案内
板部材を変位させて、この第3の案内板部材に所
定の格子状配置をもつて設けられたアダプター・
ピン用案内孔に挿入された各アダプター・ピンの
先端部を第1の案内板部材の面に平行な面内にお
いて各方向に変位させることができ、それによつ
て、アダプター・ピンを第1の案内板部材に所定
の格子状配置から外れた配置をもつて設けられた
アダプター・ピン用案内孔にも、極めて容易に挿
入せしめることができる。従つて、半自動、もし
くは、全自動ローデインクが可能とされる。
また、本発明に係る上述の如くに構成された新
規な印刷配線基板検査用装置の使用方法にあつて
は、第1、第2及び第3の案内板部材を、第1の
案内板部材が底部に位置するようにして水平にし
た状態で、所定の格子状配置の各配置点において
吊下げられた多数のアダプター・ピンの下方に配
し、次に、アダプター・ピンを、第2及び第3の
案内板部材に設けられたにアダプター・ピン用案
内孔、さらには、必要に応じて、第1の案内板部
材に設けられたアダプター・ピン用案内孔のうち
の上述の所定の格子状配置における配置点に位置
するものにそれらの上方から挿入せしめ、次い
で、第3の案内板部材を振動させつつ上下の始動
位置から上方に移動させて、第1の案内板部材に
上述の所定の格子状配置から外れた配置をもつて
配されたアダプター・ピン用案内孔の周囲に位置
するアダプター・ピンの先端部を第1の案内板部
材の面に平行な面内において各方向に小刻みに変
位させ、それによつて、これらアダプター・ピン
をそれらに最も近い位置にある上述の所定の格子
状配置から外れた配置をもつて配されたアダプタ
ー・ピン用案内孔に挿入せしめるようにする。
このように第3の案内板部材を振動させつつ移
動させることにより、第1の案内板部材に所定の
格子状配置から外れた配置をもつて設けられたア
ダプター・ピン用案内孔に挿入されるべきアダプ
ター・ピンの先端を、該当するアダプター・ピン
用案内孔に容易に導くことができ、アダプター・
ピンの第1の案内板部材に設けられたアダプタ
ー・ピン用案内孔への挿入を確実、かつ、簡単に
行うことができる。
実施例 以下、本発明の実施例について図面を参照して
説明する。
第1図は、本発明に係る印刷配線基板検査用装
置の一例の部分を、印刷配線基板及び検査設備の
一部分とともに示す。この第1図においては、検
査されるべき印刷配線基板を設ける基板載置板1
及びこの基板載置板1上に置かれた印刷配線基板
2が部分断面をもつて示されている。印刷配線基
板2には、検査用接触部3が所定の配置パターン
をもつて形成されている。印刷配線基板2の上方
には、透孔5が所定の格子状配置をもつて設けら
れた有孔板4及び検査モジユール6が配されてい
る。検査モジユール6は印刷配線基板2に対して
進退するように降下及び上昇できるものとされて
おり、その下端面部には、降下位置において有孔
板4の透孔5の夫々を貫通するピンの形状にされ
た多数の検査接触子7が設けられている。これら
の検査接触子7の夫々は接触先端部8を備えてお
り、接触先端部8は検査接触子7からの引出し及
び引込みが出来るようにされ、図示されていない
スプリングによつて引き出される方向に付勢され
ている。
検査接触子7は検査モジユール6にキヤステイ
ングによつて固定されており、また、配線49に
よつて検査モジユール6内の複数のICチツプ1
1が取り付けられた印刷配線基板12に接続され
ている。複数のICチツプ11を伴つた印刷配線
基板12及び他の適切な構成部材が、全体とし
て、検査接触子7に割当てられるスイツチング・
マトリクスを形成している。
そして、印刷配線基板2上に、本発明に係る印
刷配線基板検査用装置の一例を形成するアダプタ
ー13が配されており、このアダプター13は、
これを貫通して、所定の格子状配置をもつて配さ
れた検査接触子7を斯かる所定の格子状配置から
外れた所定の配置パターンをもつて配された印刷
配線基板2の検査用接触部3に接続する、複数の
アダプター・ピン14を備えている。アダプタ
ー・ピン14は、検査接触子7に対して整合状態
にはなくてアダプター13を斜めに貫通してお
り、この例においては、両端がアダプター13の
上下両側に突出して接触端部を形成している。
第2図は、アダプター13を拡大して示すとと
もに、このアダプター13を作動位置に至らしめ
る、あるいは、作動位置から撤退せしめるローデ
イング/アンローデイング手段17を示す。アダ
プター13は、上述の所定の格子状配置から外れ
た、印刷配線基板2に設けられた検査用接触部3
の配置パターンに対応する配置をもつて配された
複数のアダプター・ピン用案内孔18を有する第
1の案内板部材10と、上述の所定の格子状配置
をもつて配された検査接触子7に対応する格子状
配置をもつて設けられた多数のアダプター・ピン
用案内孔19を有し、第1の案内板部材10から
所定距離だけ離隔した位置に第1の案内板部材1
0と平行に配された第2の案内板部材15と、上
述のの所定の格子状配置の各配置点に対応する位
置に設けられた多数のアダプター・ピン用案内孔
20を有し、第1及び第2の案内板部材10及び
15の間に両者と平行に配された第3の案内板部
材16を備えている。これら第1、第2及び第3
の案内板部材10,15及び16は、印刷配線基
板の検査融に短絡事故を生じないよう、全て非導
電材料で形成されている。そして、第1及び第2
の案内板部材10及び15は、側壁部材21に固
着されて箱形を形成しており、一方、第3の案内
板部材16は、側壁部材21に設けられた上方ス
トツパ22と下方ストツパ23との間を、2基の
空気圧式シリンダ駆動装置24により垂直方向に
移動され得るものとされている。
第2図においては、アダプター13は、トラフ
形態がとられた支持構体25上に配置されてい
る。支持構体25は2基のシリンダ駆動装置26
により垂直方向に移動され得るものとされてお
り、また、第3の案内板部材16を移動せしめる
2基のシリンダ駆動装置24に対する基台を構成
している。
アダプター・ピン14が以下に延べられる如く
にしてアダプター13に挿入せしめられるべく、
整合手段27が配されている。この整合手段27
は、上述の所定の格子状配置をもつて配されたア
ダプター・ピン用案内孔29を有し、第2の案内
板部材15の上方に間隔aを置いて広がる整合板
部材28と、整合板部材28を垂直方向に移動さ
せることができる2基のシリンダ駆動装置31と
で構成されている。
さらに、整合手段27の上方には、所定の距離
を隔てて、アダプター・ピン14に対する保持手
段32が設けられている。この保持手段32は、
夫々が上述の所定の格子状配置をもつて配された
アダプター・ピン用案内孔35を有するものとさ
れ、互いに重ね合わされた3枚のクランプ板部材
33及び34と、2基のシリンダ駆動装置41及
び42とで構成されており、シリンダ駆動装置4
1はT字状部材36を介して2枚のクランプ板部
材33に同時に作用し、また、シリンダ駆動装置
42は2枚のクランプ板部材33に挾まれた中間
のクランプ板部材34に作用するようにされてい
る。3枚のクランプ板部材33及び34が開口位
置をとる状態においては、夫々に設けられたアダ
プター・ピン用案内孔35は互いに重なり合うも
のとされている。アダプター・ピン用案内孔35
の直径bは、アダプター・ピン14の球状体に形
成された頭部37の直径cより若干大とされてい
る。そして、第2図に示されている状態において
は、クランプ板部材33及び34はクランプ位置
にあり、アダプター・ピン14の頭部37をその
下方で支持している。また、クランプ板部材33
及び34は、アダプター・ピン先端部38が整合
板部材28を貫通し、第2の案内板部材15に設
けられたアダプター・ピン用案内孔19の手前の
位置に達するものとなるように、整合板部材28
から距離hだけ離隔するとともに第2の案内板部
材15から距離iだけ離隔した位置に設置されて
いる。整合板部材28に設けられたアダプター・
ピン用案内孔29の直径はクランプ板部材33及
び34に設けられたアダプター・ピン用案内孔3
5の直径に等しくdとされており、これにより、
後述される如く、アダプター・ピン14がアダプ
ター13内に挿入せしめられ得るようにされてい
る。これに対して、第1及び第2の案内板部材1
0及び15に設けられたアダプター・ピン用案内
孔18及び19の直径dは、アダプター・ピン本
体部39が通常の余裕をもつて挿入されるべくア
ダプター・ピン本体部39の直径eより若干大と
なるようにされており、さらに、第3の案内板部
材16に設けられたアダプター・ピン用案内孔2
0の直径fは、アダプター・ピン本体部39が充
分なる余裕をもつて挿入されるべく、アダプタ
ー・ピン用案内孔18及び19の直径dより大に
選定されている。
なお、第1の案内板部材10の下方には、2基
のシリンダ駆動装置44により垂直方向に位置が
調整されるピン揚動板部材43が設置されてい
る。
以上に述べた各シリンダ駆動装置26,31,
41,42、及び44は、簡略化されて示された
配管路45を通じ、制御部46を介して圧縮空気
源47に接続されており、圧縮空気によつて作動
せしめられる。
さらに、ローデイング/アンローデイング手段
17には、第3の案内板部材16をその面に沿う
方向、即ち、水平方向に振動させることができる
超音波振動手段48が付設されている。
次に、第2図から第11図を参照して、上述の
如くに構成された本発明に係る印刷配線基板検査
用装置の一例がローデイングされて印刷配線基板
の検査を行い得るようにする動作、及び、印刷配
線基板の検査を行い得るようにした状態からアン
ローデイングされる動作について、本発明に係る
印刷配線基板検査用装置の使用方法を説明しつつ
述べる。
先ず、ローデイングにあたつては、第2図に示
される如くに、滑動キヤリツジ(図示されていな
い)によつてアダプター13をローデイング/ア
ンローデイング手段17に架装し、第1の案内板
部材10がローデイング/アンローデイング手段
17の支持構体25上に載置される状態とする。
また、アダプター・ピン14を、相対変位された
クランプ板部材33及び34から、整合板部材2
8に設けられたアダプター・ピン用案内孔29を
貫通して吊り下げられた状態にする。(第2図か
ら第11図において、これらのアダプター・ピン
14はアダプター・ピン51〜56として示され
ている。) 次に、シリンダ駆動装置26を作動させて、ア
ダプター13をシリンダ駆動装置24とともに上
昇させる。同時に、シリンダ駆動装置31を作動
させ、整合板部材28を上昇させて下側のクラン
プ板部材33の下面に当接する位置まで移動させ
る。そして、アダプター13を、第2の案内板部
材15が整合板部材28の下面に当接する位置ま
で上方に移動させる。このとき、アダプター・ピ
ン51〜56は、第2の案内板部材15に設けら
れたアダプター・ピン用案内孔19及び第3の案
内板部材16に設けられたアダプター・ピン用案
内孔20を夫々貫通した状態とされる(第3図)。
この状態で、シリンダ駆動装置41及び42を
作動させ、クランプ板部材33及び34を、それ
らに設けられたアダプター・ピン用案内孔35が
整合状態になるように移動させ、それによつてア
ダプター・ピン51〜56がアダプター・ピン用
案内孔35内に落ち込み得るようにする。この例
では、このとき、アダプター・ピン51及び54
が、それらのアダプター・ピン先端部38が第1
の案内板部材10に設けられたアダプター・ピン
用案内孔18内に挿入されて、アダプター・ピン
用案内孔35内に完全に落ち込み、アダプター・
ピン52,53,55及び56は、それらのアダ
プター・ピン先端部38が第1の案内板部材10
におけるアダプター・ピン用案内孔18の周囲部
分に当接して、アダプター・ピン用案内孔35内
に完全には落ち込まない状態とされる(第4図)。
次に、アダプター・ピン13を降下させて第2
図に示される始動位置に戻すとともに、整合板部
材28を第2の案内板部材15上に置かれる位置
まで降下させる。その後、超音波振動手段48を
作動せしめて第3の案内板部材16を振動させ、
アダプター・ピン51〜56を振動させる。これ
と同時に、シリンダ駆動装置24を作動させて、
第3の案内板部材16を緩やかに上昇させる。こ
れにより、アダプター・ピン52,53,55及
び56は、第3の案内板部材16に設けられたア
ダプター・ピン用案内孔20の位置を中心にして
振動せしめられて、それらのアダプター・ピン先
端部38が第1の案内板部材10の面上で各方向
に小刻みに移動せしめられ、この移動範囲gが、
アダプター・ピン用案内孔20の位置が第3の案
内板部材16の上昇に伴つて上昇するにつれて拡
大される。そして、この例では、斯かるアダプタ
ー・ピン52,53,55及び56の振動中に、
アダプター・ピン52及び55が、それらのアダ
プター・ピン先端部38がその移動範囲内にはい
つたアダプター・ピン用案内孔18を捜し当て
て、そのアダプター・ピン用案内孔18に落ち込
み、それらの頭部37が第2の案内板部材15の
上面で止められる。一方、アダプター・ピン53
及び56は、それらのアダプター・ピン先端部3
8の移動範囲内に対応するアダプター・ピン用案
内孔18が無く、アダプター・ピン先端部38が
第1の案内板部材10に当接した状態に保たれる
(第5図)。
次に、シリンダ駆動装置31を作動させて、整
合板部材28を、第5図において一点鎖線で示さ
れる如くに、アダプター・ピン53及び56の頭
部37が整合板部材28に設けられたアダプタ
ー・ピン用案内孔29内に入る程度に上昇させ
る。これにより、アダプター・ピン53及び56
を再び各案内板部材に対して直交する姿勢に戻
す。
続いて、アダプター13に完全には挿入されな
かつたアダプター・ピン53及び56をアダプタ
ー13から抜き出す操作を行う。そのため、シリ
ンダ駆動装置26を作動させてアダプター13を
上方に移動させ、また、シリンダ駆動装置31を
作動させて整合板部材28を上方に移動させる。
これら両者の移動は、整合板部材28をクランプ
板部材33の下面に当接させ、かつ、第2の案内
板部材15を整合板部材28の下面に当接させる
ように行う。そして、クランプ板部材33及び3
4を、それらに設けられたアダプター・ピン用案
内孔35が整合状態となり、アダプター・ピン5
1〜56の頭部37がアダプター・ピン用案内孔
35を貫通するようにされる(第6図)。
この状態でシリンダ駆動装置41及び42を作
動させて、クランプ板部材33及び34を、アダ
プター・ン53及び56を係止するように相互移
動させる。その後、アダプター13及び整合板部
材28を夫々の始動位置に戻す。これにより、整
合板部材28は、アダプター13に挿入されたア
ダプター・ピン51,52,54及び55から離
れ、かつ、クランプ板部材33及び34によつて
係止されたアダプター・ピン53及び56の夫々
のアダプター・ピン先端部38を、アダプター・
ピン用案内孔35により案内する位置に配され
る。また、このとき、必要に応じて、図示されて
いない支持部材により第3の案内板部材16をそ
の上方位置に固定し、シリンダ駆動装置24を、
そのピストンをアダプター13から離してシリン
ダ内に引き込むように作動させる。第3の案内板
部材16を上方位置におくことにより、アダプタ
ー・ピン51,52,54及び55のアダプタ
ー・ピン本体部の変位を妨げることができる。
上述の如くの操作の結果、アダプター13は印
刷配線基板の検査を行い得る状態にされ、図示さ
れていない滑動キヤリツジによりローデイング/
アンローデイング手段17から外される(第7
図)。
次に、アンローデイングにあたつては、最初
に、第1の案内板部材10を取り外す。その後、
図示されていない滑動キヤリツジにより、アダプ
ター13をローデイング/アンローデイング手段
17に架装し、図示されていない手段により、第
3の案内板部材16を固定位置から開放して下方
ストツパ23に当接するまで下方に移動させる
(第8図)。アダプター13を上方位置に固定する
支持部材及び下方に移動させる手段は、本発明に
係る装置において要部をなすものではないので、
簡略化のため図示されていない。
次いで、アダプター13及び整合板部材28
を、整合板部材28がクランプ板部材33の下面
に当接し、第2の案内板部材15が整合板部材2
8の下面に当接するように上昇させ、同時に、ク
ランプ板部材33及び34をそれらに設けられた
アダプター・ピン用案内孔35が整合状態となる
ように相互移動させる。これにより、クランプ板
部材33及び34に係止されていたアダプター・
ピン53及び56を、アダプター・ピン用案内孔
29,19及び20を貫通するものとして、アダ
プター13内に挿入する(第9図)。
ここで、シリンダ駆動装置44を作動させてピ
ン揚動板部材43を上昇させ、アダプター・ピン
51〜56の全ての頭部37を、クランプ板部材
33及び34に設けられ、互いに整合状態とされ
たアダプター・ピン用案内孔35を貫通して上方
クランプ板部材33の上方に突出する位置まで移
動させる(第10図)。そして、シリンダ駆動装
置41及び42を作動させ、クランプ板部材33
及び34を相互移動させてアダプター・ピン51
〜56の全てを迅速に係止するようになす(第1
1図)。
最後に、ピン揚動板部材43を下降させ、ま
た、アダプター13及び整合板部材28を、第2
図に示される始動位置に戻す。
アダプター13を改めてローデイングするに
は、まず始めに、第1の案内板部材10を取り付
けることから始める。
第12図は、第1図にXをもつて示される部分
の詳細を示す。ここには、アダプター・ピン14
の球状の頭部37と検査接触子7の接触先端部8
との接触状態が示されている。接触先端部8は接
触子シヤフト部50内に引き出し及び引き込み可
能に支持されており、スプリングによつて第12
図において矢印で示される方向に付勢されてい
る。アダプター・ピン14の球状の頭部37との
接触状態を良好なものにすべく、検査接触子7の
接触先端部8の接触端面にはカツプ状凹部が形成
されている。
上述の例は、ローデイング及びアンローデイン
グが自動的に行われるものとされているが、本発
明に係る印刷配線基板検査用装置はローデイング
及びアンローデイングが手動操作により行われる
ものとされてもよい。
第13図及び第14図は、このようなローデイ
ング及びアンローデイングが手動操作により行わ
れる例を示す。この例のアダプター60も第1の
案内板部材61と、これから所定の距離を隔てた
位置に第1の案内板部材61と平行に配された第
2の案内板部材62と、これら第1及び第2の案
内板部材61及び62が固着されて箱状体を形成
する側板部材63と、アダプター・ピン64を備
えて構成され、アダプター・ピン64は、それら
の頭部65が第2の案内板部材62に係止されて
いる。前述の例におけると同様に、アダプター・
ピン64の長さは、アダプター・ピン60の上下
両側に接触端部を突出せしめるべく、アダプタ
ー・ピン60の高さより大とされている。
この例の場合にも、第2の案内板部材62のア
ダプター・ピン用案内孔66は所定の格子状配置
をもつて配され、また、第1の案内板部材61の
アダプター・ピン用案内孔67は斯かる所定の格
子状配置から外れた配置をもつて配されている。
第13図においては、これらアダプター・ピン用
案内孔66及び67に4本のアダプター・ピン6
4が挿入されている(これらアダプター・ピン6
4はアダプター・ピン68〜71として示されて
いる。)そして、アダプター・ピン68及び70
は、互いに整合状態にあるアダプター・ピン用案
内孔66及び67に挿入されており、一方、アダ
プター・ピン69及び71は互いに整合状態にな
いアダプター・ピン用案内孔66及び67に挿入
されていて、それらのアダプター・ピン60の上
下両側における接触端部は相互変位している。ア
ダプター・ピン69についての斯かる接触端部の
相互変位における変位量は72で表わされ、ま
た、アダプター・ピン71についての斯かる接触
端部の相互変位量は73で表わされている。
第2の案内板部材62の上面には、上述の所定
の格子状配置から外れた配置をもつて配された透
孔75を有した薄膜部材74が被着されており、
透孔75の直径kは、上述の変位量72及び73
の最大可能値とアダプター・ピン69及び71の
頭部65の半径との和の2倍に相当するものに選
定されている。このため、薄膜部材74は、アダ
プター・ピン68〜71の挿入後においても上方
に取り除くことができる。
斯かる薄膜部材74が配されているのは、次の
如くの理由による。即ち、アダプタ60は、ロー
デイング時には、第13図に示される如くの位置
に置かれる。その結果、操作者がアダプター60
をその上方から見ると、第14図に示される如く
に見え、このように上から見たのでは、第1の案
内板部材61に設けられたアダプター・ピン用案
内孔67が、第2の案内部材62に設けられたア
ダプター・ピン用案内孔66に対して変位してい
るか否かを直接に知ることはできない。しかしな
がら、薄膜部材74を配すことにより、第14図
に明示されている如く、アダプター・ピン用案内
孔66に対するアダプター・ピン用案内孔67の
変位は、薄膜部材74に設けられた透孔75に対
するアダプター・ピン用案内孔66の偏心量とし
て把握することができる。このようにして、操作
者は、第1の案内板部材61に設けられたアダプ
ター・ピン用案内孔67がどちら側に変位してい
るかを容易に知ることができ、アダプター・ピン
68〜71の挿入に際し、アダプター・ピン69
及び71を斜めに挿入して、第1の案内板部材6
1に設けられたアダプター・ピン用案内孔67を
見つけだすことができることになる。
また、この例においても、上述の第1及び第2
の案内板部材61及び62に加え、前述の例にお
ける第3の案内板部材16と同様の、垂直方向に
変位され得る所定の格子状配置をもつて配された
アダプター・ピン用案内孔77を有した第3の案
内板部材76が配される。この第3の案内体部材
76により、そのアダプター・ピン用案内孔77
に挿入されるアダプター・ピン68〜71を第1
および第2の案内板部材61及び62に対して直
交して挿入することができ、アダプター・ピン6
9及び71は第1の案内板部材61に当接した
後、傾斜せしめられてアダプター・ピン用案内孔
67に挿入されることになつて、アダプター・ピ
ン68〜71の挿入が一段と容易にされる。
発明の効果 以上の説明か明らかな如く、本発明に係る印刷
配線基板検査用装置によれば、第1の案内板部材
と第2の案内板部材との間に配された第3の案内
板部材の変位に伴い、この第3の案内板部材に所
定の格子状配置をもつて設けられたアダプター・
ピン用案内孔に挿入された各アダプター・ピンの
先端部を、第1の案内板部材の面に平行な面にお
いて各方向に変位させることができ、それによつ
て、アダプター・ピンを第1の案内板部材に所定
の格子状配置から外れた配置をもつて設けられた
アダプター・ピン用案内孔にも、極めて容易に挿
入せしめることができる。従つて、本発明に係る
印刷配線基板検査用装置は、全自動、もしくは、
半自動ローデイング及びアンローデイングを行う
ことができ、極めて便利なものとなる。
また、本発明に係る印刷配線基板検査用装置の
使用方法によれば、水平方向に設置された第1の
案内板部材と第2の案内板部材との間に配された
第3の案内板部材を、振動させつつ垂直方向に移
動させることにより、第1の案内板部材に所定の
格子状配置から外れた配置をもつて設けられたア
ダプター・ピン用案内孔に挿入されるべきアダプ
ター・ピンの先端を、該当するアダプター・ピン
用案内孔に容易に導くことができ、アダプター・
ピンの第1の案内板部材に設けられたアダプタ
ー・ピン用案内孔への挿入を確実、かつ、簡単に
行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る印刷配線基板検査用装置
の一例の部分を、印刷配線基板及び検査設備の一
部分とともに示す側断面図、第2図は本発明に係
る印刷配線基板検査用装置の一例を制御部ととも
に示す側断面図、第3図〜第11図は第2図に示
される例の種々の作動位置の説明に用いられる側
断面図、第12図は第1図におけるXにて示され
る部分を拡大して示す一部破砕側面図、第13図
は本発明に係る印刷配線基板検査用装置の他の例
を示す側断面図、第14図は第13図に示される
例の上面図である。 図中、2は印刷配線基板、3は検査用接触部、
7は検査接触子、13及び60はアダプター、1
4,51〜56,64及び68〜71はアダプタ
ー・ピン、10及び61は第1の案内板部材、1
5及び62は第2の案内板部材、16及び76は
第3の案内板部材、17はローデイング/アンロ
ーデイング手段、27は整合手段、32は保持手
段、48は超音波振動手段である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 検査されるべき印刷配線基板の検査用接触部
    と所定の格子状配置をもつて配された多数の検査
    接触子とを接続するための複数のアダプター・ピ
    ンと、上記印刷配線基板の検査用接触部の配置パ
    ターンに対応する配置をもつて設けられたアダプ
    ター・ピン用案内孔を有する第1の案内板部材
    と、上記検査接触子に対応する上記所定の格子状
    配置をもつて設けられたアダプター・ピン用案内
    孔を有し、上記第1の案内板部材から所定距離だ
    け離隔した位置に上記第1の案内板部材と平行に
    配された第2の案内板部材と、上記所定の格子状
    配置の各配置点に対応する位置に設けられた多数
    のアダプター・ピン用案内孔を有し、該アダプタ
    ー・ピン用案内孔の夫々がそこに挿入される上記
    アダプター・ピンに制限された範囲内での挿入方
    向に直交する各方向への移動を許容する径を有す
    るものとされ、上記第1及び第2の案内板部材の
    間に両者と平行に配されて両者に直交する方向に
    移動され得るようにされた第3の案内板部材とを
    備え、上記印刷配線基板の検査用接触部に接触す
    る上記アダプター・ピンの先端部を上記第1の案
    内板部材に設けられたアダプター・ピン用案内孔
    から突出させるように構成されたことを特徴とす
    る印刷配線基板検査用装置。 2 上記第3の案内板部材が有するアダプター・
    ピン用案内孔の径が、上記第2の案内板部材が有
    するアダプター・ピン用案内孔の径より大とされ
    たことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
    印刷配線基板検査用装置。 3 上記第3の案内板部材が移動範囲上端位置に
    おいて固定支持されるようになされたことを特徴
    とする特許請求の範囲第1項記載の印刷配線基板
    検査用装置。 4 上記第1の案内板部材が取り外し可能とされ
    たことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
    印刷配線基板検査用装置。 5 上記第3の案内板部材が少なくとも移動範囲
    下端位置でストツパ部材により規制されることを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載の印刷配線
    基板検査用装置。 6 検査されるべき印刷配線基板の検査用接触部
    と所定の格子状配置をもつて配された多数の検査
    接触子とを接続するための複数のアダプター・ピ
    ンと、上記印刷配線基板の検査用接触部の配置パ
    ターンに対応する配置をもつて設けられたアダプ
    ター・ピン用案内孔を有する第1の案内板部材
    と、上記検査接触子に対応する上記所定の格子状
    配置をもつて設けられたアダプター・ピン用案内
    孔を有し、上記第1の案内板部材から所定距離だ
    け離隔した位置に上記第1の案内板部材と平行に
    配された第2の案内板部材と、上記所定の格子状
    配置の各配置点に対応する位置に設けられた多数
    のアダプター・ピン用案内孔を有し、該アダプタ
    ー・ピン用案内孔の夫々がそこに挿入される上記
    アダプター・ピンに制限された範囲内での挿入方
    向に直交する各方向への移動を許容する径を有す
    るものとされ、上記第1及び第2の案内板部材の
    間に両者と平行に配されて両者に直交する方向に
    移動され得るようにされた第3の案内板部材とを
    備えて、上記印刷配線基板の検査用接触部に接触
    する上記アダプター・ピンの先端部を上記第1の
    案内板部材に設けられたアダプター・ピン用案内
    孔から突出させるようになされ、さらに、上記第
    2の案内板部材の上方に配された上記アダプタ
    ー・ピンを選択的に保持するアダプター・ピン保
    持手段と、上記第1、第2及び第3の案内板部材
    の全体を上記第1の案内板部材の下方から支持し
    て、上記アダプター・ピン保持手段に対して近接
    及び離隔せしめる可動支持手段とを備えて構成さ
    れたことを特徴とする印刷配線基板検査用装置。 7 上記可動支持手段が、上記第3の案内板部材
    を上記第1及び第2の案内板部材の間で両者に直
    交する方向に移動せしめる駆動手段を含んで構成
    されたことを特徴とする特許請求の範囲第6項記
    載の印刷配線基板検査用装置。 8 上記可動支持手段が、上記駆動手段に加えて
    上記第3の案内板部材をその面に沿う方向に振動
    せしめる振動手段を含んで構成されたことを特徴
    とする特許請求の範囲第7項記載の印刷配線基板
    検査用装置。 9 上記アダプター・ピン保持手段が、夫々が上
    記所定の格子状配置をもつて配されたアダプタ
    ー・ピン用案内孔を有し、相互移動される複数の
    クランプ板部材を含んで構成されたことを特徴と
    する特許請求の範囲第6項記載の印刷配線基板検
    査用装置。 10 検査されるべき印刷配線基板の検査用接触
    部と所定の格子状配置をもつて配された多数の検
    査接触子とを接続するための複数のアダプター・
    ピンと、上記印刷配線基板の検査用接触部の配置
    パターンに対応する配置をもつて設けられたアダ
    プター・ピン用案内孔を有する第1の案内板部材
    と、上記検査接触子に対応する上記所定の格子状
    配置をもつて設けられたアダプター・ピン用案内
    孔を有し、上記第1の案内板部材から所定距離だ
    け離隔した位置に上記第1の案内板部材と平行に
    配された第2の案内板部材と、上記所定の格子状
    配置の各配置点に対応する位置に設けられた多数
    のアダプター・ピン用案内孔を有し、該アダプタ
    ー・ピン用案内孔の夫々がそこに挿入される上記
    アダプター・ピンに制限された範囲内での挿入方
    向に直交する各方向への移動を許容する径を有す
    るものとされ、上記第1及び第2の案内板部材の
    間に両者と平行に配されて両者に直交する方向に
    移動され得るようにされた第3の案内板部材とを
    備えて、上記印刷配線基板の検査用接触部に接触
    する上記アダプター・ピンの先端部を上記第1の
    案内板部材に設けられたアダプター・ピン用案内
    孔から突出させるようになされ、さらに、上記第
    2の案内板部材の上方に配された上記アダプタ
    ー・ピンを選択的に保持するアダプター・ピン保
    持手段と、上記第1、第2及び第3の案内板部材
    の全体を上記第1の案内板部材の下方から支持し
    て、上記アダプター・ピン保持手段に対して近接
    及び離隔せしめる可動支持手段と、上記アダプタ
    ー・ピン保持手段により保持されたアダプター・
    ピンを案内するアダプター・ピン整合手段とを備
    えて構成されたことを特徴とする印刷配線基板検
    査用装置。 11 上記アダプター・ピン整合手段が、上記所
    定の格子状配置をもつて設けられたアダプター・
    ピン用案内孔を有し、上記第2の案内板部材と上
    記アダプター・ピン保持手段との間に配された整
    合板部材と、該整合板部材を上記アダプター・ピ
    ン保持手段に対して近接及び離隔するように移動
    せしめる駆動手段とを含んで構成されたことを特
    徴とする特許請求の範囲第10項記載の印刷配線
    基板検査用装置。 12 検査されるべき印刷配線基板の検査用接触
    部の配置パターンに対応する配置をもつて設けら
    れたアダプター・ピン用案内孔を有する第1の案
    内板部材と、所定の格子状配置をもつて配された
    多数の検査接触子に対応する上記所定の格子状配
    置をもつて設けられたアダプター・ピン用案内孔
    を有し、上記第1の案内板部材から所定距離だけ
    離隔した位置に上記第1の案内板部材と平行に配
    された第2の案内板部材と、上記所定の格子状配
    置の各配置点に対応する位置に設けられた多数の
    アダプターピン用案内孔を有し、該アダプター・
    ピン用案内孔の夫々がそこに挿入される上記アダ
    プター・ピンに制限された範囲内での挿入方向に
    直交する各方向への移動を許容する径を有するも
    のとされ、上記第1及び第2の案内板部材の間に
    両者と平行に配されて両者に直交する方向に移動
    され得るようにされた第3の案内板部材とを、上
    記第1の案内板部材が底部に位置するようにして
    水平にした状態で、上記所定の格子状配置の各配
    置点において吊下げられた多数のアダプター・ピ
    ンの下方に配し、次に、上記アダプター・ピン
    を、上記第2及び第3の案内板部材に設けられた
    アダプター・ピン用案内孔、さらには、上記第1
    の案内板部材に設けられたアダプター・ピン用案
    内孔のうちの上記所定の格子状配置における配置
    点に位置するものにそれらの上方から挿入せし
    め、次いで、上記第3の案内板部材を振動させつ
    つ下方の始動位置から上方に移動させて、上記第
    1の案内板部材に上記所定の格子状配置から外れ
    た配置をもつて配されたアダプター・ピン用案内
    孔の周囲に位置する上記アダプター・ピンの先端
    部を上記第1の案内板部材の面に平行な面内にお
    いて各方向に小刻みに変位させ、それによつて、
    これらアダプター・ピンの近傍位置にある上記所
    定の格子状配置から外れた配置をもつて配された
    アダプター・ピン用案内孔に挿入せしめるように
    することを特徴とする印刷配線基板検査用装置の
    使用方法。 13 上記アダプター・ピンを、上記第2及び第
    3の案内板部材に設けられたアダプター・ピン用
    案内孔、さらには、上記第1の案内板部材に設け
    られたアダプター・ピン用案内孔のうちの上記所
    定の格子状配置における配置点に位置するものに
    それらの上方から挿入せしめるに際し、上記第
    1、第2及び第3の案内板部材の全体を上記アダ
    プター・ピンに向けて移動せしめるようにするこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第12項記載の印
    刷配線基板検査用装置の使用方法。
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Families Citing this family (68)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2146849B (en) * 1983-09-17 1987-08-05 Marconi Instruments Ltd Electrical test probe head assembly
USRE34491E (en) * 1983-11-07 1993-12-28 Mania Elektronik Automatisation Entwicklung Und Geratebau Gmbh Contact array assembly for a computer-controlled printed circuit board testing apparatus
DE3340180C1 (de) * 1983-11-07 1985-05-15 MANIA Elektronik Automatisation Entwicklung und Gerätebau GmbH Kontaktfeldanordnung fuer ein rechnergesteuertes Leiterplattenpruefgeraet
ATE34621T1 (de) * 1983-12-08 1988-06-15 Martin Maelzer Adapter fuer ein leiterplattenpruefgeraet.
GB2156532B (en) * 1984-03-24 1988-07-20 Plessey Co Plc Apparatus for testing a printed circuit board
DE3421799A1 (de) * 1984-06-12 1985-12-12 Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg Kontaktelement fuer pruefadapter
FR2565737B3 (fr) * 1984-06-12 1986-09-19 Feinmetall Gmbh Element de contact pour adaptateur de controle pour effectuer des controles electriques de pieces a controler notamment de circuits imprimes
US4866375A (en) * 1984-06-22 1989-09-12 Malloy James T Universal test fixture
DE3441578A1 (de) * 1984-11-14 1986-05-22 Riba-Prüftechnik GmbH, 7801 Schallstadt Leiterplatten-pruefeinrichtung
US4736522A (en) * 1985-08-08 1988-04-12 Holaday Circuits, Inc. Process for loading test pins
US4709207A (en) * 1985-08-08 1987-11-24 Holaday Circuits, Inc. Loading system
JPS6235274A (ja) * 1985-08-08 1987-02-16 Tokyo Electron Ltd 回路基板検査用アダプタのピン挿入装置
JPH0447665Y2 (ja) * 1985-11-07 1992-11-10
DE3539720A1 (de) * 1985-11-08 1987-05-14 Martin Maelzer Adapter fuer ein leiterplattenpruefgeraet
US4884024A (en) * 1985-11-19 1989-11-28 Teradyne, Inc. Test pin assembly for circuit board tester
AT391762B (de) * 1985-11-26 1990-11-26 Alcatel Austria Ag Vorrichtung zum pruefen von leiterplatten
DE3606877A1 (de) * 1986-03-03 1987-09-10 Siemens Ag Vorrichtung zum bestuecken eines adapters mit kontaktnadeln fuer eine leiterplatten-pruefeinrichtung
US4783624A (en) * 1986-04-14 1988-11-08 Interconnect Devices, Inc. Contact probe devices and method
GB2191909B (en) * 1986-06-19 1989-12-20 Plessey Co Plc Acoustic transducer
DE3630548A1 (de) * 1986-09-08 1988-03-10 Mania Gmbh Vorrichtung zum elektronischen pruefen von leiterplatten mit kontaktpunkten im 1/20 zoll-raster
DE3638372A1 (de) * 1986-11-11 1988-05-26 Lang Dahlke Helmut Vorrichtung zum pruefen von elektrischen leiterplatten
DE3639361A1 (de) * 1986-11-18 1988-05-19 Luther Erich Geraet zum pruefen von leiterplatten
DE3736689A1 (de) * 1986-11-18 1988-05-26 Luther Erich Adapter fuer ein leiterplattenpruefgeraet
US4758780A (en) * 1986-12-08 1988-07-19 Ncr Corporation Circuit board test apparatus and method
ATE92191T1 (de) * 1987-03-31 1993-08-15 Siemens Ag Vorrichtung fuer die elektrische funktionspruefung von verdrahtungsfeldern, insbesondere von leiterplatten.
US4862077A (en) * 1987-04-29 1989-08-29 International Business Machines Corporation Probe card apparatus and method of providing same with reconfigurable probe card circuitry
US4803424A (en) * 1987-08-31 1989-02-07 Augat Inc. Short-wire bed-of-nails test fixture
DE3906691A1 (de) * 1988-03-04 1989-09-14 Manfred Prokopp Kontaktiervorrichtung fuer pruefvorrichtungen zum pruefen von leiterplatten oder dgl.
US4967147A (en) * 1988-05-26 1990-10-30 Zehntel, Inc. Circuit tester having mechanical fingers and pogo probes for causing electrical contact with test fixture assemblies
DE3819884A1 (de) * 1988-06-10 1989-12-14 Kriwan Ind Elektronik Gmbh Geraet zum pruefen von elektronischen baugruppen
US4939454A (en) * 1988-07-26 1990-07-03 Hewlett-Packard Company Connector system for printed circuit board test facility
EP0352929B1 (en) * 1988-07-26 1993-12-08 Hewlett-Packard Company Connector system for printed circuit board test facility
US5021732A (en) * 1988-10-27 1991-06-04 Grumman Aerospace Corporation Burn-in testing equipment having an instrumentation control module
US5172053A (en) * 1989-02-24 1992-12-15 Tokyo Electron Limited Prober apparatus
US4947111A (en) * 1989-04-06 1990-08-07 Harris Corporation Test fixture for multi-GHZ microwave integrated circuits
US5323107A (en) * 1991-04-15 1994-06-21 Hitachi America, Ltd. Active probe card
US5216361A (en) * 1991-07-10 1993-06-01 Schlumberger Technologies, Inc. Modular board test system having wireless receiver
DE4206012C1 (en) * 1992-02-27 1993-09-16 Ant Nachrichtentechnik Gmbh, 71522 Backnang, De Circuit board testing adaptor assembly system - uses eccentrically weighted motor to vibrate sleeve which supplies test pins for fitting in adaptor bores
JPH05273300A (ja) * 1992-03-24 1993-10-22 Kofu Nippon Denki Kk 検査アダプタ
US5307560A (en) * 1992-07-30 1994-05-03 Allen Aksu Automated test pin loading method
US5646522A (en) * 1992-09-24 1997-07-08 Hughes Electronics Wireless test fixture for high frequency testing
US5506510A (en) * 1994-05-18 1996-04-09 Genrad, Inc. Adaptive alignment probe fixture for circuit board tester
DE19508902A1 (de) * 1995-03-11 1996-09-12 Nadejda Dipl Phys Poskatcheeva Vorrichtung zur Prüfung von Platinen sowie deren Verwendung
CN1255686C (zh) * 1996-04-12 2006-05-10 日本发条株式会社 导电接触单元系统
DE19627801C1 (de) * 1996-07-10 1998-03-26 Atg Test Systems Gmbh Vorrichtung zum Prüfen von elektrischen Leiterplatten
US5986447A (en) * 1997-05-23 1999-11-16 Credence Systems Corporation Test head structure for integrated circuit tester
ATE224061T1 (de) 1998-02-18 2002-09-15 Luther & Maelzer Gmbh Verfahren und vorrichtung zum prüfen von gedruckten leiterplatten
US6812718B1 (en) * 1999-05-27 2004-11-02 Nanonexus, Inc. Massively parallel interface for electronic circuits
US7349223B2 (en) 2000-05-23 2008-03-25 Nanonexus, Inc. Enhanced compliant probe card systems having improved planarity
US7247035B2 (en) * 2000-06-20 2007-07-24 Nanonexus, Inc. Enhanced stress metal spring contactor
US7382142B2 (en) 2000-05-23 2008-06-03 Nanonexus, Inc. High density interconnect system having rapid fabrication cycle
US20070245553A1 (en) * 1999-05-27 2007-10-25 Chong Fu C Fine pitch microfabricated spring contact structure & method
US7579848B2 (en) * 2000-05-23 2009-08-25 Nanonexus, Inc. High density interconnect system for IC packages and interconnect assemblies
US7952373B2 (en) 2000-05-23 2011-05-31 Verigy (Singapore) Pte. Ltd. Construction structures and manufacturing processes for integrated circuit wafer probe card assemblies
DE10049301A1 (de) 2000-10-04 2002-05-02 Atg Test Systems Gmbh Modul für eine Prüfvorrichtung zum Testen von Leiterplatten
US6605952B2 (en) 2001-06-27 2003-08-12 Intel Corporation Zero connection for on-chip testing
WO2003018865A1 (en) * 2001-08-24 2003-03-06 Nanonexus, Inc. Method and apparatus for producing uniform isotropic stresses in a sputtered film
US6864696B2 (en) * 2002-10-31 2005-03-08 Agilent Technologies, Inc. High density, high frequency, board edge probe
US6867609B2 (en) * 2003-02-25 2005-03-15 Agilent Technologies, Inc. Probe for testing circuits, and associated methods
US7046020B2 (en) * 2004-02-17 2006-05-16 Agilent Technologies, Inc. Probes with perpendicularly disposed spring pins, and methods of making and using same
CN100377102C (zh) * 2004-02-21 2008-03-26 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 主机板功能测试板
US20060074836A1 (en) * 2004-09-03 2006-04-06 Biowisdom Limited System and method for graphically displaying ontology data
US7323892B1 (en) * 2006-06-07 2008-01-29 Agilent Technologies, Inc. Probe having a frame to align spring pins perpendicularly to a printed circuit board, and method of making same
DE102006059429A1 (de) 2006-12-15 2008-06-26 Atg Luther & Maelzer Gmbh Modul für eine Prüfvorrichtung zum Testen von Leiterplatten
DE102008006130A1 (de) 2008-01-25 2009-07-30 Atg Luther & Maelzer Gmbh Modul für einen Paralleltester zum Prüfen von Leiterplatten
DE102009004555A1 (de) 2009-01-14 2010-09-30 Atg Luther & Maelzer Gmbh Verfahren zum Prüfen von Leiterplatten
KR20120104812A (ko) * 2011-03-14 2012-09-24 삼성전자주식회사 반도체 디바이스 테스트 장치 및 방법
CN112014721B (zh) * 2020-09-01 2023-04-11 珠海景旺柔性电路有限公司 一种通用型lcr测试板及其制作方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3654585A (en) * 1970-03-11 1972-04-04 Brooks Research And Mfg Inc Coordinate conversion for the testing of printed circuit boards
US3848188A (en) * 1973-09-10 1974-11-12 Probe Rite Inc Multiplexer control system for a multi-array test probe assembly
US4164704A (en) * 1976-11-01 1979-08-14 Metropolitan Circuits, Inc. Plural probe circuit card fixture using a vacuum collapsed membrane to hold the card against the probes
DE2933862A1 (de) * 1979-08-21 1981-03-12 Paul Mang Vorrichtung zur elektronischen pruefung von leiterplatten.
US4357062A (en) * 1979-12-10 1982-11-02 John Fluke Mfg. Co., Inc. Universal circuit board test fixture
DE3013215A1 (de) * 1980-04-03 1981-10-15 Luther & Maelzer Gmbh, 3050 Wunstorf Adapter fuer ein selbstprogrammierbares leiterplattenpruefgeraet
DE3110056C2 (de) * 1981-03-16 1986-02-27 MANIA Elektronik Automatisation Entwicklung und Gerätebau GmbH, 6384 Schmitten Kontaktanordnung mit einer Vielzahl von in einer Kontaktebene angeordneten Kontakten

Also Published As

Publication number Publication date
JPS59501996A (ja) 1984-11-29
JPS60114777A (ja) 1985-06-21
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DE3240916C2 (de) 1985-10-31
DE3340184A1 (de) 1985-05-15
EP0108405B1 (de) 1988-04-20
DE3249770C2 (en) 1987-11-12

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