JPH0385561U - - Google Patents

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JPH0385561U
JPH0385561U JP14739489U JP14739489U JPH0385561U JP H0385561 U JPH0385561 U JP H0385561U JP 14739489 U JP14739489 U JP 14739489U JP 14739489 U JP14739489 U JP 14739489U JP H0385561 U JPH0385561 U JP H0385561U
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Japan
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tube
plasma
mist
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analyzer
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Landscapes

  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案を説明する図、第2図は従来技
術を説明する図、第3図および第4図は従来技術
の問題点を説明する図、第5図は本考案の第二の
実施例を示す図である。 1……試料溶液、2……キヤピラリーチユーブ
、3……ネブライザー、4……キヤリアガス、5
……噴霧室、6……トーチ管、7……補助ガス、
8……プラズマガス、9……ワークコイル、10
……プラズマ、11……連通管、12……ドレイ
ンタンク、13……溶液、14……液滴、15…
…液滴、16……抵抗体、17……支持体、18
……直通管。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 試料溶液中の微量元素の同定を行う分析装置で
    、前記試料溶液を霧にするネブライザーと、前記
    霧をプラズマ化させるトーチ管及びワークコイル
    と、前記ワークコイルに高周波電流を印加する高
    周波電源と、前記プラズマの発する光あるいはイ
    オンを測定する測定系と、前記霧のうち一定の粒
    径のものを前記トーチ管に送りかつ不必要な粒径
    の霧を液化して廃棄する噴霧室と、前記噴霧室の
    後にあつて前記プラズマ中に空気が混入すること
    を防ぐ働きを持つ管で構成される高周波誘導結合
    プラズマ分析装置において、前記管の中に前記管
    中での溶液の流れに抵抗をつける抵抗体を入れる
    ことによつて前記管を小型化しかつ測定の安定化
    を計つたことを特徴とする高周波誘導結合プラズ
    マ分析装置。
JP1989147394U 1989-12-20 1989-12-20 高周波誘導結合プラズマ分析装置 Expired - Lifetime JP2522350Y2 (ja)

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JPH0385561U true JPH0385561U (ja) 1991-08-29
JP2522350Y2 JP2522350Y2 (ja) 1997-01-16

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006010415A (ja) * 2004-06-23 2006-01-12 Horiba Ltd 気液分離容器、及びicp発光分析装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5987655U (ja) * 1982-12-03 1984-06-13 松下電器産業株式会社 高周波誘導結合プラズマ発光分析装置用ドレインチユ−ブ
JPH01170840A (ja) * 1987-12-25 1989-07-05 Shimadzu Corp Icp分析装置の試料導入装置

Patent Citations (2)

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