JPH0389123A - 振動検出器 - Google Patents

振動検出器

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JPH0389123A
JPH0389123A JP22648189A JP22648189A JPH0389123A JP H0389123 A JPH0389123 A JP H0389123A JP 22648189 A JP22648189 A JP 22648189A JP 22648189 A JP22648189 A JP 22648189A JP H0389123 A JPH0389123 A JP H0389123A
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Akira Kawamoto
河本 晟
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  • Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は上下方向の振動を検出する振動検出器に関し、
特に低い周波数領域の振動を検出するのに適した振動検
出器に関する。
〈従来の技術〉 振動検出器としては、従来、加速度計を用いる方式のも
のや、あるいはばねで吊るした慣性質量用の錘り等の、
固定部に対する変位や速度を計測する方式のものがある
加速度計方式にはストレインゲージ式のものや電磁サー
ボ式のもの等がある。
第8図に従来の電磁サーボ式の加速度検出型振動検出器
のサーボ系の構成図を示す。ケースに対する錘りの変位
検出値を増幅器81を介してPID111′4311器
82に導き、そのPID出力で電磁力発生装置のフォー
スコイル83に流す電流を決定し、これによって発生す
る電磁力で錘りのケースに対する位置を一定に保つよう
に制御する。そして、その錘りを一定位置に保つに要す
るフィードバック量、つまりフォースコイル83に流れ
る電流を測定抵抗84で電圧に変換することによって、
加速度の計測出力を得ている。この電磁サーボ式の加速
度検出型振動検出器では、その測定原理により、測定上
限の周波数は系の固有振動数となる関係上、系の固有振
動数はできるだけ高くしている。
第9図に従来の変位計測式の振動検出器の基本的構造を
示す。
ケース91に一端が支承されたばね定数の小さいばね9
2によって慣性質量たる錘り93が支持され、その錘り
93とケース91との相対的変位が変位センサ94によ
って検出される。系の固有振動数の近辺での共振現象を
抑制するため、ダンパ95が設けられている。
このような構造において、ケース91を測定すべき振動
物に取り付けておくと、錘り93は、柔らかなばね92
で支持されているために一定の高さに静止し、ケース9
1との間に相対的な変位が生ずる。変位センサ94はこ
の相対的変位を検出するので、そのセンサ出力が被測定
体の振動振幅を現すことになる。
〈発明が解決しようとする課題〉 ところで、加速度計方式においては、低周波の微小振動
を計測する場合、加速度は振動数の2乗に比例するため
に感度が低下し、IHz以下で、かつ、微小振動の計測
は極めて困難である。
このような低周波の微小振動の計測には変位計測式のも
のが適しているが、この方式のものでは、速度計測方式
のものも含めて、系の固有振動数が測定する振動数より
も低い必要がある。
すなわち、測定すべき振動数が系の固有振動数よりも低
くなると、錘り93がケース91と一体的に動くように
なり、ゲインが低下してくる。具体的には、錘り93の
質量M (kg)とばね92のばね定数をK(N/m)
によって定まる固有振動数f0 より高い周波数で使用する必要がある。なお、δは質量
Mによる撓み(C1l)である。
従って、より低い周波数の振動の計測を可能とするため
には、foをより低くする必要があるが、そのためには
ばね定数Kを小さくしなければならず、上下方向の振動
を検出するものでばばね92が長大なものとなり、装置
の大型化は避けられなないとともに、それが故に実用上
固有振動数をあまり下げることはできない。また、ばね
92を長くすることは零点ドリフトの原因ともなる。
本発明の目的は、従来の変位計測方式の振動検出器のよ
うに装置を大型化することなく、かつ、慣性用質量を支
持するばねを用いることなく、極めて低い周波数領域ま
での振動を検出することのできる振動検出器を提供する
ことにある。
〈課題を解決するための手段〉 上記の目的を達成するための構成を、第1図に示す基本
構造図を参照しつつ説明すると、本発明は、支持部aと
、その支持部aに対して変位自在の慣性用質量部すと、
その慣性用質量部すの変位方向を上下に規制するガイド
機構Cと、支持部aに対する慣性用質量部すの変位を検
出する変位センサdと、慣性用質量部すに電磁力を作用
させる電磁力発生手段eと、変位センサdによる検出値
を人力するPID制御手段手段を備え、PID制御手段
手段出力で電磁力発生手段eに供給する電流を制御し、
慣性用質量部すを重力の加速度に抗して持ち上げて支持
部aに対する位置を所定位置にコントロールするよう動
作するサーボ系を構成する。そして、その系の固有振動
数を被測定振動数よりも低く設定した状態で、変位セン
サdによる検出値を振動計測出力として取り出すよう構
成したことによって、特徴付けられる。
く作用〉 支持部aと慣性用質量部すとの相対変位を無くするよう
にサーボ系を動作させ、かつ、そのループゲインを低く
して系の固有振動数を低くした状態で、その系の固有振
動数よりも高い周波数の振動を支持部aに加えると、電
磁力発生手段eの電磁力は慣性質量部すに対して、第9
図に示したばね92の復元力の錘り93に対する働きと
同等に作用し、慣性質量部すは支持部aに対して外部振
動に応じた周波数および振幅で相対振動する。
この状態で変位センサdの出力を取り出せば、その出力
は測定しようとする外部振動を現すことになる。すなわ
ち、第9図に示した従来の変位計測方式の振動検出器の
ばね92を電磁力発生手段に置き換えた形の変位計測方
式の振動検出器が得られ、しかも、そのばね定数、換言
すれば系の固有振動数は、サーボ系のループゲインによ
って決定されることになり、例えばPIDID制御手段
化例ゲインを小さくして低ゲインのサーボ系を構成し、
その分積分時間を長くして慣性質量部すを持ち上げるに
充分な最大電磁力を発生できるように設定すれば、第9
図の構成からばね92を除去して、もって所期の目的を
達成した変位計測方式の振動検出器が得られる。
〈実施例〉 第2図は本発明実施例の構成国で、(a)は正面図とサ
ーボ系の構成を示すブロック図とを併記した図、0))
は平面図を示し、慣性用f置部のガイド機構として平行
ガイド機構を用いた場合の例を示している。
慣性用質量部2は、平行ガイド機構3によって支持部1
に上下方向に変位自在に連結されている。
平行ガイド機構3はロバ−パル機構とも称される機構で
あって、両端部にそれぞれ弾性支点部Eが形成された互
いに平行な2本のはり3a、3bで慣性用質量部2と支
持部1を連結した機構で、慣性質量部2はこの機構によ
ってその変位方向が図中上下方向に規制されている。
支持部1と慣性用質量部2間には、電磁力発生装置4が
配設されており、この両者間に電磁力を作用させること
ができる。
すなわち、電磁力発生装置4は、ヨーク4a、永久磁石
4bおよびポールピース4Cからなる磁気回路が形成す
る静磁場空間にフォースコイル4dを可動に配設したも
ので、フォースコイル4dに流れる電流に応じた電磁力
を発生することができる。そして、この電磁力発生装置
4の磁気回路側が支持部1に、フォースコイル4dが慣
性用質量部2に固着され、フォースコイル4dに電流を
流すことによって生ずる電磁力が支持部1と慣性用質量
部2間に作用するわけである。
慣性用質量部2の支持部1に対する変位は、非接触式の
変位センサ5によって検出され、その変位センサ5の出
力は増幅器6に導かれた後、当該振動検出器の振動計測
値として外部に出力されるとともに、PID制御器7に
入力されている。
PID制御器7の出力はパワーアンプ8に導入され、パ
ワーアンプ8はその入力の大きさに応じた電流を磁力発
生装置4のフォースコイル4dに供給する。これにより
、慣性質量部2の支持部1に対する位置を制S量とした
サーボ機構が形成され、慣性用it量置部が支持部1に
対して所定位置を保つように制御される。
さて、この本発明実施例において特に重要な点は、PI
D制御器7にによる制御定数のうち、比例ゲインPを0
.1(10%)以下に、積分時間Iを1秒以上に、また
、微分時間りを0.2秒以下に設定して、系の固有振動
数r0を2.5Hz以下にした点にある。
そして、この設定において、パワーアンプ8の能力は、
PID出力が飽和するまでに慣性用質量部2およびそれ
に固着されたフォースコイル4dの合計質量Mを持ち上
げ得るように設計する。すなわち、系の固有振動数f0
が2.5&以下ということは、系のゲインは非常に低い
状態に設定することになるが、PID制御器7の積分動
作により、電源投入後ある一定の時間が経過すれば、P
ID出力が増加してきて、質量Mはゆっくりと持ち上げ
られ、変位センサ5の中央部で静止することになる。こ
の状態で振動計測が可能となる。
この点の動作を第3図に実線で示す。同図において(a
)は変位センサ5の出力の計時的変化を、(b)はPI
D出力と発生電磁力の計時的変化を示している。
電源の投入直後は慣性用質量部2およびフォースコイル
4dの合計質量Mは下限位置にあり、P動作による力で
は弱すぎて質量Mは持ち上がらない。この状態ではPI
D入力は最大入力値を保っているので、■動作により時
間経過とともにPID出力は増大していき、時間t2に
達するとPとIの合計出力によってIMが持ち上がり始
める。
この時点でD動作が働いて動きを制限する向きの力を与
え、発振を防止する。そして、t2後少し時間が経過し
て時点で質iMは所定位置、つまり中立点に達し、PI
D入力は0となってバランス状態となり、振動計測可能
の状態となるわけである。
そして、この状態では、非常に低いゲイン、換言すれば
極めて小さいばね定数のばねで質量Mを支えたのと等価
になり、固有振動数f0が低く、その固有振動数f0よ
りも高い周波数領域の振動変位に付いての測定が可能と
なる。
ここで、電源投入後に測定可能状態となるまでの時間を
短縮する方法として、電源投入後−時的に積分時間を短
縮するか、あるいは増幅器6のゲインを上げることが考
えられる。これは、PID制御器7あるいは増幅器6に
、積分時間あるいはゲインの切り換えスイッチを設ける
ことによって実現できる。
第3図鎖線はPID制御器7の積分時間を切り換えるよ
うにした場合の動作を示し、電源投入時には積分時間を
短くすることによって例えば図中t1で示される時刻に
PID出力が安定状態となり、短時間で測定可能な状態
となる。そして、このtl以後にスイッチを操作して積
分時間を長くすることによって直ちに振動を測定するこ
とができる。
例えば、比例ゲインPを5%、出力80%で質itMが
持ち上がるように設計して、積分時間■を3秒と0.3
秒に切り換え可能にしておく場合、■が3秒のままでは
約3X8015=48秒で安定状態に到達するのに対し
、■を0.3秒に切り換えると、0.3x8015=4
.8秒で安定状態に到達する。なお、このとき変位セン
サ5のスケールを±0.3cn+とすれば、系の固有振
動数f0は1.8抛程度となる。
ところで、以上の実施例において、慣性用質量部2は平
行ガイド機構4によって支承され、従ってわずかではあ
るがそのはり4a、4bの弾性支点E、・・・Eのばね
定数Kが系に関与することになる。このばね定数Kによ
る系の固有振動数の上昇を防止するため、第4図に等価
的に示すように、PID制御手段41および第1の電磁
力発生手段42を備えた負帰還ループに加え、変位セン
サ5の出力を正帰還するループを追加することが効果的
である。
すなわち、ばね定数Kによる復元力を阻止する向きに質
量Mの変位に応じた電磁力を発生する第2の電磁力発生
手段43を設けるわけで、これによって系全体としての
復元力は弱まり、系のばね定数はが小さくなる結果、系
の固有振動数の上昇を防止できることになる。この場合
、正帰還ループのゲインを調整するボリューム44を設
けることによって、固有振動数を調整することも可能と
なる。
このような構成は、実際には特に電磁力発生装置を2個
設ける必要はなく、第5図にその主要部の構成を示すよ
うに、1個の電磁力発生装置51に、2個のフォースコ
イル52および53を設け、それぞれを負帰還および正
帰還ループ内に組み込めばよい。
あるいは、第6図に回路構成図を示すように、1個のフ
ォースコイル61を備えた1個の電磁力発生装置に、負
帰還ループと正帰還ループによる電流を台底した電流を
流すように構成することによっても、同様な効果が得ら
れる。
なお、本発明は、慣性用質量部の変位を規制するガイド
機構として、第2図に示した平行ガイド機構のほか、例
えばレバー機構を採用することができる。第7図にその
例を示す。
この例では、支持部71に弾性支点73で一端が支持さ
れたレバー型の慣性質量部72を備えている。慣性質量
部72に電磁力を作用させる電磁力発生装置74および
慣性質量部72の支持部71に対する変位を検出する変
位センサ75や、サーボ系については第2図に示した例
と同様であり、その説明を省略するが、この構成でも第
2図の構成と同等の作用効果が得られることは言うまで
もない。
〈発明の効果〉 以上説明したように、本発明によれば、変位計測方式の
振動検出器でありながら、その慣性用質量を支えるばね
を不要としたので、小型化とコストダウンを達成できる
とともに、装置を大型にすることなく、従来の変位計測
方式の振動検出器では実質的に不可能であった上下方向
の低周波領域の振動の検出が可能となった。
また、PID定数を可変とすれば、目的に応じて測定下
限周波数を容易に変更することができる。
このことは、目的周波数のみの振動の計測が可能である
ということであって、ばねを用いた従来の振動検出器で
は、ばねの変更を必要とし、実用上は不可能であったこ
とと考え併せると、その効果は大である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の基本構造図、第2図は本発明実施例の
構成図、第3図はその動作説明図、第4図は本発明の他
の実施例の構成の概念説明図、第5図はその具体的構成
の主要部の説明図、第6図は第4図の構成を実現する他
の具体的構成の説明図、第7図は本発明の更に他の実施
例の構造発明図、第8図は従来の電磁サーボ式の加速度
計測方式の振動検出器の回路構成図、第9図は従来の変
位計測方式の振動検出器の基本的構成図である。 1・・・・支持部 2・・・・慣性用質量部 3・・・・平行ガイド機構 4・・・・電磁力発生装置 5・・・・変位センサ 6・・・・増幅器 7・・・・PID@御器 8・・・・パワーアンプ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 支持部と、その支持部に対して変位自在の慣性用質量部
    と、その慣性用質量部の変位方向を上下に規制するガイ
    ド機構と、上記支持部に対する上記慣性用質量部の変位
    を検出する変位センサと、上記慣性用質量部に電磁力を
    作用させる電磁力発生手段と、上記変位センサによる検
    出値を入力するPID制御手段とを備え、そのPID制
    御手段の出力で上記電磁力発生手段に供給する電流を制
    御し、上記慣性用質量部を重力の加速度に抗して持ち上
    げて上記支持部に対する位置を所定位置にコントロール
    するよう動作するサーボ系を構成するとともに、その系
    の固有振動数を被測定振動数よりも低く設定した状態で
    、上記変位センサによる検出値を振動計測出力として取
    り出すよう構成してなる振動検出器。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US7854900B2 (en) 2000-05-18 2010-12-21 Sharp Kabushiki Kaisha Sterilization method

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US7854900B2 (en) 2000-05-18 2010-12-21 Sharp Kabushiki Kaisha Sterilization method
US8773838B2 (en) 2000-05-18 2014-07-08 Sharp Kabushiki Kaisha Sterilization method, ion generating device, ion generating apparatus, and air conditioning apparatus

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