JPH0389623A - 差動出力端を有するttlからecl/cmlへの変換回路 - Google Patents
差動出力端を有するttlからecl/cmlへの変換回路Info
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- JPH0389623A JPH0389623A JP2220167A JP22016790A JPH0389623A JP H0389623 A JPH0389623 A JP H0389623A JP 2220167 A JP2220167 A JP 2220167A JP 22016790 A JP22016790 A JP 22016790A JP H0389623 A JPH0389623 A JP H0389623A
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/0175—Coupling arrangements; Interface arrangements
- H03K19/018—Coupling arrangements; Interface arrangements using bipolar transistors only
- H03K19/01806—Interface arrangements
- H03K19/01812—Interface arrangements with at least one differential stage
-
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、TTL入力端におけるTTL論理モード入力
信号をECL出力端においてECL論理モード出力信号
へ変換する新規なトランジスタートランジスタ論理(T
TL)からエミッタ結合型論理乃至は電流モード論理(
ECL/CML)への変換回路に関するものである。本
変換回路は、相補的乃至は差動ECL論理出力信号高及
び低電位レベルを供給し、出力端において電圧利得を与
え、広範囲のTTL論理入力信号電位レベルに亘って比
較的一定なECL論理信号高及び低電位レベルを与え、
且つ出力端における高及び低電位レベルの間の電圧スイ
ングが小さいものであることを特徴としている。
信号をECL出力端においてECL論理モード出力信号
へ変換する新規なトランジスタートランジスタ論理(T
TL)からエミッタ結合型論理乃至は電流モード論理(
ECL/CML)への変換回路に関するものである。本
変換回路は、相補的乃至は差動ECL論理出力信号高及
び低電位レベルを供給し、出力端において電圧利得を与
え、広範囲のTTL論理入力信号電位レベルに亘って比
較的一定なECL論理信号高及び低電位レベルを与え、
且つ出力端における高及び低電位レベルの間の電圧スイ
ングが小さいものであることを特徴としている。
従来技術
シングルエンデツド即ち単一出力TTL−ECL/CM
L変換回路は、1988年9月13日付で発行された本
発明者の発明に関する米国特許第4.771,191号
に記載されている。米国特許第4,771,191号の
第3図に図示しであるこのシングルエンデツド変換回路
の概略回路図を第1図に示してあり、そこでは同一の参
照符号を使用している。第1図の変換回路の簡単化した
ブロック図を第2図に示してあり、回路の主要機能ブロ
ック及び抵抗R104及びR82を除いて構成要素を除
去しである。
L変換回路は、1988年9月13日付で発行された本
発明者の発明に関する米国特許第4.771,191号
に記載されている。米国特許第4,771,191号の
第3図に図示しであるこのシングルエンデツド変換回路
の概略回路図を第1図に示してあり、そこでは同一の参
照符号を使用している。第1図の変換回路の簡単化した
ブロック図を第2図に示してあり、回路の主要機能ブロ
ック及び抵抗R104及びR82を除いて構成要素を除
去しである。
TTL論、理入力信号高及び低電位レベルは、TTL入
力回路で受取られ、該TTL入力回路は、例えば、ダイ
オード構成要素58.60,106及び抵抗要素104
及び102を有している。論理信号高及び低電位レベル
は、電流ミラー回路の共通ベースノード結合においてT
TL入力回路によって印加される。入力信号に従ってダ
イオード94即ちベースコレクタ順路型(BC3))ラ
ンジスタ要素によって与えられる電流ミラーの第一分岐
回路を介して電流の流れが確立される。この電流は、ト
ランジスタ要素62によって与えられる電流ミラーの第
二分岐回路内にミラー動作される。従って、この電流ミ
ラーの分岐回路内の電流の流れは、入力信号に従って二
つのレベルの間で交互に変化する。この電流ミラー形態
は、高速スイッチング動作を与えるためにトランジスタ
要素62の飽和を回避している。更に、抵抗要素96及
び98はバイアス用抵抗であり、それらは、高速のター
ンオン動作のためにトランジスタ要素94及び62にお
ける電圧レベルを設定する。
力回路で受取られ、該TTL入力回路は、例えば、ダイ
オード構成要素58.60,106及び抵抗要素104
及び102を有している。論理信号高及び低電位レベル
は、電流ミラー回路の共通ベースノード結合においてT
TL入力回路によって印加される。入力信号に従ってダ
イオード94即ちベースコレクタ順路型(BC3))ラ
ンジスタ要素によって与えられる電流ミラーの第一分岐
回路を介して電流の流れが確立される。この電流は、ト
ランジスタ要素62によって与えられる電流ミラーの第
二分岐回路内にミラー動作される。従って、この電流ミ
ラーの分岐回路内の電流の流れは、入力信号に従って二
つのレベルの間で交互に変化する。この電流ミラー形態
は、高速スイッチング動作を与えるためにトランジスタ
要素62の飽和を回避している。更に、抵抗要素96及
び98はバイアス用抵抗であり、それらは、高速のター
ンオン動作のためにトランジスタ要素94及び62にお
ける電圧レベルを設定する。
TTL入力回路は、TTL高電位レベル乃至は電力レー
ルVCC乃至はV。TLとTTL低電位レベル乃至は電
力レールGNDとの間で動作する。TTL高電位電力レ
ーしV。、は、典型的には、4゜5乃至は5.Ovであ
り、一方TTL低電位電力レールGNDはOvである。
ルVCC乃至はV。TLとTTL低電位レベル乃至は電
力レールGNDとの間で動作する。TTL高電位電力レ
ーしV。、は、典型的には、4゜5乃至は5.Ovであ
り、一方TTL低電位電力レールGNDはOvである。
TTL入力回路は、更に、TTL低電位レベルGNDに
関連して電圧レベルを確立する入力クランプ回路を有し
ている。
関連して電圧レベルを確立する入力クランプ回路を有し
ている。
ダイオード要素92,90.88は、例えば、接地電位
乃至はOvより3v圓高い電位において電流ミラー第二
分岐回路トランジスタ要素62のコレクタノードにおけ
る最大電圧をクランプする。
乃至はOvより3v圓高い電位において電流ミラー第二
分岐回路トランジスタ要素62のコレクタノードにおけ
る最大電圧をクランプする。
ダイオード要素92及び94は、ECL出力端における
ECL論理出力信号高及び低電位レベルの間のスイッチ
ング動作乃至は遷移のために電流ミラー回路の共通ベー
スノード結合におけるスレッシュホールド電圧レベルを
確立する。この例においては、TTL入力スレッシュホ
ールドは2VBEに設定されている。
ECL論理出力信号高及び低電位レベルの間のスイッチ
ング動作乃至は遷移のために電流ミラー回路の共通ベー
スノード結合におけるスレッシュホールド電圧レベルを
確立する。この例においては、TTL入力スレッシュホ
ールドは2VBEに設定されている。
ECL出力回路は、実効的に、ECL高電位レベル乃至
はOvの電力レールGNDとECL低電位レベル乃至は
典型的には−4,5v又は−5゜Ovである電力レール
VEEとの間に結合されている。このECL出力回路は
、電流ミラー第二分岐回路トランジスタ要素62のコレ
クタノードへ結合されているエミッタホロワ出力バッフ
ァトランジスタ要素64によって与えられている。トラ
ンジスタ要素62のコレクタノード100は、ECL出
力回路に対する出力スイッチングノードを与えている。
はOvの電力レールGNDとECL低電位レベル乃至は
典型的には−4,5v又は−5゜Ovである電力レール
VEEとの間に結合されている。このECL出力回路は
、電流ミラー第二分岐回路トランジスタ要素62のコレ
クタノードへ結合されているエミッタホロワ出力バッフ
ァトランジスタ要素64によって与えられている。トラ
ンジスタ要素62のコレクタノード100は、ECL出
力回路に対する出力スイッチングノードを与えている。
ECL出力回路は、更に、出力バッファエミッタホロワ
トランジスタ要素64とECLC刃出−ドア2との間に
おいてスタックの形態に結合されているダイオード要素
66及び68と抵抗要素70とによって与えられるレベ
ルシフト回路を有している。電流ソース(供給)用トラ
ンジスタ要素76とテール抵抗78とによって与えられ
るECL電流シンク(吸込み)は、ECLC刃出−ドア
2とECL低電位電力レーしv8I!との間に結合され
ている。
トランジスタ要素64とECLC刃出−ドア2との間に
おいてスタックの形態に結合されているダイオード要素
66及び68と抵抗要素70とによって与えられるレベ
ルシフト回路を有している。電流ソース(供給)用トラ
ンジスタ要素76とテール抵抗78とによって与えられ
るECL電流シンク(吸込み)は、ECLC刃出−ドア
2とECL低電位電力レーしv8I!との間に結合され
ている。
この従来の変換回路は三つの機能を達成する。
第一に、それは、TTL論理入力信号高及び低電位レベ
ルからECL論理出力信号高及び低電位レベルへの電圧
レベルのシフトを与える。第二に、それは、基準電圧レ
ベルに対する基準を、TTL低電位電力レールからEC
L高電位電力レール(この例においては、これらの電位
レベル及び電力レールは一致している)への変換を与え
る。第二に、この変換回路は、飽和動作領域で動作する
TTLトランジスタ要素から非飽和動作領域で動作する
ECL )ランジスタ要素への遷移を与えている。第1
図の回路において、これらの機能は、電流ミラー第二分
岐回路トランジスタ要素62のコレクタノード100へ
結合されているECL出力回路と電流ミラー回路とによ
って達成されている。更に、米国特許第4,771.1
91号に記載される如く、第1図の回路は、例えば、A
v−7の典型的な回路構成要素の値に対するTTL論理
入力信号に亘ってECL論理出力信号の電圧利得を与え
ている。第1図の回路のその他の特徴は以下の如くであ
る。
ルからECL論理出力信号高及び低電位レベルへの電圧
レベルのシフトを与える。第二に、それは、基準電圧レ
ベルに対する基準を、TTL低電位電力レールからEC
L高電位電力レール(この例においては、これらの電位
レベル及び電力レールは一致している)への変換を与え
る。第二に、この変換回路は、飽和動作領域で動作する
TTLトランジスタ要素から非飽和動作領域で動作する
ECL )ランジスタ要素への遷移を与えている。第1
図の回路において、これらの機能は、電流ミラー第二分
岐回路トランジスタ要素62のコレクタノード100へ
結合されているECL出力回路と電流ミラー回路とによ
って達成されている。更に、米国特許第4,771.1
91号に記載される如く、第1図の回路は、例えば、A
v−7の典型的な回路構成要素の値に対するTTL論理
入力信号に亘ってECL論理出力信号の電圧利得を与え
ている。第1図の回路のその他の特徴は以下の如くであ
る。
変換回路内に電流ミラー回路形態が設けられているので
、コレクタ経路抵抗82は、スイング抵抗であり、それ
はECL論理出力信号高及び低電位レベルの間の出力電
圧のスイング即ち振れを設定する。更に、抵抗要素82
を横断しての電圧降下は、入力クランプ回路と抵抗10
4を横断しての電圧降下とによって設定される。好適実
施例においては、これらの構成要素は、抵抗要素82を
横断しての電圧降下が約IV8Eであるように選択され
ており、従ってECL論理出力信号高及び低電位レベル
の間にIVIIRの比較的小さな電圧スイングを確立す
る。この従来の出力スイングよりも小さな電圧スイング
は、より高速のスイッチング動作を行なうことを可能と
する。
、コレクタ経路抵抗82は、スイング抵抗であり、それ
はECL論理出力信号高及び低電位レベルの間の出力電
圧のスイング即ち振れを設定する。更に、抵抗要素82
を横断しての電圧降下は、入力クランプ回路と抵抗10
4を横断しての電圧降下とによって設定される。好適実
施例においては、これらの構成要素は、抵抗要素82を
横断しての電圧降下が約IV8Eであるように選択され
ており、従ってECL論理出力信号高及び低電位レベル
の間にIVIIRの比較的小さな電圧スイングを確立す
る。この従来の出力スイングよりも小さな電圧スイング
は、より高速のスイッチング動作を行なうことを可能と
する。
更に、この回路構成は、出力端におけるスイッチング動
作用の遷移領域を、例えば、2VBiのTTL入カヌカ
スレッシュホールド電圧レベルれぞれの側において約6
0mV以内に拘束している。
作用の遷移領域を、例えば、2VBiのTTL入カヌカ
スレッシュホールド電圧レベルれぞれの側において約6
0mV以内に拘束している。
従って、ECL論理出力信号は、広範囲のTTL論理信
号入力端子レベルに亘って一定且つ安定な状態を維持す
る。
号入力端子レベルに亘って一定且つ安定な状態を維持す
る。
第1図の回路はその他の従来の変換回路と比較して付加
的な利点及び機能を提供するものである・ が、それはシングルエンデツド出力に制限されるもので
ある。米国特許第4.771,191号に記載される第
1図の例においては、その変換回路は、本質的に反転型
であり、且つECL出力はTTL論理入力信号の高又は
低電位レベルに関して反転された出力0UTNである。
的な利点及び機能を提供するものである・ が、それはシングルエンデツド出力に制限されるもので
ある。米国特許第4.771,191号に記載される第
1図の例においては、その変換回路は、本質的に反転型
であり、且つECL出力はTTL論理入力信号の高又は
低電位レベルに関して反転された出力0UTNである。
電圧利得を与え、小さな出力電圧の振れでより高速のス
イッチング動作を与え、且つ広範囲のTTL論理入力信
号電圧レベル変動に亘ってECL出力端において一定且
つ安定な高及び低電位レベルを維持する遷移領域が狭い
という第1図の変換回路の利点を維持しながら、相補的
なECL出力OUT及び0UTNを与えるために回路を
再構成乃至は再配置することは自明ではない。
イッチング動作を与え、且つ広範囲のTTL論理入力信
号電圧レベル変動に亘ってECL出力端において一定且
つ安定な高及び低電位レベルを維持する遷移領域が狭い
という第1図の変換回路の利点を維持しながら、相補的
なECL出力OUT及び0UTNを与えるために回路を
再構成乃至は再配置することは自明ではない。
目 的
本発明は、以上の点に鑑みなされたものであり、上述し
た如き従来技術の欠点を解消し、TTL論理入力信号に
応・答して相補的乃至は差動的ECL論理出力信号高及
び低電位レベルを供給することの可能な新規なTTLか
らECL/CMLへの変換回路を提供することを目的と
する。本発明の別の目的とするところは、米国特許第4
.771゜191号に記載するシングルエンデツド型出
力変換回路の特徴及び利点を維持したまま相補的乃至は
差動的出力を与えるTTLからE CL/CMLへの変
換回路を提供することである。従って、本発明は、電圧
利得を与え、出力スイングが小さく、遷移領域が狭く、
且つ相補的乃至は差動的出力を供給することが可能なT
TLからECL/CMLへの変換回路を提供するもので
ある。
た如き従来技術の欠点を解消し、TTL論理入力信号に
応・答して相補的乃至は差動的ECL論理出力信号高及
び低電位レベルを供給することの可能な新規なTTLか
らECL/CMLへの変換回路を提供することを目的と
する。本発明の別の目的とするところは、米国特許第4
.771゜191号に記載するシングルエンデツド型出
力変換回路の特徴及び利点を維持したまま相補的乃至は
差動的出力を与えるTTLからE CL/CMLへの変
換回路を提供することである。従って、本発明は、電圧
利得を与え、出力スイングが小さく、遷移領域が狭く、
且つ相補的乃至は差動的出力を供給することが可能なT
TLからECL/CMLへの変換回路を提供するもので
ある。
構成
本発明によれば、TTLからECL/CMLへの変換回
路が提供され、それは、高及び低電位レベルのTTL論
理信号を受取るためのTTL入力回路を有すると共に、
共通エミッタノード結合と結合された第一及び第二電流
ミラー分岐回路を具備する電流ミラー回路を有している
。第一及び第二電流ミラー分岐回路は共通ベースノード
結合へ結合されており、該共通ベースノード結合はTT
L入力回路へ接続されている。TTL入力回路は、TT
L入力回路におけるTTL論理信号高及び低電位レベル
に応答して第一電流ミラー分岐回路をそれぞれ実質的に
導通状態及び非導通状態とさせる電流ミラー回路へ動作
結合されているバイアス回路要素で形成されている。第
二電流ミラー分岐回路は、第一電流ミラー分岐回路にお
ける電流をミラー動作する。
路が提供され、それは、高及び低電位レベルのTTL論
理信号を受取るためのTTL入力回路を有すると共に、
共通エミッタノード結合と結合された第一及び第二電流
ミラー分岐回路を具備する電流ミラー回路を有している
。第一及び第二電流ミラー分岐回路は共通ベースノード
結合へ結合されており、該共通ベースノード結合はTT
L入力回路へ接続されている。TTL入力回路は、TT
L入力回路におけるTTL論理信号高及び低電位レベル
に応答して第一電流ミラー分岐回路をそれぞれ実質的に
導通状態及び非導通状態とさせる電流ミラー回路へ動作
結合されているバイアス回路要素で形成されている。第
二電流ミラー分岐回路は、第一電流ミラー分岐回路にお
ける電流をミラー動作する。
本発明によれば、差動増幅器ゲートは、共通エミッタノ
ード結合へ結合されているエミッタノードを持った差動
増幅器第一及び第二ゲートトランジスタ要素を具備して
いる。重要なことであるが、差動増幅器第一ゲートトラ
ンジスタ要素は第二電流ミラー分岐回路を構成している
。電流シンク抵抗要素が共通エミッタノード結合へ結合
されており、且つ第二ゲートトランジスタ要素のフィー
ドバック制御をバイアスするためのフィードバックバイ
アス用要素を与えている。
ード結合へ結合されているエミッタノードを持った差動
増幅器第一及び第二ゲートトランジスタ要素を具備して
いる。重要なことであるが、差動増幅器第一ゲートトラ
ンジスタ要素は第二電流ミラー分岐回路を構成している
。電流シンク抵抗要素が共通エミッタノード結合へ結合
されており、且つ第二ゲートトランジスタ要素のフィー
ドバック制御をバイアスするためのフィードバックバイ
アス用要素を与えている。
本発明は、更に、差動増幅器第一トランジスタ要素のベ
ースノードにおいて印加される高及び低電位レベルの間
の中間のスレッシュホールド電圧レベルを印加するため
に差動増幅器第二ゲートトランジスタ要素のベースノー
ドへ結合されているスレッシュホールドクランプ回路を
提供している。
ースノードにおいて印加される高及び低電位レベルの間
の中間のスレッシュホールド電圧レベルを印加するため
に差動増幅器第二ゲートトランジスタ要素のベースノー
ドへ結合されているスレッシュホールドクランプ回路を
提供している。
このスレッシュホールドクランプ回路は、このスレッシ
ュホールド電圧レベルにおいてTTL入力スレッシュホ
ールドを確立する。TTL入力回路において印加される
TTL論理信号高及び低電位レベル及びその結果共通エ
ミッタノード結合において電流シンク用抵抗要素を横断
して確立されるフィードバックバイアスレベルに従って
、第一及び第二ゲートトランジスタ要素の一方が比較的
導通状態となり且つ他方が比較的非導通状態となる。
ュホールド電圧レベルにおいてTTL入力スレッシュホ
ールドを確立する。TTL入力回路において印加される
TTL論理信号高及び低電位レベル及びその結果共通エ
ミッタノード結合において電流シンク用抵抗要素を横断
して確立されるフィードバックバイアスレベルに従って
、第一及び第二ゲートトランジスタ要素の一方が比較的
導通状態となり且つ他方が比較的非導通状態となる。
本発明によれば、相補的第一及び第二ECL出力回路が
、それぞれ、差動増幅器第一及び第二ゲートトランジス
タ要素のコレクタノードへ結合されている。これらのコ
レクタノードは、差動ECL出力回路に対し出力スイッ
チングノードを与えている。各ECL出力回路は、第一
及び第二ゲートトランジスタ要素の一方のコレクタノー
ドへ結合されている出力バッファエミッタホロワトラン
ジスタ要素を有している。レベルシフト回路が、出力バ
ッファエミッタホロワトランジスタ要素をそれぞれの相
補的ECL出力端へ結合している。
、それぞれ、差動増幅器第一及び第二ゲートトランジス
タ要素のコレクタノードへ結合されている。これらのコ
レクタノードは、差動ECL出力回路に対し出力スイッ
チングノードを与えている。各ECL出力回路は、第一
及び第二ゲートトランジスタ要素の一方のコレクタノー
ドへ結合されている出力バッファエミッタホロワトラン
ジスタ要素を有している。レベルシフト回路が、出力バ
ッファエミッタホロワトランジスタ要素をそれぞれの相
補的ECL出力端へ結合している。
ECL電流シンクがそれぞれのECL出力端へ結合され
ている。
ている。
それぞれの相補的ECL出力端の出力電圧スイングを画
定するために、第一及び第二スイング抵抗要素が、それ
ぞれ、一端において、差動増幅器第一及び第二ゲートト
ランジスタ要素のコレクタノードへ結合されている。こ
れら第一及び第二スイング抵抗要素の各々の他端は、電
圧レベルシフト構成要素を介して、スレッシュホールド
クランプ回路及びTTL入力回路の両方へ結合されてい
る。電圧レベルシフト構成要素を介して、前記スレッシ
ュホールドクランプ回路は、それぞれの第一及び第二ゲ
ートトランジスタ要素のコレクタノードにおける最大電
圧レベルを、スレッシュホールド電圧レベルより高い選
択した電圧レベルへクランプする。更に、このスレッシ
ュホールドクランプ回路及びTTL入力回路は、バイア
ス用構成要素を介して、それぞれの第一及び第二スイン
グ抵抗要素を横断してのスイング電圧降下を決定する。
定するために、第一及び第二スイング抵抗要素が、それ
ぞれ、一端において、差動増幅器第一及び第二ゲートト
ランジスタ要素のコレクタノードへ結合されている。こ
れら第一及び第二スイング抵抗要素の各々の他端は、電
圧レベルシフト構成要素を介して、スレッシュホールド
クランプ回路及びTTL入力回路の両方へ結合されてい
る。電圧レベルシフト構成要素を介して、前記スレッシ
ュホールドクランプ回路は、それぞれの第一及び第二ゲ
ートトランジスタ要素のコレクタノードにおける最大電
圧レベルを、スレッシュホールド電圧レベルより高い選
択した電圧レベルへクランプする。更に、このスレッシ
ュホールドクランプ回路及びTTL入力回路は、バイア
ス用構成要素を介して、それぞれの第一及び第二スイン
グ抵抗要素を横断してのスイング電圧降下を決定する。
本発明に基づいて電流ミラー第一及び第二分岐回路と共
に一体化した差動増幅器第一及び第二ゲートトランジス
タ要素の特徴及び利点は、第一及び第二スイング抵抗要
素を横断して画定した電圧降下が、相補的乃至は差動的
ECL論理出力信号に対する出力電圧のスイング(振れ
)を画定するということである。同時に、同時的に作用
し協働する電流ミラー及び差動増幅器回路(よ、電圧利
得を与え、出力スイングを小さくし、且つ相補的乃至は
差動的ECL出力の両方に対し狭い遷移領域を与えるこ
とを可能としている。
に一体化した差動増幅器第一及び第二ゲートトランジス
タ要素の特徴及び利点は、第一及び第二スイング抵抗要
素を横断して画定した電圧降下が、相補的乃至は差動的
ECL論理出力信号に対する出力電圧のスイング(振れ
)を画定するということである。同時に、同時的に作用
し協働する電流ミラー及び差動増幅器回路(よ、電圧利
得を与え、出力スイングを小さくし、且つ相補的乃至は
差動的ECL出力の両方に対し狭い遷移領域を与えるこ
とを可能としている。
好適実施例においては、TTL人カバカバイアス回路要
素スレッシュホールド回路要素は、ゲートトランジスタ
要素が導通状態にある場合に第一ゲートトランジスタ要
素のコレクタノードへ結合されている第一スイング抵抗
要素を横断しての電圧降下が約1VBEであるか又は例
えば2/3VngなどのようなIVB[!の一部である
ように選択され且つ構成されている。第二スイング抵抗
要素を横断しての電圧降下は、同様に、スレッシュホー
ルドクランプ回路及びTTL入力回路によって確立され
る。その結果、相補的ECL出力の出力スイングは、高
速スイッチング動作を行なうために、IVaa又は例え
ば2/3VllEなどノヨうな1VBEの一部へ制限さ
れている。
素スレッシュホールド回路要素は、ゲートトランジスタ
要素が導通状態にある場合に第一ゲートトランジスタ要
素のコレクタノードへ結合されている第一スイング抵抗
要素を横断しての電圧降下が約1VBEであるか又は例
えば2/3VngなどのようなIVB[!の一部である
ように選択され且つ構成されている。第二スイング抵抗
要素を横断しての電圧降下は、同様に、スレッシュホー
ルドクランプ回路及びTTL入力回路によって確立され
る。その結果、相補的ECL出力の出力スイングは、高
速スイッチング動作を行なうために、IVaa又は例え
ば2/3VllEなどノヨうな1VBEの一部へ制限さ
れている。
本発明の別の特徴によれば、第二ゲートトランジスタ要
素のコレクタノードへ結合されている第二スイング抵抗
要素の抵抗値は、共通エミッタノード結合における電流
シンク抵抗要素の抵抗値又は例えば抵抗値の2/3など
のような抵抗値の一部の値と実質的に等しい。この構成
の特徴は、第一及び第二電流ミラー分岐回路がターンオ
ンし且つTTL入力回路におけるTTL論理入力信号高
電位レベルに応答して導通状態にある場合に、共通エミ
ッタノード結合における電流シンク抵抗要素を横断して
の電圧降下が、第二ゲートトランジスタ要素が実質的に
ターンオフし且つ比較的非導通状態のままであるような
レベルに共通エミッタノード結合における電位レベルを
上昇させるということである。第一及び第二ゲートトラ
ンジスタ要素は、差動増幅器ゲートを提供している。
素のコレクタノードへ結合されている第二スイング抵抗
要素の抵抗値は、共通エミッタノード結合における電流
シンク抵抗要素の抵抗値又は例えば抵抗値の2/3など
のような抵抗値の一部の値と実質的に等しい。この構成
の特徴は、第一及び第二電流ミラー分岐回路がターンオ
ンし且つTTL入力回路におけるTTL論理入力信号高
電位レベルに応答して導通状態にある場合に、共通エミ
ッタノード結合における電流シンク抵抗要素を横断して
の電圧降下が、第二ゲートトランジスタ要素が実質的に
ターンオフし且つ比較的非導通状態のままであるような
レベルに共通エミッタノード結合における電位レベルを
上昇させるということである。第一及び第二ゲートトラ
ンジスタ要素は、差動増幅器ゲートを提供している。
好適実施例においては、スレッシュホールド回路要素は
、第二トランジスタ要素のベースノードにおいて印加さ
れるスレッシュホールド電圧レベルが約2V0に設定さ
れるように選択され且つ構成されている。その結果、T
TL入カヌカスレッシュホールドV8Eに設定され、第
一及び第二スイング抵抗要素を横断しての電圧スイング
及び相補的ECL出力端における出力スイングは2/3
VBgである。本発明の構成によれば、従来の変換回路
機能が維持され、即ち電圧利得が得られ、出力スイング
が小さく、且つ遷移領域が狭いという特徴が得られると
共に、相補的なECL出力が得られる。
、第二トランジスタ要素のベースノードにおいて印加さ
れるスレッシュホールド電圧レベルが約2V0に設定さ
れるように選択され且つ構成されている。その結果、T
TL入カヌカスレッシュホールドV8Eに設定され、第
一及び第二スイング抵抗要素を横断しての電圧スイング
及び相補的ECL出力端における出力スイングは2/3
VBgである。本発明の構成によれば、従来の変換回路
機能が維持され、即ち電圧利得が得られ、出力スイング
が小さく、且つ遷移領域が狭いという特徴が得られると
共に、相補的なECL出力が得られる。
実施例
以下、添付の図面を参考に、本発明の具体的実施の態様
について詳細に説明する。
について詳細に説明する。
本発明の一実施例に基づいて構成された相補的ECL論
理出力信号を供給するTTLからECL/CMLへの変
換回路を第3図に示してあり、その変換回路の簡単化し
たブロック図を第4図に示しである。TTL論理入力信
号は、ダイオード要素Di、D2.D3と分圧器抵抗要
素R1及びR2を具備するTTL入力回路で受取られる
。このTTL入力回路は、例えば5.Ovの電圧レベル
を有するTTL高電位電力レーしVCCと例えばOVの
電圧レベルを有するTTL低電位電力レーしGNDとの
間に結合されている。TTL論理入力信号高及び低電位
レベルは、トランジスタ要素Q1及びQ2によって与え
られる第一及び第二分岐回路を具備する電流ミラー回路
の共通ベースノード結合Aにおいて印加される。
理出力信号を供給するTTLからECL/CMLへの変
換回路を第3図に示してあり、その変換回路の簡単化し
たブロック図を第4図に示しである。TTL論理入力信
号は、ダイオード要素Di、D2.D3と分圧器抵抗要
素R1及びR2を具備するTTL入力回路で受取られる
。このTTL入力回路は、例えば5.Ovの電圧レベル
を有するTTL高電位電力レーしVCCと例えばOVの
電圧レベルを有するTTL低電位電力レーしGNDとの
間に結合されている。TTL論理入力信号高及び低電位
レベルは、トランジスタ要素Q1及びQ2によって与え
られる第一及び第二分岐回路を具備する電流ミラー回路
の共通ベースノード結合Aにおいて印加される。
トランジスタ要素Q1は、電流ミラーの第一分岐回路を
与えており、且つBC3)ランジスタ要素ダイオードで
ある。第一分岐回路ダイオード要素は、TTL論理入力
信号高電位レベルがTTL入力端に表われる場合に、導
通状態である。ダイオードQ1は、TTL入力端におけ
る低電位のTTL論理入力信号に応答して実質的に非導
通状態となる。トランジスタ要素Q2によって与えられ
る電流ミラーの第二分岐回路は、第一分岐回路内の電流
をミラー動作する。トランジスタ要素Q1及びQ2は、
共通エミッタノード結合りで一体的に結合されており、
それは電流シンク抵抗要素R6を介して接地電位電力レ
ールGNDへ接続されている。
与えており、且つBC3)ランジスタ要素ダイオードで
ある。第一分岐回路ダイオード要素は、TTL論理入力
信号高電位レベルがTTL入力端に表われる場合に、導
通状態である。ダイオードQ1は、TTL入力端におけ
る低電位のTTL論理入力信号に応答して実質的に非導
通状態となる。トランジスタ要素Q2によって与えられ
る電流ミラーの第二分岐回路は、第一分岐回路内の電流
をミラー動作する。トランジスタ要素Q1及びQ2は、
共通エミッタノード結合りで一体的に結合されており、
それは電流シンク抵抗要素R6を介して接地電位電力レ
ールGNDへ接続されている。
第一及び第二ゲートトランジスタ要素Q2及びQ3によ
って与えられる差動増幅器ゲートは、本変換回路内の電
流ミラー回路と協働的に作用する。
って与えられる差動増幅器ゲートは、本変換回路内の電
流ミラー回路と協働的に作用する。
電流ミラー第二分岐回路トランジスタ要素Q2は、差動
増幅器第一ゲートトランジスタ要素Q2を与えている。
増幅器第一ゲートトランジスタ要素Q2を与えている。
第一及び第二ゲートトランジスタ要素Q2及びQ3は、
共通エミッタノード結合りにおいて一体的に結合されて
いる。第一及び第二ゲートトランジスタ要素Q2及びQ
3のコレクタノードB及びCは、それぞれ、スイング抵
抗要素R3及びR4へ結合されており、それらは、抵抗
要素R5を介して、TTL高電位電力レーしVCCへ結
合されている。
共通エミッタノード結合りにおいて一体的に結合されて
いる。第一及び第二ゲートトランジスタ要素Q2及びQ
3のコレクタノードB及びCは、それぞれ、スイング抵
抗要素R3及びR4へ結合されており、それらは、抵抗
要素R5を介して、TTL高電位電力レーしVCCへ結
合されている。
TTL入力スレッシュホールド、即ち差動増幅器第二ゲ
ートトランジスタ要素Q3のベースノードにおいて印加
されるスレッシュホールド電圧は、スレッシュホールド
クランプ回路によって確立される。このスレッシュホー
ルドクランプ回路は、例えば、トランジスタ要素Q3の
ベースノードとTTL低電位電力レーしGNDとの間に
結合されているEC3)ランジスタ要素ダイオードD5
及びD6からなるダイオードスタックを有している。
ートトランジスタ要素Q3のベースノードにおいて印加
されるスレッシュホールド電圧は、スレッシュホールド
クランプ回路によって確立される。このスレッシュホー
ルドクランプ回路は、例えば、トランジスタ要素Q3の
ベースノードとTTL低電位電力レーしGNDとの間に
結合されているEC3)ランジスタ要素ダイオードD5
及びD6からなるダイオードスタックを有している。
明らかなことであるが、ダイオード要素D5及びD6を
横断してIV[IEの電圧降下を有するダイオードスタ
ックは、第二ゲートトランジスタ要素Q3のベースノー
ドにおいて2VBHのスレッシュホールド電圧レベルを
確立し、そのことは、後述する如く、相補的ECL出力
のスイッチング動作に対する2V8RのTTL入力スレ
ッシュホールドを確立する。
横断してIV[IEの電圧降下を有するダイオードスタ
ックは、第二ゲートトランジスタ要素Q3のベースノー
ドにおいて2VBHのスレッシュホールド電圧レベルを
確立し、そのことは、後述する如く、相補的ECL出力
のスイッチング動作に対する2V8RのTTL入力スレ
ッシュホールドを確立する。
本変換回路は、相補的乃至は差動的ECL出力を供給す
るための第一及び第二ECL出力回路を与えている。第
一ECL出力回路は、第一ゲートトランジスタ要素Q2
のコレクタノードBへ結合されているエミッタホロワ出
力バッファトランジスタ要素Q4によって与えられてい
る。第一レベルシフト回路は、エミッタホロワトランジ
スタ要素Q4と相補的乃至は反転ECL出力端0UTN
との間にスタック形態に直列的に結合されているEC9
トランジスタ要素ダイオードD7及びD8及びレベルシ
フト抵抗要素R7によって与えられている。第一ECL
出力電流シンク■1は、反転ECL出力端0UTNをE
CL低電位電力レーしv88へ結合している。電流シン
ク■1は、電流源電圧供給源及びテール抵抗を具備する
電流源トランジスタ要素である。
るための第一及び第二ECL出力回路を与えている。第
一ECL出力回路は、第一ゲートトランジスタ要素Q2
のコレクタノードBへ結合されているエミッタホロワ出
力バッファトランジスタ要素Q4によって与えられてい
る。第一レベルシフト回路は、エミッタホロワトランジ
スタ要素Q4と相補的乃至は反転ECL出力端0UTN
との間にスタック形態に直列的に結合されているEC9
トランジスタ要素ダイオードD7及びD8及びレベルシ
フト抵抗要素R7によって与えられている。第一ECL
出力電流シンク■1は、反転ECL出力端0UTNをE
CL低電位電力レーしv88へ結合している。電流シン
ク■1は、電流源電圧供給源及びテール抵抗を具備する
電流源トランジスタ要素である。
第二ECL出力回路は、第二ゲートトランジスタ要素Q
3のコレクタノードCへ結合されている出力バッファエ
ミッタホロワトランジスタ要素Q5によって与えられて
いる。第ニレベルシフト回路は、エミッタホロワトラン
ジスタ要素Q5と直接的ECL出力端OUTとの間にス
タック形態に直列的に結合されているEC3)ランジス
タ要素ダイオードD9及びDIO及びレベルシフト抵抗
要素R8によって与えられている。第二ECL出力電流
シンク■2は、直接的ECL出力端OUTをECL低電
低電位電力レールへ結合している。
3のコレクタノードCへ結合されている出力バッファエ
ミッタホロワトランジスタ要素Q5によって与えられて
いる。第ニレベルシフト回路は、エミッタホロワトラン
ジスタ要素Q5と直接的ECL出力端OUTとの間にス
タック形態に直列的に結合されているEC3)ランジス
タ要素ダイオードD9及びDIO及びレベルシフト抵抗
要素R8によって与えられている。第二ECL出力電流
シンク■2は、直接的ECL出力端OUTをECL低電
低電位電力レールへ結合している。
ECL電流シンクI2は、電流源電圧供給源及びテール
抵抗要素を具備する電流源抵抗要素である。
抵抗要素を具備する電流源抵抗要素である。
本変換回路内のバイアス電圧レベルは、更に、以下の如
くにして確立される。スレッシュホールド回路は、スイ
ング抵抗要素R3及びR4へ結合されている付加的なり
C3)ランジスタ要素ダイオードD4を有しており、該
スイング抵抗要素は差動増幅器第一及び第二ゲートトラ
ンジスタ要素Q2及びQ3のコレクタノードB、 C
へ結合されている。従って、スレッシュホールドクラン
プ回路は、2φ(φ−VIlE)のスレッシュホールド
電圧レベルをクランプするのみならず、コレクタノード
B、Cの最大電圧レベルを3φにクランプする。ダイオ
ードD6.D5.D4.D3を介して接地電位GNDか
らの電流ループに続いて、接地への帰還ループは、抵抗
要素R2、ダイオード要素D2、電流ミラー分岐回路ペ
ースエミッタ接合VBI!の一つ、及び抵抗要素R6を
介して接地電位へ到達する。
くにして確立される。スレッシュホールド回路は、スイ
ング抵抗要素R3及びR4へ結合されている付加的なり
C3)ランジスタ要素ダイオードD4を有しており、該
スイング抵抗要素は差動増幅器第一及び第二ゲートトラ
ンジスタ要素Q2及びQ3のコレクタノードB、 C
へ結合されている。従って、スレッシュホールドクラン
プ回路は、2φ(φ−VIlE)のスレッシュホールド
電圧レベルをクランプするのみならず、コレクタノード
B、Cの最大電圧レベルを3φにクランプする。ダイオ
ードD6.D5.D4.D3を介して接地電位GNDか
らの電流ループに続いて、接地への帰還ループは、抵抗
要素R2、ダイオード要素D2、電流ミラー分岐回路ペ
ースエミッタ接合VBI!の一つ、及び抵抗要素R6を
介して接地電位へ到達する。
スレッシュホールドクランプ回路は、電流シンク抵抗要
素R6を横断して1vB8の電圧降下を確立する。明ら
かな如く、TTL入力回路及びスレッシュホールドクラ
ンプ回路のバイアス回路構成要素は、抵抗R2を横断し
ての電圧降下が1V88乃至は1φであるように選択さ
れている。電流ミラートランジスタ要素Q1及びQ2が
導通状態にある場合には、電流ミラー第一分岐トランジ
スタ要素Q1を介してのコレクタ電流1cQ1は1φ/
R2である。Qlに対するトランジスタ要素Q2のエミ
ッタ面積の比が2であるように選択されている場合には
、電流ミラー第二分岐トランジスタ要素Q2(それは、
差動増幅器第一ゲートトランジスタ要素でもある)を介
してのコレクタ電流■CQ2は2φ/R2である。Ql
及びQ2が導通状態にある場合の結合電流IR6は3φ
/R2である。第二ゲートトランジスタ要素Q3が導通
状態にある場合には、コレクタ電流■cQ3は1φ/R
6であり、それは電流シンク用抵抗要素R6を介しての
電流IR6である。
素R6を横断して1vB8の電圧降下を確立する。明ら
かな如く、TTL入力回路及びスレッシュホールドクラ
ンプ回路のバイアス回路構成要素は、抵抗R2を横断し
ての電圧降下が1V88乃至は1φであるように選択さ
れている。電流ミラートランジスタ要素Q1及びQ2が
導通状態にある場合には、電流ミラー第一分岐トランジ
スタ要素Q1を介してのコレクタ電流1cQ1は1φ/
R2である。Qlに対するトランジスタ要素Q2のエミ
ッタ面積の比が2であるように選択されている場合には
、電流ミラー第二分岐トランジスタ要素Q2(それは、
差動増幅器第一ゲートトランジスタ要素でもある)を介
してのコレクタ電流■CQ2は2φ/R2である。Ql
及びQ2が導通状態にある場合の結合電流IR6は3φ
/R2である。第二ゲートトランジスタ要素Q3が導通
状態にある場合には、コレクタ電流■cQ3は1φ/R
6であり、それは電流シンク用抵抗要素R6を介しての
電流IR6である。
スイング抵抗要素R3及びR4の値に対する解は以下の
如くである。スイング抵抗R3を横断しての電圧降下v
0は以下の如くである。
如くである。スイング抵抗R3を横断しての電圧降下v
0は以下の如くである。
VR3−2φ・R3/R2
電圧降下vR3は、出力端におけるスイング電圧を確立
し、例えば、高速スイッチング動作のために2/3φに
選択されている。代入し且つR2に対して解くことによ
り次式が得られる。
し、例えば、高速スイッチング動作のために2/3φに
選択されている。代入し且つR2に対して解くことによ
り次式が得られる。
2φ/3−2φ・R3/R2
2−3R3
所望の電流レベルの場合、R3はIKであり且つR2は
3にΩである。スイング抵抗R4を横断してのスイング
電圧降下VR4がVR3と同一であることが望ましい。
3にΩである。スイング抵抗R4を横断してのスイング
電圧降下VR4がVR3と同一であることが望ましい。
VR4−φ◆R4/R6−2φ−R3/R2R4につい
て解くと、次式が得られる。
て解くと、次式が得られる。
R4−2・R3・R6/R2
R6がR6を介して所望の電流レベルに対してIKとし
て選択され、且つR2は3にである。
て選択され、且つR2は3にである。
R4−2/3R3−666Ω
回路抵抗値の例を表■に要約しである。
表 1
R13,84K
2 3K
3 1K
R4666Ω
R52,4K
6 1K
TTL入力端においてTTL論理入力信号が低電位レベ
ルであると、ノードAも、例えば、Ovに近い低電位レ
ベルにある。電流ミラー分岐回路を介して電流が流れて
いないので、第一ゲートトランジスタ要素のコレクタノ
ードBはダイオード要素D6.D5.D4を介してスレ
ッシュホールドクランプ回路によってクランプされた3
VBE乃至は3φレベルにある。第二ゲートトランジス
タ要素Q3のベースノードに2VBE乃至は2φのスレ
ッシュホールド電圧レベルが印加されると、トランジス
タ要素Q3が導通状態となる。従って、第二ゲートトラ
ンジスタ要素Q3のコレクタノードCは接地電位GND
よりも高い2φレベルにある。共通エミッタ結合ノード
Dは、電流シンク抵抗R6を横断しての電圧降下が1φ
である結果、接地電位GNDよりも1φ高いレベルにあ
る。
ルであると、ノードAも、例えば、Ovに近い低電位レ
ベルにある。電流ミラー分岐回路を介して電流が流れて
いないので、第一ゲートトランジスタ要素のコレクタノ
ードBはダイオード要素D6.D5.D4を介してスレ
ッシュホールドクランプ回路によってクランプされた3
VBE乃至は3φレベルにある。第二ゲートトランジス
タ要素Q3のベースノードに2VBE乃至は2φのスレ
ッシュホールド電圧レベルが印加されると、トランジス
タ要素Q3が導通状態となる。従って、第二ゲートトラ
ンジスタ要素Q3のコレクタノードCは接地電位GND
よりも高い2φレベルにある。共通エミッタ結合ノード
Dは、電流シンク抵抗R6を横断しての電圧降下が1φ
である結果、接地電位GNDよりも1φ高いレベルにあ
る。
相補的ECL出力0UTNを供給する相補的ECL出力
回路において、コレクタノードBにおける3φ電位レベ
ルは、エミッタホロワトランジスタ要素Q4とダイオー
ド要素D7及びD8のベースエミッタ接合を介し3 V
ni電位降下を介して抵抗要素R7において約O電位
へ降下する。従って、レベルダウンシフト抵抗要素R7
は、相補的ECL出力端0UTNにおいて負の電圧範囲
においてECL論理出力信号高電位レベルを確立する。
回路において、コレクタノードBにおける3φ電位レベ
ルは、エミッタホロワトランジスタ要素Q4とダイオー
ド要素D7及びD8のベースエミッタ接合を介し3 V
ni電位降下を介して抵抗要素R7において約O電位
へ降下する。従って、レベルダウンシフト抵抗要素R7
は、相補的ECL出力端0UTNにおいて負の電圧範囲
においてECL論理出力信号高電位レベルを確立する。
このECL論理出力信号高電位レベルは、TTL論理入
力信号低電位レベルからの反転出力であり、且つR7の
抵抗値及び電流シンク■1によって発生される電流によ
って設定される。
力信号低電位レベルからの反転出力であり、且つR7の
抵抗値及び電流シンク■1によって発生される電流によ
って設定される。
直接的(正転)ECL出力OUTを供給する直接的EC
L出力回路は、コレクタノードCにおける2φの電位レ
ベルから、エミッタホロワトランジスタ要素Q5のベー
スエミッタ接合及びダイオード要素D9及びDloを介
して、抵抗要素R8においてOvより低い約−1φの電
位レベルへ降下する。R8の抵抗値は、R7と実質的に
同一であるように選択されており、従って、ECL論理
出力信号低電位レベルは高電位レベルよりも1φ低いレ
ベルである。低電位レベルにある直接的ECL出力OU
Tは、TTL論理入力信号低電位レベルと位相が対応し
ている。
L出力回路は、コレクタノードCにおける2φの電位レ
ベルから、エミッタホロワトランジスタ要素Q5のベー
スエミッタ接合及びダイオード要素D9及びDloを介
して、抵抗要素R8においてOvより低い約−1φの電
位レベルへ降下する。R8の抵抗値は、R7と実質的に
同一であるように選択されており、従って、ECL論理
出力信号低電位レベルは高電位レベルよりも1φ低いレ
ベルである。低電位レベルにある直接的ECL出力OU
Tは、TTL論理入力信号低電位レベルと位相が対応し
ている。
TTL入力端においてTTL論理入力信号高電位レベル
への遷移と共に、ノードAは、2VBE乃至は2φのT
TL入力スレッシュホールド電圧レベルへ上昇する。電
流ミラー第一及び第二分岐回路は導通状態となり、1φ
/R2及び2φ/R2のエミッタ電流は、それぞれ、電
流ミラー分岐回路トランジスタ要素Q1及びQ2を介し
て流れる。
への遷移と共に、ノードAは、2VBE乃至は2φのT
TL入力スレッシュホールド電圧レベルへ上昇する。電
流ミラー第一及び第二分岐回路は導通状態となり、1φ
/R2及び2φ/R2のエミッタ電流は、それぞれ、電
流ミラー分岐回路トランジスタ要素Q1及びQ2を介し
て流れる。
従って、第一ゲートトランジスタ要素Q2のコレクタノ
ードBにおける電圧レベルは、3φから2φへ降下する
。電流ミラー分岐回路からの共通エミッタノード結合に
おける3φ/R2の結合した電流ミラーエミッタ電流は
、第二ゲートトランジスタ要素Q3を介していまだに一
時的に導通状態にある電流1φ/R6と合流する傾向と
なる。この電流シンク抵抗要素R6を介しての大きな結
合した電流の過渡的サージは、ノードDにおける電圧レ
ベルを一時的にIV[lE乃至は1φを超えて上昇させ
、実効的に、第二ゲートトランジスタ要素Q3をターン
オフすると共にトランジスタ要素Q3を介して流れる第
二電流成分1φ/R6をターンオフさせる。その結果、
電流シンク抵抗要素R6を介しての最終的な電流は、I
R6−3φ/R2+抵抗要素R6を横断してフィード
バックバイアスを発生するトランジスタ要素Q3を介し
ての僅かの洩れ電流である。第一及び第二ゲートトラン
ジスタ要素を交互にスイッチ動作させて相補的ECL出
力を与えるのは、この電流ミラー回路と差動増幅器ゲー
ト回路との協働作用に基づくメカニズムである。
ードBにおける電圧レベルは、3φから2φへ降下する
。電流ミラー分岐回路からの共通エミッタノード結合に
おける3φ/R2の結合した電流ミラーエミッタ電流は
、第二ゲートトランジスタ要素Q3を介していまだに一
時的に導通状態にある電流1φ/R6と合流する傾向と
なる。この電流シンク抵抗要素R6を介しての大きな結
合した電流の過渡的サージは、ノードDにおける電圧レ
ベルを一時的にIV[lE乃至は1φを超えて上昇させ
、実効的に、第二ゲートトランジスタ要素Q3をターン
オフすると共にトランジスタ要素Q3を介して流れる第
二電流成分1φ/R6をターンオフさせる。その結果、
電流シンク抵抗要素R6を介しての最終的な電流は、I
R6−3φ/R2+抵抗要素R6を横断してフィード
バックバイアスを発生するトランジスタ要素Q3を介し
ての僅かの洩れ電流である。第一及び第二ゲートトラン
ジスタ要素を交互にスイッチ動作させて相補的ECL出
力を与えるのは、この電流ミラー回路と差動増幅器ゲー
ト回路との協働作用に基づくメカニズムである。
コレクタノードBが電圧レベル2φであると、相補的乃
至は反転ECL出力0UTNは、ECL論理出力信号低
電位レベルにある。第二ゲートトランジスタ要素Q3が
導通状態にない場合には、コレクタノードCは電圧レベ
ル3φへ上昇し、且つ直接的ECL出力端OUTはEC
L論理出力信号高電位レベルにある。
至は反転ECL出力0UTNは、ECL論理出力信号低
電位レベルにある。第二ゲートトランジスタ要素Q3が
導通状態にない場合には、コレクタノードCは電圧レベ
ル3φへ上昇し、且つ直接的ECL出力端OUTはEC
L論理出力信号高電位レベルにある。
相対的電圧レベルを確立する場合、TTL入力回路及び
スレッシュホールドクランプ回路のバイアス用構成要素
が抵抗要素R2を横断しての電圧降下を1φに設定する
ことは明らかである。それにより、抵抗要素R2は第一
スイング抵抗要素R3を横断してのスイング電圧降下を
2φ/3に設定する。第二スイング抵抗要素R4の抵抗
値は、約2−φ/3の実質的に同一のスイング電圧降下
を与えるべく選択されている。
スレッシュホールドクランプ回路のバイアス用構成要素
が抵抗要素R2を横断しての電圧降下を1φに設定する
ことは明らかである。それにより、抵抗要素R2は第一
スイング抵抗要素R3を横断してのスイング電圧降下を
2φ/3に設定する。第二スイング抵抗要素R4の抵抗
値は、約2−φ/3の実質的に同一のスイング電圧降下
を与えるべく選択されている。
注意すべきことであるが、低及び高電位レベルの間のT
TL論理入力信号のスイッチング動作は、電流シンク抵
抗要素及びバイアス用要素R6を介しての電流レベルを
異なったレベル間でスイッチ動作し且つ制御する。抵抗
要素R6を介して電流ミラー分岐回路と差動増幅器ゲー
トトランジスタ要素の両方から一時的な電流のサージが
存在する。
TL論理入力信号のスイッチング動作は、電流シンク抵
抗要素及びバイアス用要素R6を介しての電流レベルを
異なったレベル間でスイッチ動作し且つ制御する。抵抗
要素R6を介して電流ミラー分岐回路と差動増幅器ゲー
トトランジスタ要素の両方から一時的な電流のサージが
存在する。
この電流サージによって発生されるノードDにおける電
圧シフトは、実効的に、差動増幅器第二ゲートトランジ
スタ要素Q3へ負のフィードバックを導入する。ゲート
トランジスタ要素Q3の導通状態を変化させるために、
例えば、少なくとも10倍だけ、ノードDにおいて十分
な電圧シフトを与えるようにパラメータが選択されてお
り、それによりゲートトランジスタ要素Q3をターンオ
フさせる。
圧シフトは、実効的に、差動増幅器第二ゲートトランジ
スタ要素Q3へ負のフィードバックを導入する。ゲート
トランジスタ要素Q3の導通状態を変化させるために、
例えば、少なくとも10倍だけ、ノードDにおいて十分
な電圧シフトを与えるようにパラメータが選択されてお
り、それによりゲートトランジスタ要素Q3をターンオ
フさせる。
半導体エミッタ電流に対するエバースーモルト(Ebe
rs−Mogt)方程式によれば、φより60mV高
いノードDにおける電圧シフトは、ゲートトランジスタ
要素Q3を介してのエミッタ電流を10倍減少させる。
rs−Mogt)方程式によれば、φより60mV高
いノードDにおける電圧シフトは、ゲートトランジスタ
要素Q3を介してのエミッタ電流を10倍減少させる。
従って、電流シンク抵抗要素R6を介しての電流の初期
的サージが少なくとも10倍の導通度における変化を発
生させるようにパラメータが選択されている。従って、
継続するフィードバックは、Q3を介しての洩れ電流に
よって発生される電流レベルにおけるシフトによってノ
ードDにおいて発生される多少増加した電圧レベルによ
って与えられる。
的サージが少なくとも10倍の導通度における変化を発
生させるようにパラメータが選択されている。従って、
継続するフィードバックは、Q3を介しての洩れ電流に
よって発生される電流レベルにおけるシフトによってノ
ードDにおいて発生される多少増加した電圧レベルによ
って与えられる。
−例として、電流シンク用及びバイアス用抵抗R6を横
断しての電圧降下VR6が1φであり、Q3が導通状態
にある場合にほぼ0.8v即ち800mVと等しいもの
である。R6は電流IR6に対して1にであるように選
択されている。
断しての電圧降下VR6が1φであり、Q3が導通状態
にある場合にほぼ0.8v即ち800mVと等しいもの
である。R6は電流IR6に対して1にであるように選
択されている。
lR6−φ/R6−6−8O0/1000Ω−0,8m
AQ1及びQ2が導通状態であると、基本電流IR6は
同様に次式で表わされる。
AQ1及びQ2が導通状態であると、基本電流IR6は
同様に次式で表わされる。
I R6−3φ/R2−80hVx 3/3000Ω−
0,8sA十03を介しての洩れ電流IR6である。R
6を横断しての全体的な電圧降下がVl?6+ΔVR6
であり且つ増分ΔV86が少なくとも60mVであると
、Q3によって貢献される電流は、0.8mAから0゜
08mAへ10倍だけ減少される。Ql及びQ2が導通
状態にある場合のR6を横断しての全体的な電流IR6
+ΔIR6は0.88mAである。
0,8sA十03を介しての洩れ電流IR6である。R
6を横断しての全体的な電圧降下がVl?6+ΔVR6
であり且つ増分ΔV86が少なくとも60mVであると
、Q3によって貢献される電流は、0.8mAから0゜
08mAへ10倍だけ減少される。Ql及びQ2が導通
状態にある場合のR6を横断しての全体的な電流IR6
+ΔIR6は0.88mAである。
860mVの電圧降下VR6+ΔVR6は、継続する負
のフィードバックを与え、それは第二ゲートトランジス
タ要素Q3を比較的非導通状態に実効的にバイアス状態
を解除する。
のフィードバックを与え、それは第二ゲートトランジス
タ要素Q3を比較的非導通状態に実効的にバイアス状態
を解除する。
本発明の別の実施例においては、第1図の抵抗96及び
98に類似するバイアス用抵抗要素を第3図の回路に付
加することが可能である。従って、第1図の抵抗98と
類似して、電流ミラー第一分岐回路トランジスタ要素Q
1のエミッタノードとそのベースノードAとの間にバイ
アス用抵抗を付加することが可能である。第1図の抵抗
要素96に類似して、Qlのエミッタノードとダイオー
ド要素D3のカソードとの間にバイアス用抵抗を付加す
ることも可能である。これらの抵抗要素の値は、第3図
の電流ミラートランジスタ要素Q1及びQ3が、TTL
入力端におけるTTL論理信号高電位レベルに応答する
電流ミラーのターンオン及び高速スイッチング動作のた
めのターンオン動作の限界にバイアスされるように選択
されている。
98に類似するバイアス用抵抗要素を第3図の回路に付
加することが可能である。従って、第1図の抵抗98と
類似して、電流ミラー第一分岐回路トランジスタ要素Q
1のエミッタノードとそのベースノードAとの間にバイ
アス用抵抗を付加することが可能である。第1図の抵抗
要素96に類似して、Qlのエミッタノードとダイオー
ド要素D3のカソードとの間にバイアス用抵抗を付加す
ることも可能である。これらの抵抗要素の値は、第3図
の電流ミラートランジスタ要素Q1及びQ3が、TTL
入力端におけるTTL論理信号高電位レベルに応答する
電流ミラーのターンオン及び高速スイッチング動作のた
めのターンオン動作の限界にバイアスされるように選択
されている。
以上、本発明の具体的実施の態様について詳細に説明し
たが、本発明は、これら具体例にのみ限定されるべきも
のではなく、本発明の技術的範囲を逸脱することなしに
種々の変形が可能であることは勿論である。
たが、本発明は、これら具体例にのみ限定されるべきも
のではなく、本発明の技術的範囲を逸脱することなしに
種々の変形が可能であることは勿論である。
第1図は米国特許第4,771,191号の第3図から
複写したものであってシングルエンデツド出力端を具備
する従来のTTLからE CL/CMLへの変換回路を
示した概略回路図、第2図は回路の主要機能ブロック及
び抵抗R104及びR82を除いて全ての構成要素を取
除いた状態の第1図の従来の変換回路を示した簡単化し
たブロック図、第3図は本発明の一実施例に基づいて構
成された相補的乃至は差動的ECL出力端を具備するT
TLからECL/CMLへの変換回路を示した概略回路
図、第4図は主要機能ブロック及び抵抗R2,R3,R
4,R6を除いて全ての構成要素を除去した状態の第3
図の変換回路を示した簡単化したブロック図、である。 (符号の説明) Ql:第一分岐回路ダイオード Q2:第一ゲートトランジスタ要素 Q3:第二ゲートトランジスタ要素
複写したものであってシングルエンデツド出力端を具備
する従来のTTLからE CL/CMLへの変換回路を
示した概略回路図、第2図は回路の主要機能ブロック及
び抵抗R104及びR82を除いて全ての構成要素を取
除いた状態の第1図の従来の変換回路を示した簡単化し
たブロック図、第3図は本発明の一実施例に基づいて構
成された相補的乃至は差動的ECL出力端を具備するT
TLからECL/CMLへの変換回路を示した概略回路
図、第4図は主要機能ブロック及び抵抗R2,R3,R
4,R6を除いて全ての構成要素を除去した状態の第3
図の変換回路を示した簡単化したブロック図、である。 (符号の説明) Ql:第一分岐回路ダイオード Q2:第一ゲートトランジスタ要素 Q3:第二ゲートトランジスタ要素
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、TTL論理入力信号に応答して相補的ECL論理出
力信号を供給する差動出力TTL−ECL/CML変換
回路において、高及び低電位レベルのTTL論理信号を
受取るTTL入力回路が設けられており、共通エミッタ
ノード結合を具備する第一及び第二電流ミラー分岐回路
を有する電流ミラー回路が設けられており、前記第一及
び第二電流ミラー分岐回路は前記TTL入力回路へ結合
した共通ベースノード結合を持っており、前記TTL入
力回路はTTL論理信号高及び低電位レベルに応答して
前記第一電流ミラー分岐回路をそれぞれ実質的に導通状
態及び非導通状態とさせるために前記電流ミラー回路へ
動作結合されているバイアス回路要素を有しており、前
記第二電流ミラー分岐回路は前記第一電流ミラー分岐回
路における電流をミラー動作し、前記共通エミッタノー
ド結合へ結合されているエミッタノードを持った差動増
幅器第一及び第二ゲートトランジスタ要素と前記共通エ
ミッタノード結合へ結合されている電流シンク用バイア
スフィードバック抵抗要素とを具備する差動増幅器ゲー
トが設けられており、前記差動増幅器第一ゲートトラン
ジスタ要素は前記第二電流ミラー分岐回路であり、スレ
ッシュホールド電圧レベルを印加するために前記差動増
幅器第二ゲートトランジスタ要素のベースノードへ結合
されているスレッシュホールドクランプ回路が設けられ
ており、前記TTL入力回路に印加されるTTL論理入
力信号高及び低電位レベルに従って前記第一及び第二ゲ
ートトランジスタ要素の一方は比較的導通状態であり且
つ他方が比較的非導通状態であり、前記差動増幅器第一
及び第二ゲートトランジスタ要素のコレクタノードへそ
れぞれ結合されている相補的第一及び第二ECL出力回
路が設けられていることを特徴とする変換回路。 2、特許請求の範囲第1項において、前記差動増幅器第
一及び第二ゲートトランジスタ要素の一方のコレクタノ
ードへ結合した一端を持った第一及び第二スイング抵抗
要素が設けられており、前記第一及び第二スイング抵抗
要素の各々の他端は電圧レベルシフト手段を介して前記
スレッシュホールドクランプ回路及びTTL入力回路へ
結合されていることを特徴とする変換回路。 3、特許請求の範囲第2項において、前記スレッシュホ
ールドクランプ回路は、第一及び第二ゲートトランジス
タ要素のそれぞれのコレクタノードにおける最大電圧レ
ベルをスレッシュホールド電圧レベルより高い選択した
電圧レベルへクランプするために前記電圧レベルシフト
手段を介して動作結合されていることを特徴とする変換
回路。 4、特許請求の範囲第2項において、前記TTL入力回
路バイアス回路要素は、前記ゲートトランジスタ要素が
導通状態にある場合に前記第一ゲートトランジスタ要素
のコレクタノードへ結合されている第一スイング抵抗要
素を横断してのスイング電圧降下が約1V_B_E以下
であるように選択されていることを特徴とする変換回路
。 5、特許請求の範囲第4項において、前記第二ゲートト
ランジスタ要素のコレクタノードへ結合されている第二
スイング抵抗要素の抵抗値が、第二スイング抵抗要素を
横断して1V_B_E以下の実質的に同一のスイング電
圧降下を与えるべく選択されていることを特徴とする変
換回路。 6、特許請求の範囲第2項において、前記TTL入力回
路バイアス回路要素及びスレッシュホールドクランプ回
路は、前記第一及び第二電流ミラー分岐回路が前記TT
L入力回路におけるTTL論理入力信号高電位レベルに
応答して導通状態である場合に、前記共通エミッタノー
ド結合における前記電流シンク用バイアスフィードバッ
ク抵抗要素を横断しての電圧降下が前記共通エミッタノ
ード結合における電位レベルを前記第二ゲートトランジ
スタ要素を比較的非導通状態とさせるレベルへ上昇させ
るように選択されていることを特徴とする変換回路。 7、特許請求の範囲第6項において、前記電流シンク用
バイアスフィードバック抵抗要素を横断しての電圧降下
が、少なくとも10倍だけ前記第二ゲートトランジスタ
要素を介しての電流を減少させることを特徴とする変換
回路。 8、特許請求の範囲第2項において、前記TTL入力回
路バイアス回路要素及びスレッシュホールドクランプ回
路要素が、それぞれの第一及び第二ゲートトランジスタ
要素が導通状態にある場合のそれぞれの第一及び第二ゲ
ートトランジスタ要素を横断しての電圧降下が約1V_
B_E以下であるように選択されており、且つ前記相補
的第一及び第二ECL出力回路はそれぞれの相補的EC
L出力端においてECL論理出力信号高及び低電位レベ
ルを供給し、その際にECL論理出力信号高及び低電位
レベルの間の電圧スイングが約1V_B_E以下である
ことを特徴とする変換回路。 9、特許請求の範囲第8項において、前記スレッシュホ
ールドクランプ回路要素が、前記第二ゲートトランジス
タ要素のベースノードに印加されるスレッシュホールド
電圧レベル従ってTTL入力スレッシュホールドが約2
V_B_Eに設定されるように選択されていることを特
徴とする変換回路。 10、TTL入力回路におけるTTL論理入力信号に応
答して相補的ECL出力回路において相補的ECL論理
出力信号を供給する差動出力TTL−ECL/CML変
換回路において、前記TTL入力回路は比較的高いTT
L電位レベルV_C_Cと比較的低いTTL電位レベル
GNDとの間に動作結合されており、前記TTL論理入
力信号は前記比較的低いTTL電位レベルGNDを基準
として正電圧範囲内のTTL論理高及び低電位レベルを
有しており、前記相補的ECL出力回路は比較的高いE
CL電位レベルGNDと比較的低いECL電位レベルV
_E_Eとの間に動作結合されており、前記相補的EC
L出力信号は前記比較的高いECL電位GNDを基準と
して負の電圧範囲内のECL論理高及び低電位レベルを
有しており、共通エミッタノード結合を具備する第一及
び第二電流ミラー分岐回路を有する電流ミラー回路が設
けられており、前記第一及び第二電流ミラー分岐回路は
前記TTL入力回路へ結合されている共通ベースノード
結合を有しており、前記TTL入力回路は前記TTL入
力回路における高及び低電位レベルのTTL論理入力信
号に応答して前記第一電流ミラー分岐回路をそれぞれ比
較的導通状態及び非導通状態とさせる電流ミラー回路へ
動作結合されているバイアス回路要素を有しており、前
記第二電流ミラー分岐回路は前記第一電流ミラー分岐回
路における電流をミラー動作し、前記共通エミッタノー
ド結合へ結合されているエミッタノードを具備する差動
増幅器第一及び第二ゲートトランジスタ要素と前記共通
エミッタノード結合と電位レベルGNDとの間に結合さ
れている電流シンク抵抗要素とを有する差動増幅器ゲー
トが設けられており、前記差動増幅器第一ゲートトラン
ジスタ要素は前記第二電流ミラー分岐回路であって、ス
レッシュホールド電圧レベルを印加するために前記差動
増幅器第二ゲートトランジスタ要素のベースノードへ結
合されているスレッシュホールドクランプ回路が設けら
れており、前記第一ゲートトランジスタ要素のベースノ
ードへ印加されるTTL論理入力信号高及び低電位レベ
ルに従って前記第一及び第二ゲートトランジスタ要素の
一方が比較的導通状態であり且つ他方が比較的非導通状
態であり、前記差動増幅器第一及び第二ゲートトランジ
スタ要素のコレクタノードへそれぞれ一端が結合されて
いる第一及び第二スイング抵抗要素が設けられており、
前記第一及び第二スイング抵抗要素の各々は他端におい
て電圧レベルシフト手段を介して前記スレッシュホール
ドクランプ回路と前記TTL入力回路の両方へ結合され
ており、前記差動増幅器第一及び第二ゲートトランジス
タ要素へそれぞれ結合されている相補的第一及び第二E
CL出力回路が設けられており、前記相補的第一及び第
二ECL出力回路は前記TTL入力回路において印加さ
れるTTL論理入力信号高及び低電位レベルに応答して
レベルシフトされ且つ変換された相補的ECL論理出力
信号を供給することを特徴とする変換回路。 11、特許請求の範囲第10項において、前記第一スイ
ング抵抗要素が前記第一ゲートトランジスタ要素のコレ
クタノードへ結合されており、前記第二スイング抵抗要
素が前記第二ゲートトランジスタ要素のコレクタノード
へ結合されており、且つ前記それぞれの第一及び第二ス
イング抵抗要素の抵抗値は、それぞれの第一及び第二ゲ
ートトランジスタ要素が導通状態にある場合に前記第一
及び第二スイング抵抗要素を横断しての電圧降下が約1
V_B_E以下であるように選択されていることを特徴
とする変換回路。 12、特許請求の範囲第10項において、前記TTL入
力回路バイアス回路要素及びスレッシュホールドクラン
プ回路は、前記電流ミラー第一及び第二分岐回路がTT
L論理入力信号高電位レベルに応答して導通状態にある
場合に、前記共通エミッタノード結合における電流シン
ク抵抗要素を横断しての電圧降下が前記共通エミッタノ
ード結合における電位レベルを上昇させて前記第二ゲー
トトランジスタ要素が比較的非導通状態とさせるように
選択されていることを特徴とする変換回路。 13、特許請求の範囲第12項において、前記電流シン
ク抵抗要素を横断しての電圧降下は、前記第二ゲートト
ランジスタ要素を介して少なくとも10倍の電流減少を
発生させることを特徴とする変換回路。 14、特許請求の範囲第10項において、前記スレッシ
ュホールドクランプ回路は、前記第一及び第二ゲートト
ランジスタ要素の前記コレクタノードにおける最大高電
位レベルをクランプするために電圧レベルシフト手段を
介して前記第一及び第二ゲートトランジスタ要素のそれ
ぞれのコレクタノードへ動作結合されていることを特徴
とする変換回路。 15、特許請求の範囲第10項において、前記TTL入
力回路が、前記第一ゲートトランジスタ要素が導通状態
にある場合に、前記第一ゲートトランジスタ要素のコレ
クタノードへ結合されている第一スイング抵抗要素を横
断して約1V_B_E以下の電圧降下を確立するための
分圧器バイアス回路要素を有していることを特徴とする
変換回路。 16、特許請求の範囲第10項において、前記スレッシ
ュホールドクランプ回路は、前記第二ゲートトランジス
タ要素のベースノードと比較的低いTTL電位レベルG
NDとの間に動作結合されているダイオードスタックを
有しており、且つ前記スレッシュホールドクランプ回路
は、更に、第二ゲートトランジスタ要素のベースノード
と前記第一及び第二ゲートトランジスタ要素のコレクタ
ノードにおける最大電圧レベルをスレッシュホールドレ
ベルを超えた選択したレベルへクランプするための前記
第一及び第二ゲートトランジスタ要素のそれぞれのコレ
クタノードとの間に動作結合されているレベルシフト手
段を有することを特徴とする変換回路。 17、特許請求の範囲第16項において、前記TTL入
力回路バイアス回路要素及びスレッシュホールドクラン
プ回路は、前記第一及び第二ゲートトランジスタ要素が
それぞれ導通状態である場合に前記第一及び第二ゲート
トランジスタ要素のコレクタノードへそれぞれ結合され
ている第一及び第二スイング抵抗要素の各々を横断して
の電圧降下が約1V_B_E以下であるように選択され
ており、その際にECL論理出力信号高及び低電位レベ
ルの間のスイング電圧が約1V_B_E以下であること
を特徴とする変換回路。 18、特許請求の範囲第17項において、前記スレッシ
ュホールドクランプ回路ダイオードスタックが、前記第
二ゲートトランジスタ要素のベースノードにおいてクラ
ンプされるスレッシュホールド電圧レベルが約2V_B
_Eであるように選択されていることを特徴とする変換
回路。 19、TTL論理入力信号に応答して相補的ECL論理
出力信号を供給する差動出力TTL−ECL/CML変
換回路において、高及び低電位レベルのTTL論理信号
を受取るためのTTL入力回路が設けられており、共通
エミッタノード結合を具備する第一及び第二電流ミラー
分岐回路を有する電流ミラー回路が設けられており、前
記第一及び第二電流ミラー分岐回路は前記TTL入力回
路へ結合されている共通ベースノード結合を有しており
、前記第一電流ミラー分岐回路は前記TTL入力回路に
おけるTTL論理信号高及び低電位レベルに応答してそ
れぞれ実質的に導通状態及び非導通状態であり、前記第
二電流ミラー分岐回路は前記第一電流ミラー分岐回路内
の電流をミラー動作し、前記第一電流ミラー分岐回路の
コレクタノードへ結合されている第一ECL出力回路が
設けられており、前記共通エミッタノード結合へ結合さ
れているエミッタノードを持った差動増幅器第一及び第
二ゲートトランジスタ要素を有すると共に前記共通エミ
ッタノード結合へ結合されている電流シンク用バイアス
要素を有する差動増幅器ゲートが設けられており、前記
第二電流ミラー分岐回路は前記差動増幅器第一ゲートト
ランジスタ要素を構成しており、差動増幅器第一トラン
ジスタ要素のベースノードに印加される高及び低電位レ
ベルの中間であるスレッシュホールド電圧レベルを印加
するために前記差動増幅器第二ゲートトランジスタ要素
のベースノードへ結合されているスレッシュホールドク
ランプ回路が設けられており、前記TTL入力回路に印
加されるTTL論理入力信号高及び低電位レベルに従っ
て前記第一及び第二ゲートトランジスタ要素の一方が比
較的導通状態であり且つ他方が比較的非導通状態であり
、前記第一ECL出力回路と共に相補的ECL出力を供
給するために前記差動増幅器第二ゲートトランジスタ要
素のコレクタノードへ結合されている第二ECL出力回
路が設けられていることを特徴とする変換回路。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US397,769 | 1989-08-23 | ||
| US07/397,769 US4945263A (en) | 1989-08-23 | 1989-08-23 | TTL to ECL/CML translator circuit with differential output |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0389623A true JPH0389623A (ja) | 1991-04-15 |
| JP2852972B2 JP2852972B2 (ja) | 1999-02-03 |
Family
ID=23572548
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2220167A Expired - Lifetime JP2852972B2 (ja) | 1989-08-23 | 1990-08-23 | 差動出力端を有するttlからecl/cmlへの変換回路 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4945263A (ja) |
| EP (1) | EP0414096B1 (ja) |
| JP (1) | JP2852972B2 (ja) |
| KR (1) | KR910005576A (ja) |
| DE (1) | DE69015507T2 (ja) |
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1989
- 1989-08-23 US US07/397,769 patent/US4945263A/en not_active Expired - Lifetime
-
1990
- 1990-08-14 EP EP90115539A patent/EP0414096B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-08-14 DE DE69015507T patent/DE69015507T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1990-08-22 KR KR1019900012969A patent/KR910005576A/ko not_active Withdrawn
- 1990-08-23 JP JP2220167A patent/JP2852972B2/ja not_active Expired - Lifetime
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