JPH0395404A - 円盤状部品の表面検査装置 - Google Patents
円盤状部品の表面検査装置Info
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- JPH0395404A JPH0395404A JP23212889A JP23212889A JPH0395404A JP H0395404 A JPH0395404 A JP H0395404A JP 23212889 A JP23212889 A JP 23212889A JP 23212889 A JP23212889 A JP 23212889A JP H0395404 A JPH0395404 A JP H0395404A
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Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、円盤状部品の円盤面を撮像して得た映像信号
を画像処理して鋳巣の有無を検査する円盤状部品の表面
検査装置に関する。
を画像処理して鋳巣の有無を検査する円盤状部品の表面
検査装置に関する。
[従来の技術コ
従来、自動車の制動装置の部品であるディスクロータは
、所定の加工工程を終えた後、研磨されたその円盤面に
おリる鋳巣の有無を目視検査していた。
、所定の加工工程を終えた後、研磨されたその円盤面に
おリる鋳巣の有無を目視検査していた。
[発明の解決しようとする課題]
ところが、上記した目視検査は繰り返し作業であり、神
経の高度の集中が必要であるため、作業者は一定の作業
時間が経過すると疲労し、検査精度が低下するという問
題があった。
経の高度の集中が必要であるため、作業者は一定の作業
時間が経過すると疲労し、検査精度が低下するという問
題があった。
一方、この円盤面の検査を、円盤面を眼像する撮像装置
と、撮像された映像信号を処理して傷を判別する画像処
理装置となどを用いて行なうことも考えられるが、現状
では画像処理に時間が掛かり過ぎるという問題があった
。
と、撮像された映像信号を処理して傷を判別する画像処
理装置となどを用いて行なうことも考えられるが、現状
では画像処理に時間が掛かり過ぎるという問題があった
。
本発明は、問題に鑑みなされたものであり、高速かつ高
精度な検査が可能な円盤状部品の表面検査装置を提供す
ることをその解決すべき課題としている。
精度な検査が可能な円盤状部品の表面検査装置を提供す
ることをその解決すべき課題としている。
[課題を解決するための手段]
本発明の円盤状部品の表面検査装置は、順番に検査する
各円盤状部品を同位置に順次保持する保持手段と、保持
された前記円盤状部品の中心軸と平行な光軸を有し前記
円盤状部品の円盤面を撮像して映像信号を出力する2次
元躍像手段と、前記映像信号を2値化して2値化画像信
号を出力する2値化手段と、前記円盤面の理想輪郭に相
当する基準円を予め記憶する基準円記憶手段と、前記2
値化画像信号が描出される画面から前記基準円で囲まれ
た検査領域を指定し、該検査領域だけを検索して鋳巣領
域を抽出する鋳巣領域抽出手段と、前記鋳巣領域の占有
面積の大小に基いて前記円盤面の良、不良を判別する円
盤面判別手段とを具備することを特徴としている。
各円盤状部品を同位置に順次保持する保持手段と、保持
された前記円盤状部品の中心軸と平行な光軸を有し前記
円盤状部品の円盤面を撮像して映像信号を出力する2次
元躍像手段と、前記映像信号を2値化して2値化画像信
号を出力する2値化手段と、前記円盤面の理想輪郭に相
当する基準円を予め記憶する基準円記憶手段と、前記2
値化画像信号が描出される画面から前記基準円で囲まれ
た検査領域を指定し、該検査領域だけを検索して鋳巣領
域を抽出する鋳巣領域抽出手段と、前記鋳巣領域の占有
面積の大小に基いて前記円盤面の良、不良を判別する円
盤面判別手段とを具備することを特徴としている。
測定すべき円盤面は、内側輪郭をもたない円形面でもよ
く、又は、内側輪郭をもつ輪状面であってもよい。また
、躍象画像が円形であれば円錐面であってもよい。
く、又は、内側輪郭をもつ輪状面であってもよい。また
、躍象画像が円形であれば円錐面であってもよい。
ここで、保持手段は、各円盤状部品を順次に同位置に保
持するが、この場合の同位置とはあくまでも同一形状の
各円盤状部品同士が同位置となるという意味であって、
互いに形状の異なる円盤状部品同士は異なる位置に保持
されることができる。
持するが、この場合の同位置とはあくまでも同一形状の
各円盤状部品同士が同位置となるという意味であって、
互いに形状の異なる円盤状部品同士は異なる位置に保持
されることができる。
2次元撤像手段は1個で円盤面全面を躍像することがで
き、また、複数個で円盤面全面を分担して撮像すること
もできる。複数個で円盤面全面を分担して蒙像する場合
、各派像画面における基準円及び画面端部で区画された
検査領域の一部分毎に、順番に検査して円盤面全体の検
査を遂行することができる。また、各2次元@像手段間
の相対的な位置関係が既知であるので、各2次元躍像手
段から得られた画像の垂直、水平座標を所定量だけ補正
して、共通の画面上に描出することができ、このように
すれば、複数の2次元撮像手段を用いでも、蒙像された
円盤面を共通の画面上で単一画像として処理することが
できる。
き、また、複数個で円盤面全面を分担して撮像すること
もできる。複数個で円盤面全面を分担して蒙像する場合
、各派像画面における基準円及び画面端部で区画された
検査領域の一部分毎に、順番に検査して円盤面全体の検
査を遂行することができる。また、各2次元@像手段間
の相対的な位置関係が既知であるので、各2次元躍像手
段から得られた画像の垂直、水平座標を所定量だけ補正
して、共通の画面上に描出することができ、このように
すれば、複数の2次元撮像手段を用いでも、蒙像された
円盤面を共通の画面上で単一画像として処理することが
できる。
なお、この明細書でいう画面は、具体的なものである必
要はなく、2次元座標で指定される仮想の画像空間とし
てもよい。
要はなく、2次元座標で指定される仮想の画像空間とし
てもよい。
2値化手段は、鋳巣と正常な円盤面とを区別するように
しきい値を与えられている。
しきい値を与えられている。
[作用コ
保持手段は、順番に検査する同一形状の各円盤5
状部品を同位置となるように順次保持する。基準円記憶
手段は予め円盤状部品の基準円を保持している。鋳巣抽
出手段は、画面から基準円で囲まれた検査領域を指定し
、検査領域だけを検索して鋳巣を抽出する。円盤面判別
手段は、鋳巣面積を判別基準として円盤面の良、不良を
判別する。
手段は予め円盤状部品の基準円を保持している。鋳巣抽
出手段は、画面から基準円で囲まれた検査領域を指定し
、検査領域だけを検索して鋳巣を抽出する。円盤面判別
手段は、鋳巣面積を判別基準として円盤面の良、不良を
判別する。
すなわち、この装置では、基準円で囲まれた検査領域だ
けを検索することにより、不必要な画面領域の画像処理
を省略して処理を高速化する。更にそれと同時に、基準
円と実際の円盤面の実輪郭とに囲まれた輪郭欠落部(す
なわち内外縁に接する鋳巣)を露顕させて、その検査を
可能とする。
けを検索することにより、不必要な画面領域の画像処理
を省略して処理を高速化する。更にそれと同時に、基準
円と実際の円盤面の実輪郭とに囲まれた輪郭欠落部(す
なわち内外縁に接する鋳巣)を露顕させて、その検査を
可能とする。
[実施例]
(第1実施例〉
本発明の円盤状部品の表面検査装置の一実施例を図面に
より説明する。
より説明する。
この円盤状部品の表面検査装置は、第1図に示すように
、保持手段を構戒する検査台1と、白熱灯及び集束レン
ズ内蔵の照明装置2と、2次元撮像手段を構或するCO
D内蔵の4個のTVカメラ6 3a〜3dと、マルチプレクサ4と、2値化手段を構或
する2値化回路5と、基準円記憶手段、鋳巣抽出手段及
び円盤面判別手段を構戒する画像処理装置6と、警報装
置7とからなる。
、保持手段を構戒する検査台1と、白熱灯及び集束レン
ズ内蔵の照明装置2と、2次元撮像手段を構或するCO
D内蔵の4個のTVカメラ6 3a〜3dと、マルチプレクサ4と、2値化手段を構或
する2値化回路5と、基準円記憶手段、鋳巣抽出手段及
び円盤面判別手段を構戒する画像処理装置6と、警報装
置7とからなる。
検査台1は、図示しない基部上に搭載されており、円盤
状部品を構或するディスクロータ100を収容する凹部
1aを有している。凹部1aは、斜め上方に゛向けて開
口しており、底面]bと、底面1bの一端から底面1b
に対して垂直に立設された後壁面ICと、底面1bの前
記一端と直角な底面1bの他端から底面1bに対して垂
直に立設された側壁面1dとを有している。底面1bと
後壁面ICとは、第1図に示すように、鉛直線に対して
それぞれ45度方向に伸びている。また、底面1bと側
壁面1dとは、第2図に示すように鉛直線を挟んで約3
0度、約60度の方向に伸びている。
状部品を構或するディスクロータ100を収容する凹部
1aを有している。凹部1aは、斜め上方に゛向けて開
口しており、底面]bと、底面1bの一端から底面1b
に対して垂直に立設された後壁面ICと、底面1bの前
記一端と直角な底面1bの他端から底面1bに対して垂
直に立設された側壁面1dとを有している。底面1bと
後壁面ICとは、第1図に示すように、鉛直線に対して
それぞれ45度方向に伸びている。また、底面1bと側
壁面1dとは、第2図に示すように鉛直線を挟んで約3
0度、約60度の方向に伸びている。
ディスクロータ100は、自重により滑って、その大径
部の外周面102が底面1b及び側壁面1dに当接し(
第2図参照)、その小径部の端面103が後壁面ICに
当接している(第1図参照〉。したがって、この凹部1
aに順次載置される各ディスクロータ100は、第2図
に示すスライド方向に滑り各面1b〜1dに規制される
ので、同一種類毎にほぼ同じ位置に保持ざれる。
部の外周面102が底面1b及び側壁面1dに当接し(
第2図参照)、その小径部の端面103が後壁面ICに
当接している(第1図参照〉。したがって、この凹部1
aに順次載置される各ディスクロータ100は、第2図
に示すスライド方向に滑り各面1b〜1dに規制される
ので、同一種類毎にほぼ同じ位置に保持ざれる。
また、検査台1は、第1図に示すように、後壁面1Cの
斜め上方に後壁面1cと平行に伸びる支持プレート1e
を有しており、この支持プレート1eの下面には、照明
装置2及び4個のTVカメラ3a〜3dが固設されてい
る。
斜め上方に後壁面1cと平行に伸びる支持プレート1e
を有しており、この支持プレート1eの下面には、照明
装置2及び4個のTVカメラ3a〜3dが固設されてい
る。
照明装置2は後壁面1Cと直角な光軸Mを有しており、
4個のTVカメラ3a〜3dの各光軸は光軸Mから所定
距離を隔ててかつ平行に伸びている。また、TVカメラ
3a〜3dは照明装置2を中心として90度回転対称に
配置ざれている。TVカメラ3a〜3dの撮像画面間の
相対関係を第4図に示す。a1〜a4で区画される領域
が第1のTVカメラ3aの撮像画面を表し、b1〜b4
で区画ざれる領域が第2のTVカメラ3bの躍像画面を
表し、01〜C4で区画される領域が第3のTVカメラ
3Gの撮像画面を表し、d1〜d4で区画される領域が
第4のTVカメラ3dの胤像画面を表す。TVカメラ3
a〜3dに内蔵されたCC’D(図示せず)の有効画素
は垂直方向に498画素行、水平方向に768画素列だ
け配列され、合計約36万画素の有効画素を有しており
、各画素は順次にアナログサンプリング信号を出力する
。
4個のTVカメラ3a〜3dの各光軸は光軸Mから所定
距離を隔ててかつ平行に伸びている。また、TVカメラ
3a〜3dは照明装置2を中心として90度回転対称に
配置ざれている。TVカメラ3a〜3dの撮像画面間の
相対関係を第4図に示す。a1〜a4で区画される領域
が第1のTVカメラ3aの撮像画面を表し、b1〜b4
で区画ざれる領域が第2のTVカメラ3bの躍像画面を
表し、01〜C4で区画される領域が第3のTVカメラ
3Gの撮像画面を表し、d1〜d4で区画される領域が
第4のTVカメラ3dの胤像画面を表す。TVカメラ3
a〜3dに内蔵されたCC’D(図示せず)の有効画素
は垂直方向に498画素行、水平方向に768画素列だ
け配列され、合計約36万画素の有効画素を有しており
、各画素は順次にアナログサンプリング信号を出力する
。
Tカメラ3a〜3dは、本発明でいう円盤状部品を構戒
するディスクロータ100を穎像する。
するディスクロータ100を穎像する。
躍像されるディスクロータ100は、検査台1の載置面
1aに載置されている。ディスクロータ100は第1図
に示すように、フランジ形状を有しており、この実施例
では輪状の円盤面101が検査対象となっている。なお
、ディスクロータ100は円盤面101を上向きかつ水
平として載置面1aに載置されている。ディスクロータ
100の載置はロボット(図示せず)で行なわれるが、
他に、コンベヤなどによる自動搬送装置を採用すること
もできる。ディスクロータ100は第4図に示すようI
;、その中心軸がTVカメラ3a〜3d9 から等距離に載置されることか好ましい。
1aに載置されている。ディスクロータ100は第1図
に示すように、フランジ形状を有しており、この実施例
では輪状の円盤面101が検査対象となっている。なお
、ディスクロータ100は円盤面101を上向きかつ水
平として載置面1aに載置されている。ディスクロータ
100の載置はロボット(図示せず)で行なわれるが、
他に、コンベヤなどによる自動搬送装置を採用すること
もできる。ディスクロータ100は第4図に示すようI
;、その中心軸がTVカメラ3a〜3d9 から等距離に載置されることか好ましい。
マルチプレクサ4は、画像処理装置により制御される4
個のCMOSアナログ伝送スイッチからなり、TVカメ
ラ3a〜3dから入力される各映像信号を順次選択して
2値化手段5に送出する。
個のCMOSアナログ伝送スイッチからなり、TVカメ
ラ3a〜3dから入力される各映像信号を順次選択して
2値化手段5に送出する。
2値化手段5は、コンパレー夕で構戒されている。なお
、TVカメラ3a〜3dの映像信号は各画素が順次出力
する画素信号電圧により構戊されているので、2値化手
段5から出力される2値化画像信号Bは、画素周期を1
周期とするパルス信号となっている。
、TVカメラ3a〜3dの映像信号は各画素が順次出力
する画素信号電圧により構戊されているので、2値化手
段5から出力される2値化画像信号Bは、画素周期を1
周期とするパルス信号となっている。
第5図に示すように、照明装置2で照明された正常な円
盤面鎮域10内の2値化画像信号Bは1となっており、
内外の背景部11、12は反射光量が少ないのでOとな
る。鋳巣部13、14、15もまた、反射光量が少ない
のでOとなる。
盤面鎮域10内の2値化画像信号Bは1となっており、
内外の背景部11、12は反射光量が少ないのでOとな
る。鋳巣部13、14、15もまた、反射光量が少ない
のでOとなる。
画像処理装置6は、第3図に示すように、画像処理プロ
セッサ及び画像メモリを内蔵して画像処理機能を有する
マイコン装置で構成されており、更に、画像処理装置6
はマルヂプレクサの切換タ10 イミンクを制御するとともに他の機器の電源のオンオフ
をも制御している。画像処理装置6は、本発明でいう輪
郭信号抽出手段と中心座標半径算出手段と基準円記憶手
段と鋳巣抽出手段と円盤面判別手段とを構戊している。
セッサ及び画像メモリを内蔵して画像処理機能を有する
マイコン装置で構成されており、更に、画像処理装置6
はマルヂプレクサの切換タ10 イミンクを制御するとともに他の機器の電源のオンオフ
をも制御している。画像処理装置6は、本発明でいう輪
郭信号抽出手段と中心座標半径算出手段と基準円記憶手
段と鋳巣抽出手段と円盤面判別手段とを構戊している。
画像メモリは、入力された2値化画像信号を記憶する2
値化画像記憶エリアと、算出された中心座標及び半径か
ら基準円(すなわち理想輪郭)に相当する座標をデータ
を記憶する基準円座標記憶エリアを有している。なお、
画像処理装置6は各TVカメラ3a〜3dの撮像画面毎
に順番に画像処理を実行するので、2値化画像記憶エリ
アは、約360kビットの記憶容量をもてばよい。なお
、2値化画像記憶エリアの1ビットはTVカメラ3a〜
3dの1画素に対応している。
値化画像記憶エリアと、算出された中心座標及び半径か
ら基準円(すなわち理想輪郭)に相当する座標をデータ
を記憶する基準円座標記憶エリアを有している。なお、
画像処理装置6は各TVカメラ3a〜3dの撮像画面毎
に順番に画像処理を実行するので、2値化画像記憶エリ
アは、約360kビットの記憶容量をもてばよい。なお
、2値化画像記憶エリアの1ビットはTVカメラ3a〜
3dの1画素に対応している。
警報装置7は、画像処理装置6から受取った不良信号に
基づいて光と音響により警報を発する装置である。
基づいて光と音響により警報を発する装置である。
以下、この実施例の装置の動作を、第6図〜第8図のフ
ローチャート及び第5図に従って説明ず11 る。第5図は第1TVカメラ3aの撮像画面の一例を示
している。
ローチャート及び第5図に従って説明ず11 る。第5図は第1TVカメラ3aの撮像画面の一例を示
している。
画像処理装置6は電源人力とともに初期設定される(S
10)。この初期設定により、変数MをOに、変数Nを
1にセットする。なお、この変数Mは、載置されたディ
スクロータ100が最初の1個かどうかを知るためのも
のである。また、変数Nは、どのTVカメラの映像信号
を処理するかを決めるものであり変数Nの値に応じて、
マルヂプレクサ4はTVカメラの一つを選択づる.Nが
1に設定されると第ITVカメラの映像信号が選択され
る。また、電源入力とともに、照明装置2が点灯ざれ、
TVカメラ38〜3dが起動される。
10)。この初期設定により、変数MをOに、変数Nを
1にセットする。なお、この変数Mは、載置されたディ
スクロータ100が最初の1個かどうかを知るためのも
のである。また、変数Nは、どのTVカメラの映像信号
を処理するかを決めるものであり変数Nの値に応じて、
マルヂプレクサ4はTVカメラの一つを選択づる.Nが
1に設定されると第ITVカメラの映像信号が選択され
る。また、電源入力とともに、照明装置2が点灯ざれ、
TVカメラ38〜3dが起動される。
次に、ディスクロータ100が検査台1の所定位置に戟
置されたかどうかを検出する(S”12>。
置されたかどうかを検出する(S”12>。
なお、この検出はディスクロータ100により光が遮断
されるフォトインタラプタ(図示せず)からの入力によ
り実行される。
されるフォトインタラプタ(図示せず)からの入力によ
り実行される。
ディスクロータ100の載置を検出した後、所定時間待
機する(S14)。この待機はディスク12 ロータ100の検査位置への載置が完全に終了した後で
次のステップに入るためである。
機する(S14)。この待機はディスク12 ロータ100の検査位置への載置が完全に終了した後で
次のステップに入るためである。
次に、変数M h< oかどうかを調べ(S16)、O
であれば最初の被測定物であるとしてS18に進み、M
が1であれば2番目以降の被測定物であるとして318
を省略してS20に進む。
であれば最初の被測定物であるとしてS18に進み、M
が1であれば2番目以降の被測定物であるとして318
を省略してS20に進む。
S18では、検査領域指定サブルーチンを実施し、画面
上において検査が必要な検査領域Sを指定する。なお、
この検査領域Sは本実施例では、基準面に囲まれた領域
に対応している。正確には、検査領域Sは、第5図に示
すように、内の基準円の一部と画面端部とで区画される
領域となっている。
上において検査が必要な検査領域Sを指定する。なお、
この検査領域Sは本実施例では、基準面に囲まれた領域
に対応している。正確には、検査領域Sは、第5図に示
すように、内の基準円の一部と画面端部とで区画される
領域となっている。
次に、鋳巣検査サブルーチンを実施し、指定された検査
領域内部にお(プる鋳巣の有無を調べ、所定面積以上の
鋳巣がある場合に警報を出力する(S’20>。
領域内部にお(プる鋳巣の有無を調べ、所定面積以上の
鋳巣がある場合に警報を出力する(S’20>。
次に、変数Nに1を加え(S22〉、Nが4以下であれ
ば(824)、S18に復帰して次々に2値化画像信号
を処理してゆき、Nが5になった13 ら、Nを]にリセットしMを1にセットして(S26)
、Sl 2に復帰して次のディスクロータ]OOが載
置されるのを待つ。
ば(824)、S18に復帰して次々に2値化画像信号
を処理してゆき、Nが5になった13 ら、Nを]にリセットしMを1にセットして(S26)
、Sl 2に復帰して次のディスクロータ]OOが載
置されるのを待つ。
検査領域指定サブルーチンを第7図のフローチャートを
参照して説明する。
参照して説明する。
まず、2値化回路5から2値化画像信号を受取り、受取
った順番に画像メモリに順番に書込む(5100>。
った順番に画像メモリに順番に書込む(5100>。
次に、記憶された2値化画像信号を処理して、所定個数
の内輪郭データ(すなわら、内輪郭座標〉をサーチして
求める(S102)。内輪郭データのサーチは以下のよ
うにして行なう。画像メモリに記憶された2値化画像信
号は498本の水平走査線(以下、口Sしという)から
なるから、垂直方向に互いに等間隔に存在する32本の
HSLを選択する。選択された口SLの一本を第4図に
示す。次に、これら32本の口SLにおいて、白(1〉
から黒(0)に変化するエツジEiに接する白(1〉の
画素の垂直、水平アドレス(画素番地〉をメモリする。
の内輪郭データ(すなわら、内輪郭座標〉をサーチして
求める(S102)。内輪郭データのサーチは以下のよ
うにして行なう。画像メモリに記憶された2値化画像信
号は498本の水平走査線(以下、口Sしという)から
なるから、垂直方向に互いに等間隔に存在する32本の
HSLを選択する。選択された口SLの一本を第4図に
示す。次に、これら32本の口SLにおいて、白(1〉
から黒(0)に変化するエツジEiに接する白(1〉の
画素の垂直、水平アドレス(画素番地〉をメモリする。
このようにして、32個の内14
輪郭データ(内輸郭番地)が得られる。
次に、得た32個の内輪郭データから異常なデタを除外
する。すなわち、各内輪郭データは、円周軌跡上に存在
する筈であり、互いの相互座標関係を演算して特異的な
内輪郭データを除外する(S104)。
する。すなわち、各内輪郭データは、円周軌跡上に存在
する筈であり、互いの相互座標関係を演算して特異的な
内輪郭データを除外する(S104)。
同様に、記憶された2値化画像信号を処理して、所定個
数の外輪郭データ(すなわち、外輪郭座標)をサーヂし
て求める(S106)。外輪郭データのサーチは以下の
ようにして行なう。内輸郭デタのサーチでサブリングし
た上記32本の口SLを用い、これら32本の口SLに
おいて、黒(0)から白(1〉に代るエツジEeに接す
る白(1)の画素の垂直、水平アドレス(画素番地〉を
メモリする。このようにして、32個の外輪郭データ(
外輪郭番地〉が得られる。
数の外輪郭データ(すなわち、外輪郭座標)をサーヂし
て求める(S106)。外輪郭データのサーチは以下の
ようにして行なう。内輸郭デタのサーチでサブリングし
た上記32本の口SLを用い、これら32本の口SLに
おいて、黒(0)から白(1〉に代るエツジEeに接す
る白(1)の画素の垂直、水平アドレス(画素番地〉を
メモリする。このようにして、32個の外輪郭データ(
外輪郭番地〉が得られる。
次に、3104と同様にして32個の外輪郭デタから異
常なデータを除外する(3108)。
常なデータを除外する(3108)。
次に、最小二乗法を用いて、残った有効な内輪郭データ
から最も近接する円(正確にはほぼ1/15 4円の中心座標と半径とを算出し、同様に、残った有効
な外輪郭データから最も近接する円〈正確にはほぼ1/
4円の中心座標と半径とを算出し(8110)、算出し
た中心座標と半径とから、基準円(正確にはその一部〉
を決定し、この基準円の座標データを各口SL毎にメモ
リする(S112〉。この基準円は鋳巣の無い内外輪郭
に対応している。
から最も近接する円(正確にはほぼ1/15 4円の中心座標と半径とを算出し、同様に、残った有効
な外輪郭データから最も近接する円〈正確にはほぼ1/
4円の中心座標と半径とを算出し(8110)、算出し
た中心座標と半径とから、基準円(正確にはその一部〉
を決定し、この基準円の座標データを各口SL毎にメモ
リする(S112〉。この基準円は鋳巣の無い内外輪郭
に対応している。
次に、鋳巣検査サブルーチンを第8図のフロチャートを
参照して説明する。
参照して説明する。
まず、基準円の各種データを用いて、基準円により区画
される検査領域Sに含まれる画素数をカウントし、カウ
ントした数値に1画素の面積を掛けて基準円盤面(正確
にはその一部〉の面積3tを計算する(3200)。
される検査領域Sに含まれる画素数をカウントし、カウ
ントした数値に1画素の面積を掛けて基準円盤面(正確
にはその一部〉の面積3tを計算する(3200)。
次に、検査饋域Sにおいて白(1〉をもつ画素数をカウ
ントし、カウントした数値に1画素の面積を掛けて正常
な円盤面10(正確にはその一部)の面積Srを計算す
る(S202)。
ントし、カウントした数値に1画素の面積を掛けて正常
な円盤面10(正確にはその一部)の面積Srを計算す
る(S202)。
次に、基準円盤面積Stと正常な円盤面積sr1e!
との差を求め(8204>、差(St−Sr)が所定値
より大きい場合には警報信号を出力して(S210>、
ルーチンを終え、差が所定値以下であれば検査領域S内
の各鋳巣の面積を算出する(S206>。この各鋳巣の
面積の算出は、検査饋域内部において、2画素以上の互
いに隣接する黒(0)領域をサーチし、各黒(0)領域
を鋳巣領域とする。そして、各鋳巣領域について、その
画素数をカウントし、カウントした数値に1画素の面積
を掛けて各鋳巣の面積を算出する。例えば、第4図にお
いて、鋳巣13、14、15が検出され、その面積が算
出される。
より大きい場合には警報信号を出力して(S210>、
ルーチンを終え、差が所定値以下であれば検査領域S内
の各鋳巣の面積を算出する(S206>。この各鋳巣の
面積の算出は、検査饋域内部において、2画素以上の互
いに隣接する黒(0)領域をサーチし、各黒(0)領域
を鋳巣領域とする。そして、各鋳巣領域について、その
画素数をカウントし、カウントした数値に1画素の面積
を掛けて各鋳巣の面積を算出する。例えば、第4図にお
いて、鋳巣13、14、15が検出され、その面積が算
出される。
次に、各鋳巣の面積が所定値以下かどうかを検出する(
S208〉。第5図では、1o画素分以上の面積をもつ
鋳巣13、14、15が存在するのでディスクロータ1
00を不,良品としている。
S208〉。第5図では、1o画素分以上の面積をもつ
鋳巣13、14、15が存在するのでディスクロータ1
00を不,良品としている。
すなわち、各、鋳巣の面積が10画素面積以上であれば
、警報信号を出力してルーチンを終え、そうでなければ
、メインルーチンにリターンする。
、警報信号を出力してルーチンを終え、そうでなければ
、メインルーチンにリターンする。
(第2実施例〉
17
本発明の円盤状部品の表面検査装置の他の一実施例を図
面により説明する。
面により説明する。
この円盤状部品の表面検査装置は、第9図に示すように
検査台1と、照明装置2と、TVカメラ3a〜3eと、
マルチプレクサ4と、2値化手段5と、画像処理装置6
と、警報装置7とからなる。
検査台1と、照明装置2と、TVカメラ3a〜3eと、
マルチプレクサ4と、2値化手段5と、画像処理装置6
と、警報装置7とからなる。
この検査装置は、実施例1の装置にTカメラ3eを付加
し、画像処理装置6の動作を変更したものである。この
実施例の検査装置は、順序不定に検査台1に載置される
各種大きさの円盤状部品の検査が可能なように構成ざれ
ている。
し、画像処理装置6の動作を変更したものである。この
実施例の検査装置は、順序不定に検査台1に載置される
各種大きさの円盤状部品の検査が可能なように構成ざれ
ている。
TVカメラ3eは、支持プレート1eに保持されており
その光軸は光軸Mと平行となっている。
その光軸は光軸Mと平行となっている。
TVカメラ3eは512ビットのCCDリニアイメージ
センサを内蔵している。TVカメラ3eの撮像画面は、
第10図に示すように、載置されたディスクロータ10
0の円盤面101の外輪郭105の一部と交差して半径
方向に伸びている。したがって、TVカメラ3eは円盤
面101の外輪郭の一部を撮像し、TVカメラ3eの1
行のライ18 ン映像信号は所定のタイミングでマルチプレクサ4を介
して2値化回路5で1ラインの2値化画像信号に変換さ
れて、画像処理装置6に入力ざれる。
センサを内蔵している。TVカメラ3eの撮像画面は、
第10図に示すように、載置されたディスクロータ10
0の円盤面101の外輪郭105の一部と交差して半径
方向に伸びている。したがって、TVカメラ3eは円盤
面101の外輪郭の一部を撮像し、TVカメラ3eの1
行のライ18 ン映像信号は所定のタイミングでマルチプレクサ4を介
して2値化回路5で1ラインの2値化画像信号に変換さ
れて、画像処理装置6に入力ざれる。
なお、第10図に示すように、ディスクロータ100の
機種が異なると、円盤面’101の外輪郭105は二点
鎖線L1〜「3の如く変動し、それに応じて、上記ライ
ン映像信号における外輪郭位置Sは変動する。
機種が異なると、円盤面’101の外輪郭105は二点
鎖線L1〜「3の如く変動し、それに応じて、上記ライ
ン映像信号における外輪郭位置Sは変動する。
この画像処理装置6の動作を第11図のフロチャートを
参照して説明する。
参照して説明する。
第11図のフローヂャートは第6図のフローチャートに
330−832を付け加え、S16を省略したものであ
る。
330−832を付け加え、S16を省略したものであ
る。
S14で所定時間待機した後、330でTV力メラ3e
から2値化画像信号を受取り(S30)、受取った2値
化画像信号を処理して、その最も外端側に位置する白(
1)画素と黒(0)画素との境界部の座標位置Sを検出
・し(S31)、この座標位置Sによりディスクロータ
100の機種が既知のものかどうかを判別する(S32
)。なお、19 この実施例では、ディスクロータ100の各機種はそれ
ぞれ円盤面101の半径が異なるものとする。ディスク
ロータ100の機種が既知かどうかは、検出した座標位
置Sに近似する座標位置を有するディスクロータ100
の中心座標及び半径情報をメモリに保持しているかどう
かで決定する。
から2値化画像信号を受取り(S30)、受取った2値
化画像信号を処理して、その最も外端側に位置する白(
1)画素と黒(0)画素との境界部の座標位置Sを検出
・し(S31)、この座標位置Sによりディスクロータ
100の機種が既知のものかどうかを判別する(S32
)。なお、19 この実施例では、ディスクロータ100の各機種はそれ
ぞれ円盤面101の半径が異なるものとする。ディスク
ロータ100の機種が既知かどうかは、検出した座標位
置Sに近似する座標位置を有するディスクロータ100
の中心座標及び半径情報をメモリに保持しているかどう
かで決定する。
そして、既知のディスクロータであれば、318を迂回
して直接S20に進み、新規なディスクロータであれば
、S18に進んでその検査領域を指定する。
して直接S20に進み、新規なディスクロータであれば
、S18に進んでその検査領域を指定する。
なお、本実施例の818の検査領域指定サブルチン(第
7図参照〉において、得られた各機種の中心座標及び半
径と、それらにより決定される基準円の座標データはメ
モリにそれぞれ記憶されている。
7図参照〉において、得られた各機種の中心座標及び半
径と、それらにより決定される基準円の座標データはメ
モリにそれぞれ記憶されている。
また、本実施例の820の鋳巣検査サブルーチン〈第8
図参照〉において、検査領域は、記憶している各種の基
準円の座標から、816より指定された機種のものを選
択して用いている。
図参照〉において、検査領域は、記憶している各種の基
準円の座標から、816より指定された機種のものを選
択して用いている。
このようにすれば、実施例1の装置に比較して20
818のステップを迂回できるので高速化することがで
き、かつ、異なる機種のディスクロータを順不同に検査
することができる。
き、かつ、異なる機種のディスクロータを順不同に検査
することができる。
なお、この実施例において、載置されるディスクロータ
100の機種の決定に関しては、マニュアル設定や重量
検出など各種の方法を採用することができ、例えば、T
Vカメラ3a〜3dの一つを用いて輪郭検出して実行す
ることも可能である。
100の機種の決定に関しては、マニュアル設定や重量
検出など各種の方法を採用することができ、例えば、T
Vカメラ3a〜3dの一つを用いて輪郭検出して実行す
ることも可能である。
[発明の効果]
本発明の円盤状部品の表面検査装置によれば、円盤状部
品の基準円を記憶しておき、各円盤状部品を同位置とな
るように順次保持して得たW&像画像から上記基準円で
囲まれた検査領域を指定し、この検査領域だけを検索し
て鋳巣を抽出している。
品の基準円を記憶しておき、各円盤状部品を同位置とな
るように順次保持して得たW&像画像から上記基準円で
囲まれた検査領域を指定し、この検査領域だけを検索し
て鋳巣を抽出している。
すなわち、この装置では、基準円で囲まれた検査領域だ
けを検索することにより、不必要な画面領域の画像処理
を省略して処理を高速化し、それと同時に、基準円と実
際の円盤面の実輪郭とに囲まれた輪郭欠落部を露顕させ
て、その検査を可能としている。
けを検索することにより、不必要な画面領域の画像処理
を省略して処理を高速化し、それと同時に、基準円と実
際の円盤面の実輪郭とに囲まれた輪郭欠落部を露顕させ
て、その検査を可能としている。
21
したがって、本発明の円盤状部品の表面検査装置によれ
ば、以下の効果を奏することができる。
ば、以下の効果を奏することができる。
(1〉まず、撮像画面全体を検査する必要がなく、検査
領域だけを検査すればよいので、高精度の検査を行って
も検査速度が高速となる。
領域だけを検査すればよいので、高精度の検査を行って
も検査速度が高速となる。
(2)内外輪郭に接する鋳巣領域は画面上で背景と同じ
信号レベルとなるが、基準円により内、外輪郭に接する
鋳巣領域を区別することができるので、それらの検査か
可能となる。
信号レベルとなるが、基準円により内、外輪郭に接する
鋳巣領域を区別することができるので、それらの検査か
可能となる。
すなわち、本発明によれば予め記憶する基準円により検
査領域の選択と、内外の実輪郭に接する鋳巣の露顕が可
能となる。
査領域の選択と、内外の実輪郭に接する鋳巣の露顕が可
能となる。
第1図は、本発明の円盤状部品の表面検査装置のブロッ
ク図、第2図は保持装置1の一部拡大正面図、第3図は
画像処理装置6のブロック図、第4図はTVカメラ3a
〜3dの撮像画面を表す模式図、第5図はTVカメラ3
aの蒙像画像を表す模式図、第6図、第7図、第8図は
画像処理装置6の動作を表すフローチャートである。第
9図は22 本発明の実施例2を示すブロック図、第10図はTVカ
メラ3eの撮像位置を示す模式図、第11図は実施例2
を表すフローチャートである。 1・・・検査台〈保持手段〉 2・・・照明装置 3a〜3d・・・TVカメラ (二次元躍像手段〉 4・・・マルチプレクサ 5・・・2値化回路 6・・・画像処理装置 7・・・警報装置
ク図、第2図は保持装置1の一部拡大正面図、第3図は
画像処理装置6のブロック図、第4図はTVカメラ3a
〜3dの撮像画面を表す模式図、第5図はTVカメラ3
aの蒙像画像を表す模式図、第6図、第7図、第8図は
画像処理装置6の動作を表すフローチャートである。第
9図は22 本発明の実施例2を示すブロック図、第10図はTVカ
メラ3eの撮像位置を示す模式図、第11図は実施例2
を表すフローチャートである。 1・・・検査台〈保持手段〉 2・・・照明装置 3a〜3d・・・TVカメラ (二次元躍像手段〉 4・・・マルチプレクサ 5・・・2値化回路 6・・・画像処理装置 7・・・警報装置
Claims (3)
- (1)順番に検査する各円盤状部品を同位置に順次保持
する保持手段と、 保持された前記円盤状部品の中心軸と平行な光軸を有し
前記円盤状部品の円盤面を撮像して映像信号を出力する
2次元撮像手段と、 前記映像信号を2値化して2値化画像信号を出力する2
値化手段と、 前記円盤面の理想輪郭に相当する基準円を予め記憶する
基準円記憶手段と、 前記2値化画像信号が描出される画面から前記基準円で
囲まれた検査領域を指定し、該検査領域だけを検索して
鋳巣領域を抽出する鋳巣領域抽出手段と、 前記鋳巣領域の占有面積の大小に基いて前記円盤状部品
の良、不良を判別する円盤面判別手段とを具備すること
を特徴とする円盤状部品の表面検査装置。 - (2)所定の円盤状部品の2値化画像信号から円盤面の
実輪郭に相当する輪郭信号を求める輪郭信号抽出手段と
、前記輪郭信号を最小二乗法で処理して前記基準円の中
心座標及び半径を求める中心座標半径算出手段とを有し
ている特許請求の範囲第1項記載の円盤状部品の表面検
査装置。 - (3)前記基準円記憶手段は、検査すべき複数種類の円
盤状部品の各基準円を予め記憶しており、測定すべき前
記円盤状部品に応じて対応する前記基準円を選択するも
のである特許請求の範囲第1項記載の円盤状部品の表面
検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23212889A JPH0395404A (ja) | 1989-09-07 | 1989-09-07 | 円盤状部品の表面検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23212889A JPH0395404A (ja) | 1989-09-07 | 1989-09-07 | 円盤状部品の表面検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0395404A true JPH0395404A (ja) | 1991-04-19 |
Family
ID=16934442
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23212889A Pending JPH0395404A (ja) | 1989-09-07 | 1989-09-07 | 円盤状部品の表面検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0395404A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006112466A1 (ja) * | 2005-04-19 | 2006-10-26 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 鏡面基板の異物検査方法 |
| JP2013170960A (ja) * | 2012-02-22 | 2013-09-02 | Ngk Spark Plug Co Ltd | ワークの検査方法およびグロープラグ |
| JP2021156703A (ja) * | 2020-03-26 | 2021-10-07 | ダイハツ工業株式会社 | 鋳巣測定装置 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56155804A (en) * | 1980-05-06 | 1981-12-02 | Mitsubishi Electric Corp | Picture processor |
| JPS6117906A (ja) * | 1984-07-04 | 1986-01-25 | Shinko Electric Co Ltd | 移動物体の方向識別方法 |
| JPS61201105A (ja) * | 1985-03-04 | 1986-09-05 | Toshiba Corp | 表面状態評価装置 |
| JPS6331311B2 (ja) * | 1981-05-26 | 1988-06-23 | Fuji Electric Co Ltd |
-
1989
- 1989-09-07 JP JP23212889A patent/JPH0395404A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56155804A (en) * | 1980-05-06 | 1981-12-02 | Mitsubishi Electric Corp | Picture processor |
| JPS6331311B2 (ja) * | 1981-05-26 | 1988-06-23 | Fuji Electric Co Ltd | |
| JPS6117906A (ja) * | 1984-07-04 | 1986-01-25 | Shinko Electric Co Ltd | 移動物体の方向識別方法 |
| JPS61201105A (ja) * | 1985-03-04 | 1986-09-05 | Toshiba Corp | 表面状態評価装置 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006112466A1 (ja) * | 2005-04-19 | 2006-10-26 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 鏡面基板の異物検査方法 |
| JPWO2006112466A1 (ja) * | 2005-04-19 | 2008-12-11 | 松下電器産業株式会社 | 鏡面基板の異物検査方法 |
| US8055055B2 (en) | 2005-04-19 | 2011-11-08 | Panasonic Corporation | Method for inspecting a foreign matter on mirror-finished substrate |
| JP2013170960A (ja) * | 2012-02-22 | 2013-09-02 | Ngk Spark Plug Co Ltd | ワークの検査方法およびグロープラグ |
| JP2021156703A (ja) * | 2020-03-26 | 2021-10-07 | ダイハツ工業株式会社 | 鋳巣測定装置 |
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