JPH0396834A - 濃度測定装置 - Google Patents
濃度測定装置Info
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- JPH0396834A JPH0396834A JP23428589A JP23428589A JPH0396834A JP H0396834 A JPH0396834 A JP H0396834A JP 23428589 A JP23428589 A JP 23428589A JP 23428589 A JP23428589 A JP 23428589A JP H0396834 A JPH0396834 A JP H0396834A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- suspension
- level
- concentration
- light source
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、光を測定媒体とした濃度測定装置であって
、バルプ懸濁液におけるパルプ濃度の測定等、悲濁液の
濃度測定に用いられる濃度測定装置に関する。
、バルプ懸濁液におけるパルプ濃度の測定等、悲濁液の
濃度測定に用いられる濃度測定装置に関する。
一般に、紙は木材等から抽出された繊維(パルブ)によ
って製造され、そのパルプは水に懸濁されて用いられる
ので、そのパルブ懸濁液のパルブ濃度が生産される紙の
品質に大きく影響することが知られているが、このパル
プ濃度については、次のような問題点がある。
って製造され、そのパルプは水に懸濁されて用いられる
ので、そのパルブ懸濁液のパルブ濃度が生産される紙の
品質に大きく影響することが知られているが、このパル
プ濃度については、次のような問題点がある。
(a) 複数のバルプを混合する場合において、混合
すべき各パルプ濃度が異なると、混合比率が異なり、所
望の性質を持つ紙が得られない。
すべき各パルプ濃度が異なると、混合比率が異なり、所
望の性質を持つ紙が得られない。
(b) 叩解を行う場合に、バルブ濃度を一定の値に
しないと叩解されたバルプの性質が均一にならない。
しないと叩解されたバルプの性質が均一にならない。
(C) パルプ態濁液に填料及び薬品を添加する場合
、バルプ濃度が異なると、パルプ濃度に対する填料や薬
品の比率が異なり、目標の性質が得られない。
、バルプ濃度が異なると、パルプ濃度に対する填料や薬
品の比率が異なり、目標の性質が得られない。
(d) 原料調整後のバルプ懸濁液の濃度が異なって
いる場合、生産された紙の坪量が目標値と異なる。
いる場合、生産された紙の坪量が目標値と異なる。
このように、バルブ濃度が異なると、生産された紙の性
質が変化し、品質に大きく影響を与えることから、製紙
にはパルブ濃度の制御が必要であり、そのために、バル
プ濃度の測定が不可欠である。
質が変化し、品質に大きく影響を与えることから、製紙
にはパルブ濃度の制御が必要であり、そのために、バル
プ濃度の測定が不可欠である。
ところで、パルプ濃度の測定には、光を媒体にした濃度
測定装置が用いられている。この濃度i11リ定装置で
は、懸濁液に光を照則し、懸濁液で反射、透過、散乱、
吸収、偏光を経て懸濁液から得られる反射光又は透過光
等の光を受光素子で受け、そのレベルによって懸濁液の
濃度測定を行う。
測定装置が用いられている。この濃度i11リ定装置で
は、懸濁液に光を照則し、懸濁液で反射、透過、散乱、
吸収、偏光を経て懸濁液から得られる反射光又は透過光
等の光を受光素子で受け、そのレベルによって懸濁液の
濃度測定を行う。
この濃度測定装置に才3いては、受光素子に対する入射
光に次のような情報、即ち、ノイズ成分が含まれている
。
光に次のような情報、即ち、ノイズ成分が含まれている
。
光源及び受光素子と懸′/@液とを遮断するための手段
として、ウインドに設&Jられたガラス等の遮蔽手段に
おける光の反射、散乱、吸収及び偏光によるノイズ戒分
(光源側及び受光素子側で発生)。
として、ウインドに設&Jられたガラス等の遮蔽手段に
おける光の反射、散乱、吸収及び偏光によるノイズ戒分
(光源側及び受光素子側で発生)。
11,光源又は受光素子が取り付けられている部分で光
が反射し、その光が懸濁液に入射するためのノイズ戒分
(光源側及び受光素子側で発生)。
が反射し、その光が懸濁液に入射するためのノイズ戒分
(光源側及び受光素子側で発生)。
これらのノイズ戒分は測定精度に影響を与えているが、
さらに、受光素子で得られたレベル信号を処理する電子
回路においてもオフセットや、受光素子及び電子回路の
零点調整誤差等も測定精度に影響を与えている。
さらに、受光素子で得られたレベル信号を処理する電子
回路においてもオフセットや、受光素子及び電子回路の
零点調整誤差等も測定精度に影響を与えている。
また、濃度測定装置には、1つの受光素子を用いたもの
、2つの受光素子を設置して両者の比を求めるもの等が
ある。前者の濃度測定装置では、ノイズ威分によって懸
濁液の実際の濃度より高い濃度を表ずレベル伍号が得ら
れ、しかも、ノイズ成分を電子回路側で相殺する場合に
はその温度変化による動作特性の変動や光源の1(αI
・l光量の親化が測定精度に影響を与える。後者の濃度
測定製置では、ノイズ戊分によって低濃度領域にお&J
るJLの直線性が悪化し、濃度を表ずレベル信号におL
Jるノイズ或分の割合が大きくなるとともに、低濃度で
ある場合には測定誤えが大きくなり、しかも、光源の発
光光量が変化すると測定誤差が生し、これを相殺するこ
とができない。
、2つの受光素子を設置して両者の比を求めるもの等が
ある。前者の濃度測定装置では、ノイズ威分によって懸
濁液の実際の濃度より高い濃度を表ずレベル伍号が得ら
れ、しかも、ノイズ成分を電子回路側で相殺する場合に
はその温度変化による動作特性の変動や光源の1(αI
・l光量の親化が測定精度に影響を与える。後者の濃度
測定製置では、ノイズ戊分によって低濃度領域にお&J
るJLの直線性が悪化し、濃度を表ずレベル信号におL
Jるノイズ或分の割合が大きくなるとともに、低濃度で
ある場合には測定誤えが大きくなり、しかも、光源の発
光光量が変化すると測定誤差が生し、これを相殺するこ
とができない。
このように、従来の濃度測定装置では、4(11定ti
’?度が低く、安定性に欠け、再現性が低いため、バル
プ懸濁液のバルプ濃度を正確に測定することが困難であ
った。このため、原料調整工程において一定の品質のパ
ルプを調整し、抄紙工程において一定の品質の紙を抄く
には、製紙技術者の勘に頼ることが必要であり、極めて
非能率的な作業を余儀なくされていた。
’?度が低く、安定性に欠け、再現性が低いため、バル
プ懸濁液のバルプ濃度を正確に測定することが困難であ
った。このため、原料調整工程において一定の品質のパ
ルプを調整し、抄紙工程において一定の品質の紙を抄く
には、製紙技術者の勘に頼ることが必要であり、極めて
非能率的な作業を余儀なくされていた。
そこで、この発明は、パルプ懸濁液等、任意の懸濁液の
懸濁物濃度の測定精度を高めるとともに、その測定の安
定外及び再現性を高めた濃度測定装5 6 置の提供を目的とする。
懸濁物濃度の測定精度を高めるとともに、その測定の安
定外及び再現性を高めた濃度測定装5 6 置の提供を目的とする。
〔課題を解決するための手段]
(請求項1)
この発明の濃度測定装置は、上記目的を達或するため、
任意の懸濁物を懸濁した悲濁液(2)に光を照躬する光
源(発光素子8A)と、前記懸濁液から得られる光を受
け、前記懸濁液中の前記懸濁物の濃度を表ずレベル信号
を発生する受光手段(受光素子10、12)と、前記光
源から前記懸濁液に対する照射光量を検出する光量検出
手段(受光素子20)と、この光量検出手段の検出出力
に応じて前記レベル信号のレベルを補正する補正手段(
補正回路28、30)とを備えたものである。
任意の懸濁物を懸濁した悲濁液(2)に光を照躬する光
源(発光素子8A)と、前記懸濁液から得られる光を受
け、前記懸濁液中の前記懸濁物の濃度を表ずレベル信号
を発生する受光手段(受光素子10、12)と、前記光
源から前記懸濁液に対する照射光量を検出する光量検出
手段(受光素子20)と、この光量検出手段の検出出力
に応じて前記レベル信号のレベルを補正する補正手段(
補正回路28、30)とを備えたものである。
(請求項2)
また、この発明の濃度測定装置は、上記目的を達戒する
ため、任意の懸濁物を懸濁した懸濁液(2)に光を照射
する光tX(発光素子8A)と、前記懸濁液から得られ
る光を受番ノ、前記懸濁液中の前記懸濁物の濃度を表ず
第1のレベル信号を発生ずる第1の受光手段(受光素子
10)と、前記懸濁液から得られる光を受け、前記懸濁
液中の前記勉濁物の濃度を表す第2のレベル信号を発生
ずる第2の受光手段(受光素子12)と、前記光源から
前記懸濁液に対する照射光量を検出する光量検出手段(
受光素子20)と、この光量検出手段が検出した前記光
源の光量に応じて前記第1のレベル信号のレベルを補正
する第1の補正手段(補正回路28)と、前記光量検出
手段が検出した前記光源の光量に応じて前記第2のレベ
ル信号のレベルを補正する第2の補正手段(補正回路3
0)と、前記第1の補正手段によってレベルが補正され
た前記第1のレベルと、前記第2の補正手段によってレ
ベルが補正された前記第2のレベル信号との比によって
前記懸濁液における前記恕濁物の濃度を算出する演算手
段(演算装置32)とを(i!ifえたものである。
ため、任意の懸濁物を懸濁した懸濁液(2)に光を照射
する光tX(発光素子8A)と、前記懸濁液から得られ
る光を受番ノ、前記懸濁液中の前記懸濁物の濃度を表ず
第1のレベル信号を発生ずる第1の受光手段(受光素子
10)と、前記懸濁液から得られる光を受け、前記懸濁
液中の前記勉濁物の濃度を表す第2のレベル信号を発生
ずる第2の受光手段(受光素子12)と、前記光源から
前記懸濁液に対する照射光量を検出する光量検出手段(
受光素子20)と、この光量検出手段が検出した前記光
源の光量に応じて前記第1のレベル信号のレベルを補正
する第1の補正手段(補正回路28)と、前記光量検出
手段が検出した前記光源の光量に応じて前記第2のレベ
ル信号のレベルを補正する第2の補正手段(補正回路3
0)と、前記第1の補正手段によってレベルが補正され
た前記第1のレベルと、前記第2の補正手段によってレ
ベルが補正された前記第2のレベル信号との比によって
前記懸濁液における前記恕濁物の濃度を算出する演算手
段(演算装置32)とを(i!ifえたものである。
(請求項3)
そして、この発明の濃度測定装置は、上記目的を達或す
るため、前記光源と同一の駆動tX(駆動回路14)に
よって駆動される参照用光源(発光素子8B)を設置し
、この参照用光源の発光光量を前記光量検出手段に検出
させたことを特徴とするものである。
るため、前記光源と同一の駆動tX(駆動回路14)に
よって駆動される参照用光源(発光素子8B)を設置し
、この参照用光源の発光光量を前記光量検出手段に検出
させたことを特徴とするものである。
(請求項1)
濃度を測定すべき懸濁液に光源から光を照射すると、懸
濁液に入射した光は懸濁液中で反射、散乱、吸収、偏光
等を経て懸濁液から出る。この場合、入射された光は懸
濁液中の懸濁物によって反射され、受光手段に受光され
る。したがって、受光手段には、その懸濁液から得られ
た光のレヘノレ即ち、懸濁液の懸濁物濃度を表すレヘノ
レ信号が得られる。
濁液に入射した光は懸濁液中で反射、散乱、吸収、偏光
等を経て懸濁液から出る。この場合、入射された光は懸
濁液中の懸濁物によって反射され、受光手段に受光され
る。したがって、受光手段には、その懸濁液から得られ
た光のレヘノレ即ち、懸濁液の懸濁物濃度を表すレヘノ
レ信号が得られる。
そして、前記光源から前記懸濁液に対する照射光量を検
出し、その照射光量に応じてレヘノレ信号のレベルを補
正すると、ノイズ或分が相殺され、測定精度が高められ
る。
出し、その照射光量に応じてレヘノレ信号のレベルを補
正すると、ノイズ或分が相殺され、測定精度が高められ
る。
(請求項2)
また、この濃度測定装置では、第1及び第2の受光手段
によって懸濁液から得られた反射光又は透過光等の光が
受光され、個別に前記懸濁物の濃度を表す第1及び第2
のレベル信号を得るとともに、前記光源から前記懸濁液
に対する照射光量に応じて各レベル信号のレベル補正が
行われる。
によって懸濁液から得られた反射光又は透過光等の光が
受光され、個別に前記懸濁物の濃度を表す第1及び第2
のレベル信号を得るとともに、前記光源から前記懸濁液
に対する照射光量に応じて各レベル信号のレベル補正が
行われる。
そして、補正された各レベル信号の比から濃度を算出す
るので、光源の発光光量の変化等の影響やノイズ戒分が
相殺された精度の高い演算出力が得られる。
るので、光源の発光光量の変化等の影響やノイズ戒分が
相殺された精度の高い演算出力が得られる。
(請求項3)
そして、この濃度測定装置は、前記光源と同一の駆動源
によって駆動される参照用光源を設置したので、光源と
同一条件で点灯する参照用光源によって容易に照射光量
が検出される。
によって駆動される参照用光源を設置したので、光源と
同一条件で点灯する参照用光源によって容易に照射光量
が検出される。
[実 施 例]
以下、この発明を図面に示した実施例を参照して詳細に
説明する。
説明する。
第1図は、この発明の濃度測定装置の一実施例を示す。
濃度を測定すべき懸濁液2には、水等の液体に9
10
パルプ等の懸濁物として光を透過しないか或いは光を反
射する微細な固形物を懸濁したものが用いられる。この
懸濁液2が通流する通路4の一部、例えば、製紙では原
料調整工程又は抄紙工程等の原料移送路に濃度測定部6
が設置されている。
射する微細な固形物を懸濁したものが用いられる。この
懸濁液2が通流する通路4の一部、例えば、製紙では原
料調整工程又は抄紙工程等の原料移送路に濃度測定部6
が設置されている。
この濃度測定部6には、懸濁液2を遮断する遮蔽手段と
して遮蔽ガラス60が設置され、この遮蔽ガラス60を
通して懸濁液2に光し、を照射する光源として発光素子
8Aが設置されているとともに、懸濁液2で反射、屈折
、偏光、散乱等を経て懸濁液2から到来する光L,を受
ける第1及び第2の受光手段として受光素子10、12
が設置されている。発光素子8Aには参照用光源として
の発光素子8Bが直列に接続され、各発光素子8A、8
Bは共通の駆動源としての駆動回路14によって駆動さ
れる。
して遮蔽ガラス60が設置され、この遮蔽ガラス60を
通して懸濁液2に光し、を照射する光源として発光素子
8Aが設置されているとともに、懸濁液2で反射、屈折
、偏光、散乱等を経て懸濁液2から到来する光L,を受
ける第1及び第2の受光手段として受光素子10、12
が設置されている。発光素子8Aには参照用光源として
の発光素子8Bが直列に接続され、各発光素子8A、8
Bは共通の駆動源としての駆動回路14によって駆動さ
れる。
濃度測定部6には、第2図の(A)に示すように、発光
素子8A及び受光素子10、12を取り付ける円柱状を
威す取付部61とともにその前面部を覆う円板状の絞り
板62が設けられている。
素子8A及び受光素子10、12を取り付ける円柱状を
威す取付部61とともにその前面部を覆う円板状の絞り
板62が設けられている。
取イN1部61には、直径方向に特定の間隔を置いて変
位した位置に取付孔63、64、65が形威されている
。取付孔64は、前面側を小径にし、中途部に段部を設
けて径大にされており、受光面積の大なる受光素子10
が取り付けられるようになっている。また、絞り板62
には取付孔63に取り付けられた発光素子8Aの発光部
を臨ませる透孔66Aが形威されているとともに、受光
素子10、12に対する受光光量を絞る絞孔66l3、
66Cが形威されている。したがって、濃度測定部6に
は、第2図の(B)に示すように、取付部61に発光素
子8A及び受光素子10、12が取り付けられており、
この実施例では、受光素子10は受光素子12より僅か
に後方に変位した位置に取り付けられている。そして、
取付部61及び絞り板62は、固定孔67、68にわし
を挿入して図示しない測定部本体側に一体的に固定され
、図示していない防護ケース内に収容される。
位した位置に取付孔63、64、65が形威されている
。取付孔64は、前面側を小径にし、中途部に段部を設
けて径大にされており、受光面積の大なる受光素子10
が取り付けられるようになっている。また、絞り板62
には取付孔63に取り付けられた発光素子8Aの発光部
を臨ませる透孔66Aが形威されているとともに、受光
素子10、12に対する受光光量を絞る絞孔66l3、
66Cが形威されている。したがって、濃度測定部6に
は、第2図の(B)に示すように、取付部61に発光素
子8A及び受光素子10、12が取り付けられており、
この実施例では、受光素子10は受光素子12より僅か
に後方に変位した位置に取り付けられている。そして、
取付部61及び絞り板62は、固定孔67、68にわし
を挿入して図示しない測定部本体側に一体的に固定され
、図示していない防護ケース内に収容される。
そして、懸濁液2から得られる光L,は受光素子10、
12でそれぞれ受光され、受光素子10?受光出力は第
1の濃度測定回路を成す信号検出回路16、受光素子1
2の受光出力は第2の濃度測定回路を或ず信号検出回路
18に加えられ、受光素子10、12の各出力に応じて
濃度を表す第1及び第2のレベル信号V. 、V2が得
られる。
12でそれぞれ受光され、受光素子10?受光出力は第
1の濃度測定回路を成す信号検出回路16、受光素子1
2の受光出力は第2の濃度測定回路を或ず信号検出回路
18に加えられ、受光素子10、12の各出力に応じて
濃度を表す第1及び第2のレベル信号V. 、V2が得
られる。
また、発光素子8B側には、光量検出手段として受光素
子20が設置され、受光素子20には発光素子8Aの発
光光量、即ち、懸濁e.2に対する照射光量が発光素子
8Bを通して間接的に検出される。即ち、この受光素子
20の出力が参照用測定回路としての信号検出回路22
に加えられ、イ1コ号検出回路22には照射光量を表す
レベル信号■3が得られ、第1及び第2の補正信号形或
回路24、26に加えられている。各補正信号形或回路
24、26ではレベル信号V3に応した補正信ΣV31
、,2が形成され、袖正信”;y V.,はレベル信号
■,を補正する第1の補正手段として設置された補正回
路28に加えられ、また、補正信号v3■はレベル信号
V2を補正する第2の補正手段として設置された袖正回
路30に加えられている。
子20が設置され、受光素子20には発光素子8Aの発
光光量、即ち、懸濁e.2に対する照射光量が発光素子
8Bを通して間接的に検出される。即ち、この受光素子
20の出力が参照用測定回路としての信号検出回路22
に加えられ、イ1コ号検出回路22には照射光量を表す
レベル信号■3が得られ、第1及び第2の補正信号形或
回路24、26に加えられている。各補正信号形或回路
24、26ではレベル信号V3に応した補正信ΣV31
、,2が形成され、袖正信”;y V.,はレベル信号
■,を補正する第1の補正手段として設置された補正回
路28に加えられ、また、補正信号v3■はレベル信号
V2を補正する第2の補正手段として設置された袖正回
路30に加えられている。
?正回路28では、レベル信号V,が補正イ菖号■3,
によって袖正され、その抽正出力としてレベル信号V
IGが得られ、また、補正回路30でば、レベル信号■
2が補正信号V3■によって補正され、その補正出力と
してレベル信号V20が得られる。
によって袖正され、その抽正出力としてレベル信号V
IGが得られ、また、補正回路30でば、レベル信号■
2が補正信号V3■によって補正され、その補正出力と
してレベル信号V20が得られる。
そして、補正回路28、30から得られたレベル信号V
IO、V20は、濃度を算出する演算装置32に加えら
れる。演算装W32は、アナログ演算手段又はディジタ
ル演算手段によって構成され、各レベル信号VIO、V
ZOの比(V20/VIO)によって濃度が算出され、
出力9:;1了34から濃度出力電圧■。が得られる。
IO、V20は、濃度を算出する演算装置32に加えら
れる。演算装W32は、アナログ演算手段又はディジタ
ル演算手段によって構成され、各レベル信号VIO、V
ZOの比(V20/VIO)によって濃度が算出され、
出力9:;1了34から濃度出力電圧■。が得られる。
以上の構成とすれば、懸濁液2に発光素子8Aから光し
、が照射されると、受光素子10、12には反射、屈折
、散乱、偏光等を経て懸濁液2から得られる光L,が受
光され、信−℃検出四路16、18には懸濁液2の懸濁
物濃度を表すレベル信号V,、■2が得られる。
、が照射されると、受光素子10、12には反射、屈折
、散乱、偏光等を経て懸濁液2から得られる光L,が受
光され、信−℃検出四路16、18には懸濁液2の懸濁
物濃度を表すレベル信号V,、■2が得られる。
そして、発光素子8Aと共通の駆動回路14によって駆
動される発光素子8Bを通して発光素子13 14 ?Aの発光光量、即ち、懸濁液2に対する照射光量が間
接的に受光素子20に検出され、信号検出回路22には
その照射光量を表すレベル信号V3が得られる。{m正
信号形成回路2/I、26には、レベル信号V34こ対
応じて補正信号■3,、■3■が形成され、補正回路2
8、30に加えられる。そして、信号検出回路16、1
8で得られたレベル信号V, 、V2は、補正信号V3
1, v3■によって個別に補正され、レベル信号V,
。、V2。に変換される。したがって、演算装置32で
は、レベル信号Lo、V20の比が求められ、濃度を表
す濃度出力電圧■。が得られる。
動される発光素子8Bを通して発光素子13 14 ?Aの発光光量、即ち、懸濁液2に対する照射光量が間
接的に受光素子20に検出され、信号検出回路22には
その照射光量を表すレベル信号V3が得られる。{m正
信号形成回路2/I、26には、レベル信号V34こ対
応じて補正信号■3,、■3■が形成され、補正回路2
8、30に加えられる。そして、信号検出回路16、1
8で得られたレベル信号V, 、V2は、補正信号V3
1, v3■によって個別に補正され、レベル信号V,
。、V2。に変換される。したがって、演算装置32で
は、レベル信号Lo、V20の比が求められ、濃度を表
す濃度出力電圧■。が得られる。
次に、第3図の(A)は、この発明の濃度測定装置にお
ける発光素子8A、8Bの駆動回路14の具体的な回路
構戒例を示し、第3図の(B)はスイッチング駆動のた
めのスイッチングパルス発生手段を示す。
ける発光素子8A、8Bの駆動回路14の具体的な回路
構戒例を示し、第3図の(B)はスイッチング駆動のた
めのスイッチングパルス発生手段を示す。
駆動回路14には、発光ダイオードで構威された発光素
子8A、8Bに駆動電流I,を流す駆動l・ランジスタ
140が設許され、この駆動トランジスタ140のコレ
クタには電源電圧VCCが加えられ、また、その工≧ツ
タと接地との間には滅流抵抗142を介して発光素子8
B、8Aが直列に接続されている。駆動1−ランジスタ
l/10のベースには、光量調整部36からの光量調整
電圧■,が抵抗144を介して加えられているとともに
、そのヘース人力を断続的に遮断して駆動トランジスタ
140をスイッチングさせるスイッチング回路146が
接続されている。スイッチング回路146は、半導体ス
イッチ回路等で構或され、スイッチングパルス発生手段
としてのスイッチングパルス発生部38から加えられる
第5図のAに示すスイッチングパルスφ1の7ffi(
L)レベル区間で導通状態、その高(H)レベル区間で
非導通状態ムこなり、周期的なスイッチング動作を繰り
返す。
子8A、8Bに駆動電流I,を流す駆動l・ランジスタ
140が設許され、この駆動トランジスタ140のコレ
クタには電源電圧VCCが加えられ、また、その工≧ツ
タと接地との間には滅流抵抗142を介して発光素子8
B、8Aが直列に接続されている。駆動1−ランジスタ
l/10のベースには、光量調整部36からの光量調整
電圧■,が抵抗144を介して加えられているとともに
、そのヘース人力を断続的に遮断して駆動トランジスタ
140をスイッチングさせるスイッチング回路146が
接続されている。スイッチング回路146は、半導体ス
イッチ回路等で構或され、スイッチングパルス発生手段
としてのスイッチングパルス発生部38から加えられる
第5図のAに示すスイッチングパルスφ1の7ffi(
L)レベル区間で導通状態、その高(H)レベル区間で
非導通状態ムこなり、周期的なスイッチング動作を繰り
返す。
そして、光量調整部36には、電源電圧■。,を分圧し
て光量調整電圧VCを形或する可変抵抗360が設置さ
れ、可変抵抗360によって得られた光量調整電圧V。
て光量調整電圧VCを形或する可変抵抗360が設置さ
れ、可変抵抗360によって得られた光量調整電圧V。
がハッファ回路362を通して出力される。
l5
1 (i
?のような構或とずれば、駆動トランジスタ140には
、ヘースに光N調整部36から光量調整電圧VCが加え
られて専通条件が戒立し、スイッチング回路146のス
インチング動作により、第5図のDに示すように、断続
的な駆動電流IDが得られる。そこで、発光素子8A,
8Bは、断続的な駆動電流IDのHレベル区間で点灯、
そのLレベル区問で消灯する。したがって、発光素子8
Aから出た光I,8が懸濁液2に照射され、また、発光
素子8Bから出た光I−、が受光素子20に入力される
。
、ヘースに光N調整部36から光量調整電圧VCが加え
られて専通条件が戒立し、スイッチング回路146のス
インチング動作により、第5図のDに示すように、断続
的な駆動電流IDが得られる。そこで、発光素子8A,
8Bは、断続的な駆動電流IDのHレベル区間で点灯、
そのLレベル区問で消灯する。したがって、発光素子8
Aから出た光I,8が懸濁液2に照射され、また、発光
素子8Bから出た光I−、が受光素子20に入力される
。
次に、第4図は、第1図に示した信号検出回路l6、1
8、22、補正回路28、30及び補正信号形成回路2
4、26の具体的な回路構成例を示す。
8、22、補正回路28、30及び補正信号形成回路2
4、26の具体的な回路構成例を示す。
懸濁液2から得られた光Lrは、受光ダイオードで構威
された受光素子10、12に受光され、そのレベルに応
した受光電流T rl、Iわ■が流れる。
された受光素子10、12に受光され、そのレベルに応
した受光電流T rl、Iわ■が流れる。
また、発光素子8Bに対応した受光素子20にはその光
し、が受光され、そのレベルに応した受光電流■,が流
れる。受光電流1,,4上信号検出回路16、受光電流
Ir2は信号検出回路18、また、受光′屯流■,は信
号検出回路22に加えられる。
し、が受光され、そのレベルに応した受光電流■,が流
れる。受光電流1,,4上信号検出回路16、受光電流
Ir2は信号検出回路18、また、受光′屯流■,は信
号検出回路22に加えられる。
受光電流I.が加えられると、信号検出回路16の受光
電流入力部に設置された電流・電圧変換回路(1/V)
160で電圧に変換された後、増幅器162で増幅され
、41}域通過フィルタ164で不要な周波数戒分が除
かれて、第6図のJに示す出力が得られる。そして、抵
抗165及びキャパシタ166からなるフィルタ167
に加えられて不要な直流或分が除かれ、第6図のKに示
す出力が得られ、この出力がスイソチング回路16日を
経て第6図のMに示ずレベル信号V,に変換される。ス
イソチング回路168は、半導体スイソチ回路等で構威
され、スインヂングパルス発生部38から加えられる第
5図のA及びBに示すスインチングパルスφ,、φ2に
より、第5図のCに示す周期的なスイッチング動作を繰
り返す。即ち、スイソチングバルスφ1の区間tφのH
レベル区間で等価的な接点a側が導通状態、その他の区
間17 一1B で接点a側が非導通ないし接点b側が導通状態となり、
発光素子8A、8Bの点灯間隔に同期した導通区間を以
て周期的なスイッチング動作を繰り返す。この場合、ス
イッチング回路168は、各スイッチングパルスφ1、
φ2が共にHレベルになる区間で接点a,bの何れにも
導通しない中間状態を呈し、第5図のCのFに示すよう
に、ON、OFFの中間であるフローティング状態とな
る。
電流入力部に設置された電流・電圧変換回路(1/V)
160で電圧に変換された後、増幅器162で増幅され
、41}域通過フィルタ164で不要な周波数戒分が除
かれて、第6図のJに示す出力が得られる。そして、抵
抗165及びキャパシタ166からなるフィルタ167
に加えられて不要な直流或分が除かれ、第6図のKに示
す出力が得られ、この出力がスイソチング回路16日を
経て第6図のMに示ずレベル信号V,に変換される。ス
イソチング回路168は、半導体スイソチ回路等で構威
され、スインヂングパルス発生部38から加えられる第
5図のA及びBに示すスインチングパルスφ,、φ2に
より、第5図のCに示す周期的なスイッチング動作を繰
り返す。即ち、スイソチングバルスφ1の区間tφのH
レベル区間で等価的な接点a側が導通状態、その他の区
間17 一1B で接点a側が非導通ないし接点b側が導通状態となり、
発光素子8A、8Bの点灯間隔に同期した導通区間を以
て周期的なスイッチング動作を繰り返す。この場合、ス
イッチング回路168は、各スイッチングパルスφ1、
φ2が共にHレベルになる区間で接点a,bの何れにも
導通しない中間状態を呈し、第5図のCのFに示すよう
に、ON、OFFの中間であるフローティング状態とな
る。
したがって、スインチング回路168では、等価的な接
点a側の導通区間によって第6図のMに示すレベル信号
Vlが得られる。このレベル信号V1の間に存在するレ
ベルFは、スイッチング回路168の接点が中間に位置
するためのフローティングレベルを表す。
点a側の導通区間によって第6図のMに示すレベル信号
Vlが得られる。このレベル信号V1の間に存在するレ
ベルFは、スイッチング回路168の接点が中間に位置
するためのフローティングレベルを表す。
また、受光電流L2が信号検出回路18に加えられると
、同様に、電流・電圧変換回路180で電圧に変換され
た後、増幅器1B2で増幅され、帯域通過フィルタ18
4で不要な周波数或分が除かれて第7図の○に示す出力
が得られる。そして、抵抗185及びキャパシタ186
からなるフィルク187に加えられて不要な直流戒分が
除かれ、第7図のPに示す出力が得られ、この出力がス
イッチング回路188を経て第7図のQに示ずレベル信
号V2に変換される。スイッチング回路188は、スイ
ッチング回路168と同様に第5図のA及びBに示すス
イッチングパルスφ1、φ2により、第5図のCに示す
周期的なスイッチング動作を繰り返す。即ち、スイッチ
ングパルスφ,の区間tφにおけるHレベル区間で等価
的な接点a側が導通状態、その他の区間で接点a側が非
導通ないし接点b側が導通状態となるとともに、各スイ
ッチングパルスφ1、φ2が共にHレベルとなる区間で
フローティング状態Fとなる周期的なスイッチング動作
を繰り返す。したがって、スイッチング回路188では
、等価的な接点a側の導通区間によって第7図のQに示
ずレベル信号■2が得られる。このレベル信号■2の間
に存在するレベルFは、スイッチング回路188の接点
が中間に位置するためのフローティングレベルを表す。
、同様に、電流・電圧変換回路180で電圧に変換され
た後、増幅器1B2で増幅され、帯域通過フィルタ18
4で不要な周波数或分が除かれて第7図の○に示す出力
が得られる。そして、抵抗185及びキャパシタ186
からなるフィルク187に加えられて不要な直流戒分が
除かれ、第7図のPに示す出力が得られ、この出力がス
イッチング回路188を経て第7図のQに示ずレベル信
号V2に変換される。スイッチング回路188は、スイ
ッチング回路168と同様に第5図のA及びBに示すス
イッチングパルスφ1、φ2により、第5図のCに示す
周期的なスイッチング動作を繰り返す。即ち、スイッチ
ングパルスφ,の区間tφにおけるHレベル区間で等価
的な接点a側が導通状態、その他の区間で接点a側が非
導通ないし接点b側が導通状態となるとともに、各スイ
ッチングパルスφ1、φ2が共にHレベルとなる区間で
フローティング状態Fとなる周期的なスイッチング動作
を繰り返す。したがって、スイッチング回路188では
、等価的な接点a側の導通区間によって第7図のQに示
ずレベル信号■2が得られる。このレベル信号■2の間
に存在するレベルFは、スイッチング回路188の接点
が中間に位置するためのフローティングレベルを表す。
そして、受光電流■,は、信号検出回路22における電
流・電圧変換回路220、増幅器222、帯域通過フィ
ルタ224、抵抗225及びキャパシタ226からなる
フィルタ227並びにスイッチング回路228を経て、
第5図のEに示すレベル信閃V3に変換される。スイン
ヂング回路228は、スイッチング回路168と同様に
第5図のA及びBに示すスイッチングバルスφ,、φ2
により、第5図のCに示す周期的なスイッチング動作を
繰り返し、スイッチング回路228には、等価的な接点
a側の導通区間によって第5図のEに示ずレベル信号■
3が得られる。このレベル信号V3の間に存在するレベ
ルFは、スイッチング回路228の接点が中間に位置す
るためのフローティンダレベルを表す。そして、このレ
ベル信号■3は、バッファ回路40を経て補正信号形威
回路24、26に加えられている。
流・電圧変換回路220、増幅器222、帯域通過フィ
ルタ224、抵抗225及びキャパシタ226からなる
フィルタ227並びにスイッチング回路228を経て、
第5図のEに示すレベル信閃V3に変換される。スイン
ヂング回路228は、スイッチング回路168と同様に
第5図のA及びBに示すスイッチングバルスφ,、φ2
により、第5図のCに示す周期的なスイッチング動作を
繰り返し、スイッチング回路228には、等価的な接点
a側の導通区間によって第5図のEに示ずレベル信号■
3が得られる。このレベル信号V3の間に存在するレベ
ルFは、スイッチング回路228の接点が中間に位置す
るためのフローティンダレベルを表す。そして、このレ
ベル信号■3は、バッファ回路40を経て補正信号形威
回路24、26に加えられている。
補正信号形威回路24にはゲイン調整手段として増幅器
240が設置され、増幅器240の逆相入力端子(一)
側に抵抗241を介してレベル信号V3が加えられ、ま
た、増幅器240の逆相入力端子(−)と出力端子との
間にゲイン調整用の可変抵抗242が接続されている。
240が設置され、増幅器240の逆相入力端子(一)
側に抵抗241を介してレベル信号V3が加えられ、ま
た、増幅器240の逆相入力端子(−)と出力端子との
間にゲイン調整用の可変抵抗242が接続されている。
この増幅器240の後段部にはオフセット調整手段とし
て増幅器243が設置され、増幅器240の出力が抵抗
2ぺ4を介して逆相人力端子(−)に加えられている。
て増幅器243が設置され、増幅器240の出力が抵抗
2ぺ4を介して逆相人力端子(−)に加えられている。
また、オフセットレベル設定手段として可変抵抗245
が設置され、この可変抵抗245で得られた電圧が抵抗
246を介して逆相人力端子(=)に加えられていると
ともに、抵抗247を介して出力端子側に加えられてい
る。したがって、この補正信号形戒回路24では、増幅
器240側で可変抵抗242で設定されたレベルによっ
てゲイン調整が施された後、増幅器243側で適当なオ
フセット調整が行われて、第5図のFに示す補正信号V
31が形威される。
が設置され、この可変抵抗245で得られた電圧が抵抗
246を介して逆相人力端子(=)に加えられていると
ともに、抵抗247を介して出力端子側に加えられてい
る。したがって、この補正信号形戒回路24では、増幅
器240側で可変抵抗242で設定されたレベルによっ
てゲイン調整が施された後、増幅器243側で適当なオ
フセット調整が行われて、第5図のFに示す補正信号V
31が形威される。
一方、補正信号形或回路26には、補正信号形威回路2
4と同様に、ゲイン調整手段として増幅器260が設置
され、増幅器260の逆相人力端子(−)側に抵抗26
1を介してレベル信号V3が加えられ、また、増幅器2
60の逆相人力端子21 22 ?−)と出力端子との間にゲイン調整用の可変抵抗26
2が接続されている。この増幅H260の後段部にはオ
フセソト調整手段として増幅器263が設置され、増幅
器260の出力が抵抗264を介して逆相人ノj端子(
−)に加えられている。
4と同様に、ゲイン調整手段として増幅器260が設置
され、増幅器260の逆相人力端子(−)側に抵抗26
1を介してレベル信号V3が加えられ、また、増幅器2
60の逆相人力端子21 22 ?−)と出力端子との間にゲイン調整用の可変抵抗26
2が接続されている。この増幅H260の後段部にはオ
フセソト調整手段として増幅器263が設置され、増幅
器260の出力が抵抗264を介して逆相人ノj端子(
−)に加えられている。
また、オフセンl・レベル設定手段として可変抵抗26
5が設置され、この可変抵抗265で得られた電圧が抵
抗266を介して逆相入力端子(=)に加えられている
とともに、抵抗267を介して出力端子側に加えられて
いる。したがって、この補正信号形成回路26では、増
幅器260側で可変抵抗262で設定されたレベルによ
ってゲイン調整が施された後、増幅器263側で適当な
オフセット調整が行われて、第5図のGに示す補正信号
■3■が形成される。
5が設置され、この可変抵抗265で得られた電圧が抵
抗266を介して逆相入力端子(=)に加えられている
とともに、抵抗267を介して出力端子側に加えられて
いる。したがって、この補正信号形成回路26では、増
幅器260側で可変抵抗262で設定されたレベルによ
ってゲイン調整が施された後、増幅器263側で適当な
オフセット調整が行われて、第5図のGに示す補正信号
■3■が形成される。
そして、補正回路28には減算器280が設置され、そ
の後段に第5図のA及びBに示ずスイ・ノチングパルス
φ1、φ2により、第5図のCに示す周期的なスイッチ
ング動作を繰り返すスイソチング回路282が設置され
ている。したがって、?算器280では、レベル信号■
,から補正信号Vfflが減算され、第6図のNに示す
ように、補正されたレベル信号VI′がスイッチング回
路282を通して取り出される。
の後段に第5図のA及びBに示ずスイ・ノチングパルス
φ1、φ2により、第5図のCに示す周期的なスイッチ
ング動作を繰り返すスイソチング回路282が設置され
ている。したがって、?算器280では、レベル信号■
,から補正信号Vfflが減算され、第6図のNに示す
ように、補正されたレベル信号VI′がスイッチング回
路282を通して取り出される。
また、補正回路30には減算器300が設置され、その
後段に第5図のA及びBに示すスイッチングパルスφ1
、φ2により、第5図のCに示す周期的なスイッチング
動作を繰り返すスイッチング回路302が設置されてい
る。したがって、減算器300では、レベル信号V2か
ら補正信号V3■が減算され、第7図のSに示すように
、補正されたレベル信号■2′がスイソチング回路3o
2を通して取り出される。
後段に第5図のA及びBに示すスイッチングパルスφ1
、φ2により、第5図のCに示す周期的なスイッチング
動作を繰り返すスイッチング回路302が設置されてい
る。したがって、減算器300では、レベル信号V2か
ら補正信号V3■が減算され、第7図のSに示すように
、補正されたレベル信号■2′がスイソチング回路3o
2を通して取り出される。
各補正回路28、30の後段には応答時間を調整する手
段として応答時間調整回路42、44が設置され、応答
時間調整回路42は可変抵抗420及びキャパシタ42
2からなる積分回路、同様に、応答時間調整回路44は
可変抵抗440及びキャパシタ442からなる積分回路
で構成されている。したがって、レベル信号Vl′は応
答時間調整回路42及びその後段に設置されたバッファ
回路46を経てレベル信号VIGとして出力端子50か
ら取り出され、また、レベル信号V2′は応答時間調整
回路44及びその後段に設置されたバソファ回路48を
経てレベル信号V26として出力端子52から取り出さ
れる。各レベル信号■1o、V20は第1図に示してい
る演算装置32に加えられ、各レベル信号V,o, V
2.の比から、第7図のTに示すように、濃度出力電圧
■。が得られる。
段として応答時間調整回路42、44が設置され、応答
時間調整回路42は可変抵抗420及びキャパシタ42
2からなる積分回路、同様に、応答時間調整回路44は
可変抵抗440及びキャパシタ442からなる積分回路
で構成されている。したがって、レベル信号Vl′は応
答時間調整回路42及びその後段に設置されたバッファ
回路46を経てレベル信号VIGとして出力端子50か
ら取り出され、また、レベル信号V2′は応答時間調整
回路44及びその後段に設置されたバソファ回路48を
経てレベル信号V26として出力端子52から取り出さ
れる。各レベル信号■1o、V20は第1図に示してい
る演算装置32に加えられ、各レベル信号V,o, V
2.の比から、第7図のTに示すように、濃度出力電圧
■。が得られる。
次に、第8図及び第9図は、この発明の濃度測定装置の
他の実施例を示す。
他の実施例を示す。
前記実施例では、発光素子8Aと受光素子IO、l2と
を近接位置に設置し、発光素子8Aから出た光L,を懸
濁液2に入射し、懸濁液2から得られた光L,を各受光
素子10、12で受光し、両者の比から濃度を測定する
ようにしたが、第8因に示すように、通路4に跨がって
発光素子8Aと受光素子10、12とを対向させて配置
し、発光素子8Aから出た光L,の中、懸濁液2から得
られた光としての透過光T−、を受光素子10、12で
受光し、両者の比からパルブ濃度を測定するようにして
もよい。バルプは光を反射して透過しないので、透過光
L,はパルプ等の懸濁物によって滅衰するので、前記実
施例と同様にパルプ濃度を測定することができる。
を近接位置に設置し、発光素子8Aから出た光L,を懸
濁液2に入射し、懸濁液2から得られた光L,を各受光
素子10、12で受光し、両者の比から濃度を測定する
ようにしたが、第8因に示すように、通路4に跨がって
発光素子8Aと受光素子10、12とを対向させて配置
し、発光素子8Aから出た光L,の中、懸濁液2から得
られた光としての透過光T−、を受光素子10、12で
受光し、両者の比からパルブ濃度を測定するようにして
もよい。バルプは光を反射して透過しないので、透過光
L,はパルプ等の懸濁物によって滅衰するので、前記実
施例と同様にパルプ濃度を測定することができる。
また、前記実施例では発光素子8Aに直列に発光素子8
Bを接続し、懸濁液2に対する照射光量を発光素子8B
を通して検出したが、第9図に示すように、発光素子8
Aに対して受光素子20を設置して発光素子8Aから照
射光量を直接検出するようにしてもよい。
Bを接続し、懸濁液2に対する照射光量を発光素子8B
を通して検出したが、第9図に示すように、発光素子8
Aに対して受光素子20を設置して発光素子8Aから照
射光量を直接検出するようにしてもよい。
なお、実施例では、懸濁液の濃度測定としてパルプ懸濁
液を例に取って説明したが、この発明は、光を透過可能
な液体中に光を透過しない懸濁物が懸濁された悲濁液に
おける懸濁物濃度の測定に用いることができ、バルプ濃
度の測定に限定されるものではない。
液を例に取って説明したが、この発明は、光を透過可能
な液体中に光を透過しない懸濁物が懸濁された悲濁液に
おける懸濁物濃度の測定に用いることができ、バルプ濃
度の測定に限定されるものではない。
実験は第1図に示した濃度測定装置を用いて行い、比較
のために1つの光源に対して2つの受光2 5 ー 26 ?子を設置した濃度計を用いた。
のために1つの光源に対して2つの受光2 5 ー 26 ?子を設置した濃度計を用いた。
第10図は、従来の濃度剖による出力特性曲線を示す。
この特性では、パルブ懸濁液濃度が約1%以下の領域で
濃度出力電圧V。が極端に上昇しており、低濃度領域で
はノイズ成分の割合が真の懸濁液濃度を表す信号成分に
対して大きくなり、低濃度に移行する程、測定精度が低
下していることを表している。
濃度出力電圧V。が極端に上昇しており、低濃度領域で
はノイズ成分の割合が真の懸濁液濃度を表す信号成分に
対して大きくなり、低濃度に移行する程、測定精度が低
下していることを表している。
次に、第11図は、この発明にかかる濃度測定装置の出
力特性曲線を示す。この特性では、パルプ懸濁液濃度が
約l%以下の領域においても、従来のような濃度出力電
圧V。の極端な上昇はなく、直線性が改善されているこ
とが分かる。
力特性曲線を示す。この特性では、パルプ懸濁液濃度が
約l%以下の領域においても、従来のような濃度出力電
圧V。の極端な上昇はなく、直線性が改善されているこ
とが分かる。
次に、第12図は、従来の濃度計による光源の発光効率
が変化した場合の出力特性曲線を示し、特性aは発光効
■率が100%、特性bは発光効率が90%、特性Cは
発光効率が80%である。このように、発光効率の低下
に応じて濃度出力電圧■。が上昇するのは、ノイズ威分
の割合が真の懸濁液濃度を表す信号戒分に対して大きく
なるためである。
が変化した場合の出力特性曲線を示し、特性aは発光効
■率が100%、特性bは発光効率が90%、特性Cは
発光効率が80%である。このように、発光効率の低下
に応じて濃度出力電圧■。が上昇するのは、ノイズ威分
の割合が真の懸濁液濃度を表す信号戒分に対して大きく
なるためである。
この場合、光源の発光効率の変化とは別に光源に対する
受光素子の設置位置や、光源又は受光素子を保持してい
る構造によっても、濃度出力電圧Voが変化する。
受光素子の設置位置や、光源又は受光素子を保持してい
る構造によっても、濃度出力電圧Voが変化する。
次に、第13図は、この発明にかかる濃度測定装置によ
る光源の発光効率が変化した場合の実験結果を示す。発
光効率が減少しても、この発明にかかる濃度測定装置で
は、出力特性に変化はなく、安定した濃度出力電圧■。
る光源の発光効率が変化した場合の実験結果を示す。発
光効率が減少しても、この発明にかかる濃度測定装置で
は、出力特性に変化はなく、安定した濃度出力電圧■。
が得られている。
以上説明したように、この発明によれば、次のような効
果が得られる。
果が得られる。
(a) 光源から懸濁液に対する照射光量を検出し、
その照射光量に応じてレベル信号のレベルを補正すると
、光源の発光光量の変化等の影響やノイズ成分が相殺さ
れるので、パルプ懸濁液等、任意の懸濁液における懸濁
物濃度の測定精度を高めることができるとともに、その
測定の安定性及び再現性を高めることができる。
その照射光量に応じてレベル信号のレベルを補正すると
、光源の発光光量の変化等の影響やノイズ成分が相殺さ
れるので、パルプ懸濁液等、任意の懸濁液における懸濁
物濃度の測定精度を高めることができるとともに、その
測定の安定性及び再現性を高めることができる。
(b) 補正された各レベル信号の比から濃度を算出
するので、光源の発光光量の変化等の影響やノイズ成分
が相殺された精度の高い演算出力を得ることができる。
するので、光源の発光光量の変化等の影響やノイズ成分
が相殺された精度の高い演算出力を得ることができる。
(C) 同一の駆動源によって駆動される参照用光源
を設置したので、光源と同一条件で点灯する参照用光源
によって容易に照射光量を検出でき、測定精度を向上さ
せることができる。
を設置したので、光源と同一条件で点灯する参照用光源
によって容易に照射光量を検出でき、測定精度を向上さ
せることができる。
第I図はこの発明の濃度測定装置の一実施例を示すブロ
ック図、 第2図は第1図に示した濃度測定装置における濃度測定
部の具体的な構成例を示す図、第3図は第1図に示した
濃度測定装置における発光素子の駆動回路の具体的な回
路構威例とともにスイッチングパルス発生手段を示す回
路図、第4図は第1図に示した濃度測定装置における信
号検出回路、補正回路及び補正信号形威回路の具体的な
回路構成例を示す回路図、 第5図ないし第7図は第3図及び第4図に示した濃度測
定装置の動作を示す図、 第8図及び第9図はこの発明の濃度測定装置の他の実施
例を示す図、 第10図ないし第13図はこの発明及び従来の濃度測定
装置の実験結果を示す図である。 2・・・懸濁液 8A・・・発光素子(光tj.) 8B・・・発光素子(参照用光源) IO・・・受光素子(第1の受光手段)■2・・ 受光
素子(第2の受光手段)14・・・駆動回路(駆動源) 16、18、22・・・信号検出回路 20・・・受光素子(光量検出手段) 2日・・・補正回路(第1の補正手段)30・・・補正
回路(第2の補正手段)32・・・演算装置(演算手段
) 29 30 (A) 第2図 (濃度測定部の具体的な構成例) 第 10 図 第 1I 図 バルブ懸濁液濃度 第 l2 図 バルブ懸濁液濃度 第 13 図
ック図、 第2図は第1図に示した濃度測定装置における濃度測定
部の具体的な構成例を示す図、第3図は第1図に示した
濃度測定装置における発光素子の駆動回路の具体的な回
路構威例とともにスイッチングパルス発生手段を示す回
路図、第4図は第1図に示した濃度測定装置における信
号検出回路、補正回路及び補正信号形威回路の具体的な
回路構成例を示す回路図、 第5図ないし第7図は第3図及び第4図に示した濃度測
定装置の動作を示す図、 第8図及び第9図はこの発明の濃度測定装置の他の実施
例を示す図、 第10図ないし第13図はこの発明及び従来の濃度測定
装置の実験結果を示す図である。 2・・・懸濁液 8A・・・発光素子(光tj.) 8B・・・発光素子(参照用光源) IO・・・受光素子(第1の受光手段)■2・・ 受光
素子(第2の受光手段)14・・・駆動回路(駆動源) 16、18、22・・・信号検出回路 20・・・受光素子(光量検出手段) 2日・・・補正回路(第1の補正手段)30・・・補正
回路(第2の補正手段)32・・・演算装置(演算手段
) 29 30 (A) 第2図 (濃度測定部の具体的な構成例) 第 10 図 第 1I 図 バルブ懸濁液濃度 第 l2 図 バルブ懸濁液濃度 第 13 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、任意の懸濁物を懸濁した懸濁液に光を照射する光源
と、 前記懸濁液から得られる光を受け、前記懸濁液中の前記
懸濁物の濃度を表すレベル信号を発生する受光手段と、 前記光源から前記懸濁液に対する照射光量を検出する光
量検出手段と、 この光量検出手段の検出出力に応じて前記レベル信号の
レベルを補正する補正手段と、 を備えたことを特徴とする濃度測定装置。 2、任意の懸濁物を懸濁した懸濁液に光を照射する光源
と、 前記懸濁液から得られる光を受け、前記懸濁液中の前記
懸濁物の濃度を表す第1のレベル信号を発生する第1の
受光手段と、 前記懸濁液から得られる光を受け、前記懸濁液中の前記
懸濁物の濃度を表す第2のレベル信号を発生する第2の
受光手段と、 前記光源から前記懸濁液に対する照射光量を検出する光
量検出手段と、 この光量検出手段が検出した前記光源の光量に応じて前
記第1のレベル信号のレベルを補正する第1の補正手段
と、 前記光量検出手段が検出した前記光源の光量に応じて前
記第2のレベル信号のレベルを補正する第2の補正手段
と、 前記第1の補正手段によってレベルが補正された前記第
1のレベルと、前記第2の補正手段によってレベルが補
正された前記第2のレベル信号との比によって前記懸濁
液における前記懸濁物の濃度を算出する演算手段と、 を備えたことを特徴とする濃度測定装置。 3、前記光源と同一の駆動源によって駆動される参照用
光源を設置し、この参照用光源の発光光量を前記光量検
出手段に検出させたことを特徴とする請求項1又は2記
載の濃度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1234285A JP2692687B2 (ja) | 1989-09-08 | 1989-09-08 | 濃度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1234285A JP2692687B2 (ja) | 1989-09-08 | 1989-09-08 | 濃度測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0396834A true JPH0396834A (ja) | 1991-04-22 |
| JP2692687B2 JP2692687B2 (ja) | 1997-12-17 |
Family
ID=16968584
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1234285A Expired - Fee Related JP2692687B2 (ja) | 1989-09-08 | 1989-09-08 | 濃度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2692687B2 (ja) |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50160088A (ja) * | 1974-06-17 | 1975-12-25 | ||
| JPS5651646A (en) * | 1979-10-02 | 1981-05-09 | Ricoh Co Ltd | Toner concentration sensor |
| JPS5654338A (en) * | 1979-10-11 | 1981-05-14 | Horiba Ltd | Simple checker of gas analyzer |
| JPS59210347A (ja) * | 1983-05-16 | 1984-11-29 | Nohmi Bosai Kogyo Co Ltd | 散乱光式煙感知器の機能試験装置 |
| JPS60154142A (ja) * | 1984-01-24 | 1985-08-13 | Matsushita Electric Works Ltd | 光電式煙感知器 |
-
1989
- 1989-09-08 JP JP1234285A patent/JP2692687B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50160088A (ja) * | 1974-06-17 | 1975-12-25 | ||
| JPS5651646A (en) * | 1979-10-02 | 1981-05-09 | Ricoh Co Ltd | Toner concentration sensor |
| JPS5654338A (en) * | 1979-10-11 | 1981-05-14 | Horiba Ltd | Simple checker of gas analyzer |
| JPS59210347A (ja) * | 1983-05-16 | 1984-11-29 | Nohmi Bosai Kogyo Co Ltd | 散乱光式煙感知器の機能試験装置 |
| JPS60154142A (ja) * | 1984-01-24 | 1985-08-13 | Matsushita Electric Works Ltd | 光電式煙感知器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2692687B2 (ja) | 1997-12-17 |
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Legal Events
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