JPH0396839A - 濃度測定装置 - Google Patents
濃度測定装置Info
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- JPH0396839A JPH0396839A JP23428689A JP23428689A JPH0396839A JP H0396839 A JPH0396839 A JP H0396839A JP 23428689 A JP23428689 A JP 23428689A JP 23428689 A JP23428689 A JP 23428689A JP H0396839 A JPH0396839 A JP H0396839A
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- Japan
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- suspension
- level signal
- level
- concentration
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、光を測定媒体とした濃度測定装置であって
、パルプ懸濁液におけるパルプ濃度の測定等、懸濁液の
濃度測定に用いられる濃度測定装置に関する。
、パルプ懸濁液におけるパルプ濃度の測定等、懸濁液の
濃度測定に用いられる濃度測定装置に関する。
一般に、紙は木材等から抽出された繊維(パルプ)によ
って製造され、そのパルプは水に懸濁されて用いられる
ので、そのパルプ懸濁液のパルプ濃度が生産される紙の
品質に大きく影響することが知られているが、このパル
プ濃度については、次のような問題点がちる。
って製造され、そのパルプは水に懸濁されて用いられる
ので、そのパルプ懸濁液のパルプ濃度が生産される紙の
品質に大きく影響することが知られているが、このパル
プ濃度については、次のような問題点がちる。
(a) 複数のバルプを混合する場合において、混合
すべき各パルプ濃度が異なると、混合比率が異なり、所
望の性質を持つ紙が得られない。
すべき各パルプ濃度が異なると、混合比率が異なり、所
望の性質を持つ紙が得られない。
(b) 叩解を行う場合に、パルプ濃度を一定の値に
しないと叩解されたパルプの性質が均一にならない。
しないと叩解されたパルプの性質が均一にならない。
(C) バルプ態濁液に填料及び薬品を添加する場合
、パルプ濃度が異なると、パルプ濃度に対する填料や薬
品の比率が異なり、目標の性質が得られない。
、パルプ濃度が異なると、パルプ濃度に対する填料や薬
品の比率が異なり、目標の性質が得られない。
(d) 原料調整後のパルプ懸濁液の濃度が異なって
いる場合、生産された紙の坪量が目標値と異なる。
いる場合、生産された紙の坪量が目標値と異なる。
このように、パルプ濃度が異なると、生産された紙の性
質が変化し、品質に大きく影響を与えることから、製紙
にはパルプ濃度の制御が必要であり、そのために、パル
プ濃度の測定が不可欠である。
質が変化し、品質に大きく影響を与えることから、製紙
にはパルプ濃度の制御が必要であり、そのために、パル
プ濃度の測定が不可欠である。
ところで、バルプ濃度の測定には、光を媒体にした濃度
測定装置が用いられている。この濃度測定装置では、懸
濁液に光を照射し、懸濁液で反射、透過、散乱、吸収、
偏光を経て懸濁液から得られる反射光又は透過光等の光
を受光素子で受け、そのレベルによって懸濁液の濃度測
定を行う。
測定装置が用いられている。この濃度測定装置では、懸
濁液に光を照射し、懸濁液で反射、透過、散乱、吸収、
偏光を経て懸濁液から得られる反射光又は透過光等の光
を受光素子で受け、そのレベルによって懸濁液の濃度測
定を行う。
この濃度測定装置においては、受光素子に対する入射光
に次のような情報、即ち、ノイズ威分が含まれている。
に次のような情報、即ち、ノイズ威分が含まれている。
i.光源及び受光素子と懸濁液とを遮断するための手段
として、ウインドに設けられたガラス等の遮蔽手段にお
ける光の反射、散乱、吸収及び偏光によるノイズ或分(
光源側及び受光素子側で発生)。
として、ウインドに設けられたガラス等の遮蔽手段にお
ける光の反射、散乱、吸収及び偏光によるノイズ或分(
光源側及び受光素子側で発生)。
11.光源又は受光素子が取り付けられている部分で光
が反射し、その光が懸@液に入射ずるためのノイズ威分
(光源側及び受光素子側で発生)。
が反射し、その光が懸@液に入射ずるためのノイズ威分
(光源側及び受光素子側で発生)。
これらのノイズ威分は測定精度に影響を与えているが、
さらに、受光素子で得られたレベル信号を処理する電子
回路においてもオフセットや、受光素子及び電子回路の
零点調整誤差等も測定精度に影響を与えている。
さらに、受光素子で得られたレベル信号を処理する電子
回路においてもオフセットや、受光素子及び電子回路の
零点調整誤差等も測定精度に影響を与えている。
また、濃度測定装置には、1つの受光素子を用いたもの
、2つの受光素子を設置して両者の比を求めるもの等が
ある。前者の濃度測定装置では、ノイズ或分によって懸
濁液の実際の濃度より高い濃度を表すレベル信号が得ら
れ、しかも、ノイズ成分を電子回路側で相殺する場合に
はその温度変化による動作特性の変動や光源の照射光量
の変化が測定桔度に影響を与える。後者の濃度測定装置
では、ノイズ成分によって低濃度領域における比の直線
性が悪化し、濃度を表すレベル信号におけるノイズ成分
の割合が大きくなるとともに、低濃度である場合には測
定誤差が大きくなり、しかも、光源の発光光量が変化す
ると測定誤差が生し、これを相殺することができない。
、2つの受光素子を設置して両者の比を求めるもの等が
ある。前者の濃度測定装置では、ノイズ或分によって懸
濁液の実際の濃度より高い濃度を表すレベル信号が得ら
れ、しかも、ノイズ成分を電子回路側で相殺する場合に
はその温度変化による動作特性の変動や光源の照射光量
の変化が測定桔度に影響を与える。後者の濃度測定装置
では、ノイズ成分によって低濃度領域における比の直線
性が悪化し、濃度を表すレベル信号におけるノイズ成分
の割合が大きくなるとともに、低濃度である場合には測
定誤差が大きくなり、しかも、光源の発光光量が変化す
ると測定誤差が生し、これを相殺することができない。
このように、従来の濃度測定装置では、測定精度が低く
、安定性に欠け、再現性が低いため、パルプ懸濁液のパ
ルブ濃度を正確に測定することが困難であった。このた
め、原料調整工程において一定の品質のパルブを調整し
、抄紙工程において一定の品質の紙を抄くには、製紙技
術者の勘に頼ることが必要であり、極めて非能率的な作
業を余儀なくされていた。
、安定性に欠け、再現性が低いため、パルプ懸濁液のパ
ルブ濃度を正確に測定することが困難であった。このた
め、原料調整工程において一定の品質のパルブを調整し
、抄紙工程において一定の品質の紙を抄くには、製紙技
術者の勘に頼ることが必要であり、極めて非能率的な作
業を余儀なくされていた。
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そこで、この発明は、パルブ懸濁液等、任意の懸濁液の
態濁物濃度の測定精度を高めるとともに、その測定の安
定性及び再現性を高めた濃度測定装置の提供を目的とす
る。
態濁物濃度の測定精度を高めるとともに、その測定の安
定性及び再現性を高めた濃度測定装置の提供を目的とす
る。
(請求項1)
この発明の濃度測定装置は、上記目的を達威するため、
任意の懸濁物を態濁した懸濁液(2)に光を照射する光
源(発光素子8A)と、前記懸濁液から得られる光を受
け、前記懸濁液中の前記懸濁物の濃度を表ずレベル信号
を発生する受光手段(受光素子10、12)と、前記光
源から前記懸濁液に対する照射光量を検出する光量検出
千段(受光素子20)と、この光量検出手段の検出出力
に応じて前記レベル信号のレベルを補正する補正手段(
補正回路28、30)と、この補正手段によって補正さ
れたレベル信号に応じて前記光源の発光光量を制御する
光量制御手段(光量制御回路15)とを備えたものであ
る。
任意の懸濁物を態濁した懸濁液(2)に光を照射する光
源(発光素子8A)と、前記懸濁液から得られる光を受
け、前記懸濁液中の前記懸濁物の濃度を表ずレベル信号
を発生する受光手段(受光素子10、12)と、前記光
源から前記懸濁液に対する照射光量を検出する光量検出
千段(受光素子20)と、この光量検出手段の検出出力
に応じて前記レベル信号のレベルを補正する補正手段(
補正回路28、30)と、この補正手段によって補正さ
れたレベル信号に応じて前記光源の発光光量を制御する
光量制御手段(光量制御回路15)とを備えたものであ
る。
(請求項2)
また、この発明の濃度測定装置は、上記目的を達成する
ため、任意の懸濁物を懸濁した懸濁液(2)に光を照射
する光源(発光素子8A)と、前記懸濁液から得られる
光を受け、前記懸濁液中の前記懸濁物の濃度を表す第1
のレベル信号を発生ずる第1の受光手段(受光素子10
)と、前記懸濁液から得られる光を受け、前記懸濁液中
の前記懸濁物の濃度を表す第2のレベル信号を発生する
第2の受光手段(受光素子12)と、前記光源から前記
懸濁液に対ずる照1・ノ光ffiを検出する光董検出手
段(受光素子20)と、この光量検出手段が検出した前
記光源の光量に応じて前記第1のレベル信号のレベルを
補正する第1の補正手段(補正回路28)と、前記光量
検出手段が検出した前記光源の光量に応じて前記第2の
レベル信号のレベルを袖正ずる第2の補正手段(補正回
路30)と、前記第1の補正手段によって補正されたレ
ベル信号に応じて前記光源の発光光量を制御する光量制
御手段(光量制御回路15)とを備えたものである。
ため、任意の懸濁物を懸濁した懸濁液(2)に光を照射
する光源(発光素子8A)と、前記懸濁液から得られる
光を受け、前記懸濁液中の前記懸濁物の濃度を表す第1
のレベル信号を発生ずる第1の受光手段(受光素子10
)と、前記懸濁液から得られる光を受け、前記懸濁液中
の前記懸濁物の濃度を表す第2のレベル信号を発生する
第2の受光手段(受光素子12)と、前記光源から前記
懸濁液に対ずる照1・ノ光ffiを検出する光董検出手
段(受光素子20)と、この光量検出手段が検出した前
記光源の光量に応じて前記第1のレベル信号のレベルを
補正する第1の補正手段(補正回路28)と、前記光量
検出手段が検出した前記光源の光量に応じて前記第2の
レベル信号のレベルを袖正ずる第2の補正手段(補正回
路30)と、前記第1の補正手段によって補正されたレ
ベル信号に応じて前記光源の発光光量を制御する光量制
御手段(光量制御回路15)とを備えたものである。
(請求項3)
そして、この発明の濃度測定装置は、上記目的を達或す
るため、前記第1の補正手段によってレベルが袖正され
た前記第1のレベル信号と、前記第2の補正手段によっ
てレベルが補正された前記第2のレベル信号との比によ
って前記懸濁液における前記懸濁物の濃度を算出する演
算手段(演算装置32)を備えたものである。
るため、前記第1の補正手段によってレベルが袖正され
た前記第1のレベル信号と、前記第2の補正手段によっ
てレベルが補正された前記第2のレベル信号との比によ
って前記懸濁液における前記懸濁物の濃度を算出する演
算手段(演算装置32)を備えたものである。
(詞求項1)
濃度を測定すべき懸濁液に光源から光を照射すると、懸
濁液に入射した光は懸濁液中で反射、散乱、吸収、偏光
等を経て懸濁液から出る。この場合、入射された光は懸
濁液中の懸濁物によって反則され、受光手段に受光され
る。したがって、受光手段には、その懸濁液から得られ
た光のレベル即ち、懸濁液の懸濁物濃度を表すレベル信
号が得られる。
濁液に入射した光は懸濁液中で反射、散乱、吸収、偏光
等を経て懸濁液から出る。この場合、入射された光は懸
濁液中の懸濁物によって反則され、受光手段に受光され
る。したがって、受光手段には、その懸濁液から得られ
た光のレベル即ち、懸濁液の懸濁物濃度を表すレベル信
号が得られる。
そして、前記光源から前記懸濁液に対する照射光量を検
出し、その照射光量に応じてレベル信号のレベルを補正
するとともに、補正されたレベル信号によって光源の発
光光量を制御すると、発光素子の経時変化等の影響やノ
イズ戒分が相殺され、測定精度が高められる。
出し、その照射光量に応じてレベル信号のレベルを補正
するとともに、補正されたレベル信号によって光源の発
光光量を制御すると、発光素子の経時変化等の影響やノ
イズ戒分が相殺され、測定精度が高められる。
(nll求項2)
また、この濃度測定装置では、第1及び第2の受光手段
によって懸濁液から得られた反射光又は透過光等の光が
受光され、個別に前記懸濁物の濃度を表す第1及び第2
のレベル信号を得るとともに、前記光源から前記懸濁液
に対する照射光量に応じて各レベル信号のレベル補正が
行われる。
によって懸濁液から得られた反射光又は透過光等の光が
受光され、個別に前記懸濁物の濃度を表す第1及び第2
のレベル信号を得るとともに、前記光源から前記懸濁液
に対する照射光量に応じて各レベル信号のレベル補正が
行われる。
そして、補正されたレベル信号によって光源の発光光量
が制御され、2つの受光手段を用いた場合、光源に用い
られる発光素子の経時変化等の影響や、受光手段ムこ入
るノイズ成分が相殺され、測定精度が高められる。
が制御され、2つの受光手段を用いた場合、光源に用い
られる発光素子の経時変化等の影響や、受光手段ムこ入
るノイズ成分が相殺され、測定精度が高められる。
(請求項3)
そして、この濃度測定装置では、補正された各レベル信
号の比から濃度を算出するので、光源の発光光量の変化
等の影響やノイズ或分が相殺され9一 10 た精度の高い演算出力が得られる。
号の比から濃度を算出するので、光源の発光光量の変化
等の影響やノイズ或分が相殺され9一 10 た精度の高い演算出力が得られる。
以下、この発明を図面に示した実施例を参照して詳細に
説明する。
説明する。
第1図は、この発明の濃度測定装置の一実施例を示す。
濃度を測定すべき懸濁液2には、水等の液体にパルプ等
の懸濁物として光を透過しないか或いは光を反射する微
細な固形物を懸濁したものが用いられる。この懸濁液2
が通流する通路4の一部、例えば、製紙では原料調整工
程又は抄紙工程等の原料移送路に濃度測定部6が設置さ
れている。
の懸濁物として光を透過しないか或いは光を反射する微
細な固形物を懸濁したものが用いられる。この懸濁液2
が通流する通路4の一部、例えば、製紙では原料調整工
程又は抄紙工程等の原料移送路に濃度測定部6が設置さ
れている。
この濃度測定部6には、懸濁液2を遮断する遮蔽手段と
して遮蔽ガラス60が設置され、この遮蔽ガラス60を
通して懸濁液2に光L8を照射する光源として発光素子
8Aが設置されているとともに、懸濁液2で反射、屈折
、偏光、散乱等を経て懸濁液2から到来ずる光Lrを受
ける第1及び第2の受光手段として受光素子10、12
が設置されている。発光素子8Aには参照用光源として
の発光素子8Bが直列に接続され、各発光素子8A、8
Bは共通の駆動源としての駆動回路l4によって駆動さ
れる。
して遮蔽ガラス60が設置され、この遮蔽ガラス60を
通して懸濁液2に光L8を照射する光源として発光素子
8Aが設置されているとともに、懸濁液2で反射、屈折
、偏光、散乱等を経て懸濁液2から到来ずる光Lrを受
ける第1及び第2の受光手段として受光素子10、12
が設置されている。発光素子8Aには参照用光源として
の発光素子8Bが直列に接続され、各発光素子8A、8
Bは共通の駆動源としての駆動回路l4によって駆動さ
れる。
濃度測定部6には、第2図の(A)に示すように、発光
素子8A及び受光素子10、12を取り付ける円柱状を
威す取付部61とともにその前面部を覆う円板状の絞り
板62が設けられている。
素子8A及び受光素子10、12を取り付ける円柱状を
威す取付部61とともにその前面部を覆う円板状の絞り
板62が設けられている。
取付部61には、直径方向に特定の間隔を置いて変位し
た位置に取付孔63、64、65が形成されている。取
付孔64は、前面側を小径にし、中途部に段部を設けて
径大にされており、受光面積の大なる受光素子10が取
り付けられるようになっている。また、絞り板62には
取付孔63に取り付けられた発光素子8Aの発光部を臨
ませる透孔66Aが形威されているとともに、受光素子
10、l2に対する受光光量を絞る絞孔66B、66C
が形威されている。したがって、濃度測定部6には、第
2図の(B)に示すように、取付部61に発光素子8A
及び受光素子10、12が取り付けられており、この実
施例では、受光素子10ば受光素子l2より僅かに後方
に変位した位置に取り付けられている。そして、取付部
61及び絞り板62は、固定孔67、68にねしを挿入
して図示しない測定部本体側に一体的に固定され、図示
していない防護ケース内に収容される。
た位置に取付孔63、64、65が形成されている。取
付孔64は、前面側を小径にし、中途部に段部を設けて
径大にされており、受光面積の大なる受光素子10が取
り付けられるようになっている。また、絞り板62には
取付孔63に取り付けられた発光素子8Aの発光部を臨
ませる透孔66Aが形威されているとともに、受光素子
10、l2に対する受光光量を絞る絞孔66B、66C
が形威されている。したがって、濃度測定部6には、第
2図の(B)に示すように、取付部61に発光素子8A
及び受光素子10、12が取り付けられており、この実
施例では、受光素子10ば受光素子l2より僅かに後方
に変位した位置に取り付けられている。そして、取付部
61及び絞り板62は、固定孔67、68にねしを挿入
して図示しない測定部本体側に一体的に固定され、図示
していない防護ケース内に収容される。
そして、懸濁液2から得られる光Lrは受光素子10、
12でそれぞれ受光され、受光素子10の受光出力は第
1の濃度測定回路を威す信号検出回路16、受光素子1
2の受光出力は第2の濃度測定回路を或ず信号検出回路
18に加えられ、受光素子10、12の各出力に応じて
濃度を表す第1及び第2のレベル信号■1、■2が得ら
れる。
12でそれぞれ受光され、受光素子10の受光出力は第
1の濃度測定回路を威す信号検出回路16、受光素子1
2の受光出力は第2の濃度測定回路を或ず信号検出回路
18に加えられ、受光素子10、12の各出力に応じて
濃度を表す第1及び第2のレベル信号■1、■2が得ら
れる。
また、発光素子8B側には、光量検出手段として受光素
子20が設置され、受光素子20には発光素子8Aの発
光光量、即ち、懸濁液2に対する照射光量が発光素子8
Bを通して間接的に検出される。即ち、この受光素子2
0の出力が参照用測定回路としての信号検出回路22に
加えられ、信号検出回路22には照射光量を表すレベル
信号■3が得られ、第1及び第2の補正信号形戒回路?
4、26に加えられている。各補正信号形戒回路24、
26ではレベル信号V3に応した補正信号V31、3■
が形威され、補正信号V31はレベル信号V1を補正す
る第1の補正手段として設置された補正回路28に加え
られ、また、補正信号■3■はレベル信号V2を補正す
る第2の補正手段として設置された補正回路30に加え
られている。
子20が設置され、受光素子20には発光素子8Aの発
光光量、即ち、懸濁液2に対する照射光量が発光素子8
Bを通して間接的に検出される。即ち、この受光素子2
0の出力が参照用測定回路としての信号検出回路22に
加えられ、信号検出回路22には照射光量を表すレベル
信号■3が得られ、第1及び第2の補正信号形戒回路?
4、26に加えられている。各補正信号形戒回路24、
26ではレベル信号V3に応した補正信号V31、3■
が形威され、補正信号V31はレベル信号V1を補正す
る第1の補正手段として設置された補正回路28に加え
られ、また、補正信号■3■はレベル信号V2を補正す
る第2の補正手段として設置された補正回路30に加え
られている。
補正回路28では、レベル信号V1が補正信号V31に
よって補正され、その補正出力としてレベル信号V1o
が得られ、また、補正回路30では、レベル信号V2が
補正信号■3■によって補正され、その補正出力として
レベル信号V2Gが得られる。
よって補正され、その補正出力としてレベル信号V1o
が得られ、また、補正回路30では、レベル信号V2が
補正信号■3■によって補正され、その補正出力として
レベル信号V2Gが得られる。
ところで、駆動回路14には、発光素子8A、8Bの発
光光量を制御するための光量制御手段として光量制御回
路15が付加されており、この光量制御回路15に対し
てレベル信号■,。が制御人力として加えられている。
光光量を制御するための光量制御手段として光量制御回
路15が付加されており、この光量制御回路15に対し
てレベル信号■,。が制御人力として加えられている。
そして、補正回路28、30から得られたレベル信号V
IO、V20は、濃度を算出する演算装置32に加えら
れる。演算装置32は、アナログ演算13 14 ?段又はディジタル演算手段によって構成され、各レベ
ル信号■1。、■2oの比(V2。/V.。)によって
濃度が算出され、出力端子34から濃度出力電圧■。が
得られる。
IO、V20は、濃度を算出する演算装置32に加えら
れる。演算装置32は、アナログ演算13 14 ?段又はディジタル演算手段によって構成され、各レベ
ル信号■1。、■2oの比(V2。/V.。)によって
濃度が算出され、出力端子34から濃度出力電圧■。が
得られる。
以上の構戒とすれば、懸濁i&i 2に発光素子8Aか
ら光L,が照射されると、受光素子10、12にば反射
、屈折、散乱、偏光等を経て懸濁液2から得られる光L
,が受光され、信号検出回路16、18には懸濁物濃度
を表ずレベル信号v1、V2が得られる。
ら光L,が照射されると、受光素子10、12にば反射
、屈折、散乱、偏光等を経て懸濁液2から得られる光L
,が受光され、信号検出回路16、18には懸濁物濃度
を表ずレベル信号v1、V2が得られる。
そして、発光素子8Aと共通の駆動回路14によって駆
動される発光素子8Bを通して発光素子8Aの発光光量
、即ち、懸濁液2に対する照射光量が間接的に受光素子
204こ検出され、信号検出回路22にはその照射光量
を表すレベル信号V3が得られる。補正信号形戒回路2
4、26には、レベル信号■3に対応じて補正信号V3
1、V3■が形威され、補正回路28、30に加えられ
る。そして、信号検出回路16、18で得られたレベル
信号V, 、V2は、補正信号V31、■3■によって
個別に補正され、レベル信号VIO. V2。に変換さ
れる。
動される発光素子8Bを通して発光素子8Aの発光光量
、即ち、懸濁液2に対する照射光量が間接的に受光素子
204こ検出され、信号検出回路22にはその照射光量
を表すレベル信号V3が得られる。補正信号形戒回路2
4、26には、レベル信号■3に対応じて補正信号V3
1、V3■が形威され、補正回路28、30に加えられ
る。そして、信号検出回路16、18で得られたレベル
信号V, 、V2は、補正信号V31、■3■によって
個別に補正され、レベル信号VIO. V2。に変換さ
れる。
レベル信号V1。は光量制御回路15に加えられ、駆動
回路14の駆動出力がレベル信号VIOのレベルに応じ
て増減され、発光素子8A、8Bの発光光量がレベル信
号V1。に応じて増減される。そして、発光素子8A、
8Bの発光光量が制御されると、それに応じてレベル信
号V I O% V 20のレベルが制御される。
回路14の駆動出力がレベル信号VIOのレベルに応じ
て増減され、発光素子8A、8Bの発光光量がレベル信
号V1。に応じて増減される。そして、発光素子8A、
8Bの発光光量が制御されると、それに応じてレベル信
号V I O% V 20のレベルが制御される。
したがって、演算装置32では、レベル制御されたレベ
ル信号Vlll、VZOが加えられ、両者の比によって
濃度出力電圧■。が得られる。
ル信号Vlll、VZOが加えられ、両者の比によって
濃度出力電圧■。が得られる。
次に、第3図の(A)は、この発明の濃度測定装置にお
ける発光素子8A、8Bの駆動回路14の具体的な回路
構威例を示し、第3図の(B)はスイッチング駆動のた
めのスイッチングパルス発生手段を示す。
ける発光素子8A、8Bの駆動回路14の具体的な回路
構威例を示し、第3図の(B)はスイッチング駆動のた
めのスイッチングパルス発生手段を示す。
駆動回路14には、発光ダイオートで構威された発光素
子8A、8Bに駆動電流I,を流す駆動1一ランジスタ
140が設置され、この駆動トランジスタ140のコレ
クタには電源電圧VCCが加えられ、また、その工ξツ
クと接地との間には滅流抵抗142を介して発光素子8
B、8Aが直列に接続されている。駆動1一ランジスタ
140のヘスには、光量制御回路15から光量制御電圧
VCが抵抗144を介して加えられているとともに、そ
のヘース入力を断続的に遮断して駆動トランジスタ14
0をスイッ.チングさせるスイッチング回路146が接
続されている。スイッチング回路■46は、半導体スイ
ッヂ回路等で構威され、スイッチングパルス発生手段と
してのスイッチングパルス発生部38から加えられる第
5図のAに示すスイッチングパルスφ1の低(L)レベ
ル区間で導通状態、その高(I])レベル区間で非導通
状態になり、周期的なスイッチング動作を繰り返す。
子8A、8Bに駆動電流I,を流す駆動1一ランジスタ
140が設置され、この駆動トランジスタ140のコレ
クタには電源電圧VCCが加えられ、また、その工ξツ
クと接地との間には滅流抵抗142を介して発光素子8
B、8Aが直列に接続されている。駆動1一ランジスタ
140のヘスには、光量制御回路15から光量制御電圧
VCが抵抗144を介して加えられているとともに、そ
のヘース入力を断続的に遮断して駆動トランジスタ14
0をスイッ.チングさせるスイッチング回路146が接
続されている。スイッチング回路■46は、半導体スイ
ッヂ回路等で構威され、スイッチングパルス発生手段と
してのスイッチングパルス発生部38から加えられる第
5図のAに示すスイッチングパルスφ1の低(L)レベ
ル区間で導通状態、その高(I])レベル区間で非導通
状態になり、周期的なスイッチング動作を繰り返す。
そして、光量制御回路15には、増幅器150が設置さ
れ、増幅器150の逆相人力端子(−)とその出力端子
との間にキャパシタ152が接続されているとともに、
逆相入力端子(一)に抵抗154を介してレベル信号V
l’が第4図に示すように、補正回路28の出力側から
加えられている。また、増幅器150の正相入力端子(
+)には、電源電圧VCCを可変抵抗1564こよって
分圧して得られる第6図の0に示ず基準電圧V REF
が加えられている。この実施例の場合、増幅器l50、
キャパシタ152及び抵抗154によって積分比較回路
が構威され、可変抵抗156の可変によって設定された
任意の基準電圧V REFとレベル信号V1′とによっ
て、第6図のPに示す光量制御電圧■。が得られる。
れ、増幅器150の逆相人力端子(−)とその出力端子
との間にキャパシタ152が接続されているとともに、
逆相入力端子(一)に抵抗154を介してレベル信号V
l’が第4図に示すように、補正回路28の出力側から
加えられている。また、増幅器150の正相入力端子(
+)には、電源電圧VCCを可変抵抗1564こよって
分圧して得られる第6図の0に示ず基準電圧V REF
が加えられている。この実施例の場合、増幅器l50、
キャパシタ152及び抵抗154によって積分比較回路
が構威され、可変抵抗156の可変によって設定された
任意の基準電圧V REFとレベル信号V1′とによっ
て、第6図のPに示す光量制御電圧■。が得られる。
したがって、駆動回路14では、光量制御回路15から
光量制御電圧■,が加えられ、スイッチング回路146
のスイッチング動作によって、第6図のQに示ずヘース
入力電圧が駆動トランジスタ140に加えられると、駆
動1・ランジスタ140には第5図のDに示すように、
断続的な駆動電流I,が得られる。そこで、発光素子8
A、8Bは、断続的な駆動電流IDのHレベル区間で点
灯、そのLレベル区間で消灯する。したがって、各発光
素子8A、8Bの発光光量は、光量制御回路117 18 ?によってレベル信号■,′のレベルに応したものとな
り、発光素子8Aの光L,は懸濁液2に照射され、また
、発光素子8Bの光L,は受光素子20に加えられる。
光量制御電圧■,が加えられ、スイッチング回路146
のスイッチング動作によって、第6図のQに示ずヘース
入力電圧が駆動トランジスタ140に加えられると、駆
動1・ランジスタ140には第5図のDに示すように、
断続的な駆動電流I,が得られる。そこで、発光素子8
A、8Bは、断続的な駆動電流IDのHレベル区間で点
灯、そのLレベル区間で消灯する。したがって、各発光
素子8A、8Bの発光光量は、光量制御回路117 18 ?によってレベル信号■,′のレベルに応したものとな
り、発光素子8Aの光L,は懸濁液2に照射され、また
、発光素子8Bの光L,は受光素子20に加えられる。
次に、第4図は、第1図に示した信号検出回路16、l
8、22、補正回路28、30及び補正信号形或回路2
4、26の具体的な回路構戒例を示す。
8、22、補正回路28、30及び補正信号形或回路2
4、26の具体的な回路構戒例を示す。
懸濁液2から得られた光L,は、受光ダイオードで構威
された受光素子10、12に受光され、そのレベルに応
した受光電流I■、L2が流れる。
された受光素子10、12に受光され、そのレベルに応
した受光電流I■、L2が流れる。
また、発光素子8Bに対応した受光素子20にはその光
L、が受光され、そのレベルに応した受光電流■,が流
れる。受光電流Llは信号検出回路16、受光電流Ir
■は信号検出回路18、また、受光電流■,は信号検出
回路22に加えられる。
L、が受光され、そのレベルに応した受光電流■,が流
れる。受光電流Llは信号検出回路16、受光電流Ir
■は信号検出回路18、また、受光電流■,は信号検出
回路22に加えられる。
受光電流■■が加えられると、信号検出回路16の受光
電流入力部に設置された電流・電圧変換回路(1/V)
160で電圧に変換された後、増幅器162で増幅され
、帯域通過フィルタ164で不要な周波数成分が除かれ
て、第6図のJに示す出力が得られる。そして、抵抗1
65及びキャパシタ166からなるフィルタ167に加
えられて不要な直流或分が除かれ、第6図のKに示す出
力が得られ、この出力がスイッチング回路168を経て
第6図のMに示すレベル信号V1に変換される。スイッ
チング回路168は、半導体スイッチ回路等で構威され
、スイッチングパルス発生部38から加えられる第5図
のA及びBに示すスイッチングパルスφ1、φ2により
、第5図のCに示す周期的なスイッチング動作を繰り返
す。即ち、スイッチングパルスφ1の区間LφのHレベ
ル区間で等価的な接点a側が導通状態、その他の区間で
接点a側が非導通ないし接点b側が導通状態となり、発
光素子8A、8Bの点灯間隔に同期した導通区間を以て
周期的なスイッチング動作を繰り返す。この場合、スイ
ッチング回路168は、各スイッチングパルスφ1、φ
2が共にHレベルになる区間で接点a,bの何れにも導
通しない中間状態を呈し、第5図のCのFに示すように
、ON、OFFの中間であるフローティング状態となる
。
電流入力部に設置された電流・電圧変換回路(1/V)
160で電圧に変換された後、増幅器162で増幅され
、帯域通過フィルタ164で不要な周波数成分が除かれ
て、第6図のJに示す出力が得られる。そして、抵抗1
65及びキャパシタ166からなるフィルタ167に加
えられて不要な直流或分が除かれ、第6図のKに示す出
力が得られ、この出力がスイッチング回路168を経て
第6図のMに示すレベル信号V1に変換される。スイッ
チング回路168は、半導体スイッチ回路等で構威され
、スイッチングパルス発生部38から加えられる第5図
のA及びBに示すスイッチングパルスφ1、φ2により
、第5図のCに示す周期的なスイッチング動作を繰り返
す。即ち、スイッチングパルスφ1の区間LφのHレベ
ル区間で等価的な接点a側が導通状態、その他の区間で
接点a側が非導通ないし接点b側が導通状態となり、発
光素子8A、8Bの点灯間隔に同期した導通区間を以て
周期的なスイッチング動作を繰り返す。この場合、スイ
ッチング回路168は、各スイッチングパルスφ1、φ
2が共にHレベルになる区間で接点a,bの何れにも導
通しない中間状態を呈し、第5図のCのFに示すように
、ON、OFFの中間であるフローティング状態となる
。
したがって、スイッチング回路168では、等価的な接
点a側の導通区間によって第6図のMに示ずレベル信号
V,が得られる。このレベル信号V,の間に存在するレ
ベルFは、スイッチング回路168の接点が中間に位置
するためのフローティングレベルを表す。
点a側の導通区間によって第6図のMに示ずレベル信号
V,が得られる。このレベル信号V,の間に存在するレ
ベルFは、スイッチング回路168の接点が中間に位置
するためのフローティングレベルを表す。
また、受光電流I..2が信号検出回路18に加えられ
ると、同様に、電流・電圧変換回路180で電圧に変換
された後、増幅器182で増幅され、骨域通過フィルタ
184で不要な周波数成分が除かれて第7図のRに示す
出力が得られる。そして、抵抗185及びキャパシタ1
86からなるフィルタ187に加えられて不要な直流成
分が除かれ、第7図のSに示す出力が得られ、この出力
がスイッチング回路188を経て第7図のTに示すレベ
ル信号v2に変換される。スイッチング回路188は、
スイノチング回路168と同様に第5図のA及びBに示
すスイソチングバルスφ,、φ2により、第5図のCに
示す周期的なスイッチング動作を繰り返す。即ち、スイ
ッチングパルスφ1の区間tφにおけるHレベル区間で
等価的な接点a側が導通状態、その他の区間で接点a側
が非導通ないし接点b側が導通状態となるとともに、各
スイッチングバルスφ8、φ2が共にHレベルとなる区
間でフローティング状態Fとなる周期的なスイッチング
動作を繰り返す。したがって、スイッチング回路188
では、等価的な接点a側の導通区間によって第7図のT
に示すレベル信号■2が得られる。このレベル信号■2
の間に存在するレベルFは、スイッチング回路188の
接点が中間に位置するためのフローティングレベルを表
す。
ると、同様に、電流・電圧変換回路180で電圧に変換
された後、増幅器182で増幅され、骨域通過フィルタ
184で不要な周波数成分が除かれて第7図のRに示す
出力が得られる。そして、抵抗185及びキャパシタ1
86からなるフィルタ187に加えられて不要な直流成
分が除かれ、第7図のSに示す出力が得られ、この出力
がスイッチング回路188を経て第7図のTに示すレベ
ル信号v2に変換される。スイッチング回路188は、
スイノチング回路168と同様に第5図のA及びBに示
すスイソチングバルスφ,、φ2により、第5図のCに
示す周期的なスイッチング動作を繰り返す。即ち、スイ
ッチングパルスφ1の区間tφにおけるHレベル区間で
等価的な接点a側が導通状態、その他の区間で接点a側
が非導通ないし接点b側が導通状態となるとともに、各
スイッチングバルスφ8、φ2が共にHレベルとなる区
間でフローティング状態Fとなる周期的なスイッチング
動作を繰り返す。したがって、スイッチング回路188
では、等価的な接点a側の導通区間によって第7図のT
に示すレベル信号■2が得られる。このレベル信号■2
の間に存在するレベルFは、スイッチング回路188の
接点が中間に位置するためのフローティングレベルを表
す。
そして、受光電流I,は、信号検出回路22における電
流・電圧変換回路220、増幅器222、帯域通過フィ
ルタ224、抵抗225及びキャパシタ226からなる
フィルタ227並びにスイッチング回路228を経て、
第5図のEに示すレベル信号■3に変換される。スイン
チング回路228は、スイッチング回路168と同様に
第5図のA及びBに示すスイッチングパルスφ1、φ2
に21 22 より、第5図のCに示す周期的なスイッチング動作を繰
り返し、スイッチング回路228には、等価的な接点a
側の導通区間によって第5図のEに示ずレベル信号V3
が得られる。このレベル信号V3の間に存在するレベル
Fは、スインチング回路228の接点が中間に位置する
ためのフローティングレベルを表す。そして、このレベ
ル信号■3は、バンファ回路40を経て補正信号形成回
路24、26に加えられている。
流・電圧変換回路220、増幅器222、帯域通過フィ
ルタ224、抵抗225及びキャパシタ226からなる
フィルタ227並びにスイッチング回路228を経て、
第5図のEに示すレベル信号■3に変換される。スイン
チング回路228は、スイッチング回路168と同様に
第5図のA及びBに示すスイッチングパルスφ1、φ2
に21 22 より、第5図のCに示す周期的なスイッチング動作を繰
り返し、スイッチング回路228には、等価的な接点a
側の導通区間によって第5図のEに示ずレベル信号V3
が得られる。このレベル信号V3の間に存在するレベル
Fは、スインチング回路228の接点が中間に位置する
ためのフローティングレベルを表す。そして、このレベ
ル信号■3は、バンファ回路40を経て補正信号形成回
路24、26に加えられている。
補正信号形威回路24にはゲイン調整手段として増幅器
240が設置され、増幅器240の逆相人力端子(−)
側に抵抗241を介してレベル信号V,が加えられ、ま
た、増幅器240の逆相入力端子(−)と出力端子との
間にゲイン調整用の可変抵抗242が接続されている。
240が設置され、増幅器240の逆相人力端子(−)
側に抵抗241を介してレベル信号V,が加えられ、ま
た、増幅器240の逆相入力端子(−)と出力端子との
間にゲイン調整用の可変抵抗242が接続されている。
この増幅器240の後段部にはオフセッ1・調整手段と
して増幅器243が設置され、増幅器240の出ノjが
抵抗244を介して逆相入力端子(−)に加えられてい
る。また、オフセントレベル設定手段として可変抵抗2
45が設置され、この可変抵抗245で得られた電圧が
抵抗246を介して逆相入力端子(一)に加えられてい
るとともに、抵抗247を介して出力端子側に加えられ
ている。したがって、この補正信号形戒同路24では、
増幅器240側で可変抵抗242で設定されたレベルに
よってゲイン調整が施された後、増幅器243側で適当
なオフセット調整が行われて、第5図のFに示す補正信
号v3Iが形威される。
して増幅器243が設置され、増幅器240の出ノjが
抵抗244を介して逆相入力端子(−)に加えられてい
る。また、オフセントレベル設定手段として可変抵抗2
45が設置され、この可変抵抗245で得られた電圧が
抵抗246を介して逆相入力端子(一)に加えられてい
るとともに、抵抗247を介して出力端子側に加えられ
ている。したがって、この補正信号形戒同路24では、
増幅器240側で可変抵抗242で設定されたレベルに
よってゲイン調整が施された後、増幅器243側で適当
なオフセット調整が行われて、第5図のFに示す補正信
号v3Iが形威される。
一方、補正信号形威回路26には、補正信号形成回路2
4と同様に、ゲイン調整手段として増幅器260が設置
され、増幅器260の逆相入力端子(−)側に抵抗26
1を介してレベル信号V3が加えられ、また、増幅器2
60の逆相人力端子(一)と出力端子との間にゲイン調
整用の可変抵抗262が接続されている。この増幅器2
60の後段部にはオフセット調整手段として増幅器26
3が設置され、増幅器260の出力が抵抗264を介し
て逆相入力端子(−)に加えられている。
4と同様に、ゲイン調整手段として増幅器260が設置
され、増幅器260の逆相入力端子(−)側に抵抗26
1を介してレベル信号V3が加えられ、また、増幅器2
60の逆相人力端子(一)と出力端子との間にゲイン調
整用の可変抵抗262が接続されている。この増幅器2
60の後段部にはオフセット調整手段として増幅器26
3が設置され、増幅器260の出力が抵抗264を介し
て逆相入力端子(−)に加えられている。
また、オフセットレベル設定手段として可変抵抗265
が設置され、この可変抵抗265で得られ?電圧が抵抗
266を介して逆相入力端子(−)に加えられていると
ともに、抵抗267を介して出力端子側に加えられてい
る。したがって、この補正信号形或回路26では、増幅
器260側で可変抵抗262で設定されたレベルによっ
てゲイン調整が施された後、増幅器263側で適当なオ
フセント調整が行われて、第5図のGに示す補正信号V
3■が形戒される。
が設置され、この可変抵抗265で得られ?電圧が抵抗
266を介して逆相入力端子(−)に加えられていると
ともに、抵抗267を介して出力端子側に加えられてい
る。したがって、この補正信号形或回路26では、増幅
器260側で可変抵抗262で設定されたレベルによっ
てゲイン調整が施された後、増幅器263側で適当なオ
フセント調整が行われて、第5図のGに示す補正信号V
3■が形戒される。
そして、補正回路28には減算器280が設置され、そ
の後段に第5図のA及びBに示すスイッチングバルスφ
,、φ2により、第5図のCに示す周期的なスインチン
グ動作を繰り返すスイ・ンチング回路282が設置され
ている。したがって、減算器280では、レベル信号V
1から補正信号V3.が減算され、第6図のNに示すよ
うに、補正されたレベル信号■1′がスイッチング回路
282を通して取り出され、第3図に示す光量制御回路
15に人力される。
の後段に第5図のA及びBに示すスイッチングバルスφ
,、φ2により、第5図のCに示す周期的なスインチン
グ動作を繰り返すスイ・ンチング回路282が設置され
ている。したがって、減算器280では、レベル信号V
1から補正信号V3.が減算され、第6図のNに示すよ
うに、補正されたレベル信号■1′がスイッチング回路
282を通して取り出され、第3図に示す光量制御回路
15に人力される。
また、補正回路30にば滅算器300が設置され、その
後段に第5図のA及びBに示すスイッチ?グバルスφ1
、φ2により、第5図のCに示す周期的なスイッチング
動作を繰り返すスイッチング回路302が設置されてい
る。したがって、減算器300では、レベル信号V2か
ら補正信号V3■が減算され、第7図のUに示すように
、補正されたレベル信号V2′がスイッチング回路30
2を通して取り出される。
後段に第5図のA及びBに示すスイッチ?グバルスφ1
、φ2により、第5図のCに示す周期的なスイッチング
動作を繰り返すスイッチング回路302が設置されてい
る。したがって、減算器300では、レベル信号V2か
ら補正信号V3■が減算され、第7図のUに示すように
、補正されたレベル信号V2′がスイッチング回路30
2を通して取り出される。
各補正回路28、30の後段には応答時間を調整する手
段として応答時間調整回路42、44が設置され、応答
時間調整回路42は可変抵抗420及びキャパシタ42
2からなる積分回路、同様に、応答時間調整回路44は
可変抵抗440及びキャパシタ442からなる積分回路
で構成されている。したがって、レベル信号Vl ’は
応答時間調整回路42及びその後段に設置されたバソフ
ァ回路46を経てレベル信号V1。として出力端子50
から取り出され、また、レベル信号■2′は応答時間調
整回路44及びその後段に設置されたバッファ回路48
を経てレベル信号■2oとして出力端子52から取り出
される。各レベル信号VI0、2 5 一 26 V2。は第1図に示している演算装置32に加えられ、
各レベル信号V ,o, V 2oの比から、第7図の
Wに示すように、濃度出力電圧■。が得られる。
段として応答時間調整回路42、44が設置され、応答
時間調整回路42は可変抵抗420及びキャパシタ42
2からなる積分回路、同様に、応答時間調整回路44は
可変抵抗440及びキャパシタ442からなる積分回路
で構成されている。したがって、レベル信号Vl ’は
応答時間調整回路42及びその後段に設置されたバソフ
ァ回路46を経てレベル信号V1。として出力端子50
から取り出され、また、レベル信号■2′は応答時間調
整回路44及びその後段に設置されたバッファ回路48
を経てレベル信号■2oとして出力端子52から取り出
される。各レベル信号VI0、2 5 一 26 V2。は第1図に示している演算装置32に加えられ、
各レベル信号V ,o, V 2oの比から、第7図の
Wに示すように、濃度出力電圧■。が得られる。
次に、第8図ないし第10図は、この発明の濃度測定装
置の他の実施例を示す。
置の他の実施例を示す。
前記実施例では、第1図に示すように、レベル信号Vl
O% V2Gから濃慶を箕出するために′/A算装置3
2を設置したが、演算装置32を用いないで、擬似的な
比から濃度を算出するようにしてもよい。
O% V2Gから濃慶を箕出するために′/A算装置3
2を設置したが、演算装置32を用いないで、擬似的な
比から濃度を算出するようにしてもよい。
例えば、第8図に示すように、補正回路28が発生した
レベル信号V1oを以て光量制御回路l5によって発光
素子8A、8Bの発光光量を制御するとともに、補正回
路28が出力するレベル信号■,。のレベルを光量制御
回路15における基準電圧V,lEF と同レベルにな
るようにすると、受光素子12側から補正回路30を通
して出力されるレベル信号V2。が懸濁液2の濃度を表
すことになる。
レベル信号V1oを以て光量制御回路l5によって発光
素子8A、8Bの発光光量を制御するとともに、補正回
路28が出力するレベル信号■,。のレベルを光量制御
回路15における基準電圧V,lEF と同レベルにな
るようにすると、受光素子12側から補正回路30を通
して出力されるレベル信号V2。が懸濁液2の濃度を表
すことになる。
この濃度測定装置では、補正回路30の出力端子52か
ら直接濃度出力電圧を得ることができ、構成の簡略化が
図られる。
ら直接濃度出力電圧を得ることができ、構成の簡略化が
図られる。
また、前記実施例では、発光素子8Aと受光素子10、
12とを近接位置に設置し、発光素子8Aから出た光L
,を懸濁液2に入射し、懸濁液2から得られた光L..
を各受光素子1o、12で受光し、両者の比から濃度を
測定するようにしたが、第9図に示すように、通路4に
跨がって発光素子8Aと受光素子10、12とを対向さ
せて配置し、発光素子8Aから出た光L,の中、懸濁液
2から得られた光としての透過光L,を受光素子1o、
12で受光し、両者の比からパルブ濃度を測定するよう
にしてもよい。パルプは光を反射して透過しないので、
透過光LLはパルプ等の懸濁物によって減衰するので、
前記実施例と同様にパルブ濃度を測定することができる
。
12とを近接位置に設置し、発光素子8Aから出た光L
,を懸濁液2に入射し、懸濁液2から得られた光L..
を各受光素子1o、12で受光し、両者の比から濃度を
測定するようにしたが、第9図に示すように、通路4に
跨がって発光素子8Aと受光素子10、12とを対向さ
せて配置し、発光素子8Aから出た光L,の中、懸濁液
2から得られた光としての透過光L,を受光素子1o、
12で受光し、両者の比からパルブ濃度を測定するよう
にしてもよい。パルプは光を反射して透過しないので、
透過光LLはパルプ等の懸濁物によって減衰するので、
前記実施例と同様にパルブ濃度を測定することができる
。
そして、前記実施例では発光素子8Aに直列に発光素子
8Bが接続され、懸濁液2に対する照射光量を発光素子
8Bを通して検出したが、第10図に示すように、発光
素子8Aに対して受光素子20を設置して発光素子8A
から照射光量を直接検出するようにしてもよい。
8Bが接続され、懸濁液2に対する照射光量を発光素子
8Bを通して検出したが、第10図に示すように、発光
素子8Aに対して受光素子20を設置して発光素子8A
から照射光量を直接検出するようにしてもよい。
なお、実施例では、懸濁液の濃度測定としてパルプ懸濁
液を例に取って説明したが、この発明は、光を透過可能
な液体中に光を透過しない悲濁物が懸濁された懸濁液に
おける懸濁物濃度の測定に用いることができ、バルプ濃
度の測定に限定されるものではない。
液を例に取って説明したが、この発明は、光を透過可能
な液体中に光を透過しない悲濁物が懸濁された懸濁液に
おける懸濁物濃度の測定に用いることができ、バルプ濃
度の測定に限定されるものではない。
実験は第1図に示した濃度測定装置を用いて行い、比較
のために1つの光源に対して2つの受光素子を設置した
濃度計を用いた。
のために1つの光源に対して2つの受光素子を設置した
濃度計を用いた。
第11図は、従来の濃度計による出力特性曲線を示す。
この特性では、バルプ懸濁液濃度が約■%以下の領域で
濃度出力電圧V。が極端に上昇しており、低濃度領域で
はノイズ戒分の割合が真の懸濁液濃度を表す信号或分に
対して大きくなり、低濃度に移行する程、測定精度が低
下していることを表している。
濃度出力電圧V。が極端に上昇しており、低濃度領域で
はノイズ戒分の割合が真の懸濁液濃度を表す信号或分に
対して大きくなり、低濃度に移行する程、測定精度が低
下していることを表している。
次に、第12図は、この発明にかかる濃度測定装置の出
力特性曲線を示す。この特性では、パルプ懸濁液濃度が
約1%以下の領域においても、従来のような濃度出力電
圧■。の極端な上昇はなく、直線性が改善されているこ
とが分かる。
力特性曲線を示す。この特性では、パルプ懸濁液濃度が
約1%以下の領域においても、従来のような濃度出力電
圧■。の極端な上昇はなく、直線性が改善されているこ
とが分かる。
次に、第13図は、従来の濃度計による光源の発光効率
が変化した場合の出力特性曲線を示し、特性aは発光効
率が100%、特性bは発光効率が90%、特性Cは発
光効率が80%である。このように、発光効率の低下に
応じて濃度出力電圧■。が上昇するのは、ノイズ或分の
割合が真の懸濁液濃度を表す信号或分に対して大きくな
るためである。
が変化した場合の出力特性曲線を示し、特性aは発光効
率が100%、特性bは発光効率が90%、特性Cは発
光効率が80%である。このように、発光効率の低下に
応じて濃度出力電圧■。が上昇するのは、ノイズ或分の
割合が真の懸濁液濃度を表す信号或分に対して大きくな
るためである。
この場合、光源の発光効率の変化とは別に光源に対する
受光素子の設置位置や、光源又は受光素子を保持してい
る構造によっても、濃度出力電圧■oが変化する。
受光素子の設置位置や、光源又は受光素子を保持してい
る構造によっても、濃度出力電圧■oが変化する。
次に、第14図は、この発明にかかる濃度測定装置によ
る光源の発光効率が変化した場合の実験結果を示す。発
光効率が減少しても、この発明にかかる濃度測定装置で
は、出力特性に変化はなく、安定した濃度出力電圧V。
る光源の発光効率が変化した場合の実験結果を示す。発
光効率が減少しても、この発明にかかる濃度測定装置で
は、出力特性に変化はなく、安定した濃度出力電圧V。
が得られている。
以上説明したように、この発明によれば、次の29
30
ような効果が得られる。
(a)光源から懸濁液に対する照射光量を検出し、その
照射光量に応じてレベル信号のレベルを補正ずるととも
に、袖正されたレベル信号によって光源の発光光量を制
j111ずるので、光源の経時変化やノイズ威分が相殺
され、バルプ態濁液等、任意の懸濁液における懸′/g
J物濃度の測定精度を高めることができるとともに、測
定の安定性及び再現性を高めることができる。
照射光量に応じてレベル信号のレベルを補正ずるととも
に、袖正されたレベル信号によって光源の発光光量を制
j111ずるので、光源の経時変化やノイズ威分が相殺
され、バルプ態濁液等、任意の懸濁液における懸′/g
J物濃度の測定精度を高めることができるとともに、測
定の安定性及び再現性を高めることができる。
(b)第l及び第2のレベル信号を補正するとともに、
第lのレベル信号によって光源の発光光量を制御するの
で、光源の経時変化の影響やノイズ或分が相殺された精
度の高い演算出力を得ることができる。
第lのレベル信号によって光源の発光光量を制御するの
で、光源の経時変化の影響やノイズ或分が相殺された精
度の高い演算出力を得ることができる。
(C) 第1及び第2のレベル信号の補正とともに、
第1のレベル信号ムこよって光源の発光光量を制御して
得られる第1及び第2のレベル信号の比から濃度を算出
するので、光源の発光光量の変化等の影響やノイズ或分
が相殺された精度の高い演算出ノjを得ることができる
。
第1のレベル信号ムこよって光源の発光光量を制御して
得られる第1及び第2のレベル信号の比から濃度を算出
するので、光源の発光光量の変化等の影響やノイズ或分
が相殺された精度の高い演算出ノjを得ることができる
。
第1図はこの発明の濃度測定装置の一実施例を示すブロ
ック図、 第2図は第1図に示した濃度測定装置における濃度測定
部の具体的な構成例を示す図、第3図は第1図に示した
濃度測定装置における発光素子の駆動回路の具体的な回
路構戒例とともにスイッチングパルス発生手段を示す回
路図、第4図は第1図に示した濃度測定装置における信
号検出回路、補正回路及び補正信号形戒回路の具体的な
回路構戒例を示す回路図、 第5図ないし第7図は第3図及び第4図に示した濃度測
定装置の動作を示す図、 第8図ないし第10図はこの発明の濃度測定装置の他の
実施例を示す図、 第11図ないし第14図はこの発明及び従来の濃度測定
装置の実験結果を示す図である。 2・・・懸濁液 8A・・・発光素子(光61.) 10・・・受光素子(第1の受光手段)12・・・受光
素子(第2の受光手段)15・・・光量制御回路(光量
制御手段)l6、18、22・・・信号検出回路 20・・・受光素子(光量検出手段) 28・・・補正回路(第1の補正手段)30・・・補正
回路(第2の補正手段)32・・・演算製置(′6いク
:手段)33 6 (B) 第2図 (濃度測定部の具体的なfjI戒例) 第 11 図 第 12 図 第 l3 図 第 I4 図
ック図、 第2図は第1図に示した濃度測定装置における濃度測定
部の具体的な構成例を示す図、第3図は第1図に示した
濃度測定装置における発光素子の駆動回路の具体的な回
路構戒例とともにスイッチングパルス発生手段を示す回
路図、第4図は第1図に示した濃度測定装置における信
号検出回路、補正回路及び補正信号形戒回路の具体的な
回路構戒例を示す回路図、 第5図ないし第7図は第3図及び第4図に示した濃度測
定装置の動作を示す図、 第8図ないし第10図はこの発明の濃度測定装置の他の
実施例を示す図、 第11図ないし第14図はこの発明及び従来の濃度測定
装置の実験結果を示す図である。 2・・・懸濁液 8A・・・発光素子(光61.) 10・・・受光素子(第1の受光手段)12・・・受光
素子(第2の受光手段)15・・・光量制御回路(光量
制御手段)l6、18、22・・・信号検出回路 20・・・受光素子(光量検出手段) 28・・・補正回路(第1の補正手段)30・・・補正
回路(第2の補正手段)32・・・演算製置(′6いク
:手段)33 6 (B) 第2図 (濃度測定部の具体的なfjI戒例) 第 11 図 第 12 図 第 l3 図 第 I4 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、任意の懸濁物を懸濁した懸濁液に光を照射する光源
と、 前記懸濁液から得られる光を受け、前記懸濁液中の前記
懸濁物の濃度を表すレベル信号を発生する受光手段と、 前記光源から前記懸濁液に対する照射光量を検出する光
量検出手段と、 この光量検出手段の検出出力に応じて前記レベル信号の
レベルを補正する補正手段と、 この補正手段によって補正されたレベル信号に応じて前
記光源の発光光量を制御する光量制御手段と、 を備えたことを特徴とする濃度測定装置。 2、任意の懸濁物を懸濁した懸濁液に光を照射する光源
と、 前記懸濁液から得られる光を受け、前記懸濁液中の前記
懸濁物の濃度を表す第1のレベル信号を発生する第1の
受光手段と、 前記懸濁液から得られる光を受け、前記懸濁液中の前記
懸濁物の濃度を表す第2のレベル信号を発生する第2の
受光手段と、 前記光源から前記懸濁液に対する照射光量を検出する光
量検出手段と、 この光量検出手段が検出した前記光源の光量に応じて前
記第1のレベル信号のレベルを補正する第1の補正手段
と、 前記光量検出手段が検出した前記光源の光量に応じて前
記第2のレベル信号のレベルを補正する第2の補正手段
と、 前記第1の補正手段によって補正されたレベル信号に応
じて前記光源の発光光量を制御する光量制御手段と、 を備えたことを特徴とする濃度測定装置。 3、前記第1の補正手段によってレベルが補正された前
記第1のレベル信号と、前記第2の補正手段によってレ
ベルが補正された前記第2のレベル信号との比によって
前記懸濁液における前記懸濁物の濃度を算出する演算手
段を備えたことを特徴とする請求項2記載の濃度測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1234286A JP2649973B2 (ja) | 1989-09-08 | 1989-09-08 | 濃度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1234286A JP2649973B2 (ja) | 1989-09-08 | 1989-09-08 | 濃度測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0396839A true JPH0396839A (ja) | 1991-04-22 |
| JP2649973B2 JP2649973B2 (ja) | 1997-09-03 |
Family
ID=16968602
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1234286A Expired - Fee Related JP2649973B2 (ja) | 1989-09-08 | 1989-09-08 | 濃度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2649973B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002365216A (ja) * | 2001-06-08 | 2002-12-18 | Tokyoto Gesuido Service Kk | 濃度測定装置 |
| JP2005188964A (ja) * | 2003-12-24 | 2005-07-14 | Yoshikazu Kobayashi | 光学分析用センサ装置 |
| JP2009150666A (ja) * | 2007-12-18 | 2009-07-09 | Kenek Co Ltd | 光測定装置 |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50160088A (ja) * | 1974-06-17 | 1975-12-25 | ||
| JPS5485786A (en) * | 1977-12-20 | 1979-07-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Smoke detector |
| JPS5651646A (en) * | 1979-10-02 | 1981-05-09 | Ricoh Co Ltd | Toner concentration sensor |
| JPS5654338A (en) * | 1979-10-11 | 1981-05-14 | Horiba Ltd | Simple checker of gas analyzer |
| JPS59210347A (ja) * | 1983-05-16 | 1984-11-29 | Nohmi Bosai Kogyo Co Ltd | 散乱光式煙感知器の機能試験装置 |
| JPS60154142A (ja) * | 1984-01-24 | 1985-08-13 | Matsushita Electric Works Ltd | 光電式煙感知器 |
| JPS62123555A (ja) * | 1985-11-22 | 1987-06-04 | Nec Home Electronics Ltd | 生産管理システム |
-
1989
- 1989-09-08 JP JP1234286A patent/JP2649973B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS60154142A (ja) * | 1984-01-24 | 1985-08-13 | Matsushita Electric Works Ltd | 光電式煙感知器 |
| JPS62123555A (ja) * | 1985-11-22 | 1987-06-04 | Nec Home Electronics Ltd | 生産管理システム |
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| JP2005188964A (ja) * | 2003-12-24 | 2005-07-14 | Yoshikazu Kobayashi | 光学分析用センサ装置 |
| JP2009150666A (ja) * | 2007-12-18 | 2009-07-09 | Kenek Co Ltd | 光測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2649973B2 (ja) | 1997-09-03 |
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