JPH0397101A - ディスク試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はディスク試験装置に関し、特にコンピュータ等
の外部記憶装置に用いられる信号記憶用ディスク装置を
試験するためのディスク試験装置に関する． 〔技術環境〕 近年のディスク試験装置は、対象とするディスク装置の
高密度化，大容量化に伴って測定データが大容量化する
傾向にあり、記憶媒体の種類およびディスクサイズの多
様化とディスク装置の高信頼性化とに伴って、試験条件
，試験シーケンスが多様化し試験の種類も増加する傾向
にある。

〔共通的技術〕

一般に、ディスク試験装置により行われる測定は、ディ
スク上の任意の位置における以下に示す３種類の測定に
大別される。

（ａ）再生信号の振幅に影響を与えるディスク表面の物
理定数の変動を測定する物理特性測定。

この測定には、ディスクの面振れ測定、磁気ディスクの
ディスク表面精度測定、光ディスクのプリグループトラ
ックの偏心の測定、光ディスクの反射率の測定等がある
． （ｂ）ディスクに無記録，記録，再生の少なくとも一つ
を行った後の再生信号測定． この測定には、記録強度（光ディスクでは媒体への入力
光パワー、磁気ディスクでは磁性媒体に加わる磁束密度
等〉を変化させて記録した後の再生信号振幅を測定する
媒体記録感度測定、消去強度（光磁気ディスクでは媒体
入力光パワーと入力磁束密度、磁気ディスクでは磁性媒
体に加わる磁束密度等〉を変化させて消去した後の再生
信号振幅を測定する媒体消去感度測定、キャリア周波数
で記録した後の再生信号のキャリア周波数成分と他の周
波数におけるノイズ成分の比であるＣ／Ｎ比の測定等が
ある． （Ｃ）ディスクに無記録，記録，再生の少なくとも一つ
を行った後の媒体欠陥に起因する再生信号の振幅変化を
検出する欠陥測定． この測定には、媒体の欠陥に起因する無記録時の再生信
号に含まれる疑似記録信号を測定するエクストラエラー
測定、記録時の再生信号に含まれる媒体欠陥に起因する
再生信号振幅の落ち込みを測定するドロップアウトエラ
ー測定等がある。

信号記憶用ディスクの試験は、ディスク上の任意の位置
，ディスクと記録再生を行うヘッドとの間の相対速度，
記録周波数，記録強度，消去強度および欠陥測定時の検
出条件の少なくとも一つをそれぞれパラメータ，主変数
にして、上述した物理特性測定，再生信号測定および欠
陥測定を組み合わせて行うものである． 〔従来の技術〕 第２図は従来のディスク試験装置の一例を示すブロック
図である。

第２図に示す従来のディスク試験装置は、上述した物理
特性測定，再生信号測定および欠陥測定に関して各種デ
ィスクに対する単位測定の内容を個別に記述した測定モ
ジュールを多数格納した測定モジュール群記憶部４ａと
、主記憶５ａと、測定を実行する測定実行手段７と、こ
れらを制御する測定実行制御手段６ａとで構成されてい
る．測定実行制御手段６ａは、測定モジュール群記憶部
４ａの内容を主記憶５ａ上に測定モジュール群１ｌとし
て展開し、その中の実際に測定を実行する測定モジュー
ルから測定制御信号１０ａを作成して測定実行手段７に
送出している．すなわち、ディスク試験装置内の不揮発
性の測定モジュール群記憶部４ａの内容をすべていった
ん主記憶上に展開し、その中から測定実行制御手段６ａ
が実行しようとする測定の測定モジュールを検索して測
定制御信号１０ａを作成し、測定実行手段７が各種のデ
ィスク試験を実行するように構成されている． 〔発明が解決しようとする課題〕 上述した従来のディスク試験装置は、主記憶上にすべて
の測定モジュールを展開し、その中の実行すべき測定モ
ジュールから測定制御信号を作成しているため、測定モ
ジュールが多種多様化して多くなると、主記憶の構成に
より測定モジュール数が制約される欠点がある． 本発明の目的は、主記憶の構成に制約されず、測定モジ
ュールの多種多様化に対応できるディスク試験装置を提
供することである． 〔課題を解決するための手段〕 本発明のディスク試験装置は、信号記憶用ディスクの試
験に使用する各種の単位測定の内容を゜記述した測定モ
ジュールを多数収録した測定モジュール群記憶ファイル
と実施しようとする試験に必要な測定モジュールを指定
する実行測定抽出ファイルとを格納した外部記憶装置と
、前記実行測定抽出ファイルを参照して前記測定モジュ
ール群記憶ファイルから必要とする測定モジュールのみ
を抽出し主記憶上に実行測定モジュール群を展開する実
行測定モジュール抽出手段と、測定を実行する測定実行
手段と、前記実行測定モジュール群から測定制御信号を
作成し前記測定実行手段に送出する測定実行制御手段と
を備えている。

〔実施例〕

次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
． 第１図は本発明の一実施例を示すブロック図である。

第１図に示すディスク試験装置は、外部記憶装置１と装
置本体２とから構成され、外部記憶装置１には、多数の
測定モジュールを収録した測定モジュール群記憶ファイ
ル４と、実行しようとする測定モジュールを指定する実
行測定抽出ファイル３とが格納されている。装置本体２
は、主記憶５と、測定実行手段７と、測定実行制御手段
６と、実行測定モジスール抽出手段８とから構成されて
いる。

実行測定モジュール抽出千段８は、外部記憶装置ｌに含
まれる実行測定抽出ファイル３を参照して測定モジュー
ル群記憶ファイル４から実行する測定モジュールのみを
抽出し、主記憶５上に実行測定モジュール群９を展開す
る。測定実行制御手段６は、主記憶５に展開された実行
測定モジュール群９に基づいて測定制御信号１０を作戒
し、測定実行千段７に出力し、測定実行千段７が各種の
測定を実行する。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明のディスク試験装置は、実
行測定抽出ファイルを有し、実行測定モジュール抽出手
段が必要な測定モジュールのみを主記憶に呼び出して処
理するため、メモリ構或による制約を受けることなく測
定モジュールの数を増加させることが可能である。更に
、実行測定モジュール群の内容を変更，追加する場合に
は、実行測定抽出ファイルに記述されている内容を変更
するだけで容易に実行測定モジュール群を更新すること
ができるので、多種多様な試験への対応が簡単にできる
という効果がある。

【図面の簡単な説明】

第Ｔ図は本発明の一実施例のプロ・ｙク図、第２図は従
来のディスク試験装置の一例のプロ・ｙク図である。 １・・−・・・外部記憶装置、２・・・・・・装置本体
、３・−・−・実行測定抽出ファイル、４・・・・・・
測定モジュール群記憶ファイル、４ａ測定モジュール群
記憶部、５，５ａ・・・・・一主記憶、６，６ａ・・−
・・・測定実行制御手段、７・・・・・・測定実行手段
、８・・・・一実行測定モジュール抽出手段、９・・・
・・・実行測定モジュール群、１０．１０ａ・・・・・
・測定制御信号、１１−・・・一測定モジュール群。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 信号記憶用ディスクの試験に使用する各種の単位測定の
   内容を記述した測定モジュールを多数収録した測定モジ
   ュール群記憶ファイルと実施しようとする試験に必要な
   測定モジュールを指定する実行測定抽出ファイルとを格
   納した外部記憶装置と、前記実行測定抽出ファイルを参
   照して前記測定モジュール群記憶ファイルから必要とす
   る測定モジュールのみを抽出し主記憶上に実行測定モジ
   ュール群を展開する実行測定モジュール抽出手段と、測
   定を実行する測定実行手段と、前記実行測定モジュール
   群から測定制御信号を作成し前記測定実行手段に送出す
   る測定実行制御手段とを備えたことを特徴とするディス
   ク試験装置。