JPH03260960A - 磁気ディスク検査装置 - Google Patents
磁気ディスク検査装置Info
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- JPH03260960A JPH03260960A JP6136390A JP6136390A JPH03260960A JP H03260960 A JPH03260960 A JP H03260960A JP 6136390 A JP6136390 A JP 6136390A JP 6136390 A JP6136390 A JP 6136390A JP H03260960 A JPH03260960 A JP H03260960A
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- Japan
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- magnetic disk
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 26
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 18
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 8
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 abstract description 5
- 230000002950 deficient Effects 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は磁気ディスク検査装置、特に、磁気特性の内ビ
ットシフト検査に適用しろる磁気ディスク検査装置に関
する。
ットシフト検査に適用しろる磁気ディスク検査装置に関
する。
従来の磁気ディスク検査装置は、磁気ヘッドと、再生・
書き込みアンプと、ライト信号発生回路と、二値化回路
と、ＰＬＯ回路と、ウィンド発生回路と、ウィンド比較
回路と、欠陥ＲＡＭにより構成される。
書き込みアンプと、ライト信号発生回路と、二値化回路
と、ＰＬＯ回路と、ウィンド発生回路と、ウィンド比較
回路と、欠陥ＲＡＭにより構成される。
次に従来の磁気ディスク検査装置について図面を参照し
て詳細に説明する。
て詳細に説明する。
第２図は従来の磁気ディスク検査装置の一例を示すブロ
ック図である。
ック図である。
第２図に示す磁気ディスク検査装置は、磁気ディスクへ
の書き込み再生を行う磁気ヘッド１と、磁気へラド１へ
書き込み信号を送出し、再生信号を増幅するＲ／Ｗアン
プ２と、Ｒ／Ｗアンプ２へ書き込み信号を送出するライ
ト信号発生回路３゜Ｒ／Ｗアンプ２出力を二値化する二
値化回路４゜二値化回路４出力から再生クロックを発生
するＰＬＯ回路５．ＰＬＯ回路５出力から検査ウィンド
を発生するウィンド発生回路６と、ウィンド発生回路６
出力の二値化回路４出力を比較するウィンド比較回路７
．ウィンド比較回路７で検出した欠陥を記録する欠陥Ｒ
ＡＭ８と、ディスクを回転させるスピンドル９と、スピ
ンドルの原点を出力するインデックス回路１０とより構
成される。
の書き込み再生を行う磁気ヘッド１と、磁気へラド１へ
書き込み信号を送出し、再生信号を増幅するＲ／Ｗアン
プ２と、Ｒ／Ｗアンプ２へ書き込み信号を送出するライ
ト信号発生回路３゜Ｒ／Ｗアンプ２出力を二値化する二
値化回路４゜二値化回路４出力から再生クロックを発生
するＰＬＯ回路５．ＰＬＯ回路５出力から検査ウィンド
を発生するウィンド発生回路６と、ウィンド発生回路６
出力の二値化回路４出力を比較するウィンド比較回路７
．ウィンド比較回路７で検出した欠陥を記録する欠陥Ｒ
ＡＭ８と、ディスクを回転させるスピンドル９と、スピ
ンドルの原点を出力するインデックス回路１０とより構
成される。
第３図は欠陥検出の一例を示す波形図である。
二値化回路４出力をウィンド発生回路６出力と比較し、
ウィンド発生回路６出力に二値化回路４出力が入らなか
った場合欠陥となる。
ウィンド発生回路６出力に二値化回路４出力が入らなか
った場合欠陥となる。
磁気ヘッドｌ出力をＲ／Ｗアンプ２で増１隔し、二値化
回路４で二値化しＰＬＯ回路５により再生クロックを発
生し前記再生クロックからウィンド発生回路６により検
査ウィンドを発生し、ウィンド比較回路７により二値化
回路４出力によりＰＬＯ回路５出力をサンプリングし欠
陥を検出し、検出された欠陥情報を欠陥ＲＡＭ８に記録
する。
回路４で二値化しＰＬＯ回路５により再生クロックを発
生し前記再生クロックからウィンド発生回路６により検
査ウィンドを発生し、ウィンド比較回路７により二値化
回路４出力によりＰＬＯ回路５出力をサンプリングし欠
陥を検出し、検出された欠陥情報を欠陥ＲＡＭ８に記録
する。
検査はスピンドルインデックス回路１０出力に同期して
行なっている。
行なっている。
上述した従来の磁気ディスク検査装置は、欠陥位置の検
出はスピンドルインデックスを使用しているため、再検
査時にスピンドルインデックスのジッタなどにより同一
ビットの再現性が良くないという欠点があった。
出はスピンドルインデックスを使用しているため、再検
査時にスピンドルインデックスのジッタなどにより同一
ビットの再現性が良くないという欠点があった。
本発明の磁気ディスク検査装置は、磁気ディスク書き込
み、再生を行い、前記磁気ディスクの書き込み、再生マ
ージン欠陥を検査する磁気ディスク欠陥検査装置におい
て、 （Ａ）磁気ディスクにデータの書き込み再生を行ろ再生
・書き込みアンプ、 （Ｂ）前記再生・書込みアンプの再生出力を二値化する
二値化回路、 （Ｃ）前記二値化回路出力から再生クロックを生成する
ＰＬＯ回路、 （Ｄ）前記再生クロックから書き込み・再生マージンを
検査するためのウィンドを発生するウィンド発生回路、 （Ｅ）前記ウィンド発生回路出力と前記二値化回路出力
を比較するウィンド比較回路、 （Ｆ）前記再生・書込みアンプに書込信号を送るライト
パターン回路、 （Ｇ）検査開始時にインデックス信号を発生するインデ
ックス発生回路、 （Ｈ）検査時にインデックスを検出するインデッ５− クス検出回路、 （Ｉ）ウィンド比較回路により検出された欠陥を記録す
る欠陥ＲＡＭ。
み、再生を行い、前記磁気ディスクの書き込み、再生マ
ージン欠陥を検査する磁気ディスク欠陥検査装置におい
て、 （Ａ）磁気ディスクにデータの書き込み再生を行ろ再生
・書き込みアンプ、 （Ｂ）前記再生・書込みアンプの再生出力を二値化する
二値化回路、 （Ｃ）前記二値化回路出力から再生クロックを生成する
ＰＬＯ回路、 （Ｄ）前記再生クロックから書き込み・再生マージンを
検査するためのウィンドを発生するウィンド発生回路、 （Ｅ）前記ウィンド発生回路出力と前記二値化回路出力
を比較するウィンド比較回路、 （Ｆ）前記再生・書込みアンプに書込信号を送るライト
パターン回路、 （Ｇ）検査開始時にインデックス信号を発生するインデ
ックス発生回路、 （Ｈ）検査時にインデックスを検出するインデッ５− クス検出回路、 （Ｉ）ウィンド比較回路により検出された欠陥を記録す
る欠陥ＲＡＭ。
とを含んで構成される。
次に、本発明の実施例について、図面を参照して詳細に
説明する。
説明する。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
第１図に示す磁気ディスク検査装置は、検査開始時にイ
ンデックス発生回路１１により発生したインデックス信
号ａを再生・書き込みアンプ２により電流制御し磁気ヘ
ッド１により磁気ディスク１３に書き込む。続いて前記
インデックス信号ａ直後にライト信号発生回路８出力す
を再生・書き込みアンプ２により電流制御し磁気ヘッド
ｌにより磁気ディスクに書き込む。
ンデックス発生回路１１により発生したインデックス信
号ａを再生・書き込みアンプ２により電流制御し磁気ヘ
ッド１により磁気ディスク１３に書き込む。続いて前記
インデックス信号ａ直後にライト信号発生回路８出力す
を再生・書き込みアンプ２により電流制御し磁気ヘッド
ｌにより磁気ディスクに書き込む。
前記動作により書き込んだ電流を磁気ヘッド１によりピ
ックアップし再生・書き込みアンプ２により電圧増幅し
、二値化回路４により二値化す６− る。
ックアップし再生・書き込みアンプ２により電圧増幅し
、二値化回路４により二値化す６− る。
二値化回路４出力ｄをＰＬＯ回路５により基準クロック
ｅを発生し、基準クロックｅをウィンド発生回路６によ
りウィンド信号ｆを発生し、ウィンド比較回路７により
ウィンド信号ｆと二値化信号ｄを比較し、二値化信号ｄ
がウィンド信号ｆ内に入っていない場合、欠陥としてエ
ラーＲＡＭ８に記録する。
ｅを発生し、基準クロックｅをウィンド発生回路６によ
りウィンド信号ｆを発生し、ウィンド比較回路７により
ウィンド信号ｆと二値化信号ｄを比較し、二値化信号ｄ
がウィンド信号ｆ内に入っていない場合、欠陥としてエ
ラーＲＡＭ８に記録する。
ウィンド比較はインデックス検出回路１２によりインデ
ックス検出された直後に開始する再検査時は、インデッ
クス検出回路１２によりインデックス検出直後に前記と
同様に書き込み再生を行う。
ックス検出された直後に開始する再検査時は、インデッ
クス検出回路１２によりインデックス検出直後に前記と
同様に書き込み再生を行う。
本発明の磁気ディスク検査装置は、検査開始時にディス
クにインデックス信号を書くことにより再検査時の欠陥
位置の再現性を向上することができるという効果がある
。
クにインデックス信号を書くことにより再検査時の欠陥
位置の再現性を向上することができるという効果がある
。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図である。第
２図は従来の一例を示すブロック図、第３図は欠陥例を
示す波形図である。
２図は従来の一例を示すブロック図、第３図は欠陥例を
示す波形図である。
１・・・磁気ヘッド、２・・・再生・書き込みアンプ、
３・・・ライト信号発生回路、４・・・二値化回路、５
・・・ＰＬＯ回路、６・・・ウィンド発生回路、７・・
・ウィンド比較回路、８・・・エラーＲＡＭ、１１・・
・インデックス発生回路、１２・・・インデックス検出
回路。
３・・・ライト信号発生回路、４・・・二値化回路、５
・・・ＰＬＯ回路、６・・・ウィンド発生回路、７・・
・ウィンド比較回路、８・・・エラーＲＡＭ、１１・・
・インデックス発生回路、１２・・・インデックス検出
回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 磁気ディスク書き込み、再生を行い、前記磁気ディスク
の書き込み、再生マージン欠陥を検査する磁気ディスク
欠陥検査装置において、 （Ａ）磁気ディスクにデータの書き込み再生を行う再生
・書き込みアンプ、 （Ｂ）前記再生・書込みアンプの再生出力を二値化する
二値化回路、 （Ｃ）前記二値化回路出力から再生クロックを生成する
ＰＬＯ回路、 （Ｄ）前記再生クロックから書き込み・再生マージンを
検査するためのウインドを発生するウインド発生回路、 （Ｅ）前記ウインド発生回路出力と前記二値化回路出力
を比較するウインド比較回路、 （Ｆ）前記再生・書込みアンプに書込信号を送るライト
パターン回路、 （Ｇ）検査開始時にインデックス信号を発生するインデ
ックス発生回路、 （Ｈ）検査時にインデックスを検出するインデックス検
出回路、 （Ｉ）ウインド比較回路により検出された欠陥を記録す
る欠陥ＲＡＭ、 とを含むことを特徴とする磁気ディスク検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6136390A JPH03260960A (ja) | 1990-03-12 | 1990-03-12 | 磁気ディスク検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6136390A JPH03260960A (ja) | 1990-03-12 | 1990-03-12 | 磁気ディスク検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03260960A true JPH03260960A (ja) | 1991-11-20 |
Family
ID=13169012
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6136390A Pending JPH03260960A (ja) | 1990-03-12 | 1990-03-12 | 磁気ディスク検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03260960A (ja) |
-
1990
- 1990-03-12 JP JP6136390A patent/JPH03260960A/ja active Pending
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