JPH03268276A - 媒体欠陥検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は媒体欠陥検査装置に関し、特にインデックス信
号の遅延回路を有する媒体欠陥検査装置に関する。

〔従来の技術〕

従来、回転型記憶装置（以下装置という）に使用される
記憶媒体の媒体欠陥検査装置では、装置の実現可能な最
高の作動周波数で記憶媒体に書き込まれたデータの再生
信号の欠落や落ち込所定の装置検査基準値と比較し、欠
陥を判別するアナログ・テスト方式と、特定の検査デー
タを記憶媒体に書き込み、それを装置内にある弁別回路
を通して読み出されたディジタル・信号パターンと書き
込んだディジタル・信号パターンとを比較し、その欠陥
を判別するディジタル・テスト方式とがあり、検査精度
向上のために通常、双方の方式によって数種類のテスト
・データが使用されている。

〔発明が解決しようとする課題〕

上述した従来の媒体欠陥検査装置は、第３図に示すよう
に被検査記憶媒体を搭載した装置から記憶媒体の回転に
同期して周期Ｔで送出されるデータ・トラックの始点を
示すインデックス信号２０に同期させて媒体欠陥検査装
置のテスト・デー）−２１のオン／オフを行っているが
、テスト・データの読み出し動作はデータの開始コード
を正しく検出するためにデータの直前に約１０バイト長
の空き時間及び媒体欠陥の検出を行うためのソフトウェ
アの処理を含めてソフトウェア処理２２に示すように処
理時間ｔ４を必要とする。従って、最初のインデックス
信号で記憶媒体に対するテスト・データを書き込み、次
のインデックス信号で媒体欠陥の検出を行うためのソフ
トウェア処理を行い、更に次のインデックス信号でテス
ト・データの読み出しを行っている。すなわち、テスト
・データの読み出しを行うためには記憶媒体の一周分の
回転待ち時間が必要となる。従って、例えば２種類のテ
スト・データを使用する場合では８周期を必要とするこ
とになり、１枚の記憶媒体を全トラックについて検査す
るには長時間を要するという欠点がある。また、この回
転待ち時間を無くするなめにインデックス信号の前でテ
スト・ゲートをオフにすると、ソフトウェア処理時間ｔ
３に相当する時間だけ記憶媒体のトラック上にエラーの
未検出部分が生じ、検査の高効率化は困難であるという
欠点がある。

〔課題を解決するための手段〕

本発明は、回転型記憶装置に使用される記憶媒体にテス
ト・データを書き込み、前記テスト・データを読み出し
て照合することにより前記記憶媒体のデータ・トラック
上に存在する欠陥を検出する媒体欠陥検査装置において
、前記回転型記憶装置から送出される前記記憶媒体の回
転に同期したインデックス信号を所定の時間遅延させる
遅延回路と、前記インデックス信号と前記遅延回路から
出力された遅延インデックス信号とを切り替えて出力す
る切替回路と、前記切替回路の出力信号及び上位回路か
ら送出されたテスト・パターンを入力して前記回転型記
憶装置へテスト・データを送出する書込み制御回路と、
前記切替回路の出力信号及び前記回転型記憶装置から読
み出された前記テスト・データを入力して前記記憶媒体
の欠陥を検出し、前記上位回路へエラー情報を出力する
媒体欠陥検出手段とを備えたことを特徴とする。

〔実施例〕

次に、本発明について図面を参照して説明する。

第１図は本発明の媒体欠陥検査装置の一実施例を示すブ
ロック図である。第１図において、媒体欠陥検査袋Ｗ２
はインデックス遅延回路３．切替口２８４．書込み制御
回路５．媒体欠陥検出回路６及びエラー位置メモリ回路
からなり、被検査記憶媒体を搭載した記憶装置１から送
出されるインデックス信号１０は信号線によりインデッ
クス遅延回路３及び切替回路４に接続され、切替回路４
の出力は書込み制御図＆ｊｆｒ５及び媒体欠陥検出回路
６に接続されている。書込み制御回路５は上位回路から
テスト・データ１４を送出する信号線及び切替回路の出
力を送出する信号線に接続され、更に、記憶袋Ｗ１へ書
込みデータ１２を送出する信号線で接続されている。ま
た、媒体欠陥検出回路６は記憶装置１から読出し信号１
１を送出する信号線で接続されると共にエラー位置メモ
リ回路７に接続され、出力線は上位回路へ接続されてい
る。

次に、本実施例の動作について説明する。第２図は本実
施例の媒体欠陥検査装置の動作を示すタイミング・チャ
ートである。本実施例では２種類のテスト・データを使
用した場合について説明する。まず、上位回路よりテス
ト開始命令が出されると、切替回路４は記憶装置１より
送出された記憶媒体の回転に同期した周期Ｔのインデッ
クス信号１０を選択し、書込み制御回路はインデックス
信号１０に同期してテスト・ゲート１６をオンにし、テ
スト・データ１４を記憶装置１に対して書込みデー　− タ１２としてデータＡを送出し、記憶装置１に搭載され
ている被検査記憶媒体に書き込む。このテスト・ゲー１
〜は従来の実施例と同様にデータの開始コードを正しく
検出するなめにデータの直前に約１０バイト長の空き時
間と媒体欠陥検出回路６における媒体欠陥の検出、いわ
ゆる、ソフトウェア処理に要する処理時間も９以上に余
裕を持たせるため、インデックス信号の後にテスト・ゲ
ート１６がオンになる時間は予め時間ｔ２に設定されて
いる。続いて、所定のソフトウェア処理（処理時間ｔｓ
）が行われた後、媒体欠陥検出回路６は第２番目のイン
デックス信号で直ちにテスト・ゲー）へをオンにし、記
憶装置１からのテスト・データであるデータＡの読み出
し動作を行い、読出し信号１１の内容を判定する。そし
て、その中にエラーが検出されれば、インデックス信号
を始点として被検査トラックのエラー発生の位置及びエ
ラーの長さに関する情報をエラー位置メモリ回路７へ格
納し、エラー位置メモリ回路７から上位回路へ報告する
。

続いて、切替回路４はインデックス信号１０をインデッ
クス遅延回路３を通過させ、時間ｔ、たけ遅延さぜな第
３番目のデイレイド・インデックス信号１３を選択する
。そしてテスト・ゲート２１．ソフトウェア処理２２は
前記と時間ｔ１だけ遅延させたタイミングで処理し、書
込み制御回路５で記憶袋Ｎ１に対して書込みデータ１２
としてデータＢを送出すると共に第４番目のデイレイド
・インデックス信号１３で媒体欠陥検出回路６において
、記憶装置１からのテスト・データの読み出し動作を行
い、読出し信号１１の内容を判定する。

なお、周期Ｔ１時間１．．１２及びｔ、はそれぞれｔ、
≧Ｔ　　ｔ　２　＞　ｔ　３の関係を有している。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明の媒体欠陥検査装置によれば
、複数のテスト・データを用いてテスト・ゲートのタイ
ミングを交互に切り替えることにより、記憶媒体のトラ
ック上の互いの未検出部分を補うことができるので、テ
スト・データの読み出しを行うための記憶媒体の一周分
の回転待ちを行う必要もなく、例えば、２種類のテスト
・データを用いた場合では４周期で検査を行うことが可
能となり、従って、記憶媒体の全トラックに対する検査
も短時間で済むので検査効率の良い媒体欠陥検査装置を
提供できるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の媒体欠陥検査装置の一実施例を示すブ
ロック図、第２図は本実施例の媒体欠陥検査装置の動作
を示すタイミング・チャート、第３図は従来の実施例の
媒体欠陥検査装置の動作を示すタイミング・チャートで
ある。 １・・・記憶装置、２・・・媒体欠陥検査装置、３・・
・インデックス遅延回路、４・・・切替回路、５・・・
書込み制御回路、６・・・媒体欠陥検出回路、７・・・
エラー位置メモリ回路、１０．２０・・・インデックス
信号、１１・・・読出し信号、１２・・・書込みデータ
、１３・・・デイレイド・インデックス信号、１４・・
・テスト・データ、１５・・・エラー情報、１６．２１
・・・テスト・ゲート、１７．２２・・・ソフトウェア
処理。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 回転型記憶装置に使用される記憶媒体にテスト・データ
   を書き込み、前記テスト・データを読み出して照合する
   ことにより前記記憶媒体のデータ・トラック上に存在す
   る欠陥を検出する媒体欠陥検査装置において、前記回転
   型記憶装置から送出される前記記憶媒体の回転に同期し
   たインデックス信号を所定の時間遅延させる遅延回路と
   、前記インデックス信号と前記遅延回路から出力された
   遅延インデックス信号とを切り替えて出力する切替回路
   と、前記切替回路の出力信号及び上位回路から送出され
   たテスト・パターンを入力して前記回転型記憶装置へテ
   スト・データを送出する書込み制御回路と、前記切替回
   路の出力信号及び前記回転型記憶装置から読み出された
   前記テスト・データを入力して前記記憶媒体の欠陥を検
   出し、前記上位回路へエラー情報を出力する媒体欠陥検
   出手段とを備えたことを特徴とする媒体欠陥検査装置。