JPH0397239A - ボンディング方法及びその装置 - Google Patents
ボンディング方法及びその装置Info
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- JPH0397239A JPH0397239A JP1236545A JP23654589A JPH0397239A JP H0397239 A JPH0397239 A JP H0397239A JP 1236545 A JP1236545 A JP 1236545A JP 23654589 A JP23654589 A JP 23654589A JP H0397239 A JPH0397239 A JP H0397239A
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- JP
- Japan
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- bonding
- chip
- area
- bump electrodes
- tool
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-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/072—Connecting or disconnecting of bump connectors
- H10W72/07251—Connecting or disconnecting of bump connectors characterised by changes in properties of the bump connectors during connecting
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/20—Bump connectors, e.g. solder bumps or copper pillars; Dummy bumps; Thermal bumps
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はTAB(Tape Automate−d
Bonding)方式の半導体装置におけるボンディ
ング方法及びその装置に関し、特にフィルム状のテープ
の1ごまごとにインナーリードを形成し、これら各こま
に種々のチップサイズのICチップやまたは複数のIC
チップを搭載し、これらICチップのバンプ電極とイン
ナーリードとを接続するボンディング方法及びその装置
に関する。
Bonding)方式の半導体装置におけるボンディ
ング方法及びその装置に関し、特にフィルム状のテープ
の1ごまごとにインナーリードを形成し、これら各こま
に種々のチップサイズのICチップやまたは複数のIC
チップを搭載し、これらICチップのバンプ電極とイン
ナーリードとを接続するボンディング方法及びその装置
に関する。
一般に、TAB方式による半導体装置は、ポリイミド樹
脂や、ポリエステル樹脂製のフイルム状テープに、丁度
映画フイルムと同じように、テープの両側に送り用のス
ブロケット穴を設け、中央に矩形状にテープを切り抜き
、そしてこれを■こまとして長手方向に多数のこまを並
べて形成する。
脂や、ポリエステル樹脂製のフイルム状テープに、丁度
映画フイルムと同じように、テープの両側に送り用のス
ブロケット穴を設け、中央に矩形状にテープを切り抜き
、そしてこれを■こまとして長手方向に多数のこまを並
べて形成する。
また、これら各こま毎に、その切り抜きの周囲から中央
に向って伸びるように印刷法により複数本の導電体であ
るインナーリードを形成する。さらに、これらのこま内
に半導体チップであるICチップを搭載し、インナーリ
ードとICチップのバンプ電極を接続し、これら1こま
ごと分離し、これをプリント基板や、セラミック基板へ
取り付けるか、あるいはICチップ部を樹脂封止して半
導体装置として完成していた。
に向って伸びるように印刷法により複数本の導電体であ
るインナーリードを形成する。さらに、これらのこま内
に半導体チップであるICチップを搭載し、インナーリ
ードとICチップのバンプ電極を接続し、これら1こま
ごと分離し、これをプリント基板や、セラミック基板へ
取り付けるか、あるいはICチップ部を樹脂封止して半
導体装置として完成していた。
また、この種の半導体装置の製造過程で、特に問題にな
るのが、前述のインナーリードとICチップのバンプ電
極との接続方法である。近年、ICチップの大型化に伴
ない、そのビン数が増加する傾向にある。すなわち、こ
の接続すべくバンプ電極とインナーリードの数が益々増
加してきた、このため、ビン数の対策としてテープを多
層構造にしたりして対処してきたが、それ以外の接続上
の問題がある。この接続の問題については種種の改善工
夫が施されてきた。
るのが、前述のインナーリードとICチップのバンプ電
極との接続方法である。近年、ICチップの大型化に伴
ない、そのビン数が増加する傾向にある。すなわち、こ
の接続すべくバンプ電極とインナーリードの数が益々増
加してきた、このため、ビン数の対策としてテープを多
層構造にしたりして対処してきたが、それ以外の接続上
の問題がある。この接続の問題については種種の改善工
夫が施されてきた。
第7図は従来のボンディング装置のボンディングツール
とICチップ及びテープの一例を示す部分断面図、第8
図は第7図のICチップ及びテープの部分平面図である
。従来、この種のボンディング装置は、図面には示さな
いが、例えば、第7図に示すようなボンディングツール
6を保持し、このボンディングツール6に加熱するヒー
タを内蔵するとともに押圧力を与える押圧力出力機構を
もつボンディングヘッドと、ICチップ及びテープを保
持し、これらの相対位置を合せる機構をもつステージ部
と、ICチップ及びテープをステージに供給するICチ
ップ供給部及びテープ供給部と、前記ヒータに電源を供
給する電源部と、これら各部をシーケンス制御する制御
装置とから構成されていた。
とICチップ及びテープの一例を示す部分断面図、第8
図は第7図のICチップ及びテープの部分平面図である
。従来、この種のボンディング装置は、図面には示さな
いが、例えば、第7図に示すようなボンディングツール
6を保持し、このボンディングツール6に加熱するヒー
タを内蔵するとともに押圧力を与える押圧力出力機構を
もつボンディングヘッドと、ICチップ及びテープを保
持し、これらの相対位置を合せる機構をもつステージ部
と、ICチップ及びテープをステージに供給するICチ
ップ供給部及びテープ供給部と、前記ヒータに電源を供
給する電源部と、これら各部をシーケンス制御する制御
装置とから構成されていた。
このようなボンディング装置を用いたボンディング方法
は、例えば、第7図及び第8図に示すようなICチップ
2をテーブ4のこま内に搭載し、バンプ電極21とイン
ナーリード3をボンディングする場合について説明する
。まず、テープ4をテープ供給部より送り、ステージ面
にその1こまを位置決めする。引続き、ICチップ供給
部よりICチップを供給し、テーブ4の一こま内にある
切り抜き穴に挿入し、ステージ上に載置する。次に、ス
テージを移動してICチップ2のバンプ電極21とイン
ナーリード3と位置合せを行なう。
は、例えば、第7図及び第8図に示すようなICチップ
2をテーブ4のこま内に搭載し、バンプ電極21とイン
ナーリード3をボンディングする場合について説明する
。まず、テープ4をテープ供給部より送り、ステージ面
にその1こまを位置決めする。引続き、ICチップ供給
部よりICチップを供給し、テーブ4の一こま内にある
切り抜き穴に挿入し、ステージ上に載置する。次に、ス
テージを移動してICチップ2のバンプ電極21とイン
ナーリード3と位置合せを行なう。
次に、第8図に示すように、ボンディングツール6とI
Cチップの全てのバンプ電極2lを含む領域と位置合せ
し、ボンディングッールを下降し、第10図のボンディ
ング領域52を押圧することにより全数のバンプ電極2
1とインナーリード3とを一度に接続していた。
Cチップの全てのバンプ電極2lを含む領域と位置合せ
し、ボンディングッールを下降し、第10図のボンディ
ング領域52を押圧することにより全数のバンプ電極2
1とインナーリード3とを一度に接続していた。
上述した従来のボンディング方法及びその装置では、第
7図のボンディングッール6の押圧面は、一度で、ボン
ディング領域52を押すことにより、全てのインナーリ
ード3及びバンプ電極2]をボンディングしているため
、これらに全てのインナーリード3及びバンプ電極21
に対して均一な押圧力を与える必要がある。しかしなが
ら、ボンディングッール6の押圧面が平坦であっても、
このインナーリード3とバンプ電!21の高さが全て同
じでなく、このため、ボンディングッール6の押圧面と
バンプ電極21を乗せたインナーリード3との面が平行
でなければならない。従って、このボンディング作業を
始める前には、これら面が平行にする平行度調整には、
多大な調整工数を必要としていた。特に、最近は、30
0ピンあるいは500ピンといった接続するバンプ電極
が増加すると、この問題は深刻な問題となった。
7図のボンディングッール6の押圧面は、一度で、ボン
ディング領域52を押すことにより、全てのインナーリ
ード3及びバンプ電極2]をボンディングしているため
、これらに全てのインナーリード3及びバンプ電極21
に対して均一な押圧力を与える必要がある。しかしなが
ら、ボンディングッール6の押圧面が平坦であっても、
このインナーリード3とバンプ電!21の高さが全て同
じでなく、このため、ボンディングッール6の押圧面と
バンプ電極21を乗せたインナーリード3との面が平行
でなければならない。従って、このボンディング作業を
始める前には、これら面が平行にする平行度調整には、
多大な調整工数を必要としていた。特に、最近は、30
0ピンあるいは500ピンといった接続するバンプ電極
が増加すると、この問題は深刻な問題となった。
一方、ボンディングツールの押圧力に関しては、例えば
、一つのバンプ電極当り100g程度とすると、300
の電極のあるICチップでは、30kg、500の電極
のあるICチップでは、50kgとなり、もし、前述の
調整が不十分であると、ボンディングツールの所謂片当
り現象を起し、出張りのあるバンプ電極に必要以上の押
圧力が集中し、ついには、バンプ電極に座屈を起し破壊
される問題が起る。また、バンプ電極の高さが低い場合
は、接続されなく、均一な接続が得られないという問題
もある。
、一つのバンプ電極当り100g程度とすると、300
の電極のあるICチップでは、30kg、500の電極
のあるICチップでは、50kgとなり、もし、前述の
調整が不十分であると、ボンディングツールの所謂片当
り現象を起し、出張りのあるバンプ電極に必要以上の押
圧力が集中し、ついには、バンプ電極に座屈を起し破壊
される問題が起る。また、バンプ電極の高さが低い場合
は、接続されなく、均一な接続が得られないという問題
もある。
また、最近、一つのテープに異なるチップサイズのIC
チップを搭載し、ハイブリット化の傾向があり、このよ
うに、ICチップの形状及び寸法が変更される場合は、
それぞれのボンディングツールを用意しなければならな
いばかりか、前述したような各々のボンデイングスール
の調整を必要とし、さらに、交換時毎にも調整し直すと
いった交換工数及び交換後の調整工数が益々増大すると
いったさらに大きな問題となる。さらに、このような問
題は、ひいては設備稼働率にもつながり、例えば、装置
の稼働率20〜50%と低下することもある。
チップを搭載し、ハイブリット化の傾向があり、このよ
うに、ICチップの形状及び寸法が変更される場合は、
それぞれのボンディングツールを用意しなければならな
いばかりか、前述したような各々のボンデイングスール
の調整を必要とし、さらに、交換時毎にも調整し直すと
いった交換工数及び交換後の調整工数が益々増大すると
いったさらに大きな問題となる。さらに、このような問
題は、ひいては設備稼働率にもつながり、例えば、装置
の稼働率20〜50%と低下することもある。
本発明の目的は、かかる問題を解消して、異種のICチ
ップに切換えても、ボンディングツールの交換や、交換
後の平行度の調整を行なうこととないボンデイング装置
と、バンプ電極を破壊することなく、より早く、安定し
て、しかも均一に全てのインナーリードとバンプ電極と
が接続することの出来るボンデイング方法を提供するこ
とである。
ップに切換えても、ボンディングツールの交換や、交換
後の平行度の調整を行なうこととないボンデイング装置
と、バンプ電極を破壊することなく、より早く、安定し
て、しかも均一に全てのインナーリードとバンプ電極と
が接続することの出来るボンデイング方法を提供するこ
とである。
1.本発明の第1のボンデイング装置は、樹脂製のテー
ブの一こま毎の切抜き穴にICチップを挿入搭載し、こ
のICチップの一生面に形成された複数のバンプ電極と
前記テープの表面に形成されるとともに前記バンプ電極
と対応するインナーリードとを接続するボンデイング装
置において、前記ICチップの全ての前記バンプ電極を
含む領域の外形より小さい押圧面をもつボンディングツ
ールを有している。
ブの一こま毎の切抜き穴にICチップを挿入搭載し、こ
のICチップの一生面に形成された複数のバンプ電極と
前記テープの表面に形成されるとともに前記バンプ電極
と対応するインナーリードとを接続するボンデイング装
置において、前記ICチップの全ての前記バンプ電極を
含む領域の外形より小さい押圧面をもつボンディングツ
ールを有している。
2,本発明の第1のボンデイング方法は、前記ICチッ
プの全てのバンプ電極を含む領域を等分の面積の複数の
バンプ電極領域に分割し、これら分割された領域の面積
で設定される押圧力でボンディングツールで押圧する工
程を含んで構成される。
プの全てのバンプ電極を含む領域を等分の面積の複数の
バンプ電極領域に分割し、これら分割された領域の面積
で設定される押圧力でボンディングツールで押圧する工
程を含んで構成される。
3 本発明の第2のボンデイング装置は、前記丁Cチッ
プの全てのバンプ電極を含む領域より小さく、かつ押圧
面の面積の異なる複数のボンディングツールとを有して
いる。
プの全てのバンプ電極を含む領域より小さく、かつ押圧
面の面積の異なる複数のボンディングツールとを有して
いる。
4.本発明の第2のボンデイング方法は、前記ICチッ
プの全てのバンプ電極を含む領域を異なる面積の複数の
バンプ電極領域に分割し、これら分割されたバンプ電極
領域をその領域の面積に応じた押圧力でボンディングツ
ールで押圧する工程を含むことを特徴とするボンデイン
グ方法。
プの全てのバンプ電極を含む領域を異なる面積の複数の
バンプ電極領域に分割し、これら分割されたバンプ電極
領域をその領域の面積に応じた押圧力でボンディングツ
ールで押圧する工程を含むことを特徴とするボンデイン
グ方法。
5.本発明の第3のボンディング方法は、前記テーブの
一こまに挿入搭載された複数の形状及び寸法の異なるI
Cチップと前記インナーリードとを接続するボンディン
グ方法において、前記2項に記載されている工程もしく
は前記4項に記載されている工程と、前記分割された領
域にあるそれぞれの前記バンプ電極及びインナーリード
に応じて異なる温度で接続する工程とを含んで横成され
る。
一こまに挿入搭載された複数の形状及び寸法の異なるI
Cチップと前記インナーリードとを接続するボンディン
グ方法において、前記2項に記載されている工程もしく
は前記4項に記載されている工程と、前記分割された領
域にあるそれぞれの前記バンプ電極及びインナーリード
に応じて異なる温度で接続する工程とを含んで横成され
る。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の第1の実施例を示すボンディング装置
のブロック図である。このボンディング装置は、第1図
に示すように、ICチップ2を搭載するとともにX.Y
及びZ方向の移動と回転が出来るステージ1と、ICチ
ップのチップ面積より小さい押圧面20をもつとともに
加熱ヒータ5を内蔵するボンディングツール6aと、こ
のボンディングツール6aを押圧力検出器8を介して保
持するとともにICチップ面を撮像するカメラ7をもつ
ボンディングヘッド9と、このボンデイングヘッド9を
上下方向(Z方向)に移動させる機構をもつコラム■0
と、このコラム10をX及びY方向に移動させる移動機
構11を介して搭載するベースl2と、ボンディングツ
ール6aに押圧力を与える圧力タンク14と圧力調整器
13及び圧力源を配管21で接続してなる押圧機構との
機構部で構成されている。
のブロック図である。このボンディング装置は、第1図
に示すように、ICチップ2を搭載するとともにX.Y
及びZ方向の移動と回転が出来るステージ1と、ICチ
ップのチップ面積より小さい押圧面20をもつとともに
加熱ヒータ5を内蔵するボンディングツール6aと、こ
のボンディングツール6aを押圧力検出器8を介して保
持するとともにICチップ面を撮像するカメラ7をもつ
ボンディングヘッド9と、このボンデイングヘッド9を
上下方向(Z方向)に移動させる機構をもつコラム■0
と、このコラム10をX及びY方向に移動させる移動機
構11を介して搭載するベースl2と、ボンディングツ
ール6aに押圧力を与える圧力タンク14と圧力調整器
13及び圧力源を配管21で接続してなる押圧機構との
機構部で構成されている。
また、このボンデイング装置の機構部には、押圧力を押
圧力検出器8により検出し圧力調整器13を調整する押
圧力制御装置15と、カメラ7の映像情報によりボンデ
ィングツール6aとICチップ2との相対位置を検出す
る画像位置検出装置l6と、ボンディングツールを加熱
するヒータ5の温度を制御するツール加熱制御装置17
と、これら制御装置のシーケンス動作及びステージ1、
移動機構11、ボンディングヘッド9の動作制御を全体
的に制御する制御装置18と、ボンデイング条件に係わ
るデータとボンディングツール6aの位置データ等の情
報を記憶する記憶装置とが配線で接続されている。
圧力検出器8により検出し圧力調整器13を調整する押
圧力制御装置15と、カメラ7の映像情報によりボンデ
ィングツール6aとICチップ2との相対位置を検出す
る画像位置検出装置l6と、ボンディングツールを加熱
するヒータ5の温度を制御するツール加熱制御装置17
と、これら制御装置のシーケンス動作及びステージ1、
移動機構11、ボンディングヘッド9の動作制御を全体
的に制御する制御装置18と、ボンデイング条件に係わ
るデータとボンディングツール6aの位置データ等の情
報を記憶する記憶装置とが配線で接続されている。
この実施例のボンディング装置と従来のボンディング装
置との違いは、その第1の相異点は、ボンディングツー
ル6aの押圧面の面積をICチップのボンディング領域
の外形より小さくしたことである。これば、従来、この
ボンディングツールの押圧面はICチップのボンディン
グ領域と同じか、やや大きめにしたが、この実施例では
、その大きさを、例えば、ボンディング領域の1/4程
度の面積となる等分のボンディング領域の外形と同じ面
積の押圧面をもつボンディングツール6aにしたことで
ある。例えば、具体的な数値として、ICチップの大き
さが25mmzもある大きなICチップをボンディング
する場合には、押圧面の面積を6〜7 m m 2とい
った小さい面積にすることである。このことにより、従
来、ボンディングツールとICチップのバンプ電極面と
の平行度調整は、最初の簡単な調整のみで、その後の調
整がほとんど不要になった. また、第2の相異点は、第1の相異点に伴いボンディン
グ方法が異なる点である.すなわち、ICチップの全て
のバンプ電極を含むボンデイング領域をいくつかの小さ
いボンデイング領域に分割し、その分割された領域に順
にボンディングツールを押圧し、一つのICチップを数
回に分けてボンディングすることである。
置との違いは、その第1の相異点は、ボンディングツー
ル6aの押圧面の面積をICチップのボンディング領域
の外形より小さくしたことである。これば、従来、この
ボンディングツールの押圧面はICチップのボンディン
グ領域と同じか、やや大きめにしたが、この実施例では
、その大きさを、例えば、ボンディング領域の1/4程
度の面積となる等分のボンディング領域の外形と同じ面
積の押圧面をもつボンディングツール6aにしたことで
ある。例えば、具体的な数値として、ICチップの大き
さが25mmzもある大きなICチップをボンディング
する場合には、押圧面の面積を6〜7 m m 2とい
った小さい面積にすることである。このことにより、従
来、ボンディングツールとICチップのバンプ電極面と
の平行度調整は、最初の簡単な調整のみで、その後の調
整がほとんど不要になった. また、第2の相異点は、第1の相異点に伴いボンディン
グ方法が異なる点である.すなわち、ICチップの全て
のバンプ電極を含むボンデイング領域をいくつかの小さ
いボンデイング領域に分割し、その分割された領域に順
にボンディングツールを押圧し、一つのICチップを数
回に分けてボンディングすることである。
さらに、このボンデイング方法を実現するために、第1
図に示したボンデイング装置に、分割されたボンディン
グ領域のボンディングツール6aの位置情報及びボンデ
イング条件データを記憶する記憶装置1つと、これら位
置及び条件データを取り組み、各ボンディング領域を同
一条件でボンディング出来るように各制御装置及び機構
部の動作制御するをシーケンス制御機構を有する制御装
置18を設けたことである。
図に示したボンデイング装置に、分割されたボンディン
グ領域のボンディングツール6aの位置情報及びボンデ
イング条件データを記憶する記憶装置1つと、これら位
置及び条件データを取り組み、各ボンディング領域を同
一条件でボンディング出来るように各制御装置及び機構
部の動作制御するをシーケンス制御機構を有する制御装
置18を設けたことである。
次に、このボンディング装置の動作及び本発明のボンデ
ィング方法の第1の実施例を具体的に図面を参照して説
明する。
ィング方法の第1の実施例を具体的に図面を参照して説
明する。
第2図(a)〜(d)は本発明の第1図のボンディング
装置及びこの装置によるボンデイング方法の第1の実施
例を説明するためのICチップとインナーリードを示す
平面図、第3図(a)及び(b)は第2図(a>及び(
d)に示すICチップとインナーリードの断面図である
。これらの図面は解り易いようにテープを省略してある
。
装置及びこの装置によるボンデイング方法の第1の実施
例を説明するためのICチップとインナーリードを示す
平面図、第3図(a)及び(b)は第2図(a>及び(
d)に示すICチップとインナーリードの断面図である
。これらの図面は解り易いようにテープを省略してある
。
まず、このボンディング装置の動作及びボンディング方
法は、第1図及び第2図(a)に示すように、ステージ
1に搭載されたICチップ2を、ステージ1をXあるい
はY方向に移動し、インナーリード3とバンプ電極21
とが互いに一致するように位置合せをする。次に、この
ときの位置データをXY軸の原点とし、例えば、COD
カメラであるカメラ7で撮像し、位置データとして記憶
装置19に記憶する。次に、あらかじめ記憶されていた
ボンディングツール6aの位置データと、前述の原点位
置とのオフセット量をもとに、ボンディングツール6a
をICチップ2上のXY座標の第2象限の中心に移動さ
せる。勿論、この位置決めプログラムシーケンスは制御
装置18により移動機横11を作動して行なわれる。次
に、あらかじめ記憶装置19に記憶された押圧カデータ
を制御装置18が取り込み、そのデータにより圧力調整
器13を調節し、例えば、使用している圧縮空気の空圧
を調節してボンディングツール6aの押圧力を設定する
。一方、あらかじめ、ICチップ2はステージ■に内蔵
されたヒータ(図示せず)により、例えば、150〜3
00℃程度に加熱し、ボンディングツールも、ツール加
熱制御装置により制御されるヒータ5で、例えば、40
0〜500℃程度に加熱する。次に、ボンディングヘッ
ド9がコラム10を活動しながら下降し、ボンディング
ッール6aの押圧面20は、ボンディング領域50aを
押圧し、バンプ電極21とインナーリード3と熱圧着し
て接続する。
法は、第1図及び第2図(a)に示すように、ステージ
1に搭載されたICチップ2を、ステージ1をXあるい
はY方向に移動し、インナーリード3とバンプ電極21
とが互いに一致するように位置合せをする。次に、この
ときの位置データをXY軸の原点とし、例えば、COD
カメラであるカメラ7で撮像し、位置データとして記憶
装置19に記憶する。次に、あらかじめ記憶されていた
ボンディングツール6aの位置データと、前述の原点位
置とのオフセット量をもとに、ボンディングツール6a
をICチップ2上のXY座標の第2象限の中心に移動さ
せる。勿論、この位置決めプログラムシーケンスは制御
装置18により移動機横11を作動して行なわれる。次
に、あらかじめ記憶装置19に記憶された押圧カデータ
を制御装置18が取り込み、そのデータにより圧力調整
器13を調節し、例えば、使用している圧縮空気の空圧
を調節してボンディングツール6aの押圧力を設定する
。一方、あらかじめ、ICチップ2はステージ■に内蔵
されたヒータ(図示せず)により、例えば、150〜3
00℃程度に加熱し、ボンディングツールも、ツール加
熱制御装置により制御されるヒータ5で、例えば、40
0〜500℃程度に加熱する。次に、ボンディングヘッ
ド9がコラム10を活動しながら下降し、ボンディング
ッール6aの押圧面20は、ボンディング領域50aを
押圧し、バンプ電極21とインナーリード3と熱圧着し
て接続する。
次に、ボンディング領域50aにあるバンプ電極21と
インナーリード3とを接続した後、ボンディングヘッド
9が上昇し、ステージ1に搭載されたICチップとテー
プは位置を固定した状態で、あらかじめ、記憶装置l9
に記憶された前述のボンディングツール6aの位置と次
に移動すべき第2図(b)の第3象限の中心点へのオフ
セット量のデータを制御装置18が取り込み、移動機構
11を、例えば、Y方向に移動させ、ボンディングツー
ル6aの押圧面20の位置を、ICチップ2の第3象限
にあるボンディング領域50b上に位置決めする。次に
、前述と同じ押圧条件で、ボンディング領域50bにあ
るバンプ電極21とインナーリード3を接続する。
インナーリード3とを接続した後、ボンディングヘッド
9が上昇し、ステージ1に搭載されたICチップとテー
プは位置を固定した状態で、あらかじめ、記憶装置l9
に記憶された前述のボンディングツール6aの位置と次
に移動すべき第2図(b)の第3象限の中心点へのオフ
セット量のデータを制御装置18が取り込み、移動機構
11を、例えば、Y方向に移動させ、ボンディングツー
ル6aの押圧面20の位置を、ICチップ2の第3象限
にあるボンディング領域50b上に位置決めする。次に
、前述と同じ押圧条件で、ボンディング領域50bにあ
るバンプ電極21とインナーリード3を接続する。
なを、この接続する際には、ボンディングツール6aの
押圧力は、押圧力検出器8により、常に、押圧力を検出
し、押押圧力制御装置にフィードバックして、圧力調整
器13を動作させ、押圧力を所定値に維持している。
押圧力は、押圧力検出器8により、常に、押圧力を検出
し、押押圧力制御装置にフィードバックして、圧力調整
器13を動作させ、押圧力を所定値に維持している。
次に、同様な動作を繰返して、第2図(C)及び第2図
(d)のボンディング領域50c、50dをボンディン
グツール6aで押圧し、これら領域にあるバンプ電極2
1とインナーリード3を、第3図(b)に示すように、
接続し、テープの一こまにあるICチップのボンデイン
グ作業を完了する。次に、図面には示していないが、テ
ープ供給装置のスブロケットホイールで、テープを一こ
ま送り、ICチップ供給装置で、新たなICチップを供
給し、ステージ1に搭載する。
(d)のボンディング領域50c、50dをボンディン
グツール6aで押圧し、これら領域にあるバンプ電極2
1とインナーリード3を、第3図(b)に示すように、
接続し、テープの一こまにあるICチップのボンデイン
グ作業を完了する。次に、図面には示していないが、テ
ープ供給装置のスブロケットホイールで、テープを一こ
ま送り、ICチップ供給装置で、新たなICチップを供
給し、ステージ1に搭載する。
第4図は本発明の第2の実施例を示すボンデイング装置
の部分斜視図である。このボンデイング装置は、第1図
に示したボンデイング装置のコラム10に上下に摺動す
る一つのボンデイングヘッドの代りに、二つの押圧面の
大きさの異るボンディングツール6b及び6Cをそれぞ
れもつ二つボンディングヘッド9aを設けたことである
。勿論、図面には示さないが、これらボンデイングヘッ
ド9aには、ボンディングツール6b及び6Cの押圧力
を設定する押圧力検出器、圧力調整器及び押圧力制御装
置もそれぞれに独立して設けられている。
の部分斜視図である。このボンデイング装置は、第1図
に示したボンデイング装置のコラム10に上下に摺動す
る一つのボンデイングヘッドの代りに、二つの押圧面の
大きさの異るボンディングツール6b及び6Cをそれぞ
れもつ二つボンディングヘッド9aを設けたことである
。勿論、図面には示さないが、これらボンデイングヘッ
ド9aには、ボンディングツール6b及び6Cの押圧力
を設定する押圧力検出器、圧力調整器及び押圧力制御装
置もそれぞれに独立して設けられている。
このボンデイング装置は、ICチップのボンディング領
域を大小二種類のボンデイング領域に分割し、これら領
域を押圧するボンディングツールを設けたことである。
域を大小二種類のボンデイング領域に分割し、これら領
域を押圧するボンディングツールを設けたことである。
第5図(a)〜(C)は本発明のボンディング方法の第
2の実施例と第4図のボンディング装置の動作を説明す
るためのICチップとインナーリードを示す平面図であ
る。この図面も、理解し易いようにテープは図示されて
いない。まず、前述の実施例と同様に、第1図及び第4
図並びに第5図(a)を参照して、ステージ1上のIC
チップ2のバンプ電極21aとインナーリード3との位
置合せをする。次に、第5図(a)に示すICチップ2
のボンディング領域51aの中心と第4図に示すボンデ
ィングツール6bの中心とを合せる。このときの位置デ
ータを原点とし、第1図の記憶装置l9に記憶させる。
2の実施例と第4図のボンディング装置の動作を説明す
るためのICチップとインナーリードを示す平面図であ
る。この図面も、理解し易いようにテープは図示されて
いない。まず、前述の実施例と同様に、第1図及び第4
図並びに第5図(a)を参照して、ステージ1上のIC
チップ2のバンプ電極21aとインナーリード3との位
置合せをする。次に、第5図(a)に示すICチップ2
のボンディング領域51aの中心と第4図に示すボンデ
ィングツール6bの中心とを合せる。このときの位置デ
ータを原点とし、第1図の記憶装置l9に記憶させる。
次に、あらかじめ、ボンディングッール6bを所定の温
度に加熱し、ICチップ2の温度も、ステージ1に内蔵
するヒータにより加熱し設定し、さらに、ボンディング
ッール6bの押圧面の面積に応じて押圧力制御装置■5
により設定しておく。次に、ボンディングヘッド9aを
下降させ、ボンデイング領域51aを押圧し、ボンディ
ング領域51aにあるバンプ電極21とインナーリード
3とを接続する。
度に加熱し、ICチップ2の温度も、ステージ1に内蔵
するヒータにより加熱し設定し、さらに、ボンディング
ッール6bの押圧面の面積に応じて押圧力制御装置■5
により設定しておく。次に、ボンディングヘッド9aを
下降させ、ボンデイング領域51aを押圧し、ボンディ
ング領域51aにあるバンプ電極21とインナーリード
3とを接続する。
次に、テープ及びICチップをそのまま固定維持してお
き、ボンディングヘッド9aを移動し、第5図(b)に
示す示すボンディング領域5lbの中心に位置決めする
。次に、あらかめ、設定された押圧力でボンディング領
域5lbを押圧し、このボンディング領f45lbにあ
るバンプ電極21とインナーリード3とを接続する。そ
して、ボンディングヘッド9aは上昇し、第4図に示す
状態になる。
き、ボンディングヘッド9aを移動し、第5図(b)に
示す示すボンディング領域5lbの中心に位置決めする
。次に、あらかめ、設定された押圧力でボンディング領
域5lbを押圧し、このボンディング領f45lbにあ
るバンプ電極21とインナーリード3とを接続する。そ
して、ボンディングヘッド9aは上昇し、第4図に示す
状態になる。
次に、第5図(C)のボンディング領域51cにボンデ
ィング領域51cの中心に、ボンディングツール9Cが
位置合せ出来るように、あらかじめ位置データが記憶さ
れた記憶装置1つより、位置データを制御装置工8が取
り込み、この位置データにより移動機構11を動作させ
る。次に、あらかじめ、ボンディングツール6Cの押圧
する押圧力ずなわち、この押圧面の面積に応じた押圧力
を設定するとともにこのボンディングツールの温度も所
定の温度に設定する。次に、このボンディングツール6
Cの押圧面でボンディング領域5lCを押圧し、このボ
ンディング頭域51cにあるバンプ電極2工とインナー
リード3とを接続する。引き続き、もう一つのボンディ
ング領域51cも、ボンディングツール6cで押圧し、
テープのこまの全てのバンプ電極21とインナーリード
3との接続を完了する。
ィング領域51cの中心に、ボンディングツール9Cが
位置合せ出来るように、あらかじめ位置データが記憶さ
れた記憶装置1つより、位置データを制御装置工8が取
り込み、この位置データにより移動機構11を動作させ
る。次に、あらかじめ、ボンディングツール6Cの押圧
する押圧力ずなわち、この押圧面の面積に応じた押圧力
を設定するとともにこのボンディングツールの温度も所
定の温度に設定する。次に、このボンディングツール6
Cの押圧面でボンディング領域5lCを押圧し、このボ
ンディング頭域51cにあるバンプ電極2工とインナー
リード3とを接続する。引き続き、もう一つのボンディ
ング領域51cも、ボンディングツール6cで押圧し、
テープのこまの全てのバンプ電極21とインナーリード
3との接続を完了する。
この実施例では、二つの異なるボンディングツールを使
用したが、二つ以上のボンディングッールを設けても良
い。また、この実施例では、上台のボンディング装置に
大小二つのボンディングツールを設け、この大小のボン
ディングッールを使い分けることにより、押圧面の比較
的に小さいボンディングツールを数回に分けて押圧して
接続する前述の第1の実施例に比べ、より押圧回数を低
減出来るので、ボンディング作業をより早く出来る利点
がある。
用したが、二つ以上のボンディングッールを設けても良
い。また、この実施例では、上台のボンディング装置に
大小二つのボンディングツールを設け、この大小のボン
ディングッールを使い分けることにより、押圧面の比較
的に小さいボンディングツールを数回に分けて押圧して
接続する前述の第1の実施例に比べ、より押圧回数を低
減出来るので、ボンディング作業をより早く出来る利点
がある。
第6図(a)〜(f)は本発明のボンディング方法の第
3の実施例を説明するためのテープ上に装置されたIC
チップのボンディングj頃に示した平面図である。この
ボンディング方法は、テーブ4aのーこまに二つのIC
チップ2b及び2Cを搭載した半導体装置に適用する方
法である。また、このボンディング方法には、第1の実
施例のボンディング装置を用いても、第2の実施例のボ
ンディング装置を用いてもボンディングすることが出来
る。この実施例では、第4図に示す第2の実施例のボン
ディング装置を使用してボンディングする場合について
説明する. まず、第6図(a)に示すように、テープ4a上に二つ
の寸法の異なるICチップ2b及び2Cをテーブ4aの
抜け穴に挿入し、ステージ1に載置する。第1図に示す
ステージlに搭載する。次に、ステージ1を移動し、そ
れぞれのICチップのバンプ電12 l bとインナー
リード3a及びバンプ電極21cとインナーリード3b
が一致するように位置合せをする。このときの、ICチ
ップ2bの中心位置データをXY座標の原点とする。
3の実施例を説明するためのテープ上に装置されたIC
チップのボンディングj頃に示した平面図である。この
ボンディング方法は、テーブ4aのーこまに二つのIC
チップ2b及び2Cを搭載した半導体装置に適用する方
法である。また、このボンディング方法には、第1の実
施例のボンディング装置を用いても、第2の実施例のボ
ンディング装置を用いてもボンディングすることが出来
る。この実施例では、第4図に示す第2の実施例のボン
ディング装置を使用してボンディングする場合について
説明する. まず、第6図(a)に示すように、テープ4a上に二つ
の寸法の異なるICチップ2b及び2Cをテーブ4aの
抜け穴に挿入し、ステージ1に載置する。第1図に示す
ステージlに搭載する。次に、ステージ1を移動し、そ
れぞれのICチップのバンプ電12 l bとインナー
リード3a及びバンプ電極21cとインナーリード3b
が一致するように位置合せをする。このときの、ICチ
ップ2bの中心位置データをXY座標の原点とする。
次に、第4図に示す比較的に大きなボンディングツール
6bを前記原点を基準にしてボンディング領域52aの
中心までの位置に、移動機tiI11によってコラム1
0を移動して、ボンディングツール6bをこのボンディ
ング領域52aの上に位置決めする。次に、あらかじめ
、この【Cチップ2bのバンプ電極2lbとインナーリ
ード3aを熱圧着するのに必要の温度にボンディングツ
ール6bを加熱する。また、このボンディングツール6
bに必要な押圧力を設定する。次に、ボンディングツー
ル6bを下降し、ボンディング領域52aのバンプ電極
2lbとインナーリード3aと接続する。次に、ボンデ
ィングヘッド9aを上昇させ、第6図(b)から第6図
(d)まで、前述と同様にボンディングツール6bでそ
れぞれボンディング領域52bから52dまで押圧し、
ICチップ2bのバンプ電極2lbとインナーリード3
aとの接続を完了する。
6bを前記原点を基準にしてボンディング領域52aの
中心までの位置に、移動機tiI11によってコラム1
0を移動して、ボンディングツール6bをこのボンディ
ング領域52aの上に位置決めする。次に、あらかじめ
、この【Cチップ2bのバンプ電極2lbとインナーリ
ード3aを熱圧着するのに必要の温度にボンディングツ
ール6bを加熱する。また、このボンディングツール6
bに必要な押圧力を設定する。次に、ボンディングツー
ル6bを下降し、ボンディング領域52aのバンプ電極
2lbとインナーリード3aと接続する。次に、ボンデ
ィングヘッド9aを上昇させ、第6図(b)から第6図
(d)まで、前述と同様にボンディングツール6bでそ
れぞれボンディング領域52bから52dまで押圧し、
ICチップ2bのバンプ電極2lbとインナーリード3
aとの接続を完了する。
一方、もう一つのICチップ2Cのバンプ電極21cと
インナーリード3bの接続に際しては、このICチップ
2Cのバンプ電極21cの容量が前述のICチップ2b
のバンプ電極2lbの容量より小さいので、ボンディン
グツール6cの温度の設定を変える必要がある。このよ
うな場合は、あらかじめ、ボンディングツール6cの温
度を変えて設定しておくことである。まず、既に、前述
したように、ICチップ2bのボンディング作業が完了
しているので、第6図(e)に示すようにICチップ2
bのXY軸の原点からICチップのボンディング領域5
3aの中心点までの距離とボンディングツール6bと6
Cとの間の距離を演算し、求められたボンディング領域
53aの中心座標とボンディングツール6Cの中心座標
を求め、この座標値から移動すべきX及びY方向の移動
距離を算出し、制御装置18により移動IN横11を作
動させ、ボンディングツール6cをボンディング領域5
3aの上に位置決めする。
インナーリード3bの接続に際しては、このICチップ
2Cのバンプ電極21cの容量が前述のICチップ2b
のバンプ電極2lbの容量より小さいので、ボンディン
グツール6cの温度の設定を変える必要がある。このよ
うな場合は、あらかじめ、ボンディングツール6cの温
度を変えて設定しておくことである。まず、既に、前述
したように、ICチップ2bのボンディング作業が完了
しているので、第6図(e)に示すようにICチップ2
bのXY軸の原点からICチップのボンディング領域5
3aの中心点までの距離とボンディングツール6bと6
Cとの間の距離を演算し、求められたボンディング領域
53aの中心座標とボンディングツール6Cの中心座標
を求め、この座標値から移動すべきX及びY方向の移動
距離を算出し、制御装置18により移動IN横11を作
動させ、ボンディングツール6cをボンディング領域5
3aの上に位置決めする。
次に、あらかじめ押圧力及び温度が設定されたボンディ
ングツール6Cを下降し、ボンディング領域53aを押
圧して、この領域のバンプ電極21cとインナーリード
3bとの接続を行なう。次に、前述と同様に、第611
Z(f)にボンディングツールを位置決めし、押圧して
、このボンディング領域53bにあるバンプ電極21c
とインナーリード3bの接続を行なう。このようにして
、テーブのーこまに二つのICチップが搭載された場合
でも、ボンディングツールの交換を行なうことなく、ボ
ンデイング出来る利点がある。また、このために、ボン
ディングツールの交換に伴う平行度調整も不要になると
いう利点もある。
ングツール6Cを下降し、ボンディング領域53aを押
圧して、この領域のバンプ電極21cとインナーリード
3bとの接続を行なう。次に、前述と同様に、第611
Z(f)にボンディングツールを位置決めし、押圧して
、このボンディング領域53bにあるバンプ電極21c
とインナーリード3bの接続を行なう。このようにして
、テーブのーこまに二つのICチップが搭載された場合
でも、ボンディングツールの交換を行なうことなく、ボ
ンデイング出来る利点がある。また、このために、ボン
ディングツールの交換に伴う平行度調整も不要になると
いう利点もある。
なお、この実施例では、二つのICチップを別々にボン
デイングしたが、二つのボンディングツールの相対位置
と二つのICチップの相対位置を一致させ、さらに、二
つのボンディングツールの移動距離を同じにすれば、こ
の二つのボンディングツールを同期してボンディング動
作を行なうことによって、同時に二つのICチップのボ
ンディング作業が出来るという利点もある。
デイングしたが、二つのボンディングツールの相対位置
と二つのICチップの相対位置を一致させ、さらに、二
つのボンディングツールの移動距離を同じにすれば、こ
の二つのボンディングツールを同期してボンディング動
作を行なうことによって、同時に二つのICチップのボ
ンディング作業が出来るという利点もある。
以上説明したように、本発明によれば以下に述ベる効果
が得られる。
が得られる。
1.ICチップの全てのバンプ電極を含む領域より小さ
い押圧面をもつボンディングツールを設けることによっ
て、バンプ電様の先端を含む平面と押圧面の平行度調整
といった準備作業が不要で、バンプ電極とインナーリー
ドと均一な熱圧着による接続が出来るボンディング装置
が得られという効果がある。
い押圧面をもつボンディングツールを設けることによっ
て、バンプ電様の先端を含む平面と押圧面の平行度調整
といった準備作業が不要で、バンプ電極とインナーリー
ドと均一な熱圧着による接続が出来るボンディング装置
が得られという効果がある。
2.ICチップの全てのバンプ電極を含む領域を等分の
面積の複数のバンプ電極領域に分割し、これらの領域を
その面積で設定される一定の押圧力でボンディングツー
ルで押圧することにより、均一なバンプ電極とインナー
リードとの接続が出来るボンディング方法が得られると
いう効果がある. 3、ICチップの全てのバンプ電極を含む領域より小さ
く、かつ押圧面積の異なる複数のボンディングツールを
備えることによって、一ICチップ当りのボンディング
回数を低減し、ICチップが変更されても、ボンディン
グツールの交換が不要で、かつ交換後の平行度調整が不
要なボンディング装置が得られるという効果がある。
面積の複数のバンプ電極領域に分割し、これらの領域を
その面積で設定される一定の押圧力でボンディングツー
ルで押圧することにより、均一なバンプ電極とインナー
リードとの接続が出来るボンディング方法が得られると
いう効果がある. 3、ICチップの全てのバンプ電極を含む領域より小さ
く、かつ押圧面積の異なる複数のボンディングツールを
備えることによって、一ICチップ当りのボンディング
回数を低減し、ICチップが変更されても、ボンディン
グツールの交換が不要で、かつ交換後の平行度調整が不
要なボンディング装置が得られるという効果がある。
4.ICチップの全てのバンプ電極を含む領域を異なる
面積の複数のバンプ電極領域に分割し、これら分割され
たバンプ電極領域をその領域の面積に応じた押圧力て押
圧する工程を設けることによって、よりボンディング作
業速度の早い、また、異なる形状及び寸法のICチップ
でも、ボンディングツールを交換することなくボンディ
ング作業が出来るボンデイング方法が得られるという効
果がある。
面積の複数のバンプ電極領域に分割し、これら分割され
たバンプ電極領域をその領域の面積に応じた押圧力て押
圧する工程を設けることによって、よりボンディング作
業速度の早い、また、異なる形状及び寸法のICチップ
でも、ボンディングツールを交換することなくボンディ
ング作業が出来るボンデイング方法が得られるという効
果がある。
5、テープの一こまに複数の形状及び寸法の異なる丁C
チップが搭載された半導体装置のボンディング作業に際
しても、ボンディングツールに種種のボンディング条件
を設定出来る制御機構を設けることによって、ICチッ
プの品種切り換えてもボンディング交換が不要とするこ
とが出来、稼働率の高いボンディング装置が得られると
いう効果がある。
チップが搭載された半導体装置のボンディング作業に際
しても、ボンディングツールに種種のボンディング条件
を設定出来る制御機構を設けることによって、ICチッ
プの品種切り換えてもボンディング交換が不要とするこ
とが出来、稼働率の高いボンディング装置が得られると
いう効果がある。
第■図は本発明の第1の実施例を示すボンディング装置
のブロック図、第2図(a)〜(d)は本発明の第1図
のボンディング装置及びこの装置によるボンディング方
法の第1の実施例を説明するためのICチップとインナ
ーリードを示す平面図、第3図(a)及び(b)は第2
図(a)及び(d)に示すICチップとインナーリード
の断面図、第4図は本発明の第2の実施例を示すボンデ
ィング装置の部分斜視図、第5図(a)〜(C)は本発
明のボンディング方法の第2の実施例と第4図のボンデ
ィング装置の動作を説明するためのICチップとインナ
ーリードを示す平面図、第6図(a)〜(f)は本発明
のボンディング方法の第3の実施例を説明するためのテ
ープ上に装置されたICチップのボンディング順に示し
た平面図、第7図は従来のボンディング装置のボンディ
ングツールとICチップ及びテープの一例を示す部分断
面図、第8図は第7図のICチップ及びテープの部分平
面図である. 1 ・−・ステージ、2、2a、2b、2 c−・I
Cチップ、3、3a、3 b ・・・インナーリード、
4、4a・・・テープ、5・・・ヒータ、6、6a、6
b、6C・・・ボンディングツール、7・・・カメラ、
8・・・押圧検出器、9、9a・・・ボンディングヘッ
ド、10・・−コラム、11・・・移動機構、12・・
・ベース、■3・・・圧力調整・器、14・・・圧カタ
ンク、15・・・押圧力制御装置、16・・・画像位置
検出装置、l7・・・ツール加熱制御装置、l8・・一
制御装置、19・・・記憶装置、20・・・押圧面、2
1、2lb、21c・・・バンプ電極、2 2−・・ス
プロケット穴、50a、50b、50c、50d、51
a、5lb、51c、52、52a、52b、52c、
52d、53a、53b・・・ボンディング領域。
のブロック図、第2図(a)〜(d)は本発明の第1図
のボンディング装置及びこの装置によるボンディング方
法の第1の実施例を説明するためのICチップとインナ
ーリードを示す平面図、第3図(a)及び(b)は第2
図(a)及び(d)に示すICチップとインナーリード
の断面図、第4図は本発明の第2の実施例を示すボンデ
ィング装置の部分斜視図、第5図(a)〜(C)は本発
明のボンディング方法の第2の実施例と第4図のボンデ
ィング装置の動作を説明するためのICチップとインナ
ーリードを示す平面図、第6図(a)〜(f)は本発明
のボンディング方法の第3の実施例を説明するためのテ
ープ上に装置されたICチップのボンディング順に示し
た平面図、第7図は従来のボンディング装置のボンディ
ングツールとICチップ及びテープの一例を示す部分断
面図、第8図は第7図のICチップ及びテープの部分平
面図である. 1 ・−・ステージ、2、2a、2b、2 c−・I
Cチップ、3、3a、3 b ・・・インナーリード、
4、4a・・・テープ、5・・・ヒータ、6、6a、6
b、6C・・・ボンディングツール、7・・・カメラ、
8・・・押圧検出器、9、9a・・・ボンディングヘッ
ド、10・・−コラム、11・・・移動機構、12・・
・ベース、■3・・・圧力調整・器、14・・・圧カタ
ンク、15・・・押圧力制御装置、16・・・画像位置
検出装置、l7・・・ツール加熱制御装置、l8・・一
制御装置、19・・・記憶装置、20・・・押圧面、2
1、2lb、21c・・・バンプ電極、2 2−・・ス
プロケット穴、50a、50b、50c、50d、51
a、5lb、51c、52、52a、52b、52c、
52d、53a、53b・・・ボンディング領域。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、樹脂製のテープの一こま毎の切抜き穴にICチップ
を挿入搭載し、このICチップの一主面に形成された複
数のバンプ電極と前記テープの表面に形成されるととも
に前記バンプ電極と対応するインナーリードとを接続す
るボンディング装置において、前記ICチップの全ての
前記バンプ電極を含む領域の外形より小さい押圧面をも
つボンディングツールを有することを特徴とするボンデ
ィング装置。 2、前記ICチップの全てのバンプ電極を含む領域を等
分の面積の複数のバンプ電極領域に分割し、これら分割
された領域の面積に設定される一定の押圧力でボンディ
ングツールで押圧する工程を含むことを特徴とするボン
ディング方法。 3、前記ICチップの全てのバンプ電極を含む領域より
小さく、かつ押圧面の面積の異なる複数のボンディング
ツールを備えることを特徴とする請求項1のボンディン
グ装置。 4、前記ICチップの全てのバンプ電極を含む領域を異
なる面積の複数のバンプ電極領域に分割し、これら分割
されたバンプ電極領域をその領域の面積に応じた押圧力
でボンディングツールで押圧する工程を含むことを特徴
とするボンディング方法。 5、前記テープの一こまに挿入搭載された複数の形状及
び寸法の異なるICチップと前記インナーリードとを接
続するボンディング方法において、前記分割された領域
にあるそれぞれの前記バンプ電極及びインナーリードに
応じて異なる温度で接続する工程と、請求項2もしくは
請求項4を含むことを特徴とするボンディング方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1236545A JP2540954B2 (ja) | 1989-09-11 | 1989-09-11 | ボンディング方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1236545A JP2540954B2 (ja) | 1989-09-11 | 1989-09-11 | ボンディング方法及びその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0397239A true JPH0397239A (ja) | 1991-04-23 |
| JP2540954B2 JP2540954B2 (ja) | 1996-10-09 |
Family
ID=17002255
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1236545A Expired - Lifetime JP2540954B2 (ja) | 1989-09-11 | 1989-09-11 | ボンディング方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2540954B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5839645A (en) * | 1995-09-29 | 1998-11-24 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Bonding machine of electronic components and bonding method thereof |
| JP2002368040A (ja) * | 2001-03-30 | 2002-12-20 | Nec Corp | 半導体製造方法 |
| JP2003007773A (ja) * | 2001-06-25 | 2003-01-10 | Nec Corp | ボンディングツールおよびボンディング方法 |
| KR100373873B1 (ko) * | 1998-11-05 | 2003-04-21 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체 패키지 제조 장비 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58139A (ja) * | 1981-06-25 | 1983-01-05 | Nec Corp | 半導体装置の製造方法 |
| JPS63178324U (ja) * | 1987-05-11 | 1988-11-18 |
-
1989
- 1989-09-11 JP JP1236545A patent/JP2540954B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58139A (ja) * | 1981-06-25 | 1983-01-05 | Nec Corp | 半導体装置の製造方法 |
| JPS63178324U (ja) * | 1987-05-11 | 1988-11-18 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5839645A (en) * | 1995-09-29 | 1998-11-24 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Bonding machine of electronic components and bonding method thereof |
| KR100373873B1 (ko) * | 1998-11-05 | 2003-04-21 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체 패키지 제조 장비 |
| JP2002368040A (ja) * | 2001-03-30 | 2002-12-20 | Nec Corp | 半導体製造方法 |
| JP2003007773A (ja) * | 2001-06-25 | 2003-01-10 | Nec Corp | ボンディングツールおよびボンディング方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2540954B2 (ja) | 1996-10-09 |
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