JPH0399433A - プラズマアッシング装置 - Google Patents
プラズマアッシング装置Info
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- JPH0399433A JPH0399433A JP23543689A JP23543689A JPH0399433A JP H0399433 A JPH0399433 A JP H0399433A JP 23543689 A JP23543689 A JP 23543689A JP 23543689 A JP23543689 A JP 23543689A JP H0399433 A JPH0399433 A JP H0399433A
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- wafers
- vacuum container
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- 238000004380 ashing Methods 0.000 title claims abstract description 29
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 abstract description 61
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 3
- 238000004904 shortening Methods 0.000 abstract 1
- 238000011282 treatment Methods 0.000 abstract 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 241000257465 Echinoidea Species 0.000 description 3
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 3
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 7553-56-2 Chemical compound [I] ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010494 dissociation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000005593 dissociations Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 1
- 229910052740 iodine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011630 iodine Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は半導体集積回路等製造工程において、マイクロ
波を用いてガスプラズマを発生させ、被加工物であるク
エへの表面にてレジスト剥離等のプラズマ処理を行うプ
ラズマアッシング装置に関するものである。
波を用いてガスプラズマを発生させ、被加工物であるク
エへの表面にてレジスト剥離等のプラズマ処理を行うプ
ラズマアッシング装置に関するものである。
(従来の技術)
プラズマアッシング装置は、減圧された真空容器内にガ
ス導入管を介して02ガス等のアッシングガスを導入し
、マイクロ波発振器から導波管を介して導入したマイク
ロ波により真空容器内にプラズマを発生させ、アッシン
グガスを主として電子衝突により励起、イオン化、解離
して生成されるラジカル荷電粒子によりウェハのレジス
トを灰化除去するものである。
ス導入管を介して02ガス等のアッシングガスを導入し
、マイクロ波発振器から導波管を介して導入したマイク
ロ波により真空容器内にプラズマを発生させ、アッシン
グガスを主として電子衝突により励起、イオン化、解離
して生成されるラジカル荷電粒子によりウェハのレジス
トを灰化除去するものである。
(発明が解決しようとする課題〉
上述した従来のプラズマアッシング装置においては、通
常マイクロ波発振器に接続して矩形導波管が取付けられ
、又この矩形導波管に接続して真空容器を内設した導波
管が設けられる。
常マイクロ波発振器に接続して矩形導波管が取付けられ
、又この矩形導波管に接続して真空容器を内設した導波
管が設けられる。
当該真空容器を内設した導波管は、前記矩形導波管と同
様矩形状に形成されている為、プラズマの発生は、この
導波管の形状に応じた所謂四角状の速度分布を示す。そ
の為ウニへの全域に対して均一な速度分布を得ることが
できない。
様矩形状に形成されている為、プラズマの発生は、この
導波管の形状に応じた所謂四角状の速度分布を示す。そ
の為ウニへの全域に対して均一な速度分布を得ることが
できない。
一方所謂低温アッシング処理においてはプラズマによる
ウェハの温度上昇が著しい。その為装置寸法上杵される
限り、ウェハステージを大きくしたりするが、これ丈で
はウェハの温度上昇を十分低減させることができない。
ウェハの温度上昇が著しい。その為装置寸法上杵される
限り、ウェハステージを大きくしたりするが、これ丈で
はウェハの温度上昇を十分低減させることができない。
更にカセットステーション内に内蔵されたウェハを搬送
ロボットにより取り出し、回転アームを介してウェハス
テージ上にla置する工程においては、1本のアームに
よって一枚毎搬送する為、1つのウェハを搬送し、処理
を行うまで次のウェハを搬送することができず、所謂ア
イドルタイムが大きくなっている。
ロボットにより取り出し、回転アームを介してウェハス
テージ上にla置する工程においては、1本のアームに
よって一枚毎搬送する為、1つのウェハを搬送し、処理
を行うまで次のウェハを搬送することができず、所謂ア
イドルタイムが大きくなっている。
この様に従来のプラズマアッシング装置においては、装
置の構成部分において種々の課題を生じており、本発明
はこれ等の課題を解決する為に成されたもので、ウェハ
の加工精度を向上させるとともに作業時間を短縮するこ
とができるプラズマアッシング装置を提供するものであ
る。
置の構成部分において種々の課題を生じており、本発明
はこれ等の課題を解決する為に成されたもので、ウェハ
の加工精度を向上させるとともに作業時間を短縮するこ
とができるプラズマアッシング装置を提供するものであ
る。
〈課題を解決するための手段〉
上記した課題を解決する為に、本発明に係るプラズマア
ッシング装置においては、真空容器を内設した導波管を
マイクロ波発振器に接続された矩形導波管から順次真空
容器に向けて拡大した状態でテーパ状に形成し、又ウェ
ハステージはその上部を吸熱部材にて形成する。更に回
転アームを、第一アームと第二アームとにより二又状に
形成するものである。
ッシング装置においては、真空容器を内設した導波管を
マイクロ波発振器に接続された矩形導波管から順次真空
容器に向けて拡大した状態でテーパ状に形成し、又ウェ
ハステージはその上部を吸熱部材にて形成する。更に回
転アームを、第一アームと第二アームとにより二又状に
形成するものである。
〈作用)
本発明に係るプラズマアッシング装置は、上記の様に構
成されているので、真空容器を内設した導波管は矩形導
波管から該真空容器に向けて拡大した状態でテーパ状に
形成されている為、マイクロ波発振器から矩形導波管を
介して導入されるマイクロ波は、円形状に分類され、す
なわち均一な速度分布を呈する。一方つエへステージは
上部な熱容量の大きい吸熱部材にて形成した為、ウェハ
のL昇温度は、この吸熱部材にて吸収される結果、ウニ
八自体の温度上昇が十分抑制される。更に回転アームで
は第一アームによって先のウェハを搬送し、これを処理
している間に第二アームよって次のウェハを処理直前ま
で搬送できる。これによりアイドルタイムを大幅に減少
できる。
成されているので、真空容器を内設した導波管は矩形導
波管から該真空容器に向けて拡大した状態でテーパ状に
形成されている為、マイクロ波発振器から矩形導波管を
介して導入されるマイクロ波は、円形状に分類され、す
なわち均一な速度分布を呈する。一方つエへステージは
上部な熱容量の大きい吸熱部材にて形成した為、ウェハ
のL昇温度は、この吸熱部材にて吸収される結果、ウニ
八自体の温度上昇が十分抑制される。更に回転アームで
は第一アームによって先のウェハを搬送し、これを処理
している間に第二アームよって次のウェハを処理直前ま
で搬送できる。これによりアイドルタイムを大幅に減少
できる。
〈実施例)
以下本発明の実施例を図に基づき説明する。
第1図はプラズマアッシング装置lの構成概略図である
1図中10はシステムコントローラで、後述する装置の
各構成部を全体的に制御運用するものである。又10a
はシーケンス及びコントローラ電源で、該システムコン
トローラ!0に基づいて各構成部を駆動させるものであ
る。
1図中10はシステムコントローラで、後述する装置の
各構成部を全体的に制御運用するものである。又10a
はシーケンス及びコントローラ電源で、該システムコン
トローラ!0に基づいて各構成部を駆動させるものであ
る。
11は、マイクロ波発振器で、このマイクロ波発振器1
1に矩形導波管1zが接続される。モして該矩形導波管
12の先端には変換導波管13が設けられ、この変換導
波管13を介してテーパ導波管14が接続される。
1に矩形導波管1zが接続される。モして該矩形導波管
12の先端には変換導波管13が設けられ、この変換導
波管13を介してテーパ導波管14が接続される。
テーパ導波管14内には石英チャンバから成る真空容器
15が内設される。当該テーパ導波管14は、変換導波
管13と接続した部分から真空容器15に向けてラッパ
状となした。所謂テーパ部14aが設けられる。
15が内設される。当該テーパ導波管14は、変換導波
管13と接続した部分から真空容器15に向けてラッパ
状となした。所謂テーパ部14aが設けられる。
上記真空容器15の下部にはウェハステージ16が昇降
機構16aによって昇降自在に配置されている。又シャ
ッタSの近傍には一対のカセットステーション17a、
17bが設けられ、更にこのカセットステージg 17
a、17bに内蔵された各ウェハを搬送する為のウェハ
搬送ロボット18と回転アーム19とが設けられている
。
機構16aによって昇降自在に配置されている。又シャ
ッタSの近傍には一対のカセットステーション17a、
17bが設けられ、更にこのカセットステージg 17
a、17bに内蔵された各ウェハを搬送する為のウェハ
搬送ロボット18と回転アーム19とが設けられている
。
上記テーパ導波管14は第2図に示す如く、その内部に
真空容器15が内設されており、又上述の如く変換導波
管13に接続した部分から真空容器15に向けてラッパ
状を成すテーパ部14aが形成される。
真空容器15が内設されており、又上述の如く変換導波
管13に接続した部分から真空容器15に向けてラッパ
状を成すテーパ部14aが形成される。
尚真空容器15にはガス導入口15aが接続されており
、真空容器15内を真空排気コントロールISbにより
所定の真空状態にした後、ガスコントローラ15c、I
Sdを介して、当該ガス導入口15aから02等のアッ
シングガスが導入される。
、真空容器15内を真空排気コントロールISbにより
所定の真空状態にした後、ガスコントローラ15c、I
Sdを介して、当該ガス導入口15aから02等のアッ
シングガスが導入される。
第3図は上記ウェハステージ16を説明する概略図であ
る。すなわちウェハステージ16は、その昇降機構16
aによって真空容器15内まで上昇し、載置されたウェ
ハWを真空容器15内に配置する。ウェハステージ16
の上部は熱容量の大きい吸熱部材16bにて形成されて
いる。
る。すなわちウェハステージ16は、その昇降機構16
aによって真空容器15内まで上昇し、載置されたウェ
ハWを真空容器15内に配置する。ウェハステージ16
の上部は熱容量の大きい吸熱部材16bにて形成されて
いる。
第4図は回転アーム19を説明する斜視図である。回転
アーム19の先端は第一アーム19bと第二アーム19
cによって所謂二又状に形成されている。この回転アー
ム19は支軸19aを介してサーボモータMにて所定の
角度にて回転する。
アーム19の先端は第一アーム19bと第二アーム19
cによって所謂二又状に形成されている。この回転アー
ム19は支軸19aを介してサーボモータMにて所定の
角度にて回転する。
斯かる各構成部を有するプラズマアッシング装置iの処
理工程を説明する。先ずシステムコントローラ10によ
ってマイクロ波、真空度、アッシングガス濃度等総ての
条件を設定する。そしてマイクロ波電源11aとマイク
ロ波コントローラllbを介してマイクロ波発振511
1から所定のマイクロ波を発生させる。このマイクロ波
を、矩形導波管12、変換導波管!3を介してテーパ導
波管14まで導入する。テーパ導波管14では、テーパ
部14aにて導入されたマイクロ波が真空容器15の外
部を均一に分布し、クエへに対しては均一なアッシング
処理が行なわれる。一方シャッタSを開口してカセット
ステーション17a、17b内にウェハが配置され、こ
のウェハがウェハ搬送ロボット18を介して回転アーム
19によりウェハステージ16上に搬送される。ウェハ
搬送ロボット18からのウェハは第一アーム19bと第
二アーム19cとにより一枚毎吸引される。
理工程を説明する。先ずシステムコントローラ10によ
ってマイクロ波、真空度、アッシングガス濃度等総ての
条件を設定する。そしてマイクロ波電源11aとマイク
ロ波コントローラllbを介してマイクロ波発振511
1から所定のマイクロ波を発生させる。このマイクロ波
を、矩形導波管12、変換導波管!3を介してテーパ導
波管14まで導入する。テーパ導波管14では、テーパ
部14aにて導入されたマイクロ波が真空容器15の外
部を均一に分布し、クエへに対しては均一なアッシング
処理が行なわれる。一方シャッタSを開口してカセット
ステーション17a、17b内にウェハが配置され、こ
のウェハがウェハ搬送ロボット18を介して回転アーム
19によりウェハステージ16上に搬送される。ウェハ
搬送ロボット18からのウェハは第一アーム19bと第
二アーム19cとにより一枚毎吸引される。
各アーム19b、19cには位置割出し用のテーパ部1
9d 、 19eが形成されており、このテーパ部19
d。
9d 、 19eが形成されており、このテーパ部19
d。
19e内で吸引されたウェハが、ウェハステージ16上
の所定位置に載置される。又第一アーム19bにてウェ
ハを吸引し、ウェハステージ16上に搬送する間に第二
アーム19cでは次のウェハが吸引される。これらウェ
ハ搬送ロボット181回転アーム19はウェハロボット
コントローラ18aによって駆動制御される。又回転ア
ーム19のサーボモータM。
の所定位置に載置される。又第一アーム19bにてウェ
ハを吸引し、ウェハステージ16上に搬送する間に第二
アーム19cでは次のウェハが吸引される。これらウェ
ハ搬送ロボット181回転アーム19はウェハロボット
コントローラ18aによって駆動制御される。又回転ア
ーム19のサーボモータM。
昇降機構16aは夫々シーケンス及びコントローラ電源
10aによって制御される。
10aによって制御される。
上述の如くウェハステージ16上に被加工物であるウェ
ハがvL置されると、昇降機構16aによりウェハステ
ージ16が上昇し、当該ウェハWは真空容器15内に配
置される。この真空容器15内にはガスコントローラ1
5dを介してガス導入口15aから所定濃度のアッシン
グガスが導入される。そしてテーパ導波管14からのマ
イクロ波により真空容器内にプラズマが発生し、アッシ
ングガスを主として電子衝突によって励起、イオン化、
解離現象を起し、生成されたラジカル荷電粒子によって
ウェハW上のレジストを沃化、除去する 〈発明の効果〉 以上説明した様に本発明の装置によれば、真空容器内で
はアッシング速度が真空容器の平面形状に応じた円形で
且つ均一な分布となる。又アッシング処理におけるウェ
ハの温度上昇は、ウェハステージの上部を形成する吸熱
部材にて吸納される為、ウェハ自体の温度上昇を大幅に
低下できる。
ハがvL置されると、昇降機構16aによりウェハステ
ージ16が上昇し、当該ウェハWは真空容器15内に配
置される。この真空容器15内にはガスコントローラ1
5dを介してガス導入口15aから所定濃度のアッシン
グガスが導入される。そしてテーパ導波管14からのマ
イクロ波により真空容器内にプラズマが発生し、アッシ
ングガスを主として電子衝突によって励起、イオン化、
解離現象を起し、生成されたラジカル荷電粒子によって
ウェハW上のレジストを沃化、除去する 〈発明の効果〉 以上説明した様に本発明の装置によれば、真空容器内で
はアッシング速度が真空容器の平面形状に応じた円形で
且つ均一な分布となる。又アッシング処理におけるウェ
ハの温度上昇は、ウェハステージの上部を形成する吸熱
部材にて吸納される為、ウェハ自体の温度上昇を大幅に
低下できる。
更にウェハ搬送ロボットからウェハステージ上に搬送さ
れるウェハは複数のアームによって1枚毎行われる為、
アイドルタイムが減少して装置全体の処理作業時間を大
幅に低減させ得る。
れるウェハは複数のアームによって1枚毎行われる為、
アイドルタイムが減少して装置全体の処理作業時間を大
幅に低減させ得る。
この様に本プラズマアッシング装置では、ウニへのアッ
シング精度向上とアッシング作業時間の短縮が得られ、
極めて実用性の高い装置となる。
シング精度向上とアッシング作業時間の短縮が得られ、
極めて実用性の高い装置となる。
第1図は、プラズマアッシング装置の構成図、第2図は
、テーパ導波管を説明する概略図。 第3図は、ウェハステージを説明する概略図、第4図は
、回転アームの一部省略斜視図である。 尚、図中1はプラズマアッシング装置。 lOはシステムコントローラ。 11はマイクロ発振器、 12は矩形導波管。 l4はテーパ導波管、 14aはテーパ部。 15は真空容器、 16はウェハステージ。 16aは吸熱部材、 18はウェハ搬送ロボット。 19は回転アーム、 19bは第一アーム。 19cは第二アームである。
、テーパ導波管を説明する概略図。 第3図は、ウェハステージを説明する概略図、第4図は
、回転アームの一部省略斜視図である。 尚、図中1はプラズマアッシング装置。 lOはシステムコントローラ。 11はマイクロ発振器、 12は矩形導波管。 l4はテーパ導波管、 14aはテーパ部。 15は真空容器、 16はウェハステージ。 16aは吸熱部材、 18はウェハ搬送ロボット。 19は回転アーム、 19bは第一アーム。 19cは第二アームである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 マイクロ波発振器から発生したマイクロ波を、矩形導波
管を介して真空容器を内設した導波管まで導入し、該真
空容器内に導入したアッシングガスにプラズマを発生さ
せるとともに、 カセットステーションからウェハ搬送ロボット及び回転
アームを介してウェハステージにウェハを載置し、該ウ
ェハステージの上昇により該ウェハを前記真空容器内に
搬送して前記プラズマによりレジスト除去を行うもので
あって、 前記真空容器を内設した導波管は、前記矩形導波管から
該真空容器に向けて拡大した状態でテーパ状に形成され
、又前記ウェハステージは、その上部を吸熱部材にて形
成されるとともに前記回転アームは第一アームと第二ア
ームとにより二又状に形成されていることを特徴とする
プラズマアッシング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23543689A JPH0399433A (ja) | 1989-09-12 | 1989-09-12 | プラズマアッシング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23543689A JPH0399433A (ja) | 1989-09-12 | 1989-09-12 | プラズマアッシング装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0399433A true JPH0399433A (ja) | 1991-04-24 |
Family
ID=16986084
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23543689A Pending JPH0399433A (ja) | 1989-09-12 | 1989-09-12 | プラズマアッシング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0399433A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100328326B1 (ko) * | 1998-04-03 | 2002-03-12 | 가네꼬 히사시 | 반도체장치의 제조기구 및 반도체장치의 제조방법 |
-
1989
- 1989-09-12 JP JP23543689A patent/JPH0399433A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100328326B1 (ko) * | 1998-04-03 | 2002-03-12 | 가네꼬 히사시 | 반도체장치의 제조기구 및 반도체장치의 제조방법 |
| US6391116B2 (en) | 1998-04-03 | 2002-05-21 | Nec Corporation | Semiconductor device manufacturing apparatus and semiconductor device manufacturing method |
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