JPH0399437U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0399437U JPH0399437U JP820090U JP820090U JPH0399437U JP H0399437 U JPH0399437 U JP H0399437U JP 820090 U JP820090 U JP 820090U JP 820090 U JP820090 U JP 820090U JP H0399437 U JPH0399437 U JP H0399437U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- base
- measuring
- pin
- substrate
- screw hole
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
第１図はこの考案の一実施例による半導体製品
用測定治具を示す斜視図、第２図は従来の半導体
製品用測定治具を示す斜視図、第３図は従来およ
びこの考案共通の半導体製品用測定治具に半導体
製品を実装した上面図を示す。 図において、１はベース、２は基板、３は線路
パターン、４はピン、５はねじ穴、６は半導体製
品、７はねじを示す。 なお、図中、同一符号は同一、または相当部分
を示す。
用測定治具を示す斜視図、第２図は従来の半導体
製品用測定治具を示す斜視図、第３図は従来およ
びこの考案共通の半導体製品用測定治具に半導体
製品を実装した上面図を示す。 図において、１はベース、２は基板、３は線路
パターン、４はピン、５はねじ穴、６は半導体製
品、７はねじを示す。 なお、図中、同一符号は同一、または相当部分
を示す。
Claims (1)
- 半導体製品の電気的特性を測定する測定治具に
おいて、ベースに基板を取付け、前記ベースにピ
ンを設けかつこの内部にねじ穴が設けられたこと
を特徴とする半導体製品用測定治具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP820090U JPH0399437U (ja) | 1990-01-30 | 1990-01-30 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP820090U JPH0399437U (ja) | 1990-01-30 | 1990-01-30 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0399437U true JPH0399437U (ja) | 1991-10-17 |
Family
ID=31511834
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP820090U Pending JPH0399437U (ja) | 1990-01-30 | 1990-01-30 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0399437U (ja) |
-
1990
- 1990-01-30 JP JP820090U patent/JPH0399437U/ja active Pending