JPH04103192A - Connection verification device of printed wiring board - Google Patents

Connection verification device of printed wiring board

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JPH04103192A
JPH04103192A JP2222026A JP22202690A JPH04103192A JP H04103192 A JPH04103192 A JP H04103192A JP 2222026 A JP2222026 A JP 2222026A JP 22202690 A JP22202690 A JP 22202690A JP H04103192 A JPH04103192 A JP H04103192A
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copper foil
vector
hole
clearance
overlap
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Shoji Mihata
御幡 昭司
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Oki Electric Industry Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To enable the connection verification of a power supply layer and a ground layer divided by a partitioning line and a through-hole clearance to be mechanized by a method wherein a selection means which selects a through-hole related to the division of a copper foil region and a calculating means which calculates the shape of the copper foil region which is to be divided are provided to a region recognition section. CONSTITUTION:Concerning the through-hole clearance of a clearance memory 248, an outline overlap detection section 249 checks that the overlap of the outline vector of a copper foil region calculated by a region formation processing section 245 subsists or not, and when the outline overlap detection section 249 judges that the overlap is present, the overlap flag of the memory 248 is set. Only the through-hole clearance belonging to the same group with the through-hole clearance where the overlap flag is set is converted into a vector through a clearance data conversion section 2411, and the vector concerned is stored in a vector memory 242. By this setup, a process in which only through-hole clearances related to the division of the copper foil region calculated through partitioning lines are selected from numerous through-hole clearances is finished, and then the shape of the copper foil region which is to be divided is calculated.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は印刷配線板の設計CADシステムに係り、特に
電源およびアース層の接続検証を行う印刷配線板の接続
検証装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a design CAD system for printed wiring boards, and more particularly to a connection verification device for printed wiring boards that verifies connections between power supply and ground layers.

[従来の技術] 印刷配線板の設計に当たって、同一層に2系列以上の異
種類型源を供給する必要がある場合がある。
[Prior Art] When designing a printed wiring board, it may be necessary to supply two or more series of different types of mold sources to the same layer.

例えば、第4図(a)に示すように、+5Vと+12V
の電源を同一層に供給する場合、+5V系列のある部品
群41と、+12V系列のある部品群42とを独立した
銅箔領域に設計する必要が発生する。そこで、第4図(
b)に示すように銅箔層の内層に仕切ライン43a、4
3b、43cを設け、この仕切ライン43a、43b、
43cで囲まれた領域に2系列の部品群を配置し、所望
の回路電源ピンが過不足なくこれらの部品群に接続され
ているか否かを検証する。
For example, as shown in Figure 4(a), +5V and +12V
When supplying power to the same layer, it becomes necessary to design the component group 41 with the +5V series and the component group 42 with the +12V series in independent copper foil areas. Therefore, Figure 4 (
As shown in b), partition lines 43a, 4 are formed on the inner layer of the copper foil layer.
3b, 43c are provided, and these partition lines 43a, 43b,
Two series of component groups are arranged in the area surrounded by 43c, and it is verified whether the desired circuit power supply pins are connected to these component groups in the correct amount.

このような接続検証装置としては、例えば特開昭43−
311575号公報に開示されるものが知られている。
As such a connection verification device, for example, JP-A-43-
One disclosed in Japanese Patent No. 311575 is known.

この文献に開示された技術は電源層あるいはアース層の
仕切ラインをディジタイザから入力し、仕切ラインのベ
クトル化を行った後ベクトルの交点を算出し、算出した
交点を頂点とする銅箔領域の形状をまず認識する。つい
でその銅箔領域と接続関係のある部品ピンの論理的な電
源情報と実際に供給される電源情報とを比較することに
より接続検証を行うようにしている。
The technology disclosed in this document inputs the partition line of the power supply layer or the earth layer from a digitizer, vectorizes the partition line, calculates the intersection of the vectors, and shapes the copper foil area with the calculated intersection as the apex. Recognize first. Next, the connection is verified by comparing the logical power information of the component pin connected to the copper foil area with the actually supplied power information.

ところが従来の接続検証装置では、例えば第5図に示す
ようなスルーホールクリアランスにより銅箔領域の分断
がある場合にこれを認識できないという欠点があった。
However, the conventional connection verification apparatus has a drawback in that it cannot recognize when a copper foil area is divided by a through-hole clearance, as shown in FIG. 5, for example.

すなわち電源層あるいはアス層を構成する銅箔領域51
内に無数に存在するスルーホールクリアランスの一部に
この銅箔領域51を分断するスルーホールクリアランス
52が、図に示すように、仕切ライン43bと43cと
の間に存在した場合、銅箔領域51はスルーホールクリ
アランス52によってその一部が分断され、分離した銅
箔領域53が形成されてしまう。
In other words, the copper foil region 51 constituting the power supply layer or the ass layer
If a through-hole clearance 52 that divides this copper foil region 51 into a part of the countless through-hole clearances existing within the copper foil region 51 exists between the partition lines 43b and 43c as shown in the figure, the copper foil region 51 A portion of the copper foil region 53 is separated by the through-hole clearance 52, and a separate copper foil region 53 is formed.

従来の接続検証装置ではこのような分断された銅箔領域
53を認識することができず、印刷配線板の製造検査工
程で初めて不良が検出されるという問題点があった8 本発明は上述した問題点を解消するためになされたもの
で、仕切ラインにより生成された電源層あるいはアース
層の銅箔領域がクリアランスによって分断されていても
これを正しく検出し部品のピンに所望の電源やアースが
供給されないという状態を予め検証することのできる印
刷配線板の接続検証装置を提供することを目的とする。
Conventional connection verification devices cannot recognize such divided copper foil regions 53, and there is a problem that defects are detected for the first time in the manufacturing inspection process of printed wiring boards8. This was done to solve the problem. Even if the copper foil area of the power layer or ground layer generated by the partition line is divided by the clearance, it can be detected correctly and the desired power or ground can be connected to the pin of the component. It is an object of the present invention to provide a printed wiring board connection verification device that can verify in advance a state in which the printed wiring board is not supplied.

[課題を解決するための手段] 本発明は、印刷配線板の電源層またはアース層の銅箔領
域を認識する領域認識部を備えた印刷配線板の接続検証
装置において、この領域認識部に、前記電源層またはア
ース層内に存在するスルーホールクリアランスの中から
、前記銅箔領域の分断に関与するスルーホールクリアラ
ンスを選別する選別手段と、選別されたスルーホールク
リアランスによって分断される銅箔領域の形状を算出す
る算出手段とを追加したものである。
[Means for Solving the Problems] The present invention provides a connection verification device for a printed wiring board that includes an area recognition unit that recognizes a copper foil area of a power layer or a ground layer of a printed wiring board. a sorting means for sorting out through-hole clearances that are involved in dividing the copper foil area from among the through-hole clearances existing in the power supply layer or the earth layer; A calculation means for calculating the shape is added.

[作用] 本発明では領域認識部に新たに設けられた選別手段によ
って、銅箔領域の分断に関与するスルーホールクリアラ
ンスが選別され、ついでスルーホールクリアランスによ
って分断されるfRM領域の形状が算出される。したが
って領域認識部においてこの分断された銅箔領域中に存
在する部品ピンに適切な電源あるいはアースが供給され
たかどうかを検証することができる。
[Operation] In the present invention, through-hole clearances that are involved in dividing the copper foil area are selected by a screening means newly provided in the area recognition section, and then the shape of the fRM area to be separated by the through-hole clearance is calculated. . Therefore, the area recognition unit can verify whether or not an appropriate power source or ground is supplied to the component pins present in this divided copper foil area.

[実施例コ 第2図は本発明にかかる接続検証装置2と、これに接続
される入出力装置の構成を示すブロック図である。電源
層あるいはアース層のパターンデータは、ディジタイザ
1から接続検証装W2に入力される。
[Example 2] FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of a connection verification device 2 according to the present invention and input/output devices connected thereto. The pattern data of the power layer or the ground layer is input from the digitizer 1 to the connection verification device W2.

また部品の論理的電源および配置データは、メモリ3に
格納されており、このメモリ3から読みだされて接続検
証装置2に入力される。接続検証装置2からの出力は1
表示装置5および印刷装置6へ出力される。
Further, the logical power supply and arrangement data of the components are stored in the memory 3, read from the memory 3, and input to the connection verification device 2. The output from connection verification device 2 is 1
It is output to the display device 5 and the printing device 6.

ディジタイザ1から入力された電源層あるいはアース層
のパターンデータは、入力部21を介してパターンデー
タ格納部22に送られ、いったん格納される。格納部2
2へ格納されたパターンデータは表示部25を介して表
示装置5に表示させることができる。
The pattern data of the power supply layer or the earth layer inputted from the digitizer 1 is sent to the pattern data storage section 22 via the input section 21 and is temporarily stored therein. Storage part 2
The pattern data stored in 2 can be displayed on the display device 5 via the display section 25.

一部メモリ3から入力される部品の論理的電源2に格納
されているパターンデータから電源層あるいはアース層
の銅箔領域を認識する領域認識部24によって認識され
た結果とが比較される。
The result is compared with the result recognized by the area recognition unit 24 which recognizes the copper foil area of the power supply layer or the ground layer from the pattern data stored in the logical power supply 2 of the component which is partially input from the memory 3.

比較部27からの検証結果は、検証結果出力部28を介
して印刷装置6に出力される。なお接続検証装置2の動
作については、領域認識部24を除く部分は、前述した
特開昭63−311575号公報に詳細に開示されてい
るため、この部分の説明は省略する。
The verification result from the comparison section 27 is output to the printing device 6 via the verification result output section 28. Note that the operation of the connection verification device 2, except for the area recognition section 24, is disclosed in detail in the aforementioned Japanese Patent Laid-Open No. 63-311575, so a description of this portion will be omitted.

次に本発明の特徴を実現する領域認識部24の一例を第
1図に示す。第1図は領域認識部24の詳細構成の一例
をブロック図で示したもので、パターンデータ格納部2
2に接続されたデータ変換部241、変換された仕切ラ
インのベクトルデータを格納するベクトルメモリ242
、ベクトルデータの交点を検出する交点検出部243、
ベクトルの重なりを検出する重なり検出部244、ベク
トルデータから銅箔領域の輪郭データを作成する領域作
成処理部245.1つの銅箔領域のベクトルデータを格
納するベクトルバッファ246.パターンデータ格納部
22からスルーホールクリアランスを取り出して格納す
るクリアランスメモリ248、領域作成処理部245で
作成した銅箔領域の輪郭とスルーホールクリアランスの
重なりを検出する輪郭部なり検出部249、スルーホー
ルクリアランスどうしの図形的な重なりを検出するグル
ープ化処理部2410、グループ化したスルーホールク
リアランスをベクトルデータに変換するクリアランスデ
ータ変換部2411、仕切ラインから作成した銅箔領域
がスルーホールクリアランスで分断された形状を認識す
る領域分断認識部2412、認識した銅箔領域を格納す
る領域格納部247から構成されている。
Next, FIG. 1 shows an example of the area recognition section 24 that realizes the features of the present invention. FIG. 1 is a block diagram showing an example of the detailed configuration of the area recognition unit 24.
2, a data conversion unit 241 connected to 2, and a vector memory 242 that stores the converted partition line vector data.
, an intersection detection unit 243 that detects the intersection of vector data;
An overlap detection unit 244 that detects overlap of vectors, an area creation processing unit 245 that creates outline data of a copper foil area from vector data, and a vector buffer 246 that stores vector data of one copper foil area. A clearance memory 248 that retrieves and stores through-hole clearances from the pattern data storage unit 22, a contour detection unit 249 that detects the overlap between the outline of the copper foil area created by the area creation processing unit 245 and the through-hole clearance, and a through-hole clearance. A grouping processing unit 2410 that detects graphical overlap between the two, a clearance data conversion unit 2411 that converts the grouped through-hole clearances into vector data, and a shape in which the copper foil area created from the partition line is divided by the through-hole clearance. It consists of an area division recognition unit 2412 that recognizes the copper foil area, and an area storage unit 247 that stores the recognized copper foil area.

パターンデータ格納部22に格納された仕切ラインのパ
ターンデータをデータ変換部241でベクトルデータに
変換し、第6図に示すように、仕切ライン61で仕切っ
て、銅箔領域輪郭62を作成する手順は前述した特開昭
63−311575号公観に記載されているためその説
明は省略し、スルーホールクリアランスに分断される銅
箔領域の形状を算出する手順について、第3図に示すフ
ローチャートを参照して詳細に説明する。
Steps for converting the pattern data of partition lines stored in the pattern data storage section 22 into vector data in the data conversion section 241, and partitioning the data with partition lines 61 to create copper foil area contours 62, as shown in FIG. is described in the above-mentioned Japanese Unexamined Patent Publication No. 63-311575, so its explanation will be omitted, but please refer to the flowchart shown in Fig. 3 for the procedure for calculating the shape of the copper foil area divided by the through-hole clearance. This will be explained in detail.

まず、パターンデータ格納部22から電源層のスルーホ
ールクリアランス59を入力し、クリアランスメモリ2
48に格納する(ステップ301)。ついで輪郭部なり
検出部249では、クリアランスメモリ248のスルー
ホールクリアランスについて領域作成処理部245で算
出した銅箔領域の輪郭ベクトル60との重なりの有無を
調べる(ステップ302)。
First, the through-hole clearance 59 of the power layer is inputted from the pattern data storage section 22, and the clearance memory 2
48 (step 301). Next, the contour detection section 249 checks whether or not the through-hole clearance in the clearance memory 248 overlaps with the contour vector 60 of the copper foil region calculated by the region creation processing section 245 (step 302).

第7図は、この実施方法の一例を説明した図で、第7図
(a)に示すように、スルーホールクリアランス59が
銅箔領域輪郭部ベクトル60と重なるか否かを、第7図
(b)に示すように、スルホールクリアランス59の半
径61と、スルーホールクリアランスの中心から輪郭ベ
クトル60までの最短比M62とを比較し、最短距離6
2が半径61より短い時には重なりがあると判定し、第
7図(C)に示すクリアランスメモリ248の重なりフ
ラグ63をセットする(ステップ303)。
FIG. 7 is a diagram illustrating an example of this implementation method. As shown in FIG. As shown in b), the radius 61 of the through-hole clearance 59 and the shortest ratio M62 from the center of the through-hole clearance to the contour vector 60 are compared, and the shortest distance 6 is determined.
2 is shorter than the radius 61, it is determined that there is an overlap, and the overlap flag 63 of the clearance memory 248 shown in FIG. 7(C) is set (step 303).

次に、グループ化処理に移る(ステップ304このグル
ープ化処理はグループ化処理部24]0によって行われ
るが、第8図にその処理の概要を示している。まずクリ
アランスメモリ248 CPのグループ番号64に第8
図(b)に示すように1.2.・・・・nのユニークな
初期値を与え、ついで第8図(c)に示すようにスルー
ホールクリアランスの中心距離65が、半径61の和よ
り小さい組み合わせをみつけ、グループ番号64の大き
いほうの値を小さいほうの値で更新する。これをスルー
ホールクリアランスすべてに連鎖的に行うことにより、
グループ化が終了する。
Next, the process moves to grouping processing (step 304) This grouping processing is performed by the grouping processing unit 24]0, and an outline of the processing is shown in FIG. 8. First, the group number 64 of the clearance memory 248 CP to the 8th
As shown in Figure (b) 1.2. ...Give a unique initial value of n, then find a combination where the center distance 65 of the through-hole clearance is smaller than the sum of the radii 61 as shown in Fig. 8(c), and select the combination with the larger group number 64. Update the value with the smaller value. By chaining this to all through-hole clearances,
Grouping ends.

次にスルーホールクリアランスのベクトル化処理に移る
(ステップ306)。
Next, the process moves to through-hole clearance vectorization processing (step 306).

このベクトル化処理は、クリアランスメモリ248に格
納されたスルーホールクリアランスのうちから、銅箔領
域の輪郭ベクトルとの重なりフラグ63がセットさ九た
ものと同一グループに属するスルーホールクリアランス
のみをクリアランスデータ変換部2411でベクトルに
変換し、ベクトルメモリ242に格納する事によって実
行される(ステップ305,306)。
This vectorization process converts into clearance data only those through-hole clearances that belong to the same group as those for which the overlap flag 63 with the contour vector of the copper foil area is set, from among the through-hole clearances stored in the clearance memory 248. This is executed by converting it into a vector in the section 2411 and storing it in the vector memory 242 (steps 305 and 306).

第9A図は、スルーホールクリアランス59をベクトル
化する時の規則を示したもので、1つのスルーホールク
リアランス59を右回りのベクトル群に変換することを
表している。また第9B図は、同一グループに属するス
ルーホールクリアランス59をすへてベクトル化した結
果を示している。
FIG. 9A shows rules for vectorizing through-hole clearance 59, and represents converting one through-hole clearance 59 into a clockwise vector group. Further, FIG. 9B shows the result of vectorizing the through-hole clearances 59 belonging to the same group.

以上で電源層あるいはアース層に無数にあるスルーホー
ルクリアランスのうち、仕切ラインから算出した銅箔領
域の分断に関与するものを選別する工程を終了する。
This completes the process of selecting those that are involved in dividing the copper foil area calculated from the partition line from among the countless through-hole clearances in the power supply layer or the ground layer.

次に選別したスルーホールクリアランスにより分断され
る銅箔領域の形状算出工程について説明する。
Next, the process of calculating the shape of the copper foil area divided by the selected through-hole clearance will be explained.

まずスルーホールクリアランスのベクトルデータと5領
域作成処理部245で作成した輪郭ベクI−ルとをバク
1−ルメモリ242に格納し、両者の交点を交点検出部
243により検出する。
First, the vector data of the through-hole clearance and the contour vector created by the 5-area creation processing section 245 are stored in the backing block memory 242, and the intersection of the two is detected by the intersection detection section 243.

ついで第1OA図に示すように、交点においてベクトル
を分割するが、ベクトルが同一方向に重なっているもの
があれば、第10B図に示すように1つのベクトルだけ
を残し他は削除する。
Next, as shown in FIG. 1OA, the vectors are divided at the intersection, but if there are vectors that overlap in the same direction, only one vector is left and the others are deleted, as shown in FIG. 10B.

以上の分割と重なり削除の処理の結果得られたベクトル
データを第10C図に示す。これにより交点分割、重な
り削除処理を完了しくステップ309)、得られたベク
トルデータをIIに取り出しベクトルバッファ246に
格納して、そのベクトルバッファ246内のデータから
領域データを作成し、スルーホールクリアランスにより
分断された銅箔領域の形状を領域データ格納部247に
領域データとして格納することにより、領域形状算出処
理を行う(ステップ308)。
Vector data obtained as a result of the above division and overlap deletion processing is shown in FIG. 10C. This completes the intersection division and overlap deletion processing (step 309), takes out the obtained vector data to II and stores it in the vector buffer 246, creates area data from the data in the vector buffer 246, and uses the through-hole clearance to A region shape calculation process is performed by storing the shape of the divided copper foil region as region data in the region data storage unit 247 (step 308).

以下その詳細手順を説明する。The detailed procedure will be explained below.

まず第11A図に示すように、ベクトルメモリ242か
ら任意のベクトル71を1つ取り出し、空のベクトルバ
ッファに移動する。次に移動した第1のベクトル71の
終点と一致する始点を持つベクトルで、かつ第1のベク
トルの終点の廻りを時計回りに検索したとき最初に発見
したベクトルを第2のベクトルとして、ベクトルメモリ
242からベクトルバッファ24Gへ移動する。
First, as shown in FIG. 11A, one arbitrary vector 71 is taken out from the vector memory 242 and moved to an empty vector buffer. Next, a vector whose starting point coincides with the ending point of the first vector 71 that was moved, and which is found first when searching clockwise around the ending point of the first vector, is stored in the vector memory. 242 to the vector buffer 24G.

図に示す場合には第2のベクトルの候補として72〜7
4が選ばれ、そのうちで73が第2のベクトルとして選
ばれる。同様にして第2のベクトル73に対し、第3の
ベクトルを取り出し、ベクトルバッファ246への移動
を行う。
In the case shown in the figure, 72 to 7 are candidates for the second vector.
4 are selected, and 73 of them are selected as the second vector. Similarly, a third vector is extracted from the second vector 73 and moved to the vector buffer 246.

このようにして、連鎖的に処理を繰り返し、もしベクト
ルメモリ242から取り出したばかりのベクトルの終点
が、ベクトルバッファ246に移動済みのベクトルの始
点のいずれかと一致したときに移動済みのベクトルの始
点から終点までの一連のベクトル群を輪郭とする閉図形
を領域格納部247に格納する。もし閉図形を形成する
前に、接続関係のあるベクトルが発見できなくなったと
きには、ベクトルバッファ246を空にしてベクトルメ
モリ242から任意のベクトルを取り出して、ベクトル
バッファ246に移動する手順からやり直す。
In this way, the process is repeated in a chain, and if the end point of the vector just taken out from the vector memory 242 matches any of the start points of the vectors that have already been moved to the vector buffer 246, the point from the start point of the moved vector to the end point is determined. A closed figure whose outline is the series of vectors up to this point is stored in the area storage unit 247. If a vector having a connection relationship cannot be found before forming a closed figure, the vector buffer 246 is emptied, an arbitrary vector is taken out from the vector memory 242, and the process starts again from the procedure of moving it to the vector buffer 246.

また、閉図形が形成でき、領域格納部247に格納した
場合にも、ベクトルバッファ246を空にして任意のベ
クトルを取り出す一連の処理に戻る。
Further, even when a closed figure can be formed and stored in the area storage section 247, the process returns to the series of processes for emptying the vector buffer 246 and extracting an arbitrary vector.

このようにして、ベクトルメモリ242からベクトルデ
ータが空になるまで、処理を繰り返すことにより第11
B図に示すように、スルーホールクリアランスで分断さ
れた銅箔領域の形状を検出することができる。
In this way, the process is repeated until the vector memory 242 becomes empty of vector data.
As shown in Figure B, the shape of the copper foil area divided by the through-hole clearance can be detected.

以下の手順は従来の検証装置の場合と同様で。The following steps are the same as for conventional verification equipment.

部品ピンの論理的電源位置情報と、算出した銅箔領域の
形状とを比較して電源層およびアース層の接続検証を行
う。
Verify the connection between the power supply layer and the ground layer by comparing the logical power supply position information of the component pin and the calculated shape of the copper foil area.

[発明の効果] 以上実施例に基づいて詳細に説明したように、本発明で
は領域認識部に銅箔領域の分断に関与するスルーホール
クリアランスを選別する選別手段と、選別されたスルー
ホールクリアランスによって分断される銅箔領域の形状
を算出する算出手段とを設けたため、仕切ラインはもと
よりスルーホールクリアランスにより分断された電源層
およびアース層の接続検証の機械化が可能となる。した
がって印刷配線板の設計時間の短縮と、不良発生の減少
に著しい効果が期待できる。
[Effects of the Invention] As described above in detail based on the embodiments, in the present invention, the area recognition unit includes a sorting means for sorting out through-hole clearances that are involved in dividing the copper foil area, and Since a calculation means for calculating the shape of the copper foil area to be divided is provided, it is possible to mechanize the connection verification of not only the partition line but also the power supply layer and the earth layer divided by the through-hole clearance. Therefore, a significant effect can be expected in shortening the design time of printed wiring boards and reducing the occurrence of defects.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明にかかる接続検証装置の領域認識部の詳
細構成の一例を示すブロック図、第2図は本発明が適用
される印刷配線板の接続検証装置の概略構成を示すブロ
ック図、第3図はスルーホールクリアランスにより分断
される銅箔領域の形状を算出する手順を説明するフロ−
チャート2第4図は仕切ラインによって異なる電源層領
域を分離する手順を説明する説明図、第5図はスルーホ
ルクリアランスによって銅箔領域が分−断されることを
説明する説明図、第6図は仕切ラインによって銅箔領域
輪郭を形成することを説明する説明図、第7図はスルー
ホールクリアランスと輪郭ベクトルとの重なりを検出す
る工程を説明する説明図、第8図はスルーホールクリア
ランスのグループ化処理を説明するための説明図、第9
A図および第9B図はベクトル化処理を説明する説明図
、第10A図、第10B図および第10C図は交点分割
、重なり削除処理を説明する説明図、第11A図および
第11B図は、領域形状算出処理を説明する説明図であ
る。 図において、1・・・・ディジタイザ、2・・・・接続
検証装置、3・・・・・部品の論理的電源および配置デ
ータ格納メモリ、22・・・・・・パターンデータ格納
部24・・・・・領域認識部、27・・・ 比較部、2
4ユデ一タ変換部、242・・・・・ベクトルメモリ、
243・ ・交点検出部、244・ 重なり検出部24
5・・・領域作成処理部、246  ベクトルバッファ
、247・・・・領域格納部、248・・・クリアラン
スメモリ、249 ・・輪郭型なり検出部、2410・
・・・グループ化処理部、2411・・・クリアランス
データ変換部、2412・・・・領域分断認識部。 特許出願人  沖電気工業株式会社 代 理 人  弁理士 熊谷  隆 (外1名) 第3 図 一凍V昧奔紹子す酢豚 第4図 52、“スルー汀、−ルアリアクン又 第5 図 5qスルー詐、1し7リアウシ又 bθ゛@箔4シ1)舒ζ#1iトヘ゛7ト)し第7図 鋲寵僧爪幡止ンべ俸1目 第 6図 7゛ルーフ゛イLη理【4歌f訝gA!21第8図 IC) 5デスルーJごノV7シ7り〉λ ズルーオ、−)し7リアラ〉ズΦへフ)・)しat−t
tr8スルー^、−ルフリアク〉スqへ7ト;レイを設
H月団第9f3図 第10A図 一―――伽====t−ユーーー Φ 第to(13図 焚7邑+1’l、t’−リil[6ffggjl[D第
1(E図
FIG. 1 is a block diagram showing an example of a detailed configuration of an area recognition unit of a connection verification device according to the present invention, and FIG. 2 is a block diagram showing a schematic configuration of a connection verification device for a printed wiring board to which the present invention is applied. Figure 3 is a flowchart explaining the procedure for calculating the shape of the copper foil area divided by through-hole clearance.
Chart 2: Figure 4 is an explanatory diagram illustrating the procedure for separating different power layer regions by partition lines, Figure 5 is an explanatory diagram illustrating how copper foil regions are separated by through-hole clearances, and Figure 6. is an explanatory diagram illustrating forming a copper foil area contour using a partition line, FIG. 7 is an explanatory diagram illustrating the process of detecting the overlap between a through-hole clearance and a contour vector, and FIG. 8 is an explanatory diagram illustrating a group of through-hole clearances. Explanatory diagram for explaining the conversion process, No. 9
Figures A and 9B are explanatory diagrams for explaining vectorization processing, Figures 10A, 10B, and 10C are explanatory diagrams for explaining intersection division and overlap deletion processing, and Figures 11A and 11B are diagrams for explaining vectorization processing. It is an explanatory diagram explaining shape calculation processing. In the figure, 1... Digitizer, 2... Connection verification device, 3... Part logical power supply and arrangement data storage memory, 22... Pattern data storage unit 24... ...Area recognition section, 27... Comparison section, 2
4 data converter, 242...vector memory,
243. - Intersection detection unit, 244. Overlap detection unit 24
5... Area creation processing unit, 246 Vector buffer, 247... Area storage unit, 248... Clearance memory, 249... Contour type detection unit, 2410...
. . . Grouping processing section, 2411 . . . Clearance data conversion section, 2412 . . . Area division recognition section. Patent applicant Oki Electric Industry Co., Ltd. Representative Patent attorney Takashi Kumagai (1 other person) 1 and 7 Riaushi also bθ゛ @ foil 4shi 1) Sheetζ !21 Figure 8 IC) 5 death through J gono V7 shi7ri〉λ
tr8 through ^, - Rufuriak> 7 to Sq; Rei established H Moon Group Figure 9f3 Figure 10A Figure 1 --- 佽====t-Yuuu-Φ No. t'-liil [6ffggjl[D 1st (E figure

Claims (1)

【特許請求の範囲】  ディジタイザから入力された仕切ラインパターンによ
つて分離され、それぞれに異なる電源が供給される印刷
配線板の電源層またはアース層の銅箔領域を認識する領
域認識部を備えた印刷配線板の接続検証装置において、 前記領域認識部に、前記電源層またはアース層内に存在
するスルーホールクリアランスの中から前記銅箔領域の
分断に関与するスルーホールクリアランスを選別する選
別手段と、選別されたスルーホールクリアランスによっ
て分断される銅箔領域の形状を算出する算出手段とを設
けたことを特徴とする印刷配線板の接続検証装置。
[Scope of Claims] An area recognition unit that recognizes copper foil areas of a power layer or a ground layer of a printed wiring board that are separated by a partition line pattern input from a digitizer and to which different power supplies are supplied. In the printed wiring board connection verification device, the area recognition section includes a sorting means for selecting through-hole clearances that are involved in dividing the copper foil area from among the through-hole clearances existing in the power supply layer or the earth layer; A connection verification device for a printed wiring board, comprising: calculation means for calculating the shape of a copper foil area divided by the selected through-hole clearance.
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