JPH0410454A - ウェハの移し替え装置 - Google Patents
ウェハの移し替え装置Info
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- JPH0410454A JPH0410454A JP2111931A JP11193190A JPH0410454A JP H0410454 A JPH0410454 A JP H0410454A JP 2111931 A JP2111931 A JP 2111931A JP 11193190 A JP11193190 A JP 11193190A JP H0410454 A JPH0410454 A JP H0410454A
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- wafers
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Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明は、ウェハの移し替え装置であり、特に2枚一組
でセットされている各ウェハを、それぞれ独立した状態
にセットするウェハの移し替え装置に関するものである
。
でセットされている各ウェハを、それぞれ独立した状態
にセットするウェハの移し替え装置に関するものである
。
(ロ)従来の技術
一般にウェハ移し替え技術は、半導体プロセスにとって
重要である。この技術は、例えば特開昭60−2546
12号公報等がその一例である。
重要である。この技術は、例えば特開昭60−2546
12号公報等がその一例である。
この発明は次のような工程を経てウェハが移し替えられ
る。
る。
まず複数枚のウェハが収容されたウェハ載置台(バスケ
ット)を、イメージセンサやXY駆動機を介して、ウェ
ハ保持装置の下まで移動する。
ット)を、イメージセンサやXY駆動機を介して、ウェ
ハ保持装置の下まで移動する。
次にこのウェハ載置台を上昇させて、ウェハ保持装置の
保持手段がウェハの水平の直径部よりも下となるように
設定し、この保持手段を水平方向に駆動させてウェハを
接触保持する。
保持手段がウェハの水平の直径部よりも下となるように
設定し、この保持手段を水平方向に駆動させてウェハを
接触保持する。
続いてこのウェハ載置台を下降させ、別のウェハ載置台
を上昇させる。
を上昇させる。
続いて、この保持手段をウェハから離間させ、このウェ
ハ載置台にウェハをセットし、ウェハの移し替えが終了
する。
ハ載置台にウェハをセットし、ウェハの移し替えが終了
する。
ここで、このウェハ保持装置の保持手段は、ウェハと接
触する側面が鋸の刃の如く、所定間隔で三角形の凹部が
設けられている。しからこの接触面は斜面または円弧状
に設けられており、ウェハの水平方向の直径位置よりも
下方でウェハと接触し、ウェハが下に落ちないようにな
っている。
触する側面が鋸の刃の如く、所定間隔で三角形の凹部が
設けられている。しからこの接触面は斜面または円弧状
に設けられており、ウェハの水平方向の直径位置よりも
下方でウェハと接触し、ウェハが下に落ちないようにな
っている。
一方、ウェハの一方の面を長時間拡散するときは、第1
6図のように一枚一枚セットしていると効率が悪いため
に、第13図に示したように、拡散を必要としない面を
対向させ2枚1組でセットする所謂「バック・トウ・バ
ック」が使用されるようになってきた。このバ・/り・
トウ・バラフチセットすれば、ウェハのチャージ枚数は
倍となり、長時間の拡散工程等において効率を高めるこ
とが可能となる。
6図のように一枚一枚セットしていると効率が悪いため
に、第13図に示したように、拡散を必要としない面を
対向させ2枚1組でセットする所謂「バック・トウ・バ
ック」が使用されるようになってきた。このバ・/り・
トウ・バラフチセットすれば、ウェハのチャージ枚数は
倍となり、長時間の拡散工程等において効率を高めるこ
とが可能となる。
第14図及び第15図は、第13図の平面図であり、こ
のバック・トウ・バックでウェハ載置台(1)にセット
されているウェハを、それぞれ1枚ずつに分離するとき
の状態を説明した概略図である。
のバック・トウ・バックでウェハ載置台(1)にセット
されているウェハを、それぞれ1枚ずつに分離するとき
の状態を説明した概略図である。
第14図は、ウェハ(2)の両端に前記ウェハ保持装置
の保持手段(3)が近接した状態を示している。図の如
く、三角形の四部(4)の間に設けられた鋭角な凸部(
爪)(5)は、ウェハ(2)間に挿入できるように、位
置が調整されている。
の保持手段(3)が近接した状態を示している。図の如
く、三角形の四部(4)の間に設けられた鋭角な凸部(
爪)(5)は、ウェハ(2)間に挿入できるように、位
置が調整されている。
続いて第15図の如く、前記保持手段(3)をウェハに
近接させ、前記広(5)をウェハとウェハの間に挿入し
、ウェハを離間させた状態でウェハを保持する。
近接させ、前記広(5)をウェハとウェハの間に挿入し
、ウェハを離間させた状態でウェハを保持する。
最後に別の第2のウェハ載置台(6)を前記ウェハ(2
)の下に移動させ、ウェハを第16図の通リセットする
。
)の下に移動させ、ウェハを第16図の通リセットする
。
以上のような機構でバック・トウ・バックのウェハを1
枚1枚分離していた。
枚1枚分離していた。
(ハ)発明が解決しようとした課題
しかしこの機構により、バック・トウ・バックの状態で
セットされているウェハを分離する場合、ウェハとウェ
ハが実質的に接触していると、前記型(5)をウェハ間
に挿入することは非常に雛しくかった。
セットされているウェハを分離する場合、ウェハとウェ
ハが実質的に接触していると、前記型(5)をウェハ間
に挿入することは非常に雛しくかった。
(ニ)課題を解決するための手段
本発明は前述の課題に鑑みて成され、
奇数番目と偶数番目のウェハのファセット位置を異なら
しめてセットする反転機構と、前記ファセット位置を異
ならしめことで生じるウェハの露出部分に外力を加え、
前記2枚一組のウェハ間隔を広げる流体吹き付け機構と
で解決するものである。
しめてセットする反転機構と、前記ファセット位置を異
ならしめことで生じるウェハの露出部分に外力を加え、
前記2枚一組のウェハ間隔を広げる流体吹き付け機構と
で解決するものである。
(ホ)作用
奇数番目と偶数番目のウェハのファセット位置を異なら
しめる反転機構で、第7図のようにウェハの一方はウェ
ハと重畳しない部分が生じる。
しめる反転機構で、第7図のようにウェハの一方はウェ
ハと重畳しない部分が生じる。
一方、前記ウェハ保持手段に設けられた溝は、ウェハが
装着されていても若干マージンがあるので、ウェハの動
きを可能とした。
装着されていても若干マージンがあるので、ウェハの動
きを可能とした。
従ってウェハの露出部分に例えばN2ガス等の流体を吹
き付ければ、前記マージンにより第9図の如くウェハ間
隔を広げられ、この間に別の保持手段の爪を完全に挿入
できる。しから、若干マージンのある状態でウェハを回
転すれば、ウェハに負荷を加えることなくこの爪に連な
る保持手段の溝に1枚1枚がセットできる。
き付ければ、前記マージンにより第9図の如くウェハ間
隔を広げられ、この間に別の保持手段の爪を完全に挿入
できる。しから、若干マージンのある状態でウェハを回
転すれば、ウェハに負荷を加えることなくこの爪に連な
る保持手段の溝に1枚1枚がセットできる。
従ってこの機構を採用することで、何の問題もなく自動
化が可能となる。
化が可能となる。
(へ)実施例
一般に、一方のウェハ面にだけ拡散を必要とした工程は
非常に多く、この片面拡散において第13図のようにバ
ック・トウ・バックのセットを行えば、従来のセット方
法(第16図)でセットできる枚数の倍の能力を持つこ
とが可能となる。
非常に多く、この片面拡散において第13図のようにバ
ック・トウ・バックのセットを行えば、従来のセット方
法(第16図)でセットできる枚数の倍の能力を持つこ
とが可能となる。
従って処理能力を非常に高めることができる。
通常、拡散時間が短いもの、拡散精度を必要としたもの
は、第16図のように1枚1枚セットして拡散している
。例えばエミッタ拡散は拡散時間が短く、hFEを決め
る重要な工程なので、このセット方法で処理をしている
。
は、第16図のように1枚1枚セットして拡散している
。例えばエミッタ拡散は拡散時間が短く、hFEを決め
る重要な工程なので、このセット方法で処理をしている
。
しかしベース拡散は非常に時間をかけて拡散をするため
処理枚数を拡大するためにバック・トウ・バックでセッ
トしている。
処理枚数を拡大するためにバック・トウ・バックでセッ
トしている。
本発明は、前述のように、何らかの理由により2枚一組
でセットされている薄板(ここでは半導体ウェハ)を分
離し、次の工程へ移行させるために第16図のようにウ
ェハを1枚ずつに分離するための機構や1枚1枚のウェ
ハをバック・トウ・バックにセットする機構を有した装
置にかんするものである。
でセットされている薄板(ここでは半導体ウェハ)を分
離し、次の工程へ移行させるために第16図のようにウ
ェハを1枚ずつに分離するための機構や1枚1枚のウェ
ハをバック・トウ・バックにセットする機構を有した装
置にかんするものである。
まず洗浄工程から熱処理工程のために石英ボードへ移す
ときは、1枚1枚バラバラな状態から第13図の如く、
バック・トウ・バックの状態ヘセットする機構が必要で
ある。本発明はリセットのとき重要となる構成、すなわ
ち石英ボードのウェハのファセットを1枚1枚交互に一
トと下にセットしている。
ときは、1枚1枚バラバラな状態から第13図の如く、
バック・トウ・バックの状態ヘセットする機構が必要で
ある。本発明はリセットのとき重要となる構成、すなわ
ち石英ボードのウェハのファセットを1枚1枚交互に一
トと下にセットしている。
また石英ボードから洗浄工程へ移すときは、バンク・ト
ウ・バックから1枚1枚に分離するリセット機構が必要
である。
ウ・バックから1枚1枚に分離するリセット機構が必要
である。
次に、第2図乃至第6図のとおり、自動機で2枚一組の
ウェハをバック・トウ・バンクの状態で且つ一方のウェ
ハのファセットを下に、他方のウェハのファセットを上
にセットする前述したセット機構について説明する。
ウェハをバック・トウ・バンクの状態で且つ一方のウェ
ハのファセットを下に、他方のウェハのファセットを上
にセットする前述したセット機構について説明する。
ウェハは、例えば洗浄工程を経た後のものであり、ウェ
ハのファセットは、バラバラの状態にある。
ハのファセットは、バラバラの状態にある。
そして通常のファセットアライナ−で全てのファセット
が上方または下方にセットされる。
が上方または下方にセットされる。
まず第1図の通リセットされている第1のウェハ載置台
(10)(ここでは洗浄治具)が、第12図に示す装置
の回転円fi(11)JZにセットされている。
(10)(ここでは洗浄治具)が、第12図に示す装置
の回転円fi(11)JZにセットされている。
二の回転円盤(]I1の回転によりこの第1のウェハ載
置台(10)が、ウェハ保持機構(12)の下方に移動
される。
置台(10)が、ウェハ保持機構(12)の下方に移動
される。
続いてこの第1のウェハ載置台(10)のウェハ(13
)がウェハの下方に設けられている第1のウェハ保持手
段(14)により前記ウェハ保持機構(12)の中に移
動する。
)がウェハの下方に設けられている第1のウェハ保持手
段(14)により前記ウェハ保持機構(12)の中に移
動する。
この機構の中には第2図に示す4種類のウェハ保持手段
が配置されており、B1とAはウニ/Xの中心を通る水
平線の下方にセットされ、ウェハの下落防止のための斜
面を有した溝があり、またB2とCはウェハの中心を通
る水平線の上方にセットされ、ウェハが上方へ移動でき
ない斜面を有する溝がある。またこの保持機構は全体が
回転するようになっており、また第17図の如く、Bl
。
が配置されており、B1とAはウニ/Xの中心を通る水
平線の下方にセットされ、ウェハの下落防止のための斜
面を有した溝があり、またB2とCはウェハの中心を通
る水平線の上方にセットされ、ウェハが上方へ移動でき
ない斜面を有する溝がある。またこの保持機構は全体が
回転するようになっており、また第17図の如く、Bl
。
B2.Cには、溝が形成されている。
次に、B1で示された第2のウェハ保持手段が矢印のと
おり、ウェハに近接する。この保持手段には破線で示す
とおり溝の底面が斜めに形成され、下落しないようにな
っている。また第17図の如く交互に溝の深さが異なる
ので前記第1のウェハ保持手段(14)が下方へ移動す
れば、深い溝に対応する破線で示したウェハが下落し、
奇数番目または偶数番目のウェハだけを第2のウェハ保
持手段B1にセットできる。
おり、ウェハに近接する。この保持手段には破線で示す
とおり溝の底面が斜めに形成され、下落しないようにな
っている。また第17図の如く交互に溝の深さが異なる
ので前記第1のウェハ保持手段(14)が下方へ移動す
れば、深い溝に対応する破線で示したウェハが下落し、
奇数番目または偶数番目のウェハだけを第2のウェハ保
持手段B1にセットできる。
続いてB2で示した第3のウェハ保持手段が近接する。
この保持手段B2の溝は破線のとおりに底面が斜めに設
けであるので第3図のようにウェハを回転させてら落下
しない。
けであるので第3図のようにウェハを回転させてら落下
しない。
続いて、第12図の回転機構(15)により、奇数番目
または偶数番目のウェハを、第3図矢印の如くウェハ面
が回転するように回転する。
または偶数番目のウェハを、第3図矢印の如くウェハ面
が回転するように回転する。
続いて第1のウェハ保持手段(14)にセットされてい
る偶数番目または奇数番目のウェハ(13)が第4図の
とおり上昇する。
る偶数番目または奇数番目のウェハ(13)が第4図の
とおり上昇する。
次に第5図の通り、第3のウェハ保持手段B2が離れ、
Cで示した第4のウェハ保持手段)にセットされる。こ
の状態で、奇数番目のウェハと偶数番目のウェハのファ
セットが上下に異なって配置される。
Cで示した第4のウェハ保持手段)にセットされる。こ
の状態で、奇数番目のウェハと偶数番目のウェハのファ
セットが上下に異なって配置される。
以上の機構は、後述の露出領域を形成する重要な機構で
ある。
ある。
その後、第12図のウェハ保持機構(12)が右方向へ
スライドし、サブステージ(16)上にセットされ、更
にウェハ移動装置Z(17)で1組ずつ所定のピッチで
石英ボード(18)ヘセットされる。
スライドし、サブステージ(16)上にセットされ、更
にウェハ移動装置Z(17)で1組ずつ所定のピッチで
石英ボード(18)ヘセットされる。
次に前述のリセット機構について説明する。石英ボード
(18)上のウェハを本装置上にあるサブステージ(1
6)ヘウエハ移動装置(17)でセットする。ウェハが
全てセットされたら、前記ウェハ保持機構(12)をサ
ブステージ(16)まで右へスライドさせる。
(18)上のウェハを本装置上にあるサブステージ(1
6)ヘウエハ移動装置(17)でセットする。ウェハが
全てセットされたら、前記ウェハ保持機構(12)をサ
ブステージ(16)まで右へスライドさせる。
続いて第6図の如く、ウェハの下方から上昇して来る第
1のウェハ保持手段(I4)により全てのウェハをウェ
ハ保持機構まで上昇させる。
1のウェハ保持手段(I4)により全てのウェハをウェ
ハ保持機構まで上昇させる。
この時のウェハの状態を示したものが第7図である。図
からも分かるように、斜線で示した領域が、本発明の特
徴としたところであり、ここでは手前から偶数番目のウ
ェハ上部は、前記セット機構によりファセットがずれる
ことで露出されている。
からも分かるように、斜線で示した領域が、本発明の特
徴としたところであり、ここでは手前から偶数番目のウ
ェハ上部は、前記セット機構によりファセットがずれる
ことで露出されている。
一方、この露出領域(19)は、第8図の通り、ウェハ
保持手段の溝の底面が斜めになっていれば回転しなくと
も実現可能であるが、この場合は露出面積が少ないので
、前述したとおリファセットもずらして露出面積を拡大
している。
保持手段の溝の底面が斜めになっていれば回転しなくと
も実現可能であるが、この場合は露出面積が少ないので
、前述したとおリファセットもずらして露出面積を拡大
している。
次に、第8図のとおり、ウェハ(13)の露出領域(1
9)に流体を吹き付ける工程がある。
9)に流体を吹き付ける工程がある。
ここではノズル(20)が下降しN2ガスを前記露出領
域(19)に吹き付けている。従って、他方のウェハ(
13−)は第9図のとおり斜めに傾きウェハ間隔を広げ
ることができる。
域(19)に吹き付けている。従って、他方のウェハ(
13−)は第9図のとおり斜めに傾きウェハ間隔を広げ
ることができる。
ここでは下方から上昇する第1のウェハ保持手段(14
)が上昇しても可能である。
)が上昇しても可能である。
続いて広げられたウェハ上部の間に、第10図、第11
図の如く、Cで示された第4のウェハ保持手段が近接し
、爪(21)が挿入されて行き、ウェハが分離される。
図の如く、Cで示された第4のウェハ保持手段が近接し
、爪(21)が挿入されて行き、ウェハが分離される。
しかしウェハはこの保持手段Cにより完全に固定されて
おらず、若干フリーな状態である。またウェハの水平面
の直径位置よりも下に第5のウェハ保持手段A、ここで
は落下防止のウェハホルダーが近接しウェハと接触する
。
おらず、若干フリーな状態である。またウェハの水平面
の直径位置よりも下に第5のウェハ保持手段A、ここで
は落下防止のウェハホルダーが近接しウェハと接触する
。
続いてウェハが分離された状態で180°回転し、ウェ
ハの自重により、前記第4のウェハ保持手段Cの爪と連
続して設けられた溝(22)に1枚1枚セットされる。
ハの自重により、前記第4のウェハ保持手段Cの爪と連
続して設けられた溝(22)に1枚1枚セットされる。
実際の断面は第17図に示す。
ここではウェハへ負荷が加わらないように回転している
。つまり回転をしなくても、前記保持手段Cがウェハを
完全にクランプし、ウェハを全て垂直にセットすれば、
そのまま別のウェハ載置台にセットできる。しかし第9
図のとおり、ウェハは斜めの状態であり、このウェハを
クランプして別のウェハ載置台にセットする間には、ウ
ェハに負荷を4える可能性がある。
。つまり回転をしなくても、前記保持手段Cがウェハを
完全にクランプし、ウェハを全て垂直にセットすれば、
そのまま別のウェハ載置台にセットできる。しかし第9
図のとおり、ウェハは斜めの状態であり、このウェハを
クランプして別のウェハ載置台にセットする間には、ウ
ェハに負荷を4える可能性がある。
従って、ウェハがフリーな状態で回転し、自重によりセ
ットしたほうが、ウェハに負荷を与えず好ましいセット
ができる。
ットしたほうが、ウェハに負荷を与えず好ましいセット
ができる。
続いてウェハ保持機F*(12)を左へスライドし、前
記第1のウェハ保持手段(14)を上昇させ、第3のウ
ェハ保持手段B2を近接させ、第4のウェハ保持手段C
を引っ込める。従って第3のウェハ保持手段B2の深い
溝に対応するウェハが、下方にセットされている洗浄治
具へ落下しセットされる。
記第1のウェハ保持手段(14)を上昇させ、第3のウ
ェハ保持手段B2を近接させ、第4のウェハ保持手段C
を引っ込める。従って第3のウェハ保持手段B2の深い
溝に対応するウェハが、下方にセットされている洗浄治
具へ落下しセットされる。
更に第2のウェハ保持手段B1を近接させ、ウェハを前
述と同様に180”回転させる。そして第3のウェハ保
持手段B2を引っ込めて、先にウェハが半分セットされ
ている洗浄治具を上昇させ、第2のウェハ保持手段Bl
を引っ込めて洗浄治具に落下させセットする。
述と同様に180”回転させる。そして第3のウェハ保
持手段B2を引っ込めて、先にウェハが半分セットされ
ている洗浄治具を上昇させ、第2のウェハ保持手段Bl
を引っ込めて洗浄治具に落下させセットする。
従って全てのウェハはファセットが一致して且つウェハ
の表面も揃ってセットされる。
の表面も揃ってセットされる。
(ト)発明の効果
以上の説明から明らかな如く、奇数番目と偶数番目のウ
ェハのファセット位置を異ならしめる反転機構で、第7
図のようにウェハの一方はウェハと重畳しない部分が生
じるから、ウェハに流体を吹き付けて間隔を広げること
ができ、ウェハに障害を与えずに1枚1枚分離できる。
ェハのファセット位置を異ならしめる反転機構で、第7
図のようにウェハの一方はウェハと重畳しない部分が生
じるから、ウェハに流体を吹き付けて間隔を広げること
ができ、ウェハに障害を与えずに1枚1枚分離できる。
しかもウェハ間隔を広げられるので、ウェハ保持手段の
爪をスムーズに挿入できる。さらにはウェハの厚さに関
係なく挿入できるので自動化が可能となる。
爪をスムーズに挿入できる。さらにはウェハの厚さに関
係なく挿入できるので自動化が可能となる。
またウェハのファセットをずらしたり、ウェハの設置高
さを異ならしめることで、一方のウェハの一部を露出さ
せることができるので、この露出領域に流体を吹き付け
れば、効率よくウェハ間隔を広げることができる。従っ
てウェハ保持手段の爪をウェハ間に完全にいれることが
できる。
さを異ならしめることで、一方のウェハの一部を露出さ
せることができるので、この露出領域に流体を吹き付け
れば、効率よくウェハ間隔を広げることができる。従っ
てウェハ保持手段の爪をウェハ間に完全にいれることが
できる。
また一連の保持手段によりウェハはバック・トウ・バッ
クに自動的にセットできるため、作業効率を向−トさせ
ることができる。
クに自動的にセットできるため、作業効率を向−トさせ
ることができる。
以上本発明は、片面の拡散(これはバイポーラだけに限
らすモスや化合物半導体等にも当てはまる)のときに非
常に有効な装置である。
らすモスや化合物半導体等にも当てはまる)のときに非
常に有効な装置である。
第1図はウェハがセットされた時の図、第2図乃至第6
図は反転機構を説明するための図、第7図乃至第11図
はウェハを分離する機構を説明するための図、第12図
は本移し替え装置の図、第13図はウェハ載置台にバッ
ク・トウ・バンクでセットされている図、第14図およ
び第15図は従来の方法でウェハを分離する時の説明図
、第16図は、ウェハが1枚1枚分離されてセットされ
ている図、第17図は保持手段の断面図である。
図は反転機構を説明するための図、第7図乃至第11図
はウェハを分離する機構を説明するための図、第12図
は本移し替え装置の図、第13図はウェハ載置台にバッ
ク・トウ・バンクでセットされている図、第14図およ
び第15図は従来の方法でウェハを分離する時の説明図
、第16図は、ウェハが1枚1枚分離されてセットされ
ている図、第17図は保持手段の断面図である。
Claims (7)
- (1)、半導体ウェハを2枚一組でセットし且つ一方の
ウェハを反転させファセット位置を他方のウェハのファ
セット位置と異ならしめるウェハの反転機構を有したウ
ェハの移し替え装置であって、 所定のウェハ保持手段にファセットがアライニングされ
てセットされている複数枚のウェハと、別のウェハ保持
手段を近接または接触させ、前記別のウェハ保持手段に
より奇数番目または偶数番目のウェハのみを反転させ、 奇数番目と偶数番目のウェハのファセット位置を異なら
しめてセットする反転機構を有したウェハの移し替え装
置。 - (2)、前記ウェハの中心を通る水平線の上方および下
方で、奇数番目または偶数番目のウェハの両端に前記別
のウェハ保持手段を近接または接触させ、前記奇数番目
または偶数番目のウェハを180゜回転させる反転機構
を有することを特徴とした請求項第1項記載のウェハの
移し替え装置。 - (3)、前記ファセット位置を異ならしめことで生じる
ウェハの露出部分に外力を加え、前記2枚一組のウェハ
間隔を広げる機構を有することを特徴とした請求項第1
項記載のウェハの移し替え装置。 - (4)、前記吹き付け機構により広げられたウェハ間へ
保持手段に設けられた凸部を挿入することで、前記2枚
一組のウェハを分離するウェハ分離機構を有することを
特徴とした請求項第3項記載のウェハの移し替え装置。 - (5)、前記2枚一組のウェハは、非処理面を背中合わ
せにセットした状態でセットされることを特徴とした請
求項第1項、第2項、第3項または第4項記載のウェハ
の移し替え装置。 - (6)、半導体における処理を施され且つファセットが
アライニングされた一連のウェハがセットされた第1の
ウェハ載置台とウェハ保持機構とを近接させ、 前記第1のウェハ載置台から第1のウェハ保持手段にウ
ェハを移し、 前記ウェハの中心を通る水平線の上方および下方で、奇
数番目または偶数番目のウェハの両端に第2のウェハ保
持手段および第3のウェハ保持手段を近接または接触さ
せ、 前記第2のウェハ保持手段および第3のウェハ保持手段
にセットされた奇数番目または偶数番目のウェハを反転
させ、 前記反転されたウェハまたはそのままのウェハを移動さ
せ、奇数番目と偶数番目のウェハのファセット位置を異
ならした状態でウェハをセットする反転機構を有したウ
ェハの移し替え装置。 - (7)、前記ファセット位置を異ならしめることで生じ
るウェハの露出部分に流体を吹き付けて、ウェハ間隔を
広げ、 前記広げられたウェハ間に第4のウェハ保持手段に設け
られた凸部を挿入し、 前記ウェハの下方に第5のウェハ保持手段を当接し、前
記ウェハを180゜回転することで前記第4のウェハ保
持手段の凸部に連なる溝に前記ウェハをセットするウェ
ハ分離機構を有することを特徴とした請求項第6項記載
のウェハの移し替え装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11193190A JPH0722177B2 (ja) | 1990-04-26 | 1990-04-26 | ウェハの移し替え装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11193190A JPH0722177B2 (ja) | 1990-04-26 | 1990-04-26 | ウェハの移し替え装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0410454A true JPH0410454A (ja) | 1992-01-14 |
| JPH0722177B2 JPH0722177B2 (ja) | 1995-03-08 |
Family
ID=14573721
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11193190A Expired - Fee Related JPH0722177B2 (ja) | 1990-04-26 | 1990-04-26 | ウェハの移し替え装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0722177B2 (ja) |
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1990
- 1990-04-26 JP JP11193190A patent/JPH0722177B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0722177B2 (ja) | 1995-03-08 |
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