JPH04105139A - Timing inspecting method - Google Patents
Timing inspecting methodInfo
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- JPH04105139A JPH04105139A JP2223100A JP22310090A JPH04105139A JP H04105139 A JPH04105139 A JP H04105139A JP 2223100 A JP2223100 A JP 2223100A JP 22310090 A JP22310090 A JP 22310090A JP H04105139 A JPH04105139 A JP H04105139A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は夫々異なる固有のレベルを有する多相クロック
を使用して同期動作する電子回路のタイミングを検証す
る方法に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to a method for verifying the timing of synchronously operating electronic circuits using multiphase clocks each having a different inherent level.
ラッチ回路を含み、同期動作する半導体集積回路を設計
する場合、タイミングの検証が重要である。タイミング
検証は一般に論理設計が終了した段階と、その論理設計
に対してレイアウトが終了した段階とで実行される。前
者では、レイアウトが済んでいないため、仮想配線長に
基づく仮想遅延値を用いて検証を行い、後者では、実際
の配線長に基づく実遅延値を用いて正確な検証を行う。When designing a semiconductor integrated circuit that includes a latch circuit and operates synchronously, timing verification is important. Timing verification is generally performed at the stage when the logic design is completed and at the stage when the layout for the logic design is completed. In the former, since the layout has not been completed, verification is performed using a virtual delay value based on the virtual wiring length, and in the latter, accurate verification is performed using an actual delay value based on the actual wiring length.
このように2段階で検証を行うのは、レイアウトが済ん
でからタイミング上の問題が見つかった場合、その修正
に必要な手間が大きすぎるからである。The reason why verification is performed in two stages is that if a timing problem is found after the layout is completed, it would take too much effort to correct it.
第5図は検証対象の回路15の構成を示すブロック図で
あり、回路15は伝播回路であるランチ回路16a、1
6b間にオア回路等の組合せ回路17を挟んで構成され
ている。回路15ではデータ信号線18に与えられたデ
ータがラッチ回路16aによりクロック信号線22に与
えられたクロックCIのタイミングでラッチされ、その
ラッチ出力S1がデータ信号線19を介して組合せ回路
17に与えられ、その出力S2がデータ信号線20を介
してランチ回路16bによりりロック信号線23に与え
られたクロックC2のタイミングでラッチされ、ラッチ
出力S3がデータ信号線21に出力される。FIG. 5 is a block diagram showing the configuration of the circuit 15 to be verified.
A combinational circuit 17 such as an OR circuit is sandwiched between 6b and 6b. In the circuit 15, the data applied to the data signal line 18 is latched by the latch circuit 16a at the timing of the clock CI applied to the clock signal line 22, and the latch output S1 is applied to the combinational circuit 17 via the data signal line 19. The output S2 is latched via the data signal line 20 by the launch circuit 16b at the timing of the clock C2 applied to the lock signal line 23, and the latch output S3 is output to the data signal line 21.
ここで各信号線を伝播する信号の特性について以下に説
明する。クロックC1,C2は位相情報を含む入力順に
関連する情報としてレベルTl、T2(TI≠72)を
各別に持ち、そのJi1期は同一である。またデータ信
号St、S2.S3はタイミング情報としてタイミング
tl 、 t2. t3を、また入力順に関連する情報
としてレベルTl、TI、T2を各別に持っている。Here, the characteristics of the signals propagating through each signal line will be explained below. The clocks C1 and C2 each have levels Tl and T2 (TI≠72) as information related to the input order including phase information, and their Ji1 periods are the same. Further, data signals St, S2 . S3 includes timing information such as timing tl, t2. t3, and levels Tl, TI, and T2 as information related to the input order.
ここでレベルとは、クロック毎に定義された整数値であ
り、その値の大小関係により1周期内でのクロックの供
給順を示すものであり、データ信号においてはレベルは
それを出力するラッチ回路のクロックのレベルに相当す
る。ここでレベルが小さい場合、クロックが早く供給さ
れることを示している。Here, the level is an integer value defined for each clock, and indicates the order in which the clock is supplied within one cycle depending on the magnitude relationship of the value.For data signals, the level is the latch circuit that outputs it. corresponds to the level of the clock. Here, if the level is small, it indicates that the clock is supplied early.
また、タイミングとは基準時刻から測った相対時間であ
り、後述する最大又は最小遅延モードにより対応する信
号が安定する又は変化する時刻を示すものである。Furthermore, the timing is a relative time measured from a reference time, and indicates the time at which the corresponding signal becomes stable or changes depending on the maximum or minimum delay mode, which will be described later.
次にこのような回路に対する従来のタイミング検証方法
について説明する。Next, a conventional timing verification method for such a circuit will be explained.
第6図は回路15の動作のタイミングチャートを示して
いる。回路15に対してタイミングトレースを行う場合
、データ信号線18.19,20.21を技、ラッチ回
路16a、 16b及び組合せ回路17をノードと考え
、ノードに注目してトレースを行う。またタイミングト
レースにはフォワードトレース及びハックワードトレー
ス並びに最大遅延モード及び最小遅延モードがある。こ
こでフォワードトレースとは、実際の信号の流れに沿っ
た方向(入力側から出力側への方向)に行うトレースの
ことである。FIG. 6 shows a timing chart of the operation of the circuit 15. When timing tracing is performed on the circuit 15, the data signal lines 18, 19, 20, 21 are considered as nodes, the latch circuits 16a, 16b, and the combinational circuit 17 are considered as nodes, and tracing is performed focusing on the nodes. Further, the timing trace includes a forward trace, a hackword trace, a maximum delay mode, and a minimum delay mode. Here, forward tracing refers to tracing performed in the direction along the actual signal flow (from the input side to the output side).
これとは逆のバンクワードトレースは、逆に実際の信号
の流れとは逆方向(出力側から入力側への方向)に行う
トレースのことである。タイミング検証においてこの両
方向のトレースを行うが、その理由は可及的に多くのタ
イミングエラーを見つけるためである。Bank word tracing, which is the opposite of this, is tracing performed in the opposite direction to the actual signal flow (from the output side to the input side). The reason for tracing in both directions during timing verification is to find as many timing errors as possible.
また最大遅延モードとは、信号変化の伝播が最大に遅れ
た場合(最も遅(到着する場合)を仮定してトレースを
行うモードであり、タイミングが最大値をとるときを最
悪タイミングとし、このモードでは例えばランチ回路の
セントアップタイム条件を満たしているか否かをチエツ
クする。これとは逆の最小遅延モードは、信号変化の伝
播が最小に遅れた場合(最も早く到着する場合)を仮定
してトレースを行うモードであり、タイミングが最小値
をとるときを最悪タイミングとし、このモードでは例え
ばラッチ回路のホールドタイム条件を満たしているか否
かをチエツクする。またセントアップタイムとはラッチ
回路に入力されるクロックが変化する何秒前にデータ信
号の信号状態が安定していればランチ回路が規定のラン
チ動作を行うかということを示す時間であり、ホールド
タイムとはラッチ回路に入力するクロックが変化してか
ら何秒後までデータ信号の信号状態が安定であり続けれ
ばラッチ回路が規定の動作を行うかということを示す時
間である。Maximum delay mode is a mode in which tracing is performed assuming the case where the propagation of a signal change is delayed to the maximum (the slowest (when it arrives)), and the worst timing is when the timing takes the maximum value. For example, check whether the launch circuit satisfies the sent-up time condition.The opposite minimum delay mode assumes that the propagation of the signal change is delayed to the minimum (the earliest arrival). In this mode, tracing is performed, and the worst timing is when the timing takes the minimum value. In this mode, for example, it is checked whether the hold time conditions of the latch circuit are satisfied. Also, the cent-up time is the time when the timing is input to the latch circuit. The hold time indicates how many seconds before the clock input to the latch circuit changes, if the signal state of the data signal is stable, the launch circuit will perform the specified launch operation. This is the time period that indicates how many seconds after the signal state of the data signal must remain stable for the latch circuit to perform the specified operation.
以下フォワードトレース、最大遅延モードでのタイミン
グトレースについて説明する。The forward trace and timing trace in maximum delay mode will be explained below.
組合せ回路17にはデータ信号S1が人力しており、そ
のタイミングt1に組合せ回路17の内部遅延を加えて
、次段のノードであるラッチ回路16bにタイミングE
2を伝播することによりタイミングトレースを行う。こ
こでは組合せ回路17に1つの信号S1が入力している
だけであるが、通常はノードには複数の信号が入力して
いるので、そのうちの最大又は最小遅延モードに応じた
最悪タイミングを選択して、それに内部遅延を加えてい
る。The data signal S1 is input to the combinational circuit 17, and by adding the internal delay of the combinational circuit 17 to the timing t1, the data signal S1 is sent to the latch circuit 16b, which is the next node, at the timing E.
Timing trace is performed by propagating 2. Here, only one signal S1 is input to the combinational circuit 17, but since multiple signals are normally input to the node, the worst timing is selected according to the maximum or minimum delay mode. and adds internal delay to it.
前述した如くタイミングtl、 t2. t3は一点鎖
線で示すクロックC1の立下がりエツジを基準時刻とし
、そこからの相対時間で表現され、レベルTlを持つデ
ータ信号S2をそれより小さいレベルT2を持つクロッ
クC2が入るランチ回路16bで取込む場合は、データ
信号S1の入力タイミングt1に組合せ回路17の内部
遅延を単純に加算して得られた値t2aからクロックC
2の1クロツクの時間を引いた値t2を使ってタイミン
グトレースを行い、ランチ回路16bでのタイミング検
証を行なう。これはタイミング検証は全て1周期内の基
準時刻からのタイミングにて行うからであり、この場合
、次の周期の基準時刻を値t2aが超えているので値t
2を使ってタイミング検証を行う。そしてタイミングL
2がランチ回路16のセノトア・ノブタイムを満足する
か否かをチエツクする。As mentioned above, the timings tl, t2. t3 is expressed as a relative time from the falling edge of the clock C1 shown by the dashed line as a reference time, and the data signal S2 having the level Tl is taken by the launch circuit 16b into which the clock C2 having the lower level T2 is input. When input timing t1 of data signal S1 is input, clock C is calculated from value t2a obtained by simply adding the internal delay of combinational circuit 17 to input timing t1 of data signal S1.
A timing trace is performed using the value t2 obtained by subtracting the time of one clock from 2, and timing verification in the launch circuit 16b is performed. This is because all timing verification is performed from the reference time within one cycle, and in this case, since the value t2a exceeds the reference time of the next cycle, the value t2a exceeds the reference time of the next cycle.
2 to perform timing verification. and timing L
2 satisfies the cenotaph time of the launch circuit 16.
一般にあるレベルを持ったデータ信号を、それと異なる
レベルのクロックで取込む場合は、トレースの方向(フ
ォワードトレース又はハックワードトレース)、トレー
スのモード(最大遅延モード、最小遅延モード)及びレ
ベルの大小によりデータ信号のタイミングに1クロック
加えるか又は1クロツク減する処理を行い、タイミング
チエツクを行う。Generally, when capturing a data signal with a certain level using a clock with a different level, it depends on the direction of the trace (forward trace or hackword trace), the mode of the trace (maximum delay mode, minimum delay mode), and the level. A timing check is performed by adding or subtracting one clock from the timing of the data signal.
以下このように基準時刻を超えた場合に行う処理のこと
を日付変更処理という。Hereinafter, the processing performed when the reference time is exceeded will be referred to as date change processing.
第6図に示す如く最大遅延モードでフォワードトレース
の場合は、レベル(T1)の大きいデータ信号(S2)
をラッチ回路16bによりレベル(T2<Tl)の小さ
なりロック(C2)で取り込むとき、データ信号S2を
次の基準時刻以降のクロックで取り込むことになるので
、日付変更処理により単純に加算したタイミングt2a
から1クロツクの時間を減する必要が生しる。逆にレベ
ルの小さなデータをレベルの大きなりロックで取り込む
ときは(Tl<T2)、1周期で取込みが完了するので
日付変更処理は不要となる。As shown in Figure 6, in the case of forward trace in the maximum delay mode, the data signal (S2) with a large level (T1)
When the data signal S2 is captured by the latch circuit 16b with a low level lock (C2) of the level (T2<Tl), the data signal S2 is captured at the clock after the next reference time, so the timing t2a simply added by the date change process is
Therefore, it becomes necessary to reduce the time of one clock. On the other hand, when data with a small level is imported using a lock with a large level (Tl<T2), the date change process is not necessary because the data is imported in one cycle.
日付変更処理と前述の各モードとの関係を表1に示す。Table 1 shows the relationship between the date change process and each of the above-mentioned modes.
表 1
ここで“不要”とは日付変更処理が不要であることを示
し、“小−大”、“大−小”はレベルの関係を示し、矢
符の前は伝播するデータのレベルを、また矢符の後は伝
播されたデータを取込むラッチ回路のクロックのレベル
を示している。Table 1 Here, "unnecessary" indicates that date change processing is unnecessary, "small-large" and "large-small" indicate the relationship between levels, and the symbol in front of the arrow indicates the level of the data to be propagated. Also, the part after the arrow indicates the clock level of the latch circuit that takes in the propagated data.
上述の如くして行われるタイミング検証において、ある
組合せ回路で互いに異なるレベルを持つデータ信号の合
流が起こる場合がある。従来、レベルが異なるデータ信
号の合流が起こった時点では組合せ回路から出力される
データ信号を後続するラッチ回路でどのレベルのクロッ
クで取込むかわからないので、日付変更処理の要否が判
明せず組合せ回路に入力されるデータ信号の最悪タイミ
ングの選択ができなかった。即ち、第5図の組合せ回路
17にレベルT1を有するデータ信号S1の他にレベル
T1と異なるレベルを有するデータ信号が合流する場合
、合流が生じた時点では後続するランチのクロックのレ
ベルが不明であり、日付変更処理の要否が判明しないの
で、どのレベルのデータが最悪タイミングとなるのか判
明しなかった。In the timing verification performed as described above, data signals having different levels may merge in a certain combinational circuit. Conventionally, when data signals of different levels merge, it is not known at which clock level the data signal output from the combinational circuit will be captured by the subsequent latch circuit, so it is unclear whether date change processing is necessary or not. It was not possible to select the worst timing of the data signal input to the circuit. That is, when a data signal having a level different from level T1 joins the data signal S1 having level T1 in addition to the data signal S1 having level T1 in the combinational circuit 17 of FIG. Since it was not clear whether date change processing was necessary or not, it was not clear which level of data would have the worst timing.
従って従来は人手によりレベル毎のタイミングの指定を
行い、指定されたタイミングのデータ信号だけによりタ
イミングトレースを行い、チエツクを行うか、又はレベ
ルを無視してタイミングの大小関係を用いて最悪タイミ
ングを決定し、不正確なタイミング検証を行なっていた
。Therefore, in the past, the timing was manually specified for each level, and the timing was traced and checked using only the data signal at the specified timing, or the worst timing was determined by ignoring the level and using the magnitude relationship of the timing. However, the timing verification was incorrect.
本発明は斯かる事情に鑑みなされたものであり、レベル
毎の最悪タイミングを伝播回路へ伝播することにより、
レベルが異なるデータ信号の合流が起こるような電子回
路であっても取込む伝播回路のクロックのレベルに応じ
て必要な日付変更処理がなされ、正確なタイミング検証
を行えるタイミング検証方法を提供することを目的にす
る。The present invention was made in view of such circumstances, and by propagating the worst timing for each level to the propagation circuit,
To provide a timing verification method capable of performing accurate timing verification by performing necessary date change processing according to the level of a clock of a propagation circuit to be taken in even in an electronic circuit where data signals of different levels are merged. Make it a purpose.
この発明に係るタイミング検証方法は、タイミングトレ
ースを行うときに組合せ回路に入力される異なるレベル
を有するデータに対してレベル毎の最悪タイミングを定
め、定められたレベル毎の最悪タイミングを伝播回路に
与えるようにしたものである。The timing verification method according to the present invention determines the worst timing for each level for data having different levels input to a combinational circuit when performing timing tracing, and provides the worst timing for each determined level to the propagation circuit. This is how it was done.
〔作用]
本発明においては、組合せ回路にレベルの異なる複数の
データが入力されると、レベル毎の最悪タイミングが定
められ、定められたレベル毎の最悪タイミングが伝播回
路に与えられ、タイミング検証のトレースの方向、モー
ド及びデータ信号のレベルと伝播回路のクロックとのレ
ベルの比較により必要な日付変更処理がなされ、正確な
タイミングのチエツクが行われる。[Operation] In the present invention, when a plurality of data with different levels are inputted to the combinational circuit, the worst timing for each level is determined, and the worst timing for each determined level is given to the propagation circuit, and the timing verification is performed. Comparison of the trace direction, mode, and level of the data signal with the propagation circuit clock performs the necessary date changes and checks for accurate timing.
(実施例〕
以下、本発明をその実施例を示す図面に基づいて説明す
る。(Example) Hereinafter, the present invention will be described based on drawings showing examples thereof.
第1図は本発明に係るタイミング検証方法の実施に用い
るタイミング検証装置の機能構成を示すブロック図であ
る。図において30は初期設定部であり、例えばフォワ
ードモードのときは入力ピンに入力されるデータ信号の
レベル及びタイミング並びに各クロ・ツクのレベルを設
定する。設定されたデータ信号及びクロックはタイミン
グトレース部31に与えられる。タイミングトレース部
31はタイミングトレースを行うところであり、レベル
伝播部312、遅延計算部313及び最悪ケース決定部
314で定められたレベル毎のタイミングデータに基づ
きタイミング計算を行い、レベル毎の最悪タイミングを
求めるタイミング計算部311を備えている。FIG. 1 is a block diagram showing the functional configuration of a timing verification device used to implement the timing verification method according to the present invention. In the figure, 30 is an initial setting section, which sets the level and timing of the data signal input to the input pin and the level of each clock in the forward mode, for example. The set data signal and clock are given to the timing trace section 31. The timing tracing unit 31 performs timing tracing, and calculates timing based on the timing data for each level determined by the level propagation unit 312, delay calculation unit 313, and worst case determination unit 314 to find the worst timing for each level. A timing calculation section 311 is provided.
レベル伝播部312は最悪タイミングデータにレベルデ
ータを付加し、遅延計算部313はタイミングトレース
に従って線路遅延を加算する。また最悪ケース決定部3
14は各組合せ回路において入力の到着時間とその内部
遅延とからその組合せ回路の出力の最悪タイミングを計
算する。タイミングトレース部31にてタイミングトレ
ースされたレベル毎のタイミングデータはタイミングチ
エツク部32に与えられる。タイミングチエツク部32
は日付変更処理部321及びチエツク部322を備え、
そこでトレースの方向、モード及びレベルに従い与えら
れたレベル毎の最悪タイミングデータに日付変更処理が
なされ、それ番こよりランチ回路のセントアップタイム
条件及びホールドタイム条件を満たすか否かをチエツク
する。The level propagation unit 312 adds level data to the worst timing data, and the delay calculation unit 313 adds line delay according to the timing trace. Also, the worst case decision section 3
14 calculates the worst timing of the output of each combinational circuit from the arrival time of the input and its internal delay. The timing data for each level traced by the timing trace section 31 is given to the timing check section 32. Timing check section 32
includes a date change processing section 321 and a check section 322,
Then, a date change process is performed on the worst timing data given for each level according to the trace direction, mode, and level, and it is checked whether the center up time condition and hold time condition of the launch circuit are satisfied from that number.
次に本発明のタイミングトレース手順について説明する
。Next, the timing trace procedure of the present invention will be explained.
第2図はフォワードトレースにおけるタイミングトレー
ス手順の概略を示す図である。第2図において1は組合
せ回路としてのオアゲートであり、オアゲート1にはT
Iレベルを持つ入力信号がnT1本、夫々tITI、t
2T′・・・ttlT+”のタイミングで入力している
。またT2レベルを持つ入力信号がnT2本、夫々t、
?2. 12T2・・・t、1□2T2のタイミングで
入力している。同様な考え方でオアゲート1にはm種の
異なるレベルを持つ信号が入力している。FIG. 2 is a diagram schematically showing a timing trace procedure in forward trace. In FIG. 2, 1 is an OR gate as a combinational circuit, and OR gate 1 has T
One input signal with I level is nT, tITI and t, respectively.
2T'...ttlT+". Also, there are two nT input signals with T2 level, each at t,
? 2. 12T2...t, input at the timing of 1□2T2. Based on a similar idea, m types of signals having different levels are input to the OR gate 1.
このときオアゲート1から出力されるデータ信号には、
TIレベルを持つタイミングtTI、T2レベルを持つ
タイミングtT2・・・、Tmレベルを持つタイミング
tT−とm種の各レベル毎に1つずつタイミングtTl
、 tTl・・・tT′″を伝播させる。タイミング
tT+はTルベルを持つ入力タイミングt、TI、、
t、、、、TI中の最悪なもの=worst(t I”
+ t t”・t nr+”)にオアゲート1の内部
遅延を加えたものである。At this time, the data signal output from OR gate 1 is as follows:
Timing tTI with TI level, timing tT2 with T2 level..., timing tT- with Tm level, and one timing tTl for each of m levels.
, tTl...tT''' is propagated. The timing tT+ is the input timing t, TI, , with T level.
t, ..., the worst in TI=worst(t I"
+ t t”·t nr+”) plus the internal delay of OR gate 1.
ここで−orst(t 、T1. j tTl、、、
t、、、、?+)は最大遅延モードのときは入力タイ
ミング(、、TI 、、 t0ア、7中の最大のもので
あり、逆に最小遅延モードのときは入力タイミングt、
TI、、、 t、lT、Tl中の最小のものである。Here -orst(t , T1. j tTl, ,
T...? +) is the maximum of input timings (,,TI,, t0a, 7) when in maximum delay mode, and conversely, when in minimum delay mode, input timing t,
TI, , t, lT, is the smallest among Tl.
以上の処理で信号が伝播回路たるランチ回路2まで伝播
してきたら、そのランチ回路2がデータを取込むクロッ
クのレベルとオアゲート1から出力されたデータ信号の
レベルとに応じてデータ信号の最悪タイミングに日付変
更処理を施し、タイミングのチエツクを行う。When the signal propagates to the launch circuit 2, which is a propagation circuit, through the above processing, the launch circuit 2 adjusts the worst timing of the data signal according to the level of the clock that takes in the data and the level of the data signal output from the OR gate 1. Perform date change processing and check timing.
第3図はフォワードトレースにより各ゲートでタイミン
グを伝播するときの処理内容を示すフローチャートであ
る。最初に最大遅延モードでの検証か否かをチエツクし
くステップ旧0)、最大遅延モードのときは入力信号の
レベルのうち1つを選択しくステップ#11)、同じレ
ベルを持つタイミングの中で最大の値を持つタイミング
を見つける(ステップ#12)。この処理を全てのレベ
ルが終了するまで行う (ステップ#13)。同様に最
小遅延モードのときは、入力信号の全てのレベルの最小
の値を持つタイミングを見つける (ステップ#14〜
#16)。そして全てのレベルのタイミングを見つける
と、最悪ケース決定部314はそれに内部遅延を加えた
ものを最悪タイミングとして決定し、レベル伝播部31
2にはレベルデータを付加して次段のう・7千回路2に
伝播する (ステップ#17)。FIG. 3 is a flowchart showing the processing contents when timing is propagated at each gate by forward trace. First, check whether the verification is in the maximum delay mode (step #11), and if it is in the maximum delay mode, select one of the input signal levels (step #11). Find the timing with the value (step #12). This process is repeated until all levels are completed (step #13). Similarly, when in the minimum delay mode, find the timing with the minimum value of all levels of the input signal (step #14 ~
#16). After finding the timings for all levels, the worst case determining unit 314 determines the worst timing by adding the internal delay to the timing, and the level propagating unit 31
Level data is added to 2 and propagated to the next stage, 7,000 circuit 2 (step #17).
第4図はランチ回路2でのタイミングチエツクの処理内
容を示すフローチャートであり、最初にう、子回路2へ
の入力信号のレベルのうち1つを選択して、そのレベル
とクロックとのレベルの大小及び遅延モード、トレース
の方向等を考慮して日付変更処理が必要か否かをチエツ
クしくステップ#21)、表1に示す如く日付変更処理
が必要な場合はそれを行い(ステップ#22)、タイミ
ングのチエツクを行う。FIG. 4 is a flowchart showing the contents of timing check processing in the launch circuit 2. First, one of the levels of the input signal to the child circuit 2 is selected, and the level between that level and the clock is adjusted. Check whether date change processing is necessary considering the size, delay mode, trace direction, etc. (Step #21), and if date change processing is necessary as shown in Table 1, perform it (Step #22) , check the timing.
ここでのタイミングチエツクは最大遅延モードのときは
ラッチ回路のセントアンプタイム条件のチエツクを、ま
た最小遅延モードのときはラッチのホールドタイム条件
のチエツクを行う。そしてまだ未処理のレベルがあるか
否かをチエツクしくステップ#24)、未だ未処理のレ
ベルがある場合はステップ#20に戻り、全てのレベル
のチエツクを終了するまでチエツクを行う。The timing check here is performed by checking the cent amplifier time condition of the latch circuit in the maximum delay mode, and checking the hold time condition of the latch in the minimum delay mode. Then, it is checked whether or not there are any unprocessed levels (step #24). If there are still unprocessed levels, the process returns to step #20 and the checks are continued until all levels have been checked.
なお、本実施例では組合せ回路としてオアゲートを例に
説明したが、本発明はこれに限るものではなく、他のゲ
ート及びその組合せ回路でもよい。Although the present embodiment has been described using an OR gate as an example of a combinational circuit, the present invention is not limited to this, and other gates and their combination circuits may be used.
また本実施例では内部遅延の加算を全レベルの最悪タイ
ミングを見つけた後に行なっているが、これは1つのレ
ベルを選択し、その最悪タイミングを見つけたときに内
部遅延を加算し、その値を保持しても同様な効果を得ら
れる。Furthermore, in this embodiment, the internal delays are added after finding the worst timing of all levels, but this means that one level is selected, and when the worst timing is found, the internal delays are added, and the value is A similar effect can be obtained by holding it.
以上説明したように本発明によれば、各レベル毎にタイ
ミングを伝播するようにしたので、レベル毎のタイミン
グにデータを取り込むクロックのレベルに応じて日付変
更処理を施すことができ、複数のレベルを持つ信号が合
流するような回路からの出力を取込む場合であっても、
人手の介入なしに正確なタイミング検証を行うことがで
きる等価れた効果を奏する。As explained above, according to the present invention, since the timing is propagated for each level, it is possible to perform date change processing according to the level of the clock that takes in data at the timing of each level. Even when taking in output from a circuit where signals with
An equivalent effect is achieved in which accurate timing verification can be performed without manual intervention.
第1図は本発明に係るタイミング検証方法の実施に用い
るタイミング検証装置の機能構成を示すブロック図、第
2図はタイミングトレースの概略処理手順を示す図、第
3図はフォワードモードにおいて各ゲートでタイミング
を伝播するときの処理内容を示すフローチャート、第4
図はう、子回路でのタイミングチエツクの処理内容を示
すフローチャート、第5図は従来のタイミング検証方法
における検証対象回路の構成図、第6図はランチ回路の
動作を説明するタイミングチャートである。
31・・・タイミングトレース部 312・・・レベル
伝播部 311・・・タイミング計算部 313・・・
遅延計算部314・・・最悪ケース決定部
なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
代理人 大 岩 増 雄
第
]
図
第
図
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第
図FIG. 1 is a block diagram showing the functional configuration of a timing verification device used to implement the timing verification method according to the present invention, FIG. 2 is a diagram showing a schematic processing procedure of timing trace, and FIG. Flowchart showing processing contents when propagating timing, No. 4
FIG. 5 is a flowchart showing the contents of timing check processing in a child circuit, FIG. 5 is a configuration diagram of a circuit to be verified in a conventional timing verification method, and FIG. 6 is a timing chart illustrating the operation of a launch circuit. 31... Timing trace section 312... Level propagation section 311... Timing calculation section 313...
Delay calculation unit 314...worst case determination unit Note that in the drawings, the same reference numerals indicate the same or equivalent parts. Agent: Yudai Oiwa]
Claims (1)
入力する組合せ回路及び該組合せ回路の出力を取り込む
伝播回路を含む電子回路の動作タイミングを、タイミン
グトレースを行い検証するタイミング検証方法において
、 前記組合せ回路に入力される複数のデータ に対して各レベル毎に最悪のタイミングを定め、定めら
れたレベル毎のタイミングを前記伝播回路に与えること
を特徴とするタイミング検証方法。(1) In a timing verification method of performing timing tracing to verify the operation timing of an electronic circuit including a combinational circuit that inputs a plurality of data having different levels related to the input order and a propagation circuit that takes in the output of the combinational circuit, the combination A timing verification method comprising determining the worst timing for each level for a plurality of data input to a circuit, and providing the determined timing for each level to the propagation circuit.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2223100A JP2578014B2 (en) | 1990-08-24 | 1990-08-24 | Timing verification method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2223100A JP2578014B2 (en) | 1990-08-24 | 1990-08-24 | Timing verification method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04105139A true JPH04105139A (en) | 1992-04-07 |
| JP2578014B2 JP2578014B2 (en) | 1997-02-05 |
Family
ID=16792829
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2223100A Expired - Lifetime JP2578014B2 (en) | 1990-08-24 | 1990-08-24 | Timing verification method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2578014B2 (en) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62143517A (en) * | 1985-12-18 | 1987-06-26 | Mitsubishi Electric Corp | Semiconductor integrated circuit |
| JPH02105232A (en) * | 1988-10-13 | 1990-04-17 | Nec Corp | Method for verifying operation of logic circuit |
-
1990
- 1990-08-24 JP JP2223100A patent/JP2578014B2/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62143517A (en) * | 1985-12-18 | 1987-06-26 | Mitsubishi Electric Corp | Semiconductor integrated circuit |
| JPH02105232A (en) * | 1988-10-13 | 1990-04-17 | Nec Corp | Method for verifying operation of logic circuit |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2578014B2 (en) | 1997-02-05 |
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