JPH04116482A - 長手状磁性部材の磁気特性測定装置 - Google Patents
長手状磁性部材の磁気特性測定装置Info
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- JPH04116482A JPH04116482A JP23761790A JP23761790A JPH04116482A JP H04116482 A JPH04116482 A JP H04116482A JP 23761790 A JP23761790 A JP 23761790A JP 23761790 A JP23761790 A JP 23761790A JP H04116482 A JPH04116482 A JP H04116482A
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- flux density
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- magnetic
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、長手状磁性部材の磁化曲線を測定する装置に
関するものである。
関するものである。
従来の技術
長手状磁性部材の磁化曲線を測定するために、磁化コイ
ルを貫通させた状態の長手状磁性部材の両端部にヨーク
を連結して磁気回路を構成し、その磁化コイルによる起
磁力を変化させつつ長手状磁性部材内の磁束密度を検出
するとともに磁界の強さをその磁化コイルの励磁電流或
いは磁界測定用コイルにより決定することにより、その
長手状磁性部材の磁化曲線を測定す・る装置が提案され
ている。
ルを貫通させた状態の長手状磁性部材の両端部にヨーク
を連結して磁気回路を構成し、その磁化コイルによる起
磁力を変化させつつ長手状磁性部材内の磁束密度を検出
するとともに磁界の強さをその磁化コイルの励磁電流或
いは磁界測定用コイルにより決定することにより、その
長手状磁性部材の磁化曲線を測定す・る装置が提案され
ている。
発明が解決すべき課題
ところで、上記従来の装置においては、測定対象である
長手状磁性部材の寸法がその公差内においてばらつくこ
とから、長手状磁性部材とヨークとの間の隙間の変動か
避けられない。このため、長手状磁性部材とヨークとに
より構成される磁気回路において、上記隙間の変動に関
連して磁気抵抗か変化するとともに長手状磁性部材の漏
れ磁束も変化することから、長手状磁性部材の磁化曲線
を正確に測定するごとが困難であった。
長手状磁性部材の寸法がその公差内においてばらつくこ
とから、長手状磁性部材とヨークとの間の隙間の変動か
避けられない。このため、長手状磁性部材とヨークとに
より構成される磁気回路において、上記隙間の変動に関
連して磁気抵抗か変化するとともに長手状磁性部材の漏
れ磁束も変化することから、長手状磁性部材の磁化曲線
を正確に測定するごとが困難であった。
本発明は以」二の事情を背景として為されたものであり
、その目的とするところは、長手状磁性部材の磁化曲線
を正確に測定することができる長手状磁性部材の磁気特
性測定装置を提供することにある。
、その目的とするところは、長手状磁性部材の磁化曲線
を正確に測定することができる長手状磁性部材の磁気特
性測定装置を提供することにある。
課題を解決するだめの手段
かかる目的を達成するだめの本発明の要旨とするところ
は、磁化コイルを貫通させた状態の長手状磁性部材の両
端部にヨークを連結して磁気回路を構成し、その磁化コ
イルによる起磁力を変化させつつ長手状磁性部材内の磁
束密度を検出することにより、その長手状磁性部材の磁
化曲線を測定する装置であって、(a)前記長手状磁性
部材の両端部に設けられた補償コイルと、(b)前記長
手状磁性部材の中央部に設けられてその中央部内の磁束
密度を検出するだめの中央部磁束検出コイルと、(C)
前記長手状磁性部材の両端部に設けられてその両端部内
の磁束密度をそれぞれ検出するための端部磁束検出コイ
ルと、(d)前記中央部磁束検出コイルにより検出され
た中央部磁束密度と前記端部磁束検出コイルにより検出
された端部磁束密度との差が解消されるように前記補償
コイルの駆動電流を調節する補償コイル制御手段とを、
含むことにある。
は、磁化コイルを貫通させた状態の長手状磁性部材の両
端部にヨークを連結して磁気回路を構成し、その磁化コ
イルによる起磁力を変化させつつ長手状磁性部材内の磁
束密度を検出することにより、その長手状磁性部材の磁
化曲線を測定する装置であって、(a)前記長手状磁性
部材の両端部に設けられた補償コイルと、(b)前記長
手状磁性部材の中央部に設けられてその中央部内の磁束
密度を検出するだめの中央部磁束検出コイルと、(C)
前記長手状磁性部材の両端部に設けられてその両端部内
の磁束密度をそれぞれ検出するための端部磁束検出コイ
ルと、(d)前記中央部磁束検出コイルにより検出され
た中央部磁束密度と前記端部磁束検出コイルにより検出
された端部磁束密度との差が解消されるように前記補償
コイルの駆動電流を調節する補償コイル制御手段とを、
含むことにある。
作用および発明の効果
このようにすれば、中央部磁束検出コイルにより検出さ
れた中央部磁束密度と前記端部磁束検出コイルにより検
出された端部磁束密度との差は、漏れ磁束を表すもので
あることから、補償コイル制御手段によってその差が解
消されるように前記補償コイルの駆動電流が調節される
ことにより、長手状磁性部材の長手方向全体にわたって
同じ磁束密度となる状態に維持される。したがって、こ
の状態で、磁化コイルによる起磁力を変化させつつ長手
状磁性部材内の磁束密度を検出するとともにその磁界の
強さを磁化コイルの励磁電流或し1は磁界測定用コイル
により決定することにより、長手状磁性部材の磁化曲線
を正確に測定することができる。
れた中央部磁束密度と前記端部磁束検出コイルにより検
出された端部磁束密度との差は、漏れ磁束を表すもので
あることから、補償コイル制御手段によってその差が解
消されるように前記補償コイルの駆動電流が調節される
ことにより、長手状磁性部材の長手方向全体にわたって
同じ磁束密度となる状態に維持される。したがって、こ
の状態で、磁化コイルによる起磁力を変化させつつ長手
状磁性部材内の磁束密度を検出するとともにその磁界の
強さを磁化コイルの励磁電流或し1は磁界測定用コイル
により決定することにより、長手状磁性部材の磁化曲線
を正確に測定することができる。
実施例
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて詳細に説明す
る。
る。
第1図において、被測定部材、すなわち長手状磁性部材
である棒@10は、圧延された条鋼が切断されたもので
あって、たとえば200mmX5〜20φmmの形状を
備えており、全数或いは抜取りによって磁気特性が検査
される。この棒鋼10は、その両端部がU字状のヨーク
12の両端部に形成された穴或いは溝に嵌め入れられた
状態で、ヨーク12に着脱可能に支持されている。ヨー
ク12ば、珪素鋼などのような高透磁率および大きな断
面積を備えた磁性材料から構成されており、上記棒鋼1
0とともに閉じられた磁気回路を構成している。
である棒@10は、圧延された条鋼が切断されたもので
あって、たとえば200mmX5〜20φmmの形状を
備えており、全数或いは抜取りによって磁気特性が検査
される。この棒鋼10は、その両端部がU字状のヨーク
12の両端部に形成された穴或いは溝に嵌め入れられた
状態で、ヨーク12に着脱可能に支持されている。ヨー
ク12ば、珪素鋼などのような高透磁率および大きな断
面積を備えた磁性材料から構成されており、上記棒鋼1
0とともに閉じられた磁気回路を構成している。
上記棒鋼10は、」1記の磁気回路に起磁力を専ら付与
するための円筒状の磁化コイル14を貫通させられてい
る。また、この棒鋼10の両端部におりる磁束密度を補
うための第1補償コイル16および第2補償コイル18
が、棒鋼10の両端部であって上記磁化コイル14の外
周側に配設されている。そして、磁化コイル14の内周
側には、棒鋼10の内の磁束密度を検出するために、中
央部磁束検出コイル20が棒鋼10の長手方向中央部に
おいて貫通状態で配設されており、また、第1端部磁束
検出コイル22および第2端部磁束検出コイル24が、
棒鋼10の両端部において貫通状態でそれぞれ配設され
ている。
するための円筒状の磁化コイル14を貫通させられてい
る。また、この棒鋼10の両端部におりる磁束密度を補
うための第1補償コイル16および第2補償コイル18
が、棒鋼10の両端部であって上記磁化コイル14の外
周側に配設されている。そして、磁化コイル14の内周
側には、棒鋼10の内の磁束密度を検出するために、中
央部磁束検出コイル20が棒鋼10の長手方向中央部に
おいて貫通状態で配設されており、また、第1端部磁束
検出コイル22および第2端部磁束検出コイル24が、
棒鋼10の両端部において貫通状態でそれぞれ配設され
ている。
上記中央部磁束検出コイル20の出力信号は、中央部磁
束検出回路26およびA/D変換器28を介して演算制
御装置30へ供給される。また、第1端部磁束検出コイ
ル22および第2端部磁束検出コイル24の出力信号は
、端部磁束検出回路32およびA/D変換器34を介し
て演算制御装置30へ供給される。
束検出回路26およびA/D変換器28を介して演算制
御装置30へ供給される。また、第1端部磁束検出コイ
ル22および第2端部磁束検出コイル24の出力信号は
、端部磁束検出回路32およびA/D変換器34を介し
て演算制御装置30へ供給される。
上記演算制御装置30はよく知られたCPU、ROM、
RAMを含む所謂マイクロコンピュータである。CPU
は、RAMの記憶機能を利用しつつ予めROMに記憶さ
れたプログラムに従って入力信号を処理し、D/A変換
器36および励磁コイル駆動回路38を介して磁化コイ
ル14を駆動するとともに、D/A変換器40および補
償コイル駆動回路42を介して第1補償コイル16およ
び第2補償コイル18を駆動する一方、測定した磁化曲
線、或いはその磁化曲線を示す値を表示器44に表示さ
せる。したがって、上記演算制御装置30は、磁化曲線
測定手段および補償コイル制御手段として機能している
。
RAMを含む所謂マイクロコンピュータである。CPU
は、RAMの記憶機能を利用しつつ予めROMに記憶さ
れたプログラムに従って入力信号を処理し、D/A変換
器36および励磁コイル駆動回路38を介して磁化コイ
ル14を駆動するとともに、D/A変換器40および補
償コイル駆動回路42を介して第1補償コイル16およ
び第2補償コイル18を駆動する一方、測定した磁化曲
線、或いはその磁化曲線を示す値を表示器44に表示さ
せる。したがって、上記演算制御装置30は、磁化曲線
測定手段および補償コイル制御手段として機能している
。
以下、上記のように構成された磁気特性測定装置の作動
を、磁気特性測定ルーチンを示す第2図のフローチャー
ト、および磁束密度補償制御ルーチンを示す第3図のフ
ローチャートに従って説明する。
を、磁気特性測定ルーチンを示す第2図のフローチャー
ト、および磁束密度補償制御ルーチンを示す第3図のフ
ローチャートに従って説明する。
図示しない電源スィッチの操作に関連して図示しない初
期処理が実行された後、第2図のステップS1において
、図示しない起動スイッチにより起動操作が行われたか
否かが判断される。この起動操作は、新たな棒鋼10を
ヨーク12に取り付けた状態で行われる。ステップS1
において起動操作が行われていないと判断された場合に
は待機させられるが、起動操作が行われたと判断される
とステップ82以下が実行されるとともに、棒鋼10内
の磁束密度を長手方向において一定に保持するための第
3図の磁束密度補償制御ルーチンがたとえば数胚程度の
サイクルの割込み処理或いは平行処理で繰り返し実行さ
れる。
期処理が実行された後、第2図のステップS1において
、図示しない起動スイッチにより起動操作が行われたか
否かが判断される。この起動操作は、新たな棒鋼10を
ヨーク12に取り付けた状態で行われる。ステップS1
において起動操作が行われていないと判断された場合に
は待機させられるが、起動操作が行われたと判断される
とステップ82以下が実行されるとともに、棒鋼10内
の磁束密度を長手方向において一定に保持するための第
3図の磁束密度補償制御ルーチンがたとえば数胚程度の
サイクルの割込み処理或いは平行処理で繰り返し実行さ
れる。
上記第3図のルーチンのステップSW1では、中央部磁
束検出回路26から出力された信号に基づいて棒鋼10
の長手方向中央部内の磁束密度Bcが読み込まれるとと
もに、端部磁束検出回路32から出力された信号に基づ
いて棒′wA10の端部内の磁束密度Bsが読み込まれ
る。次いで、ステップSW2では、それら棒鋼10の中
央部内の磁束密度Bcと棒鋼10の端部内の磁束密度B
sとの磁束密度差D (−Bc −Bs )が算出され
る。続くステップSW3では、磁束密度差りが予め定め
られた判断基準値αより小さいか否かが判断されるとと
もに、ステップSW4では、磁束密度差りが予め定めら
れた判断基準値βより大きいか否かが判断される。上記
判断基準値αおよび判断基準値βは上記磁束密度差りを
自動的に解消する磁束密度補償制御の目標範囲を示すも
のであり、判断基準値αは零よりも僅かに小さい値に、
また、判断基準値βは零よりも僅かに大きい値に設定さ
れている。上記ステップSW3の判断が肯定された場合
には、棒鋼10の中央部内の磁束密度Bcよりも棒鋼1
0の端部内の磁束密度Bsが小さい状態であるので、ス
テップSW5において第1補償コイル16および第2補
償コイル18の励磁電流Isに予め定められた増加値Δ
Isが加算された後、ステップSW8においてその励磁
電流Isが得られるように励磁コイル駆動回路38が駆
動される。また、上記ステップSW3の判断が否定され
且つステップSW4の判断が肯定された場合には、棒鋼
10の中央部内の磁束密度Bcよりも棒@10の端部内
の磁束密度Bsが大きい状態であるので、ステップSW
7において第1補償コイル16および第2補償コイル1
8の励磁電流Isから予め定められた増加値Δ1sが減
算された後、ステップSW8においてその励磁電流Is
が得られるように励磁コイル駆動回路38が駆動される
。
束検出回路26から出力された信号に基づいて棒鋼10
の長手方向中央部内の磁束密度Bcが読み込まれるとと
もに、端部磁束検出回路32から出力された信号に基づ
いて棒′wA10の端部内の磁束密度Bsが読み込まれ
る。次いで、ステップSW2では、それら棒鋼10の中
央部内の磁束密度Bcと棒鋼10の端部内の磁束密度B
sとの磁束密度差D (−Bc −Bs )が算出され
る。続くステップSW3では、磁束密度差りが予め定め
られた判断基準値αより小さいか否かが判断されるとと
もに、ステップSW4では、磁束密度差りが予め定めら
れた判断基準値βより大きいか否かが判断される。上記
判断基準値αおよび判断基準値βは上記磁束密度差りを
自動的に解消する磁束密度補償制御の目標範囲を示すも
のであり、判断基準値αは零よりも僅かに小さい値に、
また、判断基準値βは零よりも僅かに大きい値に設定さ
れている。上記ステップSW3の判断が肯定された場合
には、棒鋼10の中央部内の磁束密度Bcよりも棒鋼1
0の端部内の磁束密度Bsが小さい状態であるので、ス
テップSW5において第1補償コイル16および第2補
償コイル18の励磁電流Isに予め定められた増加値Δ
Isが加算された後、ステップSW8においてその励磁
電流Isが得られるように励磁コイル駆動回路38が駆
動される。また、上記ステップSW3の判断が否定され
且つステップSW4の判断が肯定された場合には、棒鋼
10の中央部内の磁束密度Bcよりも棒@10の端部内
の磁束密度Bsが大きい状態であるので、ステップSW
7において第1補償コイル16および第2補償コイル1
8の励磁電流Isから予め定められた増加値Δ1sが減
算された後、ステップSW8においてその励磁電流Is
が得られるように励磁コイル駆動回路38が駆動される
。
そして、上記ステップSW3およびSW4の判断が共に
否定された場合には、棒@10の中央部内の磁束密度B
cと棒鋼10の端部内の磁束密度Bsとが等しい状態で
あるので、第1補償コイル16および第2補償コイル1
8の励磁電流Isはそれまでの値と同じとされた後、ス
テップSW8においてその励磁電流Isが得られるよう
に励磁コイル駆動回路38が駆動される。このような磁
束密度補償制御ルーチンにより、漏れ磁束の存在による
棒鋼10内の端部内の磁束密度低下分が第1補償コイル
16および第2補償コイル18の起磁力によって自動的
に補われるので、棒鋼1o内の磁束密度は、第4図のA
線に示すように長手方向において均一な状態とされる。
否定された場合には、棒@10の中央部内の磁束密度B
cと棒鋼10の端部内の磁束密度Bsとが等しい状態で
あるので、第1補償コイル16および第2補償コイル1
8の励磁電流Isはそれまでの値と同じとされた後、ス
テップSW8においてその励磁電流Isが得られるよう
に励磁コイル駆動回路38が駆動される。このような磁
束密度補償制御ルーチンにより、漏れ磁束の存在による
棒鋼10内の端部内の磁束密度低下分が第1補償コイル
16および第2補償コイル18の起磁力によって自動的
に補われるので、棒鋼1o内の磁束密度は、第4図のA
線に示すように長手方向において均一な状態とされる。
なお、第4図のB線は非補償状態、すなわち第1補償コ
イル16および第2補償コイル18の非励磁状態におけ
る棒鋼10内の磁束密度を示している。第2図の各ステ
ップは、上記のように、棒鋼10内の磁束密度が均一に
補償された状態で実行されるのである。
イル16および第2補償コイル18の非励磁状態におけ
る棒鋼10内の磁束密度を示している。第2図の各ステ
ップは、上記のように、棒鋼10内の磁束密度が均一に
補償された状態で実行されるのである。
以」二のように棒鋼10内の磁束密度が均一に補償され
た状態において、第2図のステップs2では、磁化コイ
ル14の励磁電流Tcが予め定められた増加値△Icだ
け増加させられた後、ステップS3では、中央部磁束検
出回路26からの信号に基づいて棒鋼10の中央部内の
磁束密度Bcが上記励磁電流IC1ずなわち硼化コイル
14内に形成される磁界の強さT1と関連して読み込ま
れ、次いでステップS4において上記励磁電流Icが予
め定められた上限値ICmaxに到達したが否がか判断
される。この上限値ICmaxば、棒鋼1゜が充分に磁
気飽和する磁界の強度I]。つが得られる僅に定められ
ている。上記磁界の強さT1は、棒鋼10の材質および
形状が一定である条件丁において予め求められた関係式
から実用的に求められ得る。当初は、上記ステップS4
の判断が否定されるので1、上記ステップS2乃至s4
が繰り返し7実行されるうち、第5図の0点からE点に
到達すると旧記ステップS4の判断が肯定される。この
状態では、第5図の0点からF点に至るデータが記1意
されている。
た状態において、第2図のステップs2では、磁化コイ
ル14の励磁電流Tcが予め定められた増加値△Icだ
け増加させられた後、ステップS3では、中央部磁束検
出回路26からの信号に基づいて棒鋼10の中央部内の
磁束密度Bcが上記励磁電流IC1ずなわち硼化コイル
14内に形成される磁界の強さT1と関連して読み込ま
れ、次いでステップS4において上記励磁電流Icが予
め定められた上限値ICmaxに到達したが否がか判断
される。この上限値ICmaxば、棒鋼1゜が充分に磁
気飽和する磁界の強度I]。つが得られる僅に定められ
ている。上記磁界の強さT1は、棒鋼10の材質および
形状が一定である条件丁において予め求められた関係式
から実用的に求められ得る。当初は、上記ステップS4
の判断が否定されるので1、上記ステップS2乃至s4
が繰り返し7実行されるうち、第5図の0点からE点に
到達すると旧記ステップS4の判断が肯定される。この
状態では、第5図の0点からF点に至るデータが記1意
されている。
続くステップS5においては、上記励磁電流I(、が予
め定められた上限値■c6、に2回目に到達したか否か
が判断される。当初は、そのステップS5の判断が否定
されるので、ステップs6(こおいて磁化コイル■4の
励磁電流旨が予め定められた減少値−ΔIcだけ減少さ
−Uられた後、ステップS7において中央部磁束検出回
路2Gからの信号に基づいて棒鋼10の中央部内の磁束
密度13cが上記励磁電流IC5ずなわち硼化コイル1
/1内に形成される磁界の強さ)Tと関連し2て読み込
まれ、次いでステップS8においてに記動磁電流1 c
が予め定められた下限値Icm、ゎに到達したが否がが
判断される。この下限値1c0、。は、棒鋼1゜が充分
に磁気飽和する磁界の強度H0in (負の値)が得
られる値に定められている。当初は、上記ステラ’7’
S8の判断が否定されるので、上記ステップS6乃至S
8か繰り返し実行されるうち、第5図のE点からF点に
到達すると上記ステップs8の判断が肯定される。この
状態では、第5図のE点からF点に至るデータが記憶さ
れている。
め定められた上限値■c6、に2回目に到達したか否か
が判断される。当初は、そのステップS5の判断が否定
されるので、ステップs6(こおいて磁化コイル■4の
励磁電流旨が予め定められた減少値−ΔIcだけ減少さ
−Uられた後、ステップS7において中央部磁束検出回
路2Gからの信号に基づいて棒鋼10の中央部内の磁束
密度13cが上記励磁電流IC5ずなわち硼化コイル1
/1内に形成される磁界の強さ)Tと関連し2て読み込
まれ、次いでステップS8においてに記動磁電流1 c
が予め定められた下限値Icm、ゎに到達したが否がが
判断される。この下限値1c0、。は、棒鋼1゜が充分
に磁気飽和する磁界の強度H0in (負の値)が得
られる値に定められている。当初は、上記ステラ’7’
S8の判断が否定されるので、上記ステップS6乃至S
8か繰り返し実行されるうち、第5図のE点からF点に
到達すると上記ステップs8の判断が肯定される。この
状態では、第5図のE点からF点に至るデータが記憶さ
れている。
次いて、再びステップS2乃至S4が繰り返し実行され
ることにより、第5図のF点からE点に至るまでの磁束
密度Bcが励磁電流IC1ずなわち磁化コイル14内に
形成される磁界の強さHと関連して読み込まれる。そし
て、ステップs4の判断が肯定されると、励磁電流Tc
が上限値■c、、、aXに到達したのは2回目となるの
で、ステップs5の判断が肯定される。このため、ステ
ップs9において、それまでに記憶されたデータに基づ
いて棒鋼]Oの磁化曲線が表示器44に表示された後、
次回の測定に備えてステップSIOでは励磁電流Icが
零にリセットされる。
ることにより、第5図のF点からE点に至るまでの磁束
密度Bcが励磁電流IC1ずなわち磁化コイル14内に
形成される磁界の強さHと関連して読み込まれる。そし
て、ステップs4の判断が肯定されると、励磁電流Tc
が上限値■c、、、aXに到達したのは2回目となるの
で、ステップs5の判断が肯定される。このため、ステ
ップs9において、それまでに記憶されたデータに基づ
いて棒鋼]Oの磁化曲線が表示器44に表示された後、
次回の測定に備えてステップSIOでは励磁電流Icが
零にリセットされる。
」二連のように、本実施例においては、磁気特性の測定
に際して、第3図の磁束密度補償制御ルチンが実行され
ることにより、棒鋼10の両端41(内における磁束密
度Bsが中央部内の磁束密度Bcと同じとなるように自
動的に補償されるので、この状態で、磁化コイル14に
よる起磁力を変化させつつ棒鋼10内の磁束密度Bc、
を検出ずろとともにその磁界の強さ■]を磁化コイル1
4の励磁電流ICに基づいて決定することにより、棒鋼
10の磁化曲線を正確に測定することができるのである
。
に際して、第3図の磁束密度補償制御ルチンが実行され
ることにより、棒鋼10の両端41(内における磁束密
度Bsが中央部内の磁束密度Bcと同じとなるように自
動的に補償されるので、この状態で、磁化コイル14に
よる起磁力を変化させつつ棒鋼10内の磁束密度Bc、
を検出ずろとともにその磁界の強さ■]を磁化コイル1
4の励磁電流ICに基づいて決定することにより、棒鋼
10の磁化曲線を正確に測定することができるのである
。
以上、本発明の一実施例を図面に基づいて詳細に説明し
たが、本発明はその他の態様においても適用される。
たが、本発明はその他の態様においても適用される。
たとえば、前述の実施例では、被測定磁性部材として棒
鋼10が用いられていたが、円弧状やI。
鋼10が用いられていたが、円弧状やI。
字状のものであってもよいのである。要するに■上手状
磁性部材であればよい。
磁性部材であればよい。
また、前述の実施例では、第1補償コイル16と第2補
償コイル18、および第1端部磁束検出コイル22と第
2端部磁束検出コイル24が、それぞれ直列に接続され
ていたが、それら第1端部磁束検出コイル22と第2端
部磁束検出コイル24によって棒mlOの左右端部内の
各磁束密度を独立に検出し、それら左右端部内の各磁束
密度を棒alOの中央部内の磁束密度Bcとそれぞれ一
致させるように第1補償コイル16および第2補償コイ
ル18とをそれぞれ独立に制?ff1lするために、第
3図に示すような磁束密度補償制御ルーチンをそれぞれ
設けてもよいのである。
償コイル18、および第1端部磁束検出コイル22と第
2端部磁束検出コイル24が、それぞれ直列に接続され
ていたが、それら第1端部磁束検出コイル22と第2端
部磁束検出コイル24によって棒mlOの左右端部内の
各磁束密度を独立に検出し、それら左右端部内の各磁束
密度を棒alOの中央部内の磁束密度Bcとそれぞれ一
致させるように第1補償コイル16および第2補償コイ
ル18とをそれぞれ独立に制?ff1lするために、第
3図に示すような磁束密度補償制御ルーチンをそれぞれ
設けてもよいのである。
また、前述の実施例においては、第2図に示す測定ルー
チンに従って磁化曲線が自動的に測定されるように構成
されていたが、磁化コイル14の励磁電流の変化操作や
磁束密度Bcの読込みなどの一部が操作者によって測定
されるような、半自動的に磁化曲線が求められるもので
あってもよいのである。
チンに従って磁化曲線が自動的に測定されるように構成
されていたが、磁化コイル14の励磁電流の変化操作や
磁束密度Bcの読込みなどの一部が操作者によって測定
されるような、半自動的に磁化曲線が求められるもので
あってもよいのである。
また、前述の第2図の実施例において磁化コイル14の
励磁電流はAIcずつ段階的に変化させられるように構
成されていたが、磁束密度や磁界の強さを容易に検出す
るだめのAC成分が重畳させられていてもよいのである
。
励磁電流はAIcずつ段階的に変化させられるように構
成されていたが、磁束密度や磁界の強さを容易に検出す
るだめのAC成分が重畳させられていてもよいのである
。
また、前述の実施例においては、磁化コイル14によっ
て形成される磁界の強さHは、磁化コイル14の励磁電
流Icに基づいて決定されていたが、たとえば細い銅線
を数千回ヘークライトなどの薄板に巻回した磁界測定用
空心Hコイルを磁束の方向に平行且つ棒@10の表面に
できるだけ近接させた状態で固定し、その空心Hコイル
の出力信号を磁界検出回路およびA/D変換器を介して
演算制御装置30に供給することにより、上記磁界の強
さHが演算制御装置30において直接的に検出されるよ
うにしてもよい。
て形成される磁界の強さHは、磁化コイル14の励磁電
流Icに基づいて決定されていたが、たとえば細い銅線
を数千回ヘークライトなどの薄板に巻回した磁界測定用
空心Hコイルを磁束の方向に平行且つ棒@10の表面に
できるだけ近接させた状態で固定し、その空心Hコイル
の出力信号を磁界検出回路およびA/D変換器を介して
演算制御装置30に供給することにより、上記磁界の強
さHが演算制御装置30において直接的に検出されるよ
うにしてもよい。
なお、上述したのはあくまでも本発明の一実施例であり
、本発明はその主旨を逸脱しない範囲において種々変更
が加えられ得るものである。
、本発明はその主旨を逸脱しない範囲において種々変更
が加えられ得るものである。
第1図は、本発明の一実施例の構成を説明するブロック
線図である。第2図は、第1回の実施例の磁気特性測定
作動を説明するフローチャートである。第3図は、第1
図の実施例の磁束密度補償制御作動を説明するフローチ
ャートである。第4回は、第1図の実施例の棒鋼内の磁
束密度分布を第3図の作動と関連して説明する図である
。第5図は、第2図の作動によって測定された磁化曲線
を示す図である。 10:棒m(長手状磁性部材) 12:ヨーク 14:磁化コイル 16:第1補償コイル 18:第2補償コイル 20:中央部磁束検出コイル 22:第1端部磁束検出コイル 24:第2端部磁束検出コイル
線図である。第2図は、第1回の実施例の磁気特性測定
作動を説明するフローチャートである。第3図は、第1
図の実施例の磁束密度補償制御作動を説明するフローチ
ャートである。第4回は、第1図の実施例の棒鋼内の磁
束密度分布を第3図の作動と関連して説明する図である
。第5図は、第2図の作動によって測定された磁化曲線
を示す図である。 10:棒m(長手状磁性部材) 12:ヨーク 14:磁化コイル 16:第1補償コイル 18:第2補償コイル 20:中央部磁束検出コイル 22:第1端部磁束検出コイル 24:第2端部磁束検出コイル
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 磁化コイルを貫通させた状態の長手状磁性部材の両端部
にヨークを連結して磁気回路を構成し、該磁化コイルに
よる起磁力を変化させつつ該長手状磁性部材内の磁束密
度を検出することにより、該長手状磁性部材の磁化曲線
を測定する装置であって、 前記長手状磁性部材の両端部に設けられた補償コイルと
、 前記長手状磁性部材の中央部に設けられて該中央部内の
磁束密度を検出するための中央部磁束検出コイルと、 前記長手状磁性部材の両端部に設けられて該両端部内の
磁束密度をそれぞれ検出するための端部磁束検出コイル
と、 前記中央部磁束検出コイルにより検出された中央部磁束
密度と前記端部磁束検出コイルにより検出された端部磁
束密度との差が解消されるように前記補償コイルの駆動
電流を調節する補償コイル制御手段と を含むことを特徴とする長手状磁性部材の磁気特性測定
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23761790A JPH04116482A (ja) | 1990-09-07 | 1990-09-07 | 長手状磁性部材の磁気特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23761790A JPH04116482A (ja) | 1990-09-07 | 1990-09-07 | 長手状磁性部材の磁気特性測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04116482A true JPH04116482A (ja) | 1992-04-16 |
Family
ID=17017977
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23761790A Pending JPH04116482A (ja) | 1990-09-07 | 1990-09-07 | 長手状磁性部材の磁気特性測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04116482A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6798458B1 (en) | 1998-10-01 | 2004-09-28 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Image signal conversion equipment |
| JP2013178280A (ja) * | 2013-06-18 | 2013-09-09 | Denshi Jiki Kogyo Kk | 被検査体の磁化装置の調整方法 |
| CN105241949A (zh) * | 2015-10-16 | 2016-01-13 | 中国航空工业集团公司北京长城航空测控技术研究所 | 滑油金属屑末在线监测器的检测电路及载波信号解调方法 |
-
1990
- 1990-09-07 JP JP23761790A patent/JPH04116482A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6798458B1 (en) | 1998-10-01 | 2004-09-28 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Image signal conversion equipment |
| JP2013178280A (ja) * | 2013-06-18 | 2013-09-09 | Denshi Jiki Kogyo Kk | 被検査体の磁化装置の調整方法 |
| CN105241949A (zh) * | 2015-10-16 | 2016-01-13 | 中国航空工业集团公司北京长城航空测控技术研究所 | 滑油金属屑末在线监测器的检测电路及载波信号解调方法 |
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