JPH04126175U - 絶縁型コンタクトピン - Google Patents
絶縁型コンタクトピンInfo
- Publication number
- JPH04126175U JPH04126175U JP3244191U JP3244191U JPH04126175U JP H04126175 U JPH04126175 U JP H04126175U JP 3244191 U JP3244191 U JP 3244191U JP 3244191 U JP3244191 U JP 3244191U JP H04126175 U JPH04126175 U JP H04126175U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact
- contact pin
- circuit
- movable part
- test
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】先端に接触部３ａを有して支持部１に押込み自
在に支持される可動部２と、この可動部２の接触部３ａ
に近接する部分を覆う絶縁部３とからなる。近接する複
数のテストポイントを有する被試験回路の測定に際し、
隣り合うコンタクトピン同士に曲がり等が生じても、絶
縁部３があるために互いにショートする恐れがない。 【効果】複数のテストポイントが集中する被試験回路の
測定においても、コンタクトピン同士のショートを防ぐ
ことができる。
在に支持される可動部２と、この可動部２の接触部３ａ
に近接する部分を覆う絶縁部３とからなる。近接する複
数のテストポイントを有する被試験回路の測定に際し、
隣り合うコンタクトピン同士に曲がり等が生じても、絶
縁部３があるために互いにショートする恐れがない。 【効果】複数のテストポイントが集中する被試験回路の
測定においても、コンタクトピン同士のショートを防ぐ
ことができる。
Description
【０００１】
本考案は回路試験用のコンタクトピンに関し、特に間隔距離の小さい複数のテ
ストポイントを有するプリント配線基板の試験に用いられる絶縁型コンタクトピ
ンに関する。
【０００２】
従来、この種の回路試験用のコンタクトピンは、図３に示す様に、支持部１１
に支持された可動部１２と、その先端に設けられた接触部１３ａは同一な導体か
ら成って構成されている。
【０００３】
上述した従来の回路試験用のコンタクトピンは、接触部も含み可動部全体が導
体から成る為、複数のテストポイントが被試験物であるプリント配線基板上の小
面積部分内に集中する場合には、互いに近接するコンタクトピンの少なくとも一
方に僅かな曲がりを生じただけでもショートの原因になるという欠点がある。
【０００４】
本考案の絶縁型コンタクトピンは、支持部と、先端に接触部を有し且つ前記支
持部に対し押込み自在に支持される可動部とからなるコンタクトピンにおいて、
前記可動部の前記接触部に近接する部分が絶縁物で覆われている。
【０００５】
次に、本考案について図面を参照して説明する。
【０００６】
図１は本考案の一実施例を示し、同図（ａ）は上面図、同図（ｂ）は正面図で
あり、図２は本実施例と被試験回路を有するプリント配線基板との接続状況を示
す正面図である。
【０００７】
本実施例は支持部１と、先端に接触部３ａを有し且つ支持部１に対し押込み自
在に支持される可動部２と、この可動部２の接触部３ａに近接する部分を覆う絶
縁体からなる絶縁部３とを有してなる。すなわち支持部１に対し可動部２が押込
み自在とされており、可動部２の先端部に絶縁部３と接触部３ａとが形成されて
いる。
【０００８】
本実施例の使用状況を示す図２において、補助基板４には本実施例による回路
試験用コンタクトピン１０が複数個取付けられている。プリント配線基板５は被
試験回路および素子７を包有する基板で、導電部７ａに対して本実施例の回路試
験用コンタクトピン１０の接触部３ａが当接されている。配線６は測定器等へ接
続されて回路試験用コンタクトピン１０との間で信号の伝達をしており、検出作
業を実行している。
【０００９】
更に本実施例の回路試験用コンタクトピン１０の動作について詳述する。補助
基板４に適宜の間隔で穿設された取付孔に対し、複数の回路試験用コンタクトピ
ン１０の支持部１をそれぞれ挿入固定しておき、プリント配線基板５の試験に際
して補助基板４を移動し、回路試験用コンタクトピン１０の接触部３ａをプリン
ト配線基板５の被試験回路および素子７の導電部７ａに当接する。こののち配線
６を介し、測定器等と回路試験用コンタクトピン１０との間で所要の信号を交換
することにより所期の試験を達成できる。
【００１０】
このような本実施例によれば、近接するテストポイントを有するプリント配線
基板５への測定器等の接続が、必要な接栓等を設けることなく行うことが可能と
なり、かつ絶縁部３により近接するコンタクトピン同士のショートを防ぐことが
できる。
【００１１】
以上説明したように本考案は、可動部に絶縁部を有しているので、ショートす
る恐れのある距離にあって近接するテストポイントを複数個有するプリント配線
基板の試験において、回路試験装置の測定等をプリント配線基板に対し、直接接
続可能とする効果を有する。また本考案は、プリント配線基板の実装密度および
製造工程を改善できる効果を有する。
【図１】本考案の一実施例を示し、同図（ａ）は上面
図、同図（ｂ）は正面図である。
図、同図（ｂ）は正面図である。
【図２】本実施例と被試験回路を有するプリント配線基
板との接続状況を示す正面図である。
板との接続状況を示す正面図である。
【図３】従来のコンタクトピンの一例を示す正面図であ
る。
る。
１，１１ 支持部
２，１２ 可動部
３ 絶縁体部
３ａ，１３ａ 接触部
４ 補助基板
５ プリント配線基板
６ 配線
７ 素子
１０ 回路試験用コンタクトピン
Claims (1)
- 【請求項１】 支持部と、先端に接触部を有し且つ前記
支持部に対し押込み自在に支持される可動部とからなる
コンタクトピンにおいて、前記可動部の前記接触部に近
接する部分が絶縁物で覆われていることを特徴とする絶
縁型コンタクトピン。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3244191U JPH04126175U (ja) | 1991-05-10 | 1991-05-10 | 絶縁型コンタクトピン |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3244191U JPH04126175U (ja) | 1991-05-10 | 1991-05-10 | 絶縁型コンタクトピン |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04126175U true JPH04126175U (ja) | 1992-11-17 |
Family
ID=31915375
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3244191U Pending JPH04126175U (ja) | 1991-05-10 | 1991-05-10 | 絶縁型コンタクトピン |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04126175U (ja) |
-
1991
- 1991-05-10 JP JP3244191U patent/JPH04126175U/ja active Pending
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