JPH04127601U - チツプ型正特性サーミスタ - Google Patents
チツプ型正特性サーミスタInfo
- Publication number
- JPH04127601U JPH04127601U JP4419391U JP4419391U JPH04127601U JP H04127601 U JPH04127601 U JP H04127601U JP 4419391 U JP4419391 U JP 4419391U JP 4419391 U JP4419391 U JP 4419391U JP H04127601 U JPH04127601 U JP H04127601U
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- Japan
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- thermistor
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 チップ型正特性サーミスタの熱応答性を向上
させるとともに、高密度実装への適応性を改善する。 【構成】 サーミスタ素体1を、上側主面1aの表面積
が下側主面1bの表面積よりも小さい上すぼまりの形状
に形成して、その体積と表面積を小さくする。
させるとともに、高密度実装への適応性を改善する。 【構成】 サーミスタ素体1を、上側主面1aの表面積
が下側主面1bの表面積よりも小さい上すぼまりの形状
に形成して、その体積と表面積を小さくする。
Description
【0001】
この考案は、チップ型正特性サーミスタに関し、詳しくは、熱応答性に優れ、
かつ、高密度実装が可能なチップ型正特性サーミスタに関する。
【0002】
従来のチップ型正特性サーミスタとしては、例えば、図9に示すようなチップ
型正特性サーミスタがある。このチップ型正特性サーミスタ50は、薄型の直方
体形状の正特性を有するサーミスタ素体60の両端側に一対の電極70,70を
配設した構造を有している。そして、一対の電極70,70はそれぞれ、サーミ
スタ素体60の主面、側面及び端面に形成された主面電極70a,70a、側面
電極70b,70b及び端面電極70cから構成されており、裏面側も図9と同
じ構造になっている。
【0003】
このような、チップ型正特性サーミスタ50は、大きな正の抵抗温度係数を有
しており、キュリー温度を越えると抵抗値が急激に増大して、通過する電流量を
減少させることから、回路の過熱保護用や過電流保護用など種々の用途に広く用
いられているが、近年、信頼性を向上させるために、従来以上に熱応答性に優れ
たチップ型正特性サーミスタが要求されるようになっており、さらに、機器の小
型化に伴い、高密度の面実装回路に適応できるチップ型正特性サーミスタへの要
求が高まっている。
【0004】
しかし、上記従来のチップ型正特性サーミスタ50においては、サーミスタ素
体60の体積及び表面積が大きいため、チップ型正特性サーミスタの熱容量が大
きくなるとともに、表面からの放熱量も大きくなり、十分な熱応答性を得ること
ができず、信頼性が低いという問題点がある。
【0005】
さらに、上記従来のチップ型正特性サーミスタ50においては、図10に示す
ように、例えば、チップ型正特性サーミスタ50を基板81に配設し、電極70
をランド82にはんだ付けして接続する場合、上側の主面電極70aから側面電
極70b及び端面電極70cにわたってはんだ83が付着して、大量の溶融はん
だ83がはんだ付け部に溜まる。その結果、チップ型正特性サーミスタ50を基
板81上に高密度に実装する場合、上側の主面電極70aなどに付着した溶融は
んだ83が隣接するチップ型正特性サーミスタ50に向って流れ込み、回路を短
絡させるため、実装の高密度化が妨げられるという問題点がある。
【0006】
この考案は、上記の問題点を解決するものであり、熱応答性に優れているとと
もに、高密度実装に適したチップ型正特性サーミスタを提供することを目的とす
る。
【0007】
上記目的を達成するために、この考案のチップ型正特性サーミスタは、サーミ
スタ素体の両端側に一対の電極を設けてなるチップ型正特性サーミスタにおいて
、サーミスタ素体を、上側主面の表面積が下側主面の表面積よりも小さい上すぼ
まりの形状に形成したことを特徴とする。
【0008】
この考案のチップ型正特性サーミスタは、サーミスタ素体が上すぼまりの形状
に形成されているため、上側がすぼめられている分だけ、従来のように上側がす
ぼめられていないサーミスタ素体より体積及び表面積が小さくなり、チップ型正
特性サーミスタ全体としての熱容量が小さくなるとともに、放熱量が減少して熱
応答性が向上する。また、この考案のチップ型正特性サーミスタは、上すぼまり
の形状を有しており、端面または側面の少なくとも一方は垂直ではなくある程度
の傾きを有しているため、電極上の溶融はんだが流れ落ちにくく、実装時に隣接
する電子部品や線路などへの溶融はんだの流れ込みが抑制され、高密度の面実装
を行なうことが可能になる。
【0009】
以下、この考案の実施例を図に基づいて説明する。図1は、この考案の一実施
例にかかるチップ型正特性サーミスタを示す斜視図であり、図2及び図3はその
断面図及び平面図である。これらの図に示すように、このチップ型正特性サーミ
スタAにおいて、正特性を有するサーミスタ素体1は図1及び図2に示すように
、上すぼまりで、断面形状が台形状(いわゆる、角すい台形状)であり、その上
面(上側主面)1aの面積は、下面(下側主面)1bの面積より狭くなっている
。そして、サーミスタ素体1の両端側には、電極2,2が形成されており、この
電極2,2は、傾き(θ)を有する端面1cから、上面1a側及び下面1b側に
まで回り込んでいる。なお、この電極2,2は、特に図示しないが、オーミック
性を有する下層電極(図示せず)の上にはんだ付け性に優れた上層電極(図示せ
ず)を形成することにより形成されている。
なお、上記チップ型正特性サーミスタAの各部の寸法を、例えば、W=1.5
mm,L=3.0mm,L’=2.0mm,T=0.6mm,G=1.0mm,θ=50°
と構成する。
【0010】
このように構成されたチップ型正特性サーミスタAは、サーミスタ素体1が上
すぼまりの形状に形成されており、上側がすぼめられている分だけ、従来例の上
側がすぼめられていないサーミスタ素体50(図9)より体積及び表面積が小さ
いため、正特性サーミスタA全体としての熱容量が小さくなるとともに、放熱量
が減少して熱応答性が向上する。
【0011】
図4は周囲温度(雰囲気温度)を変化させたときの上記実施例のチップ型正特
性サーミスタAの温度の変化の状態を示す線図であり、横軸の経過時間が0秒の
時点から周囲温度が上昇したことを示している。図4より、上記実施例の正特性
サーミスタA(の温度)は、周囲温度の変化に速やかに追随しており、従来の正
特性サーミスタと比較して熱応答性が著しく向上していることがわかる。
【0012】
また、図5は上記実施例のチップ型正特性サーミスタを回路基板に面実装する
場合の状態を示している。この実施例のチップ型正特性サーミスタAは、上すぼ
まりの形状を有しており、端面1cが垂直ではなく、傾き(θ)を有しているた
め、電極2の溶融はんだ保持能力は大きい。したがって、図5に示すように、溶
融はんだ3が、基板4上のランド5から隣接するチップ型正特性サーミスタBに
向って流れ込んで短絡を生じることを確実に防止することが可能になり、高密度
の面実装を行なうことができる。
【0013】
なお、上記実施例においては、断面形状が台形のサーミスタ素体1を用い、そ
の傾きを有する端面1cから上面1a及び下面1bにかけて電極を形成した場合
について説明したが、サーミスタ素体1の形状及び電極2の形状は上記実施例に
限定されるものではなく、図6〜図8に示すような、種々の形状のサーミスタ素
体1を用いその両端側に電極2を形成したチップ型正特性サーミスタC,D,E
はいずれもこの考案の範囲に含まれるものである。すなわち、図6のチップ型正
特性サーミスタCは、端面1cが垂直であるが、側面1dが傾きを有する上すぼ
まりの形状のサーミスタ素体1を用い、その垂直の端面1cには電極を形成せず
、上下両面1a,1b及び側面1dに電極2を形成している。また、図7のチッ
プ型正特性サーミスタDは、端面1c及び側面1dがいずれも傾きを有する上す
ぼまりの形状のサーミスタ素体1を用い、その端面1c,側面1d及び下面1b
に電極2を形成している。さらに、図8のチップ型正特性サーミスタEは、端面
1cを凹曲面状に形成した上すぼまりの形状のサーミスタ素体1を用い、その端
面1c及び下面1bに電極2を形成している。
【0014】
これら図6〜図8に示すチップ型正特性サーミスタC,D,Eについても上記
実施例の正特性サーミスタAと同様の効果を得ることができる。
【0015】
上述のように、この考案のチップ型正特性サーミスタは、サーミスタ素体を上
すぼまりの形状に形成しているので、上側がすぼめられている分だけサーミスタ
素体の体積及び表面積が小さくなり、正特性サーミスタ全体としての熱容量が小
さくなるとともに、放熱量が減少して熱応答性が向上する。
【0016】
また、この考案のチップ型正特性サーミスタは、上すぼまりの形状を有してお
り、端面または側面の少なくとも一方は垂直ではなくある程度の傾きを有してい
るため、電極の溶融はんだ保持能力が大きく、溶融はんだが流れ出しにくいため
、隣接する電子部品や線路などへの溶融はんだの流れ込みを効果的に防止して、
高密度な実装を行なうことができる。
【図1】この考案の一実施例にかかるチップ型正特性サ
ーミスタを示す斜視図である。
ーミスタを示す斜視図である。
【図2】図1のチップ型正特性サーミスタのII−II線断
面図である。
面図である。
【図3】この考案の一実施例にかかるチップ型正特性サ
ーミスタを示す平面図である。
ーミスタを示す平面図である。
【図4】この考案の一実施例にかかるチップ型正特性サ
ーミスタの熱応答性を示す線図である。
ーミスタの熱応答性を示す線図である。
【図5】この考案の一実施例にかかるチップ型正特性サ
ーミスタを基板上に実装した状態を示す断面図である。
ーミスタを基板上に実装した状態を示す断面図である。
【図6】この考案の一実施例にかかるチップ型正特性サ
ーミスタを示す斜視図である。
ーミスタを示す斜視図である。
【図7】この考案の一実施例にかかるチップ型正特性サ
ーミスタを示す斜視図である。
ーミスタを示す斜視図である。
【図8】この考案の一実施例にかかるチップ型正特性サ
ーミスタを示す斜視図である。
ーミスタを示す斜視図である。
【図9】従来のチップ型正特性サーミスタを示す斜視図
である。
である。
【図10】従来のチップ型正特性サーミスタを基板上に
実装した状態を示す断面図である。
実装した状態を示す断面図である。
A チップ型正特性サーミスタ
1 サーミスタ素体
1a サーミスタ素体の上面(上側主面)
1b サーミスタ素体の下面(下側主面)
2 電極
Claims (1)
- 【請求項1】 サーミスタ素体の両端側に一対の電極を
設けてなるチップ型正特性サーミスタにおいて、サーミ
スタ素体を、上側主面の表面積が下側主面の表面積より
も小さい上すぼまりの形状に形成したことを特徴とする
チップ型正特性サーミスタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4419391U JPH04127601U (ja) | 1991-05-15 | 1991-05-15 | チツプ型正特性サーミスタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4419391U JPH04127601U (ja) | 1991-05-15 | 1991-05-15 | チツプ型正特性サーミスタ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04127601U true JPH04127601U (ja) | 1992-11-20 |
Family
ID=31924385
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4419391U Withdrawn JPH04127601U (ja) | 1991-05-15 | 1991-05-15 | チツプ型正特性サーミスタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04127601U (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6873836B1 (en) | 1999-03-03 | 2005-03-29 | Parkervision, Inc. | Universal platform module and methods and apparatuses relating thereto enabled by universal frequency translation technology |
| US6879817B1 (en) | 1999-04-16 | 2005-04-12 | Parkervision, Inc. | DC offset, re-radiation, and I/Q solutions using universal frequency translation technology |
| US7194246B2 (en) | 1998-10-21 | 2007-03-20 | Parkervision, Inc. | Methods and systems for down-converting a signal using a complementary transistor structure |
| US7379883B2 (en) | 2002-07-18 | 2008-05-27 | Parkervision, Inc. | Networking methods and systems |
-
1991
- 1991-05-15 JP JP4419391U patent/JPH04127601U/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7194246B2 (en) | 1998-10-21 | 2007-03-20 | Parkervision, Inc. | Methods and systems for down-converting a signal using a complementary transistor structure |
| US6873836B1 (en) | 1999-03-03 | 2005-03-29 | Parkervision, Inc. | Universal platform module and methods and apparatuses relating thereto enabled by universal frequency translation technology |
| US6879817B1 (en) | 1999-04-16 | 2005-04-12 | Parkervision, Inc. | DC offset, re-radiation, and I/Q solutions using universal frequency translation technology |
| US7379883B2 (en) | 2002-07-18 | 2008-05-27 | Parkervision, Inc. | Networking methods and systems |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19950810 |