JPH04133299A - Sor光装置における光取り出しラインの真空排気装置 - Google Patents

Sor光装置における光取り出しラインの真空排気装置

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JPH04133299A
JPH04133299A JP25480890A JP25480890A JPH04133299A JP H04133299 A JPH04133299 A JP H04133299A JP 25480890 A JP25480890 A JP 25480890A JP 25480890 A JP25480890 A JP 25480890A JP H04133299 A JPH04133299 A JP H04133299A
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JP
Japan
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gas
sor
extraction line
light extraction
light
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JP25480890A
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Nobuo Matsuki
信雄 松木
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IHI Corp
Original Assignee
Ishikawajima Harima Heavy Industries Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、光取り出しラインの端部を窓材て封止せず
に試料チャンバへ連通させて、SOR光を試料チャンバ
内の試料へ照射するSOR光装置において、試料チャン
バからの気体分子か光取り出しラインを通って電子ビー
ムダクト内に流入するのを防止するための真空排気装置
に関し、簡易な構成でこれを実現したものである。
〔従来の技術〕
近年、シンクロトロン装置は、SOR光装置として、超
々LS1回路の作成、医療分野における診断、物性実験
等様々な分野への適用が期待されている。
物性実験を行なうSOR光装置の概要を第2図に示す。
SOR光装置1において、電子発生装置(電子銃等)1
0で発生した電子ビームは直線加速器(ライナック)]
2で光速近くに加速され、ビーム輸送部14の偏向電磁
石16て偏向されて、インフレクタ18を介してシンク
ロトロンの蓄積リング22内に入射される。蓄積リング
22に入射された電子ビームは高周波加速空洞21でエ
ネルギを与えられなから収束電磁石23で収束され、偏
向電磁石24て偏向されて真空ダクト22内を周回し続
ける。偏向電磁石24て偏向される時に発生するSOR
光29は光取り出しライン26を通して出射されて、試
料チャンバ28に送られる。
試料チャンバ28内には実験対象の試料が収容されてい
て、この試料にSOR光29が照射されて、その回折光
等から物性が解析される。
軟X線のSOR光を用いた物性実験においては、軟X線
に対して透明な窓材か存在しないため、光取り出しライ
ン26の端部は第3図に示すように窓材で封止せずに試
料チャンバ28内に連通させている。このような構造で
は、蓄積リンク22と試料チャンバ28との真空度の違
いか問題となる。
すなわち、試料チャンバ28内はもともと蓄積リング2
2内はどの高真空が得られていないうえに、SOR光2
9を試料30に照射することにより試料30からガスが
放出される。これらの気体分子32が光取り出しライン
26を通って蓄積リング22内に流入すると蓄積リング
22内を周回している電子ビームかこの気体分子32に
衝突して消滅してしまい、電子ビームの周回に支障をき
たす。
そこで、これを防止するため、差動排気を行なって、試
料チャンバ28からの気体分子32か蓄積リング22に
流れ込まないようにする必要がある。
従来においては、第3図に示すように、光取り出しライ
ン26の端部付近に外付けの真空ポンプ34を連結して
差動排気を行ない、試料チャンバ28からの気体分子3
2を排気するようにして、蓄積リング22への流入を阻
止していた。
〔発明が解決しようとする課題〕
前記従来の真空排気装置では、外付けの真空ポンプ34
を使用するため、装置か大がかりとなるうえに真空排気
効率か悪い欠点があった。
この発明は、前記従来の技術における問題点を解決して
、試料チャンバからの気体分子を簡易な構成で排気する
ことかできるSOR光装置における光取り出しラインの
真空排気装置を提供しようとするものである。
〔課題を解決するための手段〕
この発明は、光取り出しラインの端部を窓材で封止せず
に試料チャンバへ連通させて、SOR光を試料チャンバ
内の試料へ照射するSOR光装置において、前記光取り
出しライン内にガス吸着金属蒸発槽を配設するとともに
、その前後の位置で光取り出しラインを遮断するゲート
バルブをそれぞれ配設してなり、SOR光照射を行なわ
ない時に前記両ゲートバルブを遮断してガス吸着金属蒸
発槽からガス吸着金属を蒸発させて光取り出しラインの
内周面にガス吸着金属膜を形成し、SOR光照射を行な
う時にガス吸着金属の蒸発を停止して前記両ゲートバル
ブを開いてSOR光を前記試料に照射し、この時SOR
光の照射てイオン化された前記試料チャンバからの気体
分子を前記光取り出しライン内周面のガス吸着金属膜で
吸着排気することを特徴とするものである。
〔作 用〕
この発明によれば、SOR光照射を行なわない時に光取
り出しラインの両ゲートバルブを遮断してガス吸着金属
蒸発槽からガス吸着金属を蒸発させて光取り出しライン
の内周面にガス吸着膜を形成し、SOR光照射を行なう
時にガス吸着金属の蒸発を停止して前記両ゲートバルブ
、を開いてSOR光を前記試料に照射し、この時SOR
光の照射でイオン化された前記試料チャンバからの気体
分子を前記光取り出しライン内周面のガス吸着金属蒸着
膜で吸着排気することができ、蓄積リング等の電子ビー
ムダクトへの気体分子の流入を阻止することができる。
これによれば、光取り出しライン内にガス吸着金属槽と
その前後にゲートバルブを設ければよいので、前記従来
の外付けの真空ポンプを用いたものに比べて簡易に実現
することができるとともに、光取り出しライン内で吸着
排気するので、外付けの真空ポンプを用いた場合に比べ
て真空排気効率が向上する。
〔実施例〕
この発明の一実施例を第1図に示す。第1図において、
(a)はガス吸着金属の蒸着膜を形成している状態、(
b)はSOROR光合9料30に照射して物性実験を行
なっている状態である。
SOR光装置の蓄積リングにおける電子ビームの偏向位
置からは、その接線方向に光取り出しライン26が接続
されている。光取り出しライン26の端部は窓材て封止
せすに試料チャンバ28に連通されている。試料チャン
バ28は外部から密閉された容器で構成され、その中に
物性実験対象の試料30が収容されている。
光取り出しライン26内には、その端部付近の側面に凹
状のガス吸着金属槽36か形成され、その中にチタン、
マグネシウム、タングステン等のガス吸着金属38か収
容されている。ガス吸着金属槽36は、収容されている
カス吸着金属38を加熱して昇華させる。
光取り出しライン26におけるガス吸着金属槽36の前
後の位置には、光取り出しライン26を遮断するゲート
バルブ40.42か配設されている。
第1図の真空排気装置を使用する場合は、ます同図(a
)のようにゲートバルブ40.42を閉じて、ガス吸着
金属蒸発槽36内のガス吸着金属38を加熱して、昇華
させる。昇華したカス吸着金[38′はゲートバルブ4
0.42て閉しられた空間の内周面に蒸着されて、ガス
吸着金属膜38′を形成する。
ガス吸着金属膜38′が形成されたら、同図(b)のよ
うにゲートバルブ40.42を開く。
これにより、蓄積リング22(第2図)の偏向位置から
放射された軟X線のSOROR光合9光取り出しライン
26を通って試料チャンバ28に送り込まれて、試料3
0に照射される。試料チャンバ28はもともと蓄積リン
グ22よりも真空度か低いうえに、SOROR光合9射
により試料30からはガスか放出される。これらの気体
分子32は、さらにSOROR光合9射によりイオン化
される。イオン化された気体分子32′は、試料チャン
バ28から光取り出しライン26に流出するとガス吸着
金属膜38′に吸着されるので(吸着された気体分子を
32′で示す。)、蓄積リング22への流入は阻止され
る。
吸着能力が低下したら、再びゲートバルブ40゜42を
閉じて、新たなガス金属吸着膜38′を形成して、吸着
を行なう。
なお気体分子32に効率よ<SOROR光合9射してイ
オン化を促進するためには、光取り出しライン26は全
体をまたは少くとも試料チャンバ28の出口からマイナ
ス電極36の入口に至るまでの部分の少くとも一部をS
OROR光合9過を妨げない程度に細径に形成するのか
よい。
〔変更例〕
なお、前記実施例ではガス吸着金属膜38′たけて真空
排気するようにしたが、これだけで足りない場合には、
外付けの真空ポンプを併用することもできる。このよう
にしても、前記第3図の外付けの真空ポンプ34たけて
排気する場合に比べて、外付けの真空ポンプの負担を軽
減することかできるので、外付けの真空ポンプは小型の
もので済むようになる。
また、前記実施例では軟X線のSOR光を使用した物性
実験にこの発明を適用した場合について説明したが、軟
X線以外のSOR光を使用する場合にも窓なしで使用す
る場合にはこの発明を適用することができる。また、物
性実験以外の用途にも適用することができる。
また、この発明は、ウィグラーやアンジュレータ−等に
おける光取り出しラインにも適用することができる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、この発明によれば、S。
R光照射を行なわない時に光取り出しラインの両ゲート
バルブを遮断してガス吸着金属蒸発槽がらガス吸着金属
を蒸発させて光取り出しラインの内周面にガス吸着膜を
形成し、SOR光照射を行なう時にガス吸着金属の蒸発
を停止して前記両ゲトバルブを開いてSOR光を前記試
料に照射し、この時SOR光の照射でイオン化された前
記試料チャンバからの気体分子を前記光取り出しライン
内周面のガス吸着金属蒸着膜で吸着排気することかでき
、蓄積リング等の電子ビームダクトへの気体分子の流入
を阻止することができる。そして、これによれば、光取
り出しライン内にガス吸着金属槽とその前後にゲートバ
ルブを設ければよいので、前記従来の外付けの真空ポン
プを用いたものに比べて簡易に実現することができると
もに、光取り出しライン内で吸着排気するので、外付け
の真空ポンプを用いた場合に比べて真空排気効率が向上
する。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明の一実施例を示す図で、光取り出し
ラインおよび試料チャンバ内の構成を示す概要図である
。 第2図は、この発明が適用されるSOR光装置概要を示
す平面図である。 第3図は、従来の真空排気装置を示す概要図である。 1・・・SOR光装置、26・・・光取り出しライン、
26′・・・光取り出しライン内周面、28・・・試料
チャンバ 29・・・SOR光、3o・・・試料、32
・・−気体分子、32′・・・イオン化された気体分子
、32′・・・吸着された気体分子、36由ガス吸着金
属蒸発槽、38・・・ガス吸着金属、38′・・・昇華
したガス吸着金属、38′・・・ガス吸着金属膜、40
.42・・・ゲートバルブ。 出願人  石川島播磨重工業株式会社

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 光取り出しラインの端部を窓材で封止せずに試料チャン
    バへ連通させて、SOR光を試料チャンバ内の試料へ照
    射するSOR光装置において、前記光取り出しライン内
    にガス吸着金属蒸発槽を配設するとともに、その前後の
    位置で光取り出しラインを遮断するゲートバルブをそれ
    ぞれ配設してなり、 SOR光照射を行なわない時に前記両ゲートバルブを遮
    断してガス吸着金属蒸発槽からガス吸着金属を蒸発させ
    て光取り出しラインの内周面にガス吸着金属膜を形成し
    、SOR光照射を行なう時にガス吸着金属の蒸発を停止
    して前記両ゲートバルブを開いてSOR光を前記試料に
    照射し、この時SOR光の照射でイオン化された前記試
    料チャンバからの気体分子を前記光取り出しライン内周
    面のガス吸着金属膜で吸着排気することを特徴とするS
    OR光装置における光取り出しラインの真空排気装置。
JP25480890A 1990-09-25 1990-09-25 Sor光装置における光取り出しラインの真空排気装置 Pending JPH04133299A (ja)

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