JPH04134276A - フリップフロップ回路の診断方法 - Google Patents
フリップフロップ回路の診断方法Info
- Publication number
- JPH04134276A JPH04134276A JP2257814A JP25781490A JPH04134276A JP H04134276 A JPH04134276 A JP H04134276A JP 2257814 A JP2257814 A JP 2257814A JP 25781490 A JP25781490 A JP 25781490A JP H04134276 A JPH04134276 A JP H04134276A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- flip
- data
- shift
- flop
- circuit
- Prior art date
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- Pending
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は、フリップフロップ回路の診断方法に関し、特
にシフトパス手段を有するフリップフロップ回路の診断
方法に関する。
にシフトパス手段を有するフリップフロップ回路の診断
方法に関する。
[従来の技術]
従来、フリップフロップ回路を連鎖する/フトパス方式
は、全フリップフロップ回路を7リアルに接続し、また
、シフトデータも外部よりデータを供給する方式であり
、全フリップフロップ回路を診断するにはフリップフロ
ップ回路の数だけシフト動作させる必要があった。
は、全フリップフロップ回路を7リアルに接続し、また
、シフトデータも外部よりデータを供給する方式であり
、全フリップフロップ回路を診断するにはフリップフロ
ップ回路の数だけシフト動作させる必要があった。
[発明が解決しようとする課題]
通常、シフトパス手段を有する場合、連鎖するフリップ
フロップ回路数は、1つのLSI内でも数百〜数十個が
内蔵され、装置全体では数千〜数万個がシリアルに連結
されている。この場合、これらのフリップフロップ回路
が正常が否かをシフトパス手段を使って試験する場合に
は、フリップフロップ回路の数だけシフト動作を行なう
必要があることと、シフトインデータが変化するためフ
リップフロップ回路が正常か否かを判定するのにシフト
アウトデータをソフトウェア(あるいはファームウェア
)に行なうため、試験時間が長くかかるという欠点があ
った。
フロップ回路数は、1つのLSI内でも数百〜数十個が
内蔵され、装置全体では数千〜数万個がシリアルに連結
されている。この場合、これらのフリップフロップ回路
が正常が否かをシフトパス手段を使って試験する場合に
は、フリップフロップ回路の数だけシフト動作を行なう
必要があることと、シフトインデータが変化するためフ
リップフロップ回路が正常か否かを判定するのにシフト
アウトデータをソフトウェア(あるいはファームウェア
)に行なうため、試験時間が長くかかるという欠点があ
った。
[課題を解決するための手段]
本発明のフリップフロップ回路の診断方法は、フリップ
フロップ回路を連鎖するシフトパス手段を有するフリッ
プフロップ回路群を分割する手段ト、トグルパターンの
シフトデータを発生する手段と、分割された連鎖するフ
リップフロップ回路の出力信号をチェックするエラー検
出回路とを具備し、シフトパス手段を宵するフリップフ
ロップ回路を診断することを特徴とする。
フロップ回路を連鎖するシフトパス手段を有するフリッ
プフロップ回路群を分割する手段ト、トグルパターンの
シフトデータを発生する手段と、分割された連鎖するフ
リップフロップ回路の出力信号をチェックするエラー検
出回路とを具備し、シフトパス手段を宵するフリップフ
ロップ回路を診断することを特徴とする。
[実施例コ
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例を適用するハードウェアの構
成図である。
成図である。
このハードウェアは、シリアルに連鎖し、連鎖段数が互
いにほぼ等しくなるように分割されたフリップフロップ
回路群1,2と、選択回路3および選択回路4とシフト
データ発生回路5とエラー検出回路6で構成される。
いにほぼ等しくなるように分割されたフリップフロップ
回路群1,2と、選択回路3および選択回路4とシフト
データ発生回路5とエラー検出回路6で構成される。
診断指示信号101は選択回路3,4とシフトデータ発
生回路5およびエラー検出回路6に入力し、シフトデー
タ信号102は選択回路3に入力し、クロック信号10
3はフリップフロ、プ回路群1,2およびシフトデータ
発生回路5に入力し、シフトデータ発生回路5の負出力
信号104はシフトデータ発生回路5に帰還し、シフト
データ発生回路5の正出力信号105は選択回路3,4
に入力し、選択回路3の出力信号106はフリップフロ
ップ回路群1に入力し、選択回路4の出力信号107は
フリップフロップ回路群2に入力し、フリップフロップ
回路群1の出力信号108は選択回路4およびエラー検
出回路6に入力し、フリップフロップ回路群2の出力信
号109はエラー検出回路6および次段の論理回路の入
力信号となり、エラー検出回路6の出力信号はエラー検
出信号110としてエラー報告信号となる。
生回路5およびエラー検出回路6に入力し、シフトデー
タ信号102は選択回路3に入力し、クロック信号10
3はフリップフロ、プ回路群1,2およびシフトデータ
発生回路5に入力し、シフトデータ発生回路5の負出力
信号104はシフトデータ発生回路5に帰還し、シフト
データ発生回路5の正出力信号105は選択回路3,4
に入力し、選択回路3の出力信号106はフリップフロ
ップ回路群1に入力し、選択回路4の出力信号107は
フリップフロップ回路群2に入力し、フリップフロップ
回路群1の出力信号108は選択回路4およびエラー検
出回路6に入力し、フリップフロップ回路群2の出力信
号109はエラー検出回路6および次段の論理回路の入
力信号となり、エラー検出回路6の出力信号はエラー検
出信号110としてエラー報告信号となる。
通常のシフト動作時は、診断指示信号101は“0”で
あり、シフトデータはシフトインデータ信号102が入
力となる。つまり、診断指示信号101は“0”である
ため、選択回路3はシフトインデータ信号102を選択
して、フリップフロップ回路群1のシフトインデータと
して供給され、フリップフロップ回路群2のシフトデー
タは、フリップフロップ回路群の出力信号108が選択
回路4を経由して供給され、フリップフロップ回路群2
の最終フリップフロップ回路の出力信号109がンフト
アウト信号として送出される。
あり、シフトデータはシフトインデータ信号102が入
力となる。つまり、診断指示信号101は“0”である
ため、選択回路3はシフトインデータ信号102を選択
して、フリップフロップ回路群1のシフトインデータと
して供給され、フリップフロップ回路群2のシフトデー
タは、フリップフロップ回路群の出力信号108が選択
回路4を経由して供給され、フリップフロップ回路群2
の最終フリップフロップ回路の出力信号109がンフト
アウト信号として送出される。
診断動作時には、診断指示信号101が“1”となり、
7フトデ一タ発生回路5がアクティブとなり、発生され
るトグルパターン(01の繰返しパターン)が出力信号
105として選択回路3゜4で選択され、各々の出力信
号106.107がシフトデータとなり、フリップフロ
ップ回路群1゜2にそれぞれシフトイン信号として供給
される。
7フトデ一タ発生回路5がアクティブとなり、発生され
るトグルパターン(01の繰返しパターン)が出力信号
105として選択回路3゜4で選択され、各々の出力信
号106.107がシフトデータとなり、フリップフロ
ップ回路群1゜2にそれぞれシフトイン信号として供給
される。
このとき、フリップフロップ回路群1,2には同じデー
タが入力され、1つのフリップフロップ回路群のフリッ
プフロップ数だけクロック信号103を供給すれば、全
フリップフロップにデータが書き込まれ、さらに、同数
のクロック信号103を供給することにより全データが
読み出される。
タが入力され、1つのフリップフロップ回路群のフリッ
プフロップ数だけクロック信号103を供給すれば、全
フリップフロップにデータが書き込まれ、さらに、同数
のクロック信号103を供給することにより全データが
読み出される。
このとき、フリップフロップ回路群1,2の出力信号1
08,109をエラー検出回路6にで比較することによ
り、各フリップフロップ回路の良否を判定でき、もし、
不一致があればエラー検出信号110で報告される。
08,109をエラー検出回路6にで比較することによ
り、各フリップフロップ回路の良否を判定でき、もし、
不一致があればエラー検出信号110で報告される。
[発明の効果]
以上説明したように本発明は、フリップフロップ回路を
連鎖するシフトパス手段構成のフリップフロップ回路の
診断をトグルデータ(Ofの繰返しパターン)を自動発
生してシフトデータとして供給し、全フリップフロップ
回路をn分割(はぼ等分に分割する)することにより、
シフト動作のクロック数が1/nで済み、したがって、
診断時間も1/nで済むという効果を奏する。つまり、
分割数を多くすれば、診断時間は少なくなる。また、各
フリップフロップ回路群の出力データはトグルデータで
あるためエラー検出方法も簡単にチェックすることがで
きる。
連鎖するシフトパス手段構成のフリップフロップ回路の
診断をトグルデータ(Ofの繰返しパターン)を自動発
生してシフトデータとして供給し、全フリップフロップ
回路をn分割(はぼ等分に分割する)することにより、
シフト動作のクロック数が1/nで済み、したがって、
診断時間も1/nで済むという効果を奏する。つまり、
分割数を多くすれば、診断時間は少なくなる。また、各
フリップフロップ回路群の出力データはトグルデータで
あるためエラー検出方法も簡単にチェックすることがで
きる。
第1図は本発明の一実施例の構成図である。
1・・・フリップフロップ回路群、2・・・フリップフ
ロ、プ回路群、3・・・選択回路、4・・・選択回路、
5・・・シフトデータ発生回路、6・・・エラー検出回
路、101・・・診断指示信号、102・・・シフトイ
ンデータ、103・・・クロック信号、104・・・出
力信号、105・・・出力信号、106・・・出力信号
、107・・・出力信号、108・・・出力信号、10
9・・・出力信号(シフトアウト信号)、110・・・
エラー検出信号。
ロ、プ回路群、3・・・選択回路、4・・・選択回路、
5・・・シフトデータ発生回路、6・・・エラー検出回
路、101・・・診断指示信号、102・・・シフトイ
ンデータ、103・・・クロック信号、104・・・出
力信号、105・・・出力信号、106・・・出力信号
、107・・・出力信号、108・・・出力信号、10
9・・・出力信号(シフトアウト信号)、110・・・
エラー検出信号。
Claims (1)
- フリップフロップ回路を連鎖するシフトパス手段を有す
るフリップフロップ回路群を分割する手段と、トグルパ
ターンのシフトデータを発生する手段と、分割された連
鎖するフリップフロップ回路の出力信号をチェックする
エラー検出回路とを具備し、シフトパス手段を有するフ
リップフロップ回路を診断することを特徴とするフリッ
プフロップ回路の診断方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2257814A JPH04134276A (ja) | 1990-09-27 | 1990-09-27 | フリップフロップ回路の診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2257814A JPH04134276A (ja) | 1990-09-27 | 1990-09-27 | フリップフロップ回路の診断方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04134276A true JPH04134276A (ja) | 1992-05-08 |
Family
ID=17311494
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2257814A Pending JPH04134276A (ja) | 1990-09-27 | 1990-09-27 | フリップフロップ回路の診断方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04134276A (ja) |
-
1990
- 1990-09-27 JP JP2257814A patent/JPH04134276A/ja active Pending
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