JPH0413668Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本考案は、ダイオードの機械的振動に対する接
触不良やシヨートの発生を検査するのに用いる、
ダイオードの検査装置に関する。

（従来の技術） ダイオード、例えばDHD型ダイオード１は、
第５図に示すように、素子２を一対の電極となる
デユメツト３，３の間に挟み込んでガラスパイプ
４内に封着し、各デユメツト３，３からリード端
子５，５を導出したものであるが、デユメツト
３，３の加工時にこれの表面被覆材（一般に銅）
の一部が剥離しやすい状態となることがあり、こ
のようなデユメツト３，３を組み立ててしまう
と、後にガラスパイプ４内で表面被覆材の一部が
遊離してシヨートの原因となるものであつた。

そこで、組み立てられたダイオード１に機械的
振動を加えながら電気的特性を測定することで、
前記シヨートの有無を識別する検査が行なわれ
る。第６図にこのような検査を行う従来手段の一
例が示される。この手段は、バネ６で支えられた
下部治具７上に適当個数のダイオード１を並列載
置し、その上に上部治具８を重ねて挟持し、その
上部および下部治具７，８を適宜、加振機構９で
上下に振動させながら挟持部位において各ダイオ
ード１のリード端子５，５に接触させた測定端子
１０，１０間に電圧を印加することでシヨートの
有無を識別するものである。

（考案が解決しようとする問題点） このような従来手段においては、下部治具７上
にダイオード１をセツトする場合、極性を揃えな
がらすべて手作業によつており、作業性が低いも
のであつた。

また、複数のダイオード１を同時に検査するも
ので不良品の混在が分かつても、その不良品を見
出だすのに再チエツクが必要であり、しかも振動
時にのみシヨートが確認される不良品は装置を停
止しての発見が困難であつた。

本考案は、このような事情に鑑みてなされたも
のであつた、ダイオードのシヨート検査、不良品
取り出しを能率よく、かつ簡単に行えるようにす
ることを目的とする。

（問題点を解決するための手段） 本考案は、このような目的を達成するために、
ダイオードを一定ピツチで配列して順送りする移
送経路に沿つて、ダイオード供給機構、加振検査
部、不良品取り出し部及び良品回収部を順次配列
し、前記加振検査部を、移送経路脇に配備した上
部治具と、移送経路の一定位置にあるダイオード
を持ち上げて上部治具との間に挟持する下部治具
と、ダイオードを挟持した上部及び下部治具に振
動を印加する加振機構と、挟持されたダイオード
の両電極に接触された測定端子に電圧を印加して
シヨートの有無を検査する検査回路とから構成し
た。

（作用） 前記構成によると、ダイオードを一定ピツチづ
つ順送りしながら所定位置で一旦移送経路の外に
移して加振検査を行つた後、再び移送経路に戻
し、発見された不良品は以後の不良品取り出し部
において、移送経路から取り除かれ、良品のみが
移送されて回収されていく。

（実施例） 以下、本考案を図面に示す実施例に基づいて詳
細に説明する。第１図は、本考案の実施例に係る
装置の全体の側面図である。第１図において、１
２はダイオード移送用に巻回された左右一対のチ
エーンであつて、このチエーン１２はリンクプレ
ートの延出部に形成された凹部１３にダイオード
１の両リード端子５，５を係入支持して一定ピツ
チで順送りするよう構成されている。そして、こ
のダイオード１の移送経路の上手から下手に向け
てダイオード供給部１４、加振検査部１５、不良
品取り出し部１６、及び良品回収部１７が配備さ
れている。

ダイオード供給部１４において、図外パーツフ
イーダから一定姿勢に整列されてシユート１８に
沿つて送られてくるダイオード１は、チエーン１
２と同期して駆動回転されるローター１９の外周
凹部２０に係止されてガイド２１に沿つて順送り
され、ローター１９の下方においてチエーン１２
の前記凹部１３に供給されるよう構成されてい
る。

加振検査部１５の構成が第２図及び第３図にお
いて示される。この加振検査部１５に相当する移
送経路の上方には、上部治具２２がガイドロツド
２３及びバネ２４を介して上下動自在に固定フレ
ーム２５に支持されるとともに、固定フレーム２
５に取り付けた加振機構２６によつて上下振動が
上部治具２２に印加できるよう構成されている。
また、上部治具２２の下方に相当する左右チエー
ン１２，１２の間には、下部治具２７がガイドロ
ツド２８およびバネ２９を介して上下動自在に可
動フレーム３０に支持されている。

この可動フレーム３０は固定ガイド３１に沿つ
て上下動自在に支持されるとともに、偏心回転カ
ム３２およびカムレバー３３に連繋されており、
第３図に示すように、可動フレーム３０の上昇に
よつて下部治具２７で一定位置にあるダイオード
１を持ち上げて上部治具２２との間に弾性的に挟
持するよう構成されている。上部治具２２の挟持
部位には、ダイオード１の両リード端子５，５に
接触する測定端子３４，３５が備えられるととも
に、これが検査回路３６に接続されている。

検査回路３６は、加振機構２６が作動してダイ
オード１に振動を印加している間にダイオード１
の両電極に電圧を印加してシヨートの有無を検査
して不良品か否かのチエツクを行う。

加振検査が終了すると、下部治具２７は再び下
降されて、検査ずみのダイオード１はチエーン１
２の元の位置に戻され、以下、チエーン１２の１
ピツチ送りごとに前記検査が各ダイオード１ごと
に施される。

不良品取り出し部１６においては、第４図に示
すように左右ならびに上下動自在な電磁吸着機構
３７が配備されており、前記検査部１５で発見さ
れた不良品ダイオード１′は、この電磁吸着機構
３７で吸着されてチエーン１２から取り除かれ
る。そして、良品はチエーン１２の終端巻回経路
部分の回収部１７において回収シユート３８上に
放出されていく。

なお、実施例では、ダイオード移送手段として
はチエーン１２を利用しているが、供給部１４に
利用したようなローター式の順送り手段を用いる
こともできる。また、不良品取り出しに真空吸着
機構を用いてもよい。更に、本考案は、リード端
子を備えない型式のダイオードにも適用すること
ができる。

（効果） 以上のように、本考案によれば、一定ピツチで
供給配列されて順送りされるダイオードを１個づ
つ加振検査し、それ以後の移送経路で識別された
不良品の取り出し、および良品の回収を行うよう
にしたので、全自動化が可能となり、シヨート検
査の作業能率を大幅に向上させることができるよ
うになつた。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の実施例に係るダイオードの検
査装置の正面図、第２図は加振検査部の正面図、
第３図はその検査状態の正面図、第４図は不良品
取り出部の正面図、第５図はDHD型ダイオード
の側面図、第６図は従来の検査手段の一部の切欠
斜視図である。 図中、符号１はダイオード、１４はダイオード
の供給機構、１５は加振検査部、１６は不良品回
収部、１７は良品回収部、２２は上部治具、２７
は下部治具、３４，３５は測定端子、３６は検査
回路。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. ダイオード１を、一定ピツチに配列して順送り
   する移送経路に沿つて、ダイオード供給機構１
   ４、加振検査部１５、不良品取り出し部１６及び
   良品回収部１７を順次配備し、前記加振検査部１
   ５を、移送経路脇に配備した上部治具２２と、移
   送経路の一定位置にあるダイオード１を持ち上げ
   て上部治具２２との間に挟持する下部治具２７
   と、ダイオード１を挟持した上部および下部治具
   ２２，２７に振動を印加する加振機構２６と、挟
   持されたダイオード１の両電極に接触された測定
   端子３４，３５に電圧を印加してシヨートの有無
   を検査する検査回路３６とから構成されるダイオ
   ードの検査装置。