JPH0413877B2 - - Google Patents
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- JPH0413877B2 JPH0413877B2 JP31293487A JP31293487A JPH0413877B2 JP H0413877 B2 JPH0413877 B2 JP H0413877B2 JP 31293487 A JP31293487 A JP 31293487A JP 31293487 A JP31293487 A JP 31293487A JP H0413877 B2 JPH0413877 B2 JP H0413877B2
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Description
<産業上の利用分野>
この発明は、基板部と無電解めつきにより形成
された導体部とを備えて成り、基板部の導体部突
設面において、非めつき領域がシランカツプリン
グ剤の誘導体で被覆されているプリント基板を製
造するに際し、非めつき領域へシランカツプリン
グ剤を付与するための樹脂組成物に関する。 <従来の技術> 従来のプリント基板1は、第10図の如く、基
板部3と導体部5とから成る。一般的なエツチン
グ法では、銅張り積層板から不用部分を薬品で溶
解除去して、導体部5は形成される。またアデイ
テイブ法では、第11図の如く、基板部13にお
いて導体部17を形成しない領域(以下、「非め
つき領域」という)を樹脂層15で被覆した構成
となる。 <発明が解決しようとする問題点> かかる従来のプリント基板1,11であつて
も、今までのニーズには対応することができた。 しかしながら、昨今における装置の小型化、高
密度化にともなう、プリント基板の微細化の傾向
に十分な対応ができなくなつてきた。 特に、エツチング法によつて製造する場合、薬
品で不用部分の銅箔を溶解除去するときに、第1
0図のように、導体部5の基底部まで逆テーパ状
に浸食する(いわゆるアンダーカツト現象)傾向
がある。このため、回路の微細化で導体部5,5
どうしの間隔をせばめていつた場合、上記薬品を
細部まで循環流動させる必要があるため、一段と
この傾向が強くなり、導体部5の基底部が著しく
痩せてしまい、導体部5と基板部3との密着強度
は極端に低下する。 また、一般に施されるハンダコーテイングのと
きに、ハンダが基板部3の空白部4に付着して、
短絡してしまうなどの欠点がある。 更に、第11図のプリント基板11では、樹脂
相15の存在のため、導体部17,17どうしの
間隔をせまくしていくと、めつき反応で発生する
水素ガスの放散が悪くなり、導体部17の肉厚に
不同ができたり、樹脂層15が霧状にめつきされ
たりして、導体部17,17間の絶縁抵抗を阻害
するおそれがある。 そこでこの発明は、(ア)樹脂層などを設けないこ
とで、水素ガスの放散を促進しながらメツキする
ことができること、(イ)アンダーカツトのない均一
な厚みの微細回路を形成できること、(ウ)導体部以
外の部分にハンダが付着しないこと、を達成する
プリント基板を無電解めつきの手法で製造するに
際し、上記各目的を達成する主役となるシランカ
ツプリング剤の誘導体を、基板部の非めつき領域
へ付与するための樹脂組成物を提供することを目
的とする。 <問題点を解決するための手段> 本発明者は、上記目的を達成すべく、鋭意検討
を重ねてきた結果、下記発明の樹脂組成物に想到
した。 基板部と無電解めつきにより形成された導体部
とを備えて成り、基板部の導体部突設面におい
て、非めつき領域がシランカツプリング剤の誘導
体で被覆されているプリント基板を製造するに際
し、非めつき領域へ前記シランカツプリング剤を
付与するための樹脂組成物であつて、ロジン、シ
ランカツプリング剤、必要に応じて添加される硫
黄化合物、及び酸性めつき用メツキレジスト剤を
有効成分とすることを特徴とする。 <手段の詳細な説明> 以下、上記手段について詳細に説明する。 この樹脂組成物は、ロジン、シランカツプ
リング剤、必要に応じて添加される硫黄化合物
及び酸性めつき用メツキレジスト剤を有効成分
としている。 ロジンは、一般の称呼ロジン(松脂)と呼ぶ
ものや他の植物から抽出する多くの種類のロジ
ンが有効で、カナダ産のかえでから抽出される
カナダバルサムが特に好ましい。 ロジンの配合量は、樹脂組成物における重量
%で3〜50%、好ましくは15〜30%である。3
〜50%の範囲を外れると、下記(イ)の工程の粗化
液により当該樹脂組成物が破壊されるおそれが
ある。 シランカツプリング剤とは、有機重合体と無
機材料とを化学的に結合する能力をもつている
シラン及びその他のけい素化合物をいう。例え
ば、トリエトキシメチルシラン、トリメトキシ
メチルシラン、トリエトキシフエニルシラン、
トリメトキシフエニルシラン、トリエトキシビ
ニルシラン、α−アミノプロピルトリエトキシ
シラン、N−(β−アミノエチル)−α−アミノ
プロピルトリメトキシシラン、α−メタクリル
オキシプロピルトリメトキシシラン、α−メル
カプトプロピルトリメトキシシラン、ウレイド
プロピルトリエトキシシラン等を挙ることがで
きる。 その配合量は、樹脂組成物における重量%で
0.1〜15.0%、好ましくは1.5〜5.0%である。0.1
%未満であると、非めつき領域にめつきが析出
するおそれがあり、一方15.0%を越えると、め
つき領域にめつきがのらないおそれがあるの
で、それぞれ好ましくない。 尚、このとき、基板部25の材質が無機質、
有機質又は両者の混合したものであるかに応じ
て、被膜29中のシランカツプリング剤の配合
量を調整しなければならないが、非めつき領域
26の界面に、十分な結合手の供給と、シラン
カツプリング剤の誘導体相を形成するに足りる
量が必要で、実験的に決定される(第1表の各
実施例参照)。 このシランカツプリング剤は、一般的な樹脂
組成物用溶剤(エチレングリコールモノブチル
エーテル、2−(2−エトキシエトキシ)エタ
ノール等)との相溶性が良好である。また、既
述のロジンや後述の硫黄化合物との相溶性
も良好である。 そして、このシランカツプリング剤は、後記
するように、この発明の樹脂組成物を利用した
プリント基板の製造方法が水処理系であるた
め、主としてシラノール等の誘導体へ変性す
る。 硫黄化合物には、2−メルカプトベンゾチア
ゾール、チオ尿素、メチルブルー、メチレング
リーン、2−イミダゾリジンチオン、メチルオ
レンジ、タウリン等を挙ることができる。 この硫黄化合物を添加することにより、後述
する(エ)の無電解めつき工程において、非めつき
領域へめつきが析出することを確実に防止でき
ることとなる。 これは、硫黄化合物がシランカツプリング剤
の官能基との結合をともなつて非めつき領域に
転写されることによると考えられる。 このように、硫黄化合物の添加は必要に応じ
てされる。 この硫黄化合物の配合量は、微量で充分であ
るが、当該樹脂組成物に対する重量%で、
0.005〜0.5の範囲である。0.005%未満では、上
記防止機能が有効に発揮されないおそれがあ
り、また0.5%を越える範囲では、硫黄成分が
還元剤のホルマリンに触媒毒として働き、めつ
き境界線を超えてめつき領域にまで影響を及ぼ
すために、めつき析出反応が停止するなどの理
由により、無電解めつきができないおそれがあ
るので、それぞれ好ましくない。 尚、上記ロジン、シランカツプリング
剤、硫黄化合物をそれぞれ単体で酸性めつ
き用メツキレジスト剤に添加した場合には、そ
の樹脂組成物は粗化液等の強酸性溶液に耐えら
れない(第1表の各比較例参照)。 酸性めつき用メツキレジスト剤には、例えば
山栄化学株式会社製の(商品名)メツキレジス
ト剤SPR−530CMTを用いることができる。
このめつきレジスト剤には、無機質の充填剤が
配合されている。 尚、上記酸性めつき用メツキレジスト剤の単
体では、下記(イ)の工程に使用する粗化液等の強
酸性溶液に耐えることができない。 この樹脂組成物は、後記の工程(イ),(ウ)で使用す
る強酸性の粗化液、触媒液、活性化液に対する耐
久性を備える。 その理由を推定するならば、下記(a)〜(c)のよう
になると考えられる。 (a) 被膜29の樹脂組成物へシランカツプリング
剤を加えないときは、第3図のように、無機質
充填剤(メツキレジスト剤に配合されている)
の粒界はOH基を外側に向けた親水性を示して
いる。これに対し、シランカツプリング剤(例
えばトリメトキシ(メチル)シラン;CH3Si
(OCH3)3)を加えたときには、本発明の工程
における水をともなう処理によつて加水分解
し、第4図のように無機質充填剤の粒界はCH3
基を外側へ向けた疎水性となる。また、CH3基
により無機充填剤と有機成分との結合力が増大
する。このため、被膜29は、内面、外面がと
もに強力な疎水性と緻密性をもつて造膜され、
粗化液や触媒液等の強酸性の溶液に浸漬しても
侵されることがない。このような被膜29の特
性により、その膜厚を可及的に薄くすることが
できる。よつて、微細なパターンを陰画印刷を
するのに適したものとなる。 (b) 次に、被膜29には、上記(a)で述べた緻密性
と耐薬品性の性能を有するに足りる量以上のシ
ランカツプリング剤が配合されている。この少
し余剰のシランカツプリング剤が、非めつき領
域26の界面へ強固に結合しており、被膜29
をアルカリ水溶液で剥離した後も、非めつき領
域26の界面には、シランカツプリング剤が加
水分解して生成したシラノール(シランカツプ
リング剤の誘導体)の固着膜を残置させること
ができる。そしてこのシラノールの最外殻相は
H基を外方向に向けているため、疎水性と、水
素原子や水素ガス及び金属イオンを反発する機
能があるため、めつきの析出を完全に制御する
ことが実験から確かめることができた。そして
この機能は、立体的に即ち3次元方向にも効力
を及ぼしていることも判明した。その状態を推
測すると、非めつき領域26上に、自然界で見
られるはすの葉上の水滴の如く、半楕円の断面
形状にめつき制御相24を形成していると考え
られる。 (c) 乾燥させた被膜29の表面を、塩酸、硫酸等
の酸性水溶液で処理すると一段と疎水機能が高
まつたり、上記(b)の特性が高まつたり、被膜2
9の表面が強固になる。これは、樹脂組成物が
酸基の影響を受けて効果が促進されることと併
せて、被膜29の表面のシラノール化した相の
最外殻の単分子相或いは相の一部がシリカゲル
化するか、又は、シラノール−有機成分間の結
付きが一層強固になることが関与しているもの
と考えられる。 次に、上記樹脂組成物を用いたプリント基板の
製造方法について説明する。 (ア) 基板部25の非めつき領域26を上記樹脂組
成物で被覆する工程 基板部25は、導体部23を支持可能な板状
部材であり、その形成材料は特に限定されな
い。例えば、プラスチツク、セラミツクス、ガ
ラス、半導体及びこれらの積層体を挙ることが
できる。また、基板部25における導体部23
の突設面が曲面であつてもよい。 樹脂組成物を既述の溶剤で希釈して、基板部
25へスクリーン印刷する(第2図参照)。こ
れにより得られる被膜29の厚さは4〜7μmと
する。4μm未満では、スクリーン印刷した場合
にかすれるおそれがある。7μmを越える厚み
は、この樹脂組成物が緻密性を有するために、
不要である。 (イ) 基板部25のめつき領域27へ触媒を付与す
る工程 まず、基板部25のめつき領域27を、粗化
液により粗化する必要がある。 粗化液としては、基板部25が樹脂製のと
き、クロム酸+硫酸、クロム酸+硫酸+リン
酸、硫酸+リン酸などの混合水溶液を用い、基
板部25がセラミツクス、ガラス又は半導体製
のときには、ふつ化水素酸溶液などを用いる。
そして、これらの粗化液へ基板部25を浸漬す
ると、上記被膜29により保護されていないめ
つき領域が粗化されることとなる。 次に、めつき領域へ触媒を付与する。 例えば、パラジウムを触媒とする場合には、
塩化パラジウムと塩酸の混合溶液(触媒液)へ
基板部25を浸漬し、基板部25へパラジウム
を担持する工程と、これを塩化すずと塩酸の混
合溶液(活性化液)へ浸漬してパラジウムを活
性化する工程で行なう。 勿論、1液性の触媒液を用いた工程でもよ
い。また、触媒の種類については、特に限定さ
れない。 (ウ) 非めつき領域26の被膜29を除去する工程 この工程は、耐酸性を有する被膜29であつ
ても、アルカリ水溶液により分解されので、水
酸化ナトリウム、炭酸ナトリウム等のアルカリ
水溶液へ基板部25を侵漬して行なう。 このとき、被膜29と基板部25の非めつき
領域26との界面の状態は、被膜29中に含ま
れているシランカツプリング剤(被膜29へ既
述の特性を付与するのに関与しないもの)が重
要な役割を果たしている。即ち、被膜29を基
板部25に印刷したときに、シランカツプリン
グ剤の有機、無機側の双方の官能基のうち何れ
かの結合手が、基板部25の材質に応じて選択
的に作用し、基板界面に強固に結合して非めつ
き領域26を被覆している。従つて、アルカリ
水溶液で被膜29を除去したときに、この界面
も同時に加水分解をうけるため、固着している
シランカツプリング剤の相はシラノールに変性
して非めつき領域26の界面に残置される。か
かるシランカツプリング剤の誘導体の相は、単
分子の薄い相を形成していれば、十分に既述の
(b)の効果を発揮することができる。つまり、非
めつき領域26の周辺域を疎水化したり、水素
イオン、水素ガス、金属イオンの接近を阻止す
ることができ、非めつき領域26にめつきが析
出することを防止することができる。 (エ) 無電解めつきにより、基板部25のめつき領
域27へ導体部23を形成する工程 この工程は、基板部25を無電解めつき液へ
浸漬して行なう。 基板部25をめつき液へ浸漬すると、触媒が
付与されているめつき領域から水素或いは水素
ガスが発生してめつきが開始されるが、このと
き、非めつき領域26には、既述のめつき制御
相24が形成されている。従つて、該非めつき
領域26にはめつきが析出することを防止する
とともに、めつき領域27との境界線におい
て、そのめつき制御機能が3次元にわたつて影
響を及ぼすため、めつきが非めつき領域26へ
はみ出して成長することが制御される。よつ
て、めつき(導体部23)を所定の方形断面に
形成することができる。またこのとき、めつき
制御相24が水素ガス反発機能を有するので、
めつき領域27から発生する過剰の水素ガスの
放散を促進する。このため、微細間隔で密接し
ているめつき領域27へのめつきを効率よく施
すことができる。 尚、めつき金属の種類は特に限定されず、触
媒との関係で決定される。 またこのめつき制御相24は、ハンダコーテ
イングのために溶融ハンダ槽に浸漬したとき
に、非めつき領域26にハンダが全く付着させ
ない性質を併せ持つていることが判明した。こ
れは、非めつき領域26が、シランカツプリン
グ剤の誘導体、又はこれが溶融ハンダ(260℃)
により加熱されて変性した酸化けい素で、被覆
されていることによると考えられる。 <発明の効果> 以上説明したように、所定の配合のロジン、シ
ランカツプリング剤の誘導体、必要に応じて添加
される硫黄化合物、酸性めつき用メツキレジスト
剤を有効成分とするこの発明の樹脂組成物によ
り、基板部と無電解めつきにより形成された導体
部とを備えて成り、基板部の導体部突設面におい
て、非めつき領域がシランカツプリング剤の誘導
体で被覆されているプリント基板を製造すること
ができる。 ここにおいて、この発明の樹脂組成物は、めつ
き液等の強酸性溶液に耐えるとともに、基板部の
非めつき領域へシランカツプリング剤の誘導体を
付与することができる。 <実施例> 以下、この発明の実施例の樹脂組成物につい
て、その使用方法(プリント基板の製造方法)と
ともに説明する。 (ア) 所定の樹脂組成物により、基板部の非めつき
領域を被覆する工程(第5,6図参照) 第1表に示した配合の樹脂組成物を調製す
る。 一方、基板部35として、厚さ3mmのABS
板(第1表に有機質として表す)と、厚さ0.8
mmのアルミナセラミツクス(アルミナ純度;96
%)板(第1表に無機質として表す)を準備す
る。尚、板の縦横の長さは特に限定されない。 かかる基板部35へ、第5図の如く、貫通孔
32を穿設する。その後、第6図の如く、第1
表に示した樹脂組成物でスクリーン印刷をし、
被膜39を形成する。基板部35の表面におい
て、この被膜39で被覆された面が非めつき領
域36となる。 一の被膜39と他の被膜39との間隔は、最
小70μmまで狭くすることができる。被膜39
の厚みは少なくとも4μmあればよい。この厚み
は通常のスクリーン印刷を1回行なつて得られ
る厚さである。このように薄膜の印刷で済むこ
とは、より鮮明なパターンが得られることを示
す。 その後、被膜39が備えられた基板部35
を、120℃×15〜20分の条件で乾燥する。この
状態の被膜39の外面は疎水性を示すようにな
る。 (イ) 基板部35のめつき領域37へ触媒を付与す
る工程(第7図参照) 触媒を付与するためには、最初にめつき領域
37を粗化する必要がある。 下記配合の粗化液1を調製し、45〜60℃に保
つた状態で、これへ有機質の基板部35を10〜
20分浸漬する。 粗化液1 三酸化クロム酸 30g 硫酸(比重;1.84) 500ml りん酸(比重;1.7) 100ml 全量を1とする水 〜 合計 1 一方、基板部35が無機質の場合には、46%
ふつ化水素酸溶液を室温状態に保つて、これへ
10〜20分間浸漬した。 その後、それぞれの基板部35(被膜39を
含めて)を水洗し、その状態を目視により観察
した。尚、被膜39の無い基板部35の表面は
全て粗化されている(めつき領域37となる)。 結果を第1表に示す。 第1表の結果から、実施例の樹脂組成物は劣
化せず、疎水性を維持することがわかる。一
方、比較例の樹脂組成物は消失してしまつた。 尚、本発明者の検討によれば、下記配合の有
機質基板部用粗化液2,3に対しても、実施例
の樹脂組成物は耐食性を有することが確認され
ている。 粗化液2 三酸化クロム酸 100g 硫酸(比重;1.84) 420ml りん酸(比重;1.7) 200ml 全量を1とする水 〜 合計 1 粗化液3 三酸化クロム酸 500g 硫酸(比重;1.84) 250ml 全量を1とする水 〜 合計 1 次に、下記配合の触媒液へ基板部25を浸漬
する。 触媒液 PdCl2 1.0g SnCl2・2H2O 50g HCl(37%溶液) 400ml 全量を1とする水 〜 合計 1 浸漬の条件は、25〜50℃×15〜5分である。
これにより、基板部35のめつき領域37へ触
媒基質が吸着されることとなる。 被膜39の表面には、触媒基質はほとんど吸
着されない。これは、被膜39を形成する樹脂
組成物内のシランカツプリング剤に起因する電
気化学的な反発力によると推定される。 そして、基板部35(被膜39を含めて)を
水洗した後、当該基板部35を下記配合の活性
化液へ浸漬する。 活性液 HCl(37%溶液) 100ml 全量を1とする水 〜 合計 1 浸漬の条件は、室温×2分である。これによ
り、めつき領域の触媒基質が活性化される。そ
の後、水洗する。 (ウ) 樹脂組成物の被膜39を除去する工程(第8
図参照) 基板部35(被膜39も含めて)を、下記配
合の剥離液へ浸漬する。 剥離液 NaOH 200g 全量を1とする水 〜 合計 1 浸漬の条件は、室温×2〜3分である。これ
により、被膜39はゲル化され、水洗により、
基板部35の非めつき領域36から剥離され
る。 被膜39が非めつき領域36から剥離されて
も、該非めつき領域36には、既述の如く、シ
ランカツプリング剤の誘導体が転写され、めつ
き制御相を形成している。 (エ) 無電解めつきにより、基板部35のめつき領
域37へ導体部33を形成する工程(第9図参
照) 下記配合のめつき液1,2,3を用いて、下
記条件で無電解めつきを行なつた。 めつき液1(Cuめつき) CuSO4・5H2O 10g EDTA−4Na 35g HCHO(37%水溶液) 10ml 2,2′−Bipy 10ml K4Fe(CN)6・3H2O 50ml 界面活性剤 小量 NaOH PH12.4に調整する量 全量を1とする水 〜 合計 1 めつき条件 70℃×50時間 めつき液2(アルカリ性Niめつき) NiCl2・6H2O 30g NaH2PO2・H2O 10g Na3C6H5O7・2H2O 75g NH4Cl 50g NH4OH PH8.5〜9.5に調整する量 全量を1とする水 〜 合計 1 めつき条件 90℃×10時間 めつき液3(酸性Niめつき) NiCl2・6H2O 30g NaH2PO2・H2O 10g Na3C6H5O7・2H2O 25g NH4Cl PH5.0〜6.0に調整する量 全量を1とする水 〜 合計 1 めつき条件 90℃×10時間 これにより、第9図の如く、めつき領域37
へ導体部33が形成される。 非めつき領域36は、シランカツプリング剤
の誘導体で被覆されている。従つて、非めつき
領域36はハンダ反発相(=めつき制御相3
4)を備えることになる。 本発明者の検討によれば、導体部33形成後の
基板部35を溶融ハンダ槽に10秒浸漬したとき、
非めつき領域36にはハンダが全く付着しなかつ
た。これにより、非めつき領域36のハンダ反発
相のハンダを隔絶する効果が確認できた。 一方、シランカツプリング剤で被覆しないプリ
ント基板について、上記と同様な実験を行なつた
ところ、非めつき領域36の随所へハンダが付着
してしまつた。 このようにして形成された実施例のプリント基
板31の導体部33の断面形状は、めつき領域3
7から真直に立ち上つた。一定幅の帯状めつき領
域へめつき液2を用いて形成された導体部の横断
面の寸法を、第2表に示した。導体部の各寸法
は、導体部の横断面の顕微鏡写真を撮り、これを
ノギスで測定して得られたものである。尚、使用
した樹脂組成物とは、非めつき領域を被覆するも
のであり、第1表の実施例1,3,5を用いた。 このように、導体部の断面形状がめつき領域か
ら真直に立ち上つたものとなるのは、めつき制御
相の作用によると考えられる。 基板部における非めつき領域がシランカツプリ
ング剤の誘導体で被覆されていない状態で、無電
解めつきをすると、めつき開始から5〜10分でめ
つきの幅が増大し、30〜60分で基板部の全面のい
わゆる「ベためつき」へと発展した。
された導体部とを備えて成り、基板部の導体部突
設面において、非めつき領域がシランカツプリン
グ剤の誘導体で被覆されているプリント基板を製
造するに際し、非めつき領域へシランカツプリン
グ剤を付与するための樹脂組成物に関する。 <従来の技術> 従来のプリント基板1は、第10図の如く、基
板部3と導体部5とから成る。一般的なエツチン
グ法では、銅張り積層板から不用部分を薬品で溶
解除去して、導体部5は形成される。またアデイ
テイブ法では、第11図の如く、基板部13にお
いて導体部17を形成しない領域(以下、「非め
つき領域」という)を樹脂層15で被覆した構成
となる。 <発明が解決しようとする問題点> かかる従来のプリント基板1,11であつて
も、今までのニーズには対応することができた。 しかしながら、昨今における装置の小型化、高
密度化にともなう、プリント基板の微細化の傾向
に十分な対応ができなくなつてきた。 特に、エツチング法によつて製造する場合、薬
品で不用部分の銅箔を溶解除去するときに、第1
0図のように、導体部5の基底部まで逆テーパ状
に浸食する(いわゆるアンダーカツト現象)傾向
がある。このため、回路の微細化で導体部5,5
どうしの間隔をせばめていつた場合、上記薬品を
細部まで循環流動させる必要があるため、一段と
この傾向が強くなり、導体部5の基底部が著しく
痩せてしまい、導体部5と基板部3との密着強度
は極端に低下する。 また、一般に施されるハンダコーテイングのと
きに、ハンダが基板部3の空白部4に付着して、
短絡してしまうなどの欠点がある。 更に、第11図のプリント基板11では、樹脂
相15の存在のため、導体部17,17どうしの
間隔をせまくしていくと、めつき反応で発生する
水素ガスの放散が悪くなり、導体部17の肉厚に
不同ができたり、樹脂層15が霧状にめつきされ
たりして、導体部17,17間の絶縁抵抗を阻害
するおそれがある。 そこでこの発明は、(ア)樹脂層などを設けないこ
とで、水素ガスの放散を促進しながらメツキする
ことができること、(イ)アンダーカツトのない均一
な厚みの微細回路を形成できること、(ウ)導体部以
外の部分にハンダが付着しないこと、を達成する
プリント基板を無電解めつきの手法で製造するに
際し、上記各目的を達成する主役となるシランカ
ツプリング剤の誘導体を、基板部の非めつき領域
へ付与するための樹脂組成物を提供することを目
的とする。 <問題点を解決するための手段> 本発明者は、上記目的を達成すべく、鋭意検討
を重ねてきた結果、下記発明の樹脂組成物に想到
した。 基板部と無電解めつきにより形成された導体部
とを備えて成り、基板部の導体部突設面におい
て、非めつき領域がシランカツプリング剤の誘導
体で被覆されているプリント基板を製造するに際
し、非めつき領域へ前記シランカツプリング剤を
付与するための樹脂組成物であつて、ロジン、シ
ランカツプリング剤、必要に応じて添加される硫
黄化合物、及び酸性めつき用メツキレジスト剤を
有効成分とすることを特徴とする。 <手段の詳細な説明> 以下、上記手段について詳細に説明する。 この樹脂組成物は、ロジン、シランカツプ
リング剤、必要に応じて添加される硫黄化合物
及び酸性めつき用メツキレジスト剤を有効成分
としている。 ロジンは、一般の称呼ロジン(松脂)と呼ぶ
ものや他の植物から抽出する多くの種類のロジ
ンが有効で、カナダ産のかえでから抽出される
カナダバルサムが特に好ましい。 ロジンの配合量は、樹脂組成物における重量
%で3〜50%、好ましくは15〜30%である。3
〜50%の範囲を外れると、下記(イ)の工程の粗化
液により当該樹脂組成物が破壊されるおそれが
ある。 シランカツプリング剤とは、有機重合体と無
機材料とを化学的に結合する能力をもつている
シラン及びその他のけい素化合物をいう。例え
ば、トリエトキシメチルシラン、トリメトキシ
メチルシラン、トリエトキシフエニルシラン、
トリメトキシフエニルシラン、トリエトキシビ
ニルシラン、α−アミノプロピルトリエトキシ
シラン、N−(β−アミノエチル)−α−アミノ
プロピルトリメトキシシラン、α−メタクリル
オキシプロピルトリメトキシシラン、α−メル
カプトプロピルトリメトキシシラン、ウレイド
プロピルトリエトキシシラン等を挙ることがで
きる。 その配合量は、樹脂組成物における重量%で
0.1〜15.0%、好ましくは1.5〜5.0%である。0.1
%未満であると、非めつき領域にめつきが析出
するおそれがあり、一方15.0%を越えると、め
つき領域にめつきがのらないおそれがあるの
で、それぞれ好ましくない。 尚、このとき、基板部25の材質が無機質、
有機質又は両者の混合したものであるかに応じ
て、被膜29中のシランカツプリング剤の配合
量を調整しなければならないが、非めつき領域
26の界面に、十分な結合手の供給と、シラン
カツプリング剤の誘導体相を形成するに足りる
量が必要で、実験的に決定される(第1表の各
実施例参照)。 このシランカツプリング剤は、一般的な樹脂
組成物用溶剤(エチレングリコールモノブチル
エーテル、2−(2−エトキシエトキシ)エタ
ノール等)との相溶性が良好である。また、既
述のロジンや後述の硫黄化合物との相溶性
も良好である。 そして、このシランカツプリング剤は、後記
するように、この発明の樹脂組成物を利用した
プリント基板の製造方法が水処理系であるた
め、主としてシラノール等の誘導体へ変性す
る。 硫黄化合物には、2−メルカプトベンゾチア
ゾール、チオ尿素、メチルブルー、メチレング
リーン、2−イミダゾリジンチオン、メチルオ
レンジ、タウリン等を挙ることができる。 この硫黄化合物を添加することにより、後述
する(エ)の無電解めつき工程において、非めつき
領域へめつきが析出することを確実に防止でき
ることとなる。 これは、硫黄化合物がシランカツプリング剤
の官能基との結合をともなつて非めつき領域に
転写されることによると考えられる。 このように、硫黄化合物の添加は必要に応じ
てされる。 この硫黄化合物の配合量は、微量で充分であ
るが、当該樹脂組成物に対する重量%で、
0.005〜0.5の範囲である。0.005%未満では、上
記防止機能が有効に発揮されないおそれがあ
り、また0.5%を越える範囲では、硫黄成分が
還元剤のホルマリンに触媒毒として働き、めつ
き境界線を超えてめつき領域にまで影響を及ぼ
すために、めつき析出反応が停止するなどの理
由により、無電解めつきができないおそれがあ
るので、それぞれ好ましくない。 尚、上記ロジン、シランカツプリング
剤、硫黄化合物をそれぞれ単体で酸性めつ
き用メツキレジスト剤に添加した場合には、そ
の樹脂組成物は粗化液等の強酸性溶液に耐えら
れない(第1表の各比較例参照)。 酸性めつき用メツキレジスト剤には、例えば
山栄化学株式会社製の(商品名)メツキレジス
ト剤SPR−530CMTを用いることができる。
このめつきレジスト剤には、無機質の充填剤が
配合されている。 尚、上記酸性めつき用メツキレジスト剤の単
体では、下記(イ)の工程に使用する粗化液等の強
酸性溶液に耐えることができない。 この樹脂組成物は、後記の工程(イ),(ウ)で使用す
る強酸性の粗化液、触媒液、活性化液に対する耐
久性を備える。 その理由を推定するならば、下記(a)〜(c)のよう
になると考えられる。 (a) 被膜29の樹脂組成物へシランカツプリング
剤を加えないときは、第3図のように、無機質
充填剤(メツキレジスト剤に配合されている)
の粒界はOH基を外側に向けた親水性を示して
いる。これに対し、シランカツプリング剤(例
えばトリメトキシ(メチル)シラン;CH3Si
(OCH3)3)を加えたときには、本発明の工程
における水をともなう処理によつて加水分解
し、第4図のように無機質充填剤の粒界はCH3
基を外側へ向けた疎水性となる。また、CH3基
により無機充填剤と有機成分との結合力が増大
する。このため、被膜29は、内面、外面がと
もに強力な疎水性と緻密性をもつて造膜され、
粗化液や触媒液等の強酸性の溶液に浸漬しても
侵されることがない。このような被膜29の特
性により、その膜厚を可及的に薄くすることが
できる。よつて、微細なパターンを陰画印刷を
するのに適したものとなる。 (b) 次に、被膜29には、上記(a)で述べた緻密性
と耐薬品性の性能を有するに足りる量以上のシ
ランカツプリング剤が配合されている。この少
し余剰のシランカツプリング剤が、非めつき領
域26の界面へ強固に結合しており、被膜29
をアルカリ水溶液で剥離した後も、非めつき領
域26の界面には、シランカツプリング剤が加
水分解して生成したシラノール(シランカツプ
リング剤の誘導体)の固着膜を残置させること
ができる。そしてこのシラノールの最外殻相は
H基を外方向に向けているため、疎水性と、水
素原子や水素ガス及び金属イオンを反発する機
能があるため、めつきの析出を完全に制御する
ことが実験から確かめることができた。そして
この機能は、立体的に即ち3次元方向にも効力
を及ぼしていることも判明した。その状態を推
測すると、非めつき領域26上に、自然界で見
られるはすの葉上の水滴の如く、半楕円の断面
形状にめつき制御相24を形成していると考え
られる。 (c) 乾燥させた被膜29の表面を、塩酸、硫酸等
の酸性水溶液で処理すると一段と疎水機能が高
まつたり、上記(b)の特性が高まつたり、被膜2
9の表面が強固になる。これは、樹脂組成物が
酸基の影響を受けて効果が促進されることと併
せて、被膜29の表面のシラノール化した相の
最外殻の単分子相或いは相の一部がシリカゲル
化するか、又は、シラノール−有機成分間の結
付きが一層強固になることが関与しているもの
と考えられる。 次に、上記樹脂組成物を用いたプリント基板の
製造方法について説明する。 (ア) 基板部25の非めつき領域26を上記樹脂組
成物で被覆する工程 基板部25は、導体部23を支持可能な板状
部材であり、その形成材料は特に限定されな
い。例えば、プラスチツク、セラミツクス、ガ
ラス、半導体及びこれらの積層体を挙ることが
できる。また、基板部25における導体部23
の突設面が曲面であつてもよい。 樹脂組成物を既述の溶剤で希釈して、基板部
25へスクリーン印刷する(第2図参照)。こ
れにより得られる被膜29の厚さは4〜7μmと
する。4μm未満では、スクリーン印刷した場合
にかすれるおそれがある。7μmを越える厚み
は、この樹脂組成物が緻密性を有するために、
不要である。 (イ) 基板部25のめつき領域27へ触媒を付与す
る工程 まず、基板部25のめつき領域27を、粗化
液により粗化する必要がある。 粗化液としては、基板部25が樹脂製のと
き、クロム酸+硫酸、クロム酸+硫酸+リン
酸、硫酸+リン酸などの混合水溶液を用い、基
板部25がセラミツクス、ガラス又は半導体製
のときには、ふつ化水素酸溶液などを用いる。
そして、これらの粗化液へ基板部25を浸漬す
ると、上記被膜29により保護されていないめ
つき領域が粗化されることとなる。 次に、めつき領域へ触媒を付与する。 例えば、パラジウムを触媒とする場合には、
塩化パラジウムと塩酸の混合溶液(触媒液)へ
基板部25を浸漬し、基板部25へパラジウム
を担持する工程と、これを塩化すずと塩酸の混
合溶液(活性化液)へ浸漬してパラジウムを活
性化する工程で行なう。 勿論、1液性の触媒液を用いた工程でもよ
い。また、触媒の種類については、特に限定さ
れない。 (ウ) 非めつき領域26の被膜29を除去する工程 この工程は、耐酸性を有する被膜29であつ
ても、アルカリ水溶液により分解されので、水
酸化ナトリウム、炭酸ナトリウム等のアルカリ
水溶液へ基板部25を侵漬して行なう。 このとき、被膜29と基板部25の非めつき
領域26との界面の状態は、被膜29中に含ま
れているシランカツプリング剤(被膜29へ既
述の特性を付与するのに関与しないもの)が重
要な役割を果たしている。即ち、被膜29を基
板部25に印刷したときに、シランカツプリン
グ剤の有機、無機側の双方の官能基のうち何れ
かの結合手が、基板部25の材質に応じて選択
的に作用し、基板界面に強固に結合して非めつ
き領域26を被覆している。従つて、アルカリ
水溶液で被膜29を除去したときに、この界面
も同時に加水分解をうけるため、固着している
シランカツプリング剤の相はシラノールに変性
して非めつき領域26の界面に残置される。か
かるシランカツプリング剤の誘導体の相は、単
分子の薄い相を形成していれば、十分に既述の
(b)の効果を発揮することができる。つまり、非
めつき領域26の周辺域を疎水化したり、水素
イオン、水素ガス、金属イオンの接近を阻止す
ることができ、非めつき領域26にめつきが析
出することを防止することができる。 (エ) 無電解めつきにより、基板部25のめつき領
域27へ導体部23を形成する工程 この工程は、基板部25を無電解めつき液へ
浸漬して行なう。 基板部25をめつき液へ浸漬すると、触媒が
付与されているめつき領域から水素或いは水素
ガスが発生してめつきが開始されるが、このと
き、非めつき領域26には、既述のめつき制御
相24が形成されている。従つて、該非めつき
領域26にはめつきが析出することを防止する
とともに、めつき領域27との境界線におい
て、そのめつき制御機能が3次元にわたつて影
響を及ぼすため、めつきが非めつき領域26へ
はみ出して成長することが制御される。よつ
て、めつき(導体部23)を所定の方形断面に
形成することができる。またこのとき、めつき
制御相24が水素ガス反発機能を有するので、
めつき領域27から発生する過剰の水素ガスの
放散を促進する。このため、微細間隔で密接し
ているめつき領域27へのめつきを効率よく施
すことができる。 尚、めつき金属の種類は特に限定されず、触
媒との関係で決定される。 またこのめつき制御相24は、ハンダコーテ
イングのために溶融ハンダ槽に浸漬したとき
に、非めつき領域26にハンダが全く付着させ
ない性質を併せ持つていることが判明した。こ
れは、非めつき領域26が、シランカツプリン
グ剤の誘導体、又はこれが溶融ハンダ(260℃)
により加熱されて変性した酸化けい素で、被覆
されていることによると考えられる。 <発明の効果> 以上説明したように、所定の配合のロジン、シ
ランカツプリング剤の誘導体、必要に応じて添加
される硫黄化合物、酸性めつき用メツキレジスト
剤を有効成分とするこの発明の樹脂組成物によ
り、基板部と無電解めつきにより形成された導体
部とを備えて成り、基板部の導体部突設面におい
て、非めつき領域がシランカツプリング剤の誘導
体で被覆されているプリント基板を製造すること
ができる。 ここにおいて、この発明の樹脂組成物は、めつ
き液等の強酸性溶液に耐えるとともに、基板部の
非めつき領域へシランカツプリング剤の誘導体を
付与することができる。 <実施例> 以下、この発明の実施例の樹脂組成物につい
て、その使用方法(プリント基板の製造方法)と
ともに説明する。 (ア) 所定の樹脂組成物により、基板部の非めつき
領域を被覆する工程(第5,6図参照) 第1表に示した配合の樹脂組成物を調製す
る。 一方、基板部35として、厚さ3mmのABS
板(第1表に有機質として表す)と、厚さ0.8
mmのアルミナセラミツクス(アルミナ純度;96
%)板(第1表に無機質として表す)を準備す
る。尚、板の縦横の長さは特に限定されない。 かかる基板部35へ、第5図の如く、貫通孔
32を穿設する。その後、第6図の如く、第1
表に示した樹脂組成物でスクリーン印刷をし、
被膜39を形成する。基板部35の表面におい
て、この被膜39で被覆された面が非めつき領
域36となる。 一の被膜39と他の被膜39との間隔は、最
小70μmまで狭くすることができる。被膜39
の厚みは少なくとも4μmあればよい。この厚み
は通常のスクリーン印刷を1回行なつて得られ
る厚さである。このように薄膜の印刷で済むこ
とは、より鮮明なパターンが得られることを示
す。 その後、被膜39が備えられた基板部35
を、120℃×15〜20分の条件で乾燥する。この
状態の被膜39の外面は疎水性を示すようにな
る。 (イ) 基板部35のめつき領域37へ触媒を付与す
る工程(第7図参照) 触媒を付与するためには、最初にめつき領域
37を粗化する必要がある。 下記配合の粗化液1を調製し、45〜60℃に保
つた状態で、これへ有機質の基板部35を10〜
20分浸漬する。 粗化液1 三酸化クロム酸 30g 硫酸(比重;1.84) 500ml りん酸(比重;1.7) 100ml 全量を1とする水 〜 合計 1 一方、基板部35が無機質の場合には、46%
ふつ化水素酸溶液を室温状態に保つて、これへ
10〜20分間浸漬した。 その後、それぞれの基板部35(被膜39を
含めて)を水洗し、その状態を目視により観察
した。尚、被膜39の無い基板部35の表面は
全て粗化されている(めつき領域37となる)。 結果を第1表に示す。 第1表の結果から、実施例の樹脂組成物は劣
化せず、疎水性を維持することがわかる。一
方、比較例の樹脂組成物は消失してしまつた。 尚、本発明者の検討によれば、下記配合の有
機質基板部用粗化液2,3に対しても、実施例
の樹脂組成物は耐食性を有することが確認され
ている。 粗化液2 三酸化クロム酸 100g 硫酸(比重;1.84) 420ml りん酸(比重;1.7) 200ml 全量を1とする水 〜 合計 1 粗化液3 三酸化クロム酸 500g 硫酸(比重;1.84) 250ml 全量を1とする水 〜 合計 1 次に、下記配合の触媒液へ基板部25を浸漬
する。 触媒液 PdCl2 1.0g SnCl2・2H2O 50g HCl(37%溶液) 400ml 全量を1とする水 〜 合計 1 浸漬の条件は、25〜50℃×15〜5分である。
これにより、基板部35のめつき領域37へ触
媒基質が吸着されることとなる。 被膜39の表面には、触媒基質はほとんど吸
着されない。これは、被膜39を形成する樹脂
組成物内のシランカツプリング剤に起因する電
気化学的な反発力によると推定される。 そして、基板部35(被膜39を含めて)を
水洗した後、当該基板部35を下記配合の活性
化液へ浸漬する。 活性液 HCl(37%溶液) 100ml 全量を1とする水 〜 合計 1 浸漬の条件は、室温×2分である。これによ
り、めつき領域の触媒基質が活性化される。そ
の後、水洗する。 (ウ) 樹脂組成物の被膜39を除去する工程(第8
図参照) 基板部35(被膜39も含めて)を、下記配
合の剥離液へ浸漬する。 剥離液 NaOH 200g 全量を1とする水 〜 合計 1 浸漬の条件は、室温×2〜3分である。これ
により、被膜39はゲル化され、水洗により、
基板部35の非めつき領域36から剥離され
る。 被膜39が非めつき領域36から剥離されて
も、該非めつき領域36には、既述の如く、シ
ランカツプリング剤の誘導体が転写され、めつ
き制御相を形成している。 (エ) 無電解めつきにより、基板部35のめつき領
域37へ導体部33を形成する工程(第9図参
照) 下記配合のめつき液1,2,3を用いて、下
記条件で無電解めつきを行なつた。 めつき液1(Cuめつき) CuSO4・5H2O 10g EDTA−4Na 35g HCHO(37%水溶液) 10ml 2,2′−Bipy 10ml K4Fe(CN)6・3H2O 50ml 界面活性剤 小量 NaOH PH12.4に調整する量 全量を1とする水 〜 合計 1 めつき条件 70℃×50時間 めつき液2(アルカリ性Niめつき) NiCl2・6H2O 30g NaH2PO2・H2O 10g Na3C6H5O7・2H2O 75g NH4Cl 50g NH4OH PH8.5〜9.5に調整する量 全量を1とする水 〜 合計 1 めつき条件 90℃×10時間 めつき液3(酸性Niめつき) NiCl2・6H2O 30g NaH2PO2・H2O 10g Na3C6H5O7・2H2O 25g NH4Cl PH5.0〜6.0に調整する量 全量を1とする水 〜 合計 1 めつき条件 90℃×10時間 これにより、第9図の如く、めつき領域37
へ導体部33が形成される。 非めつき領域36は、シランカツプリング剤
の誘導体で被覆されている。従つて、非めつき
領域36はハンダ反発相(=めつき制御相3
4)を備えることになる。 本発明者の検討によれば、導体部33形成後の
基板部35を溶融ハンダ槽に10秒浸漬したとき、
非めつき領域36にはハンダが全く付着しなかつ
た。これにより、非めつき領域36のハンダ反発
相のハンダを隔絶する効果が確認できた。 一方、シランカツプリング剤で被覆しないプリ
ント基板について、上記と同様な実験を行なつた
ところ、非めつき領域36の随所へハンダが付着
してしまつた。 このようにして形成された実施例のプリント基
板31の導体部33の断面形状は、めつき領域3
7から真直に立ち上つた。一定幅の帯状めつき領
域へめつき液2を用いて形成された導体部の横断
面の寸法を、第2表に示した。導体部の各寸法
は、導体部の横断面の顕微鏡写真を撮り、これを
ノギスで測定して得られたものである。尚、使用
した樹脂組成物とは、非めつき領域を被覆するも
のであり、第1表の実施例1,3,5を用いた。 このように、導体部の断面形状がめつき領域か
ら真直に立ち上つたものとなるのは、めつき制御
相の作用によると考えられる。 基板部における非めつき領域がシランカツプリ
ング剤の誘導体で被覆されていない状態で、無電
解めつきをすると、めつき開始から5〜10分でめ
つきの幅が増大し、30〜60分で基板部の全面のい
わゆる「ベためつき」へと発展した。
【表】
【表】
【表】
第1図はこの発明のプリント基板21の断面
図、第2図は樹脂組成物を基板部25へスクリー
ン印刷して皮膜29を形成した状態を示す断面
図、第3図はシランカツプリング剤が配合されな
いときの、樹脂組成物中の無機質充填剤を示す模
式図、第4図はシランカツプリング剤が配合され
ているときの、樹脂組成物中の無機質充填剤を示
す模式図、第5図は実施例の基板部35を示す断
面図、第6図は第5図のものへ樹脂組成物をスク
リーン印刷した状態を示す断面図、第7図は第6
図のもののめつき領域37へ触媒を付与した状態
を示す断面図、第8図は第7図のものの皮膜39
を除去した状態を示す断面図、第9図は実施例の
プリント基板を示す断面図であり、第10,11
図は従来例のプリント基板1,11の断面図であ
る。 1,11,21,31……プリント基板、3,
13,25,35……基板部、5,17,23,
33……導体部。
図、第2図は樹脂組成物を基板部25へスクリー
ン印刷して皮膜29を形成した状態を示す断面
図、第3図はシランカツプリング剤が配合されな
いときの、樹脂組成物中の無機質充填剤を示す模
式図、第4図はシランカツプリング剤が配合され
ているときの、樹脂組成物中の無機質充填剤を示
す模式図、第5図は実施例の基板部35を示す断
面図、第6図は第5図のものへ樹脂組成物をスク
リーン印刷した状態を示す断面図、第7図は第6
図のもののめつき領域37へ触媒を付与した状態
を示す断面図、第8図は第7図のものの皮膜39
を除去した状態を示す断面図、第9図は実施例の
プリント基板を示す断面図であり、第10,11
図は従来例のプリント基板1,11の断面図であ
る。 1,11,21,31……プリント基板、3,
13,25,35……基板部、5,17,23,
33……導体部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 基板部と無電解めつきにより形成された導体
部とを備えて成り、前記基板部の前記導体部突設
面において、非めつき領域がシランカツプリング
剤の誘導体で被覆されているプリント基板を製造
するに際し、前記非めつき領域へ前記シランカツ
プリング剤を付与するための樹脂組成物であつ
て、 ロジン;3〜50重量%、 シランカツプリング剤;0.1〜15重量%、 必要に応じて添加される硫黄化合物;0.005〜
0.5重量%、 酸性めつき用メツキレジスト剤;残部 を有効成分とすることを特徴とする樹脂組成物。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61-294373 | 1986-12-10 | ||
| JP29437386 | 1986-12-10 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63283096A JPS63283096A (ja) | 1988-11-18 |
| JPH0413877B2 true JPH0413877B2 (ja) | 1992-03-11 |
Family
ID=17806875
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31293487A Granted JPS63283096A (ja) | 1986-12-10 | 1987-12-09 | 樹脂組成物 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63283096A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19930782A1 (de) * | 1999-07-03 | 2001-01-04 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren zum selektiven Beschichten keramischer Oberflächenbereiche |
| US7631798B1 (en) * | 2008-10-02 | 2009-12-15 | Ernest Long | Method for enhancing the solderability of a surface |
-
1987
- 1987-12-09 JP JP31293487A patent/JPS63283096A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63283096A (ja) | 1988-11-18 |
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