JPH0414067B2 - - Google Patents
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- JPH0414067B2 JPH0414067B2 JP57185063A JP18506382A JPH0414067B2 JP H0414067 B2 JPH0414067 B2 JP H0414067B2 JP 57185063 A JP57185063 A JP 57185063A JP 18506382 A JP18506382 A JP 18506382A JP H0414067 B2 JPH0414067 B2 JP H0414067B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pattern
- sample
- pixel
- tolerance value
- defect
- Prior art date
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
- G06T7/001—Industrial image inspection using an image reference approach
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
- G01N21/95607—Inspecting patterns on the surface of objects using a comparative method
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
- G07D7/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of valuable papers or for segregating those which are unacceptable, e.g. banknotes that are alien to a currency
- G07D7/06—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of valuable papers or for segregating those which are unacceptable, e.g. banknotes that are alien to a currency using wave or particle radiation
- G07D7/12—Visible light, infrared or ultraviolet radiation
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30108—Industrial image inspection
- G06T2207/30144—Printing quality
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Pathology (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Inking, Control Or Cleaning Of Printing Machines (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Inspection Of Paper Currency And Valuable Securities (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は印刷物の絵柄を検査する方法および装
置に関する。
置に関する。
従来の印刷物絵柄検査装置は、第１図に示すよ
うに印刷物１をラインセンサカメラ２により幅方
向に走査しつつ反射装置に基く画像濃度情報を取
出し、一方搬送系のシリンダ３に取付けたロータ
リーエンコーダ４の出力によつてカメラ２の走査
を同期化することにより試料絵柄５（第２図）を
マトリクス状の多数の小画素に分割する。これら
各画素は、同様に分割してメモリに記録した標本
絵柄６（第２図）の対応する小画素と順次濃度比
較されて欠陥有無が検出される。
うに印刷物１をラインセンサカメラ２により幅方
向に走査しつつ反射装置に基く画像濃度情報を取
出し、一方搬送系のシリンダ３に取付けたロータ
リーエンコーダ４の出力によつてカメラ２の走査
を同期化することにより試料絵柄５（第２図）を
マトリクス状の多数の小画素に分割する。これら
各画素は、同様に分割してメモリに記録した標本
絵柄６（第２図）の対応する小画素と順次濃度比
較されて欠陥有無が検出される。
ここにおいて、印刷物の絵柄検査をする上では
正紙を損紙と誤判定しないためにある程度の許容
値を設定する必要がある。これは正紙であつても
濃度等のある程度のばらつきがあること、印刷位
置が厳密な意味で常に同一位置でないこと、ノイ
ズの存在は避け得ないこと等により必要となるも
ので、標本画素と試料画素との反射光量階調差に
対して適当な許容値を与えることになる。
正紙を損紙と誤判定しないためにある程度の許容
値を設定する必要がある。これは正紙であつても
濃度等のある程度のばらつきがあること、印刷位
置が厳密な意味で常に同一位置でないこと、ノイ
ズの存在は避け得ないこと等により必要となるも
ので、標本画素と試料画素との反射光量階調差に
対して適当な許容値を与えることになる。
この許容値は絵柄に応じ各画素において異な
り、その一例として次のようなものがある。すな
わち絵柄のエツジ近傍にある画素は印刷物搬送系
の位置ずれによつて上記階調差が大きくなるた
め、大きめの許容値を与える（特願昭56−179599
号）というものである。また、絵柄の平坦な部分
においては位置ずれによる階調差が小さいため、
このような部分の画素に対しては正紙におけるば
らつきとかノイズによつて正紙を損紙と誤判定し
ない程度の許容値を与えればよい。そこで、この
ように定められた許容値を越えた欠陥画素の総個
数に対して欠陥許容個数を設定し、欠陥画素数が
許容個数を越えたか否かによつて損紙、正紙判定
を行つている。つまり、この方法は欠陥許容個数
と各画素毎に与えられた階調差許容値との組合わ
せによつて絵柄検査するものである。
り、その一例として次のようなものがある。すな
わち絵柄のエツジ近傍にある画素は印刷物搬送系
の位置ずれによつて上記階調差が大きくなるた
め、大きめの許容値を与える（特願昭56−179599
号）というものである。また、絵柄の平坦な部分
においては位置ずれによる階調差が小さいため、
このような部分の画素に対しては正紙におけるば
らつきとかノイズによつて正紙を損紙と誤判定し
ない程度の許容値を与えればよい。そこで、この
ように定められた許容値を越えた欠陥画素の総個
数に対して欠陥許容個数を設定し、欠陥画素数が
許容個数を越えたか否かによつて損紙、正紙判定
を行つている。つまり、この方法は欠陥許容個数
と各画素毎に与えられた階調差許容値との組合わ
せによつて絵柄検査するものである。
この欠陥許容個数と各画素毎に与えられる階調
差判定レベル許容値（％）との関係は第３図に示
す特性によつて表わすことができ、この特性は次
のようなことを示している。すなわち多様な欠陥
の中で例えばインキはねによるスポツト的かつ高
コントラストの汚れを検出するには、判定レベル
許容値を大とし且つ欠陥許容個数を小としなけれ
ばならない。また色合わせ不良により生じる絵柄
全面に亘る微妙な色調不良を検出するには階調差
許容値を小さく設定し欠陥許容数を大きく設定し
なければならない。第３図の特性曲線上方の斜線
部が検査可能な設定範囲であり同曲線下方の非斜
線部は正紙を損紙と誤判定する設定範囲であつて
インキはねの例はこの特性曲線の右下寄り領域の
設定を要し、色合わせ不良の例は左上寄り領域の
設定を要する。
差判定レベル許容値（％）との関係は第３図に示
す特性によつて表わすことができ、この特性は次
のようなことを示している。すなわち多様な欠陥
の中で例えばインキはねによるスポツト的かつ高
コントラストの汚れを検出するには、判定レベル
許容値を大とし且つ欠陥許容個数を小としなけれ
ばならない。また色合わせ不良により生じる絵柄
全面に亘る微妙な色調不良を検出するには階調差
許容値を小さく設定し欠陥許容数を大きく設定し
なければならない。第３図の特性曲線上方の斜線
部が検査可能な設定範囲であり同曲線下方の非斜
線部は正紙を損紙と誤判定する設定範囲であつて
インキはねの例はこの特性曲線の右下寄り領域の
設定を要し、色合わせ不良の例は左上寄り領域の
設定を要する。
しかしながら、従来の印刷物絵柄検査装置では
階調差許容値と欠陥許容数との只１つの組合わせ
によつて検査していたため、検出できる絵柄欠陥
の性格が固定化されてしまい多様な絵柄欠陥に対
応することができない。この対策としては別個の
欠陥抽出装置を設ける必要があり装置の大型化、
複雑化を招くことになる。
階調差許容値と欠陥許容数との只１つの組合わせ
によつて検査していたため、検出できる絵柄欠陥
の性格が固定化されてしまい多様な絵柄欠陥に対
応することができない。この対策としては別個の
欠陥抽出装置を設ける必要があり装置の大型化、
複雑化を招くことになる。
本発明は上述の点を考慮してなされたもので、
標本画素と試料画素との階調差に対する許容値
と、この許容値を越えた欠陥画素数に対する許容
値との組合わせを複数設定し、種々の絵柄欠陥に
対応し得る印刷物の絵柄欠陥検査方法および装置
を提供するものである。
標本画素と試料画素との階調差に対する許容値
と、この許容値を越えた欠陥画素数に対する許容
値との組合わせを複数設定し、種々の絵柄欠陥に
対応し得る印刷物の絵柄欠陥検査方法および装置
を提供するものである。
以下第４図乃至第８図を参照して本発明の一実
施例を説明する。
施例を説明する。
第４図は本発明に係る印刷物絵柄検査装置の全
体構成を示したものである。この装置において
は、印刷物１上の絵柄がカメラ２によつて走査さ
れて画像情報が取出される。この際、搬送系シリ
ンダ３の回転量がロータリーエンコーダ４により
取出され同期回路７に与えられる。同期回路７
は、カメラ２、Ａ／Ｄ変換器８およびアドレス回
路９にその出力を与え、カメラ２の走査同期化、
カメラ２により取出した画像情報のＡ／Ｄ変換同
期化、ならびにメモリ１１のアドレス割当てを行
う。Ａ／Ｄ変換器８の出力側に挿入されたスイツ
チSWは、Ａ／Ｄ変換器８の出力をメモリ１１に
与えるか判定回路１０に与えるかの切換えを行う
ものであり、カメラ２が標本印刷物から画像情報
を取出しているときはスイツチSWを図示破線側
に倒して画像情報（以下標本データという）をメ
モリ１１に与え、またカメラ２が試料印刷物から
画像情報を取出しているときはスイツチSWを図
示実線側に倒して画像情報（以下試料データとい
う）を判定回路１０に与え同時にメモリ１１から
読出した標本データと比較させ、絵柄欠陥の検出
を行う。図において判定回路１０の入力２信号
中、Ｓは標本データを、Ｔは試料データをそれぞ
れ示している。
体構成を示したものである。この装置において
は、印刷物１上の絵柄がカメラ２によつて走査さ
れて画像情報が取出される。この際、搬送系シリ
ンダ３の回転量がロータリーエンコーダ４により
取出され同期回路７に与えられる。同期回路７
は、カメラ２、Ａ／Ｄ変換器８およびアドレス回
路９にその出力を与え、カメラ２の走査同期化、
カメラ２により取出した画像情報のＡ／Ｄ変換同
期化、ならびにメモリ１１のアドレス割当てを行
う。Ａ／Ｄ変換器８の出力側に挿入されたスイツ
チSWは、Ａ／Ｄ変換器８の出力をメモリ１１に
与えるか判定回路１０に与えるかの切換えを行う
ものであり、カメラ２が標本印刷物から画像情報
を取出しているときはスイツチSWを図示破線側
に倒して画像情報（以下標本データという）をメ
モリ１１に与え、またカメラ２が試料印刷物から
画像情報を取出しているときはスイツチSWを図
示実線側に倒して画像情報（以下試料データとい
う）を判定回路１０に与え同時にメモリ１１から
読出した標本データと比較させ、絵柄欠陥の検出
を行う。図において判定回路１０の入力２信号
中、Ｓは標本データを、Ｔは試料データをそれぞ
れ示している。
第５図は第４図の装置における判定回路１０の
内部構成を示したもので、この場合ｎ個の判定エ
レメントJE1，JE2…JEoとオアゲートORとによ
り構成されている。各判定エレメントJE1，JE2
…JEoには標本データＳと試料データＴとが与え
られその出力J1，J2…JoがオアゲートORに与え
られ、オアゲートORの出力TJは総合判定信号と
なる。
内部構成を示したもので、この場合ｎ個の判定エ
レメントJE1，JE2…JEoとオアゲートORとによ
り構成されている。各判定エレメントJE1，JE2
…JEoには標本データＳと試料データＴとが与え
られその出力J1，J2…JoがオアゲートORに与え
られ、オアゲートORの出力TJは総合判定信号と
なる。
各判定エレメントはそれぞれ階調差許容値と欠
陥許容個数とが設定されており、その値は各エレ
メント毎に異なる。例えばJE1は階調差許容値が
大きく欠陥許容個数が小さく設定されていてスポ
ツト的汚れを検出するようになつており、また
JEoはその逆に階調差許容値を小さく欠陥許容数
を大きく設定してあり、絵柄全面に亘る微妙な色
調差を検出するようになつている。そしてJE2〜
JEo-1はJE1とJEoの中間的な設定とされる。これ
によりJE1，JEoは絵柄欠陥の両極端の性質の欠
陥を、JE2〜JEo-1はその中間的性質の欠陥を検出
する。
陥許容個数とが設定されており、その値は各エレ
メント毎に異なる。例えばJE1は階調差許容値が
大きく欠陥許容個数が小さく設定されていてスポ
ツト的汚れを検出するようになつており、また
JEoはその逆に階調差許容値を小さく欠陥許容数
を大きく設定してあり、絵柄全面に亘る微妙な色
調差を検出するようになつている。そしてJE2〜
JEo-1はJE1とJEoの中間的な設定とされる。これ
によりJE1，JEoは絵柄欠陥の両極端の性質の欠
陥を、JE2〜JEo-1はその中間的性質の欠陥を検出
する。
これら判定エレメントJE1〜JEoのうち何れか
１つでも損紙である旨の出力を生じたときオアゲ
ートORから損紙信号が出力される。
１つでも損紙である旨の出力を生じたときオアゲ
ートORから損紙信号が出力される。
第６図は第５図の回路における判定エレメント
JEの内部構成を示したものである。この回路に
おいて標本データＳおよび試料データＴは差の絶
対値回路２２に与えられ｜Ｓ−Ｔ｜が取出されコ
ンパレータ２３のＢ入力に与えられる。一方コン
パレータのＡ入力には標本データＳに基き許容値
発生回路２１から許容値Ｅが与えられる。
JEの内部構成を示したものである。この回路に
おいて標本データＳおよび試料データＴは差の絶
対値回路２２に与えられ｜Ｓ−Ｔ｜が取出されコ
ンパレータ２３のＢ入力に与えられる。一方コン
パレータのＡ入力には標本データＳに基き許容値
発生回路２１から許容値Ｅが与えられる。
この許容値Ｅの与え方は種々ある。例えば各画
素毎に異なる許容値を固定的に与えてもよい。こ
こでは標本画素の階調に一定比率（０〜１）を乗
じた値をその標本画素に対応した試料画素に与え
るべき許容値とする。これにより許容値発生回路
１１は順次入力される標本データＳに一定比率
（０〜１）を乗じ階調差許容値Ｅを発生する。
素毎に異なる許容値を固定的に与えてもよい。こ
こでは標本画素の階調に一定比率（０〜１）を乗
じた値をその標本画素に対応した試料画素に与え
るべき許容値とする。これにより許容値発生回路
１１は順次入力される標本データＳに一定比率
（０〜１）を乗じ階調差許容値Ｅを発生する。
コンパレータ２３は差の絶対値｜Ｓ−Ｔ｜が階
調差許容値Ｅより大であるか否か（｜Ｓ−Ｔ｜＞
Ｅ）を判別し大なるときに欠陥信号をカウンタ２
４に与える。カウンタ２４は欠陥信号を計数し、
この計数値は欠陥画素数を表わす。この計数値は
コンパレータ２５によりラツチ２６からの欠陥許
容個数と比較され、欠陥画素数が欠陥許容個数を
越えたか否かが判断され、越えたときに損紙信号
Ｊが出力される。
調差許容値Ｅより大であるか否か（｜Ｓ−Ｔ｜＞
Ｅ）を判別し大なるときに欠陥信号をカウンタ２
４に与える。カウンタ２４は欠陥信号を計数し、
この計数値は欠陥画素数を表わす。この計数値は
コンパレータ２５によりラツチ２６からの欠陥許
容個数と比較され、欠陥画素数が欠陥許容個数を
越えたか否かが判断され、越えたときに損紙信号
Ｊが出力される。
第７図は第６図の回路における階調差許容値発
生回路１１の内部構成を示したもので、この回路
は入力信号のビツト数と同数のバツフアＢにより
構成されている。この場合標本データＳは８ビツ
トであるからバツフアは８個であり、そのうち２
つはアースを入力としてその出力をMSBとし、
次の６ビツトは試料データＳのMSBを含む上位
６ビツトをバツフアＢを介して取出したものとす
る。そして試料データＳのLSB2ビツトは接続し
ない。これにより８ビツトの標本データＳは
LSB方向の２ビツトシフトされ、標本データＳ
の12.5％の値の階調差許容値Ｅを得ている。同様
の方法でシフトするビツト数を変えることにより
50％、25％、6.25％、3.125％等の値が得られる。
これ以外の値を得るにはTTL等の乗算器を用い
ればよい。
生回路１１の内部構成を示したもので、この回路
は入力信号のビツト数と同数のバツフアＢにより
構成されている。この場合標本データＳは８ビツ
トであるからバツフアは８個であり、そのうち２
つはアースを入力としてその出力をMSBとし、
次の６ビツトは試料データＳのMSBを含む上位
６ビツトをバツフアＢを介して取出したものとす
る。そして試料データＳのLSB2ビツトは接続し
ない。これにより８ビツトの標本データＳは
LSB方向の２ビツトシフトされ、標本データＳ
の12.5％の値の階調差許容値Ｅを得ている。同様
の方法でシフトするビツト数を変えることにより
50％、25％、6.25％、3.125％等の値が得られる。
これ以外の値を得るにはTTL等の乗算器を用い
ればよい。
第８図は第６図の回路における差の絶対値回路
２２の内部構成を示したもので、加算器３１、エ
クスクルーシブオア回路３２、加算器３３および
インバータ３４を主たる構成要素とする。この回
路は周知のものであるから詳細説明は省略する
が、標本データＳと試料データＴとを得てその
差の絶対値｜Ｓ−Ｔ｜を出力する。
２２の内部構成を示したもので、加算器３１、エ
クスクルーシブオア回路３２、加算器３３および
インバータ３４を主たる構成要素とする。この回
路は周知のものであるから詳細説明は省略する
が、標本データＳと試料データＴとを得てその
差の絶対値｜Ｓ−Ｔ｜を出力する。
本発明は上述のように、標本画素と試料画素と
の階調差許容値とこの許容値を越えた欠陥画素数
許容値との組合わせを複数設定し、これら組合わ
せの何れかにより欠陥検出されたときは絵柄欠陥
ありと判定するようにしたため、従来のように検
出できる欠陥の性質が固定されていたものと異な
り、多種多様な欠陥を確実に検出することがで
き、この結果検査精度を大幅に向上することがで
きる。しかもその装置構成は簡単である。
の階調差許容値とこの許容値を越えた欠陥画素数
許容値との組合わせを複数設定し、これら組合わ
せの何れかにより欠陥検出されたときは絵柄欠陥
ありと判定するようにしたため、従来のように検
出できる欠陥の性質が固定されていたものと異な
り、多種多様な欠陥を確実に検出することがで
き、この結果検査精度を大幅に向上することがで
きる。しかもその装置構成は簡単である。
第１図は本発明の対象である絵柄検査装置の画
像情報検出部の構成を示す図、第２図は絵柄検査
のための試料データと標本データの記録方式の模
型的説明図、第３図は欠陥検出のための判定レベ
ル許容値と許容欠陥個数との関係を示す特性図、
第４図は本発明に係る絵柄検査装置の構成を示す
ブロツク線図、第５図は第４図の回路における判
定回路の内部構成を示す回路図、第６図は第５図
の回路における判定エレメントの内部構成を示す
回路図、第７図は第６図の回路における階調差許
容値設定回路の内部構成を示す回路図、第８図は
第６図の回路における差の絶対値回路の内部構成
を示す回路図である。 １……印刷物、２……カメラ、３……シリン
ダ、４……ロータリーエンコーダ、５，６……メ
モリ、JE……判定エレメント、OR……オアゲー
ト、Ｂ……バツフア、Ｓ……標本データ、Ｔ……
試料データ。
像情報検出部の構成を示す図、第２図は絵柄検査
のための試料データと標本データの記録方式の模
型的説明図、第３図は欠陥検出のための判定レベ
ル許容値と許容欠陥個数との関係を示す特性図、
第４図は本発明に係る絵柄検査装置の構成を示す
ブロツク線図、第５図は第４図の回路における判
定回路の内部構成を示す回路図、第６図は第５図
の回路における判定エレメントの内部構成を示す
回路図、第７図は第６図の回路における階調差許
容値設定回路の内部構成を示す回路図、第８図は
第６図の回路における差の絶対値回路の内部構成
を示す回路図である。 １……印刷物、２……カメラ、３……シリン
ダ、４……ロータリーエンコーダ、５，６……メ
モリ、JE……判定エレメント、OR……オアゲー
ト、Ｂ……バツフア、Ｓ……標本データ、Ｔ……
試料データ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 試料印刷物の絵柄を画素マトリクスに分解し
各画素毎に対応する標本印刷物の絵柄における画
素と順次濃度階調を比較し絵柄の欠陥検出を行う
方法において、 標本画素と試料画素との階調差に対する許容値
と該許容値を越えた欠陥画素数に対する許容値と
の組み合わせを複数設定し、 これらの組み合わせのいづれかに該当する欠陥
があることにより絵柄欠陥ありと判定するように
したことを特徴とする印刷物の絵柄検査方法。 ２ 印刷物の搬送動作に応じて同期信号を形成す
る装置と、 前記同期信号に基き前記印刷物の絵柄を走査し
て画像情報を取出すカメラと、 このカメラにより標本印刷物から取出した画像
情報が読み込まれるメモリーと、 標本画素と試料画素との階調差に対する許容値
と該許容値との複数の組み合わせがそれぞれ設定
された複数の判定エレメントを有し、前記、カメ
ラからの試料印刷物の画像情報につき前記判定エ
レメントのいづれかが欠陥判定したとき欠陥信号
を出力する判定回路と をそなえた印刷物の欠陥検査装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57185063A JPS5973758A (ja) | 1982-10-21 | 1982-10-21 | 印刷物の絵柄検査方法およびその装置 |
| US06/527,947 US4677680A (en) | 1982-08-31 | 1983-08-30 | Method and device for inspecting image |
| DE8383108547T DE3380997D1 (de) | 1982-08-31 | 1983-08-30 | Verfahren zur bilduntersuchung. |
| EP83108547A EP0104477B1 (en) | 1982-08-31 | 1983-08-30 | Method for inspecting image |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57185063A JPS5973758A (ja) | 1982-10-21 | 1982-10-21 | 印刷物の絵柄検査方法およびその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5973758A JPS5973758A (ja) | 1984-04-26 |
| JPH0414067B2 true JPH0414067B2 (ja) | 1992-03-11 |
Family
ID=16164153
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57185063A Granted JPS5973758A (ja) | 1982-08-31 | 1982-10-21 | 印刷物の絵柄検査方法およびその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5973758A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0248857U (ja) * | 1988-09-30 | 1990-04-04 | ||
| JP2628951B2 (ja) * | 1991-10-14 | 1997-07-09 | 日本電信電話株式会社 | 画像欠陥判別処理装置 |
| JP4450776B2 (ja) | 2005-07-22 | 2010-04-14 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 欠陥検査方法及び外観検査装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5928856B2 (ja) * | 1978-08-26 | 1984-07-16 | 株式会社北電子 | 印刷物の識別方法 |
-
1982
- 1982-10-21 JP JP57185063A patent/JPS5973758A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5973758A (ja) | 1984-04-26 |
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