JPS5973758A - 印刷物の絵柄検査方法およびその装置 - Google Patents
印刷物の絵柄検査方法およびその装置Info
- Publication number
- JPS5973758A JPS5973758A JP57185063A JP18506382A JPS5973758A JP S5973758 A JPS5973758 A JP S5973758A JP 57185063 A JP57185063 A JP 57185063A JP 18506382 A JP18506382 A JP 18506382A JP S5973758 A JPS5973758 A JP S5973758A
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- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
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- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
- G06T7/001—Industrial image inspection using an image reference approach
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
- G01N21/95607—Inspecting patterns on the surface of objects using a comparative method
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
- G07D7/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of valuable papers or for segregating those which are unacceptable, e.g. banknotes that are alien to a currency
- G07D7/06—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of valuable papers or for segregating those which are unacceptable, e.g. banknotes that are alien to a currency using wave or particle radiation
- G07D7/12—Visible light, infrared or ultraviolet radiation
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30108—Industrial image inspection
- G06T2207/30144—Printing quality
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Inspection Of Paper Currency And Valuable Securities (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は印刷物の絵柄を検査する方法および装置に関す
る。
る。
従来の印刷物絵柄検査装置は、第１図に示すよ５に印刷
物１をラインセンサカメラ２により幅方向に走査しつつ
反射装置に基く画像濃度情報を取出し、一方搬送系のシ
リンダ３に取付けたロータリーエンコーダ４の出力によ
ってカメラ２の走査を同期化することにより試料絵柄５
（第２図）をマトリクス状の多数の小画素に分割する。
物１をラインセンサカメラ２により幅方向に走査しつつ
反射装置に基く画像濃度情報を取出し、一方搬送系のシ
リンダ３に取付けたロータリーエンコーダ４の出力によ
ってカメラ２の走査を同期化することにより試料絵柄５
（第２図）をマトリクス状の多数の小画素に分割する。
これら各画素は、同様に分割してメモリに記録した標本
絵柄６（第２図）の対応する小画素と順次濃度比較され
て欠陥有無が検出される。
絵柄６（第２図）の対応する小画素と順次濃度比較され
て欠陥有無が検出される。
ここにおいて、印刷物の絵柄検査をする上では正紙を横
紙と誤判定しないためにある程度の許容値を設定する必
要がある。これは正紙であっても濃度等のある程度のば
らつきがあること、印刷位置が厳密な意味で常に同一位
置にないこと、ノイズの存在は避は得ないこと等により
必要となるもので、標本画素と試料画素との反射光量階
調差に対して適当な許容値を与えることになる。
紙と誤判定しないためにある程度の許容値を設定する必
要がある。これは正紙であっても濃度等のある程度のば
らつきがあること、印刷位置が厳密な意味で常に同一位
置にないこと、ノイズの存在は避は得ないこと等により
必要となるもので、標本画素と試料画素との反射光量階
調差に対して適当な許容値を与えることになる。
この許容値は絵柄に応じ多画素において異なり、その−
例として次のようなものがある。すなわち絵柄のエツジ
近傍にある画素は印刷物搬送系の位置ずれによって上記
階調差が太き（なるため、大ぎめの許容値を与える（特
願昭５６−１７９５９９号）というものである。また、
絵柄の平坦な部分においては位置ずれによる階調差が小
さいため、このような部分の画素に対しては正紙におけ
るばらつきとかノイズによって正紙を損紙と誤判定しな
い程度の許容値を与えればよい。そこで、このように定
められた許容値を越えた欠陥画素の総個数に対して欠陥
許容個数を設定し、欠陥画素数が許容個数を越えたか否
かによって損紙、正紙判定を行っている。つまり、この
方法は欠陥許容個数と各画素毎に与えられた階調差許容
値との組合わせによって絵柄検査するものである。
例として次のようなものがある。すなわち絵柄のエツジ
近傍にある画素は印刷物搬送系の位置ずれによって上記
階調差が太き（なるため、大ぎめの許容値を与える（特
願昭５６−１７９５９９号）というものである。また、
絵柄の平坦な部分においては位置ずれによる階調差が小
さいため、このような部分の画素に対しては正紙におけ
るばらつきとかノイズによって正紙を損紙と誤判定しな
い程度の許容値を与えればよい。そこで、このように定
められた許容値を越えた欠陥画素の総個数に対して欠陥
許容個数を設定し、欠陥画素数が許容個数を越えたか否
かによって損紙、正紙判定を行っている。つまり、この
方法は欠陥許容個数と各画素毎に与えられた階調差許容
値との組合わせによって絵柄検査するものである。
この欠陥許容個数と各画素毎に与えられる階調差判定レ
ベル許容値（％）との関係は第３図に示す特性によって
表わすことができ、この特性は次のようなことを示して
いる。すなわち多様な欠陥の中で例えばインキはねによ
るスポット的かつ高コントラストの汚れを検出するには
、判定レベル許容値を犬とし且つ欠陥許容個数を小とし
なければならない。また色合わせ不良により生じる絵柄
全面に亘る微妙な色調不良を検出するには階調差許容値
を小さく設定し欠陥許容数を大きく設定しなければなら
ない。第３図の特性曲線上方の斜線部が検査可能な設定
範囲であり同曲線下方の非斜線部は正紙を横紙と誤判定
する設定範囲であってインキはねの例はこの特性曲線の
右下寄り領域の設定を要し、色合わせ不良の例は左上寄
り領域の設定を要する。
ベル許容値（％）との関係は第３図に示す特性によって
表わすことができ、この特性は次のようなことを示して
いる。すなわち多様な欠陥の中で例えばインキはねによ
るスポット的かつ高コントラストの汚れを検出するには
、判定レベル許容値を犬とし且つ欠陥許容個数を小とし
なければならない。また色合わせ不良により生じる絵柄
全面に亘る微妙な色調不良を検出するには階調差許容値
を小さく設定し欠陥許容数を大きく設定しなければなら
ない。第３図の特性曲線上方の斜線部が検査可能な設定
範囲であり同曲線下方の非斜線部は正紙を横紙と誤判定
する設定範囲であってインキはねの例はこの特性曲線の
右下寄り領域の設定を要し、色合わせ不良の例は左上寄
り領域の設定を要する。
しかしながら、従来の印刷物絵柄検査装置では階調差許
容値と欠陥許容数との只１つの組合わせによって検査し
ていたため、検出できる絵柄欠陥の性格が固定化されて
しまい多様な絵柄欠陥に対応することができない。この
対策としては別個の欠陥抽出装置を設ける必要があり装
置の大型化、複雑化を招くことになる〇 本発明は上述の点を考慮してなされたもので、標本画素
と試料画素との階調差に対する許容値と、この許容値を
越えた欠陥画素数に対する許容値との組合わせを版数設
定し、［々の絵柄欠陥に対応し得る印刷物の絵柄欠陥検
を方法および装置を提供するものである。
容値と欠陥許容数との只１つの組合わせによって検査し
ていたため、検出できる絵柄欠陥の性格が固定化されて
しまい多様な絵柄欠陥に対応することができない。この
対策としては別個の欠陥抽出装置を設ける必要があり装
置の大型化、複雑化を招くことになる〇 本発明は上述の点を考慮してなされたもので、標本画素
と試料画素との階調差に対する許容値と、この許容値を
越えた欠陥画素数に対する許容値との組合わせを版数設
定し、［々の絵柄欠陥に対応し得る印刷物の絵柄欠陥検
を方法および装置を提供するものである。
以下第４図乃至第８図を参照して本発明の一実施例を説
明する。
明する。
第４図は本発明罠係る印刷物絵柄検査装置の全体構成を
示したものである。この装置においては。
示したものである。この装置においては。
印刷物１上の絵柄がカメラ２によって走置されて画像情
報が取出される。この際、搬送系シリンダ３の回転量が
ロータリーエンコーダ４により取出され同期回路７に与
えられる。同期回路７は、カメラ２．Ａ／Ｄ変換器８お
よびアドレス回路９にその出力を与え、カメラ２０走五
同期化、カメラ２により取出した画像情報のに勺変換同
期化、ならびにメモリ１１のアドレス割当てを行う。Ａ
／Ｄ変換器８の出力側に挿入されたスイッチｓｗは、ｋ
勺変換器８の出力をメモリ１１に与えるか判定回路１０
に与えるかの切換えを行うものであり、カメラ２が標本
印刷物から画像情報を取出しているときはスイッチＳＷ
を図示破線側に倒して画像情報（以下標本データという
）をメモリ１１に与え、またカメラ２が試料印刷物から
画像情報を取出しているときはスイッチＳＷを図示実線
側に倒して画像情報（以下試料データという）を判定回
路１０に与え同時にメモリ１１から読出した標本データ
と比較させ、絵柄欠陥の検出を行う。図において判定（
ロ）路１０の入力２信号中、Ｓは標本データを、Ｔは試
料データをそれぞれ示している。
報が取出される。この際、搬送系シリンダ３の回転量が
ロータリーエンコーダ４により取出され同期回路７に与
えられる。同期回路７は、カメラ２．Ａ／Ｄ変換器８お
よびアドレス回路９にその出力を与え、カメラ２０走五
同期化、カメラ２により取出した画像情報のに勺変換同
期化、ならびにメモリ１１のアドレス割当てを行う。Ａ
／Ｄ変換器８の出力側に挿入されたスイッチｓｗは、ｋ
勺変換器８の出力をメモリ１１に与えるか判定回路１０
に与えるかの切換えを行うものであり、カメラ２が標本
印刷物から画像情報を取出しているときはスイッチＳＷ
を図示破線側に倒して画像情報（以下標本データという
）をメモリ１１に与え、またカメラ２が試料印刷物から
画像情報を取出しているときはスイッチＳＷを図示実線
側に倒して画像情報（以下試料データという）を判定回
路１０に与え同時にメモリ１１から読出した標本データ
と比較させ、絵柄欠陥の検出を行う。図において判定（
ロ）路１０の入力２信号中、Ｓは標本データを、Ｔは試
料データをそれぞれ示している。
第５図は第４図の装置における判定回路１０の内部構成
を示したもので、この場合ｎ個の判定エレメントＪＥ１
． ＪＥ２・・・ＪＥＸｌとオアゲートＯＲとによりｔ
Ｓ成されでいる。各判定ニレメン） ＪＥｌ、 ＪＥ２
・・・ＪＥｎには標本データＳと試料データＴとが与え
られその出力Ｊ□、Ｊ２・・・Ｊｌｌがオアゲー）ＯＲ
に与えられ、オアゲー）ＯＲの出力ＴＪは総合判定信号
となる。
を示したもので、この場合ｎ個の判定エレメントＪＥ１
． ＪＥ２・・・ＪＥＸｌとオアゲートＯＲとによりｔ
Ｓ成されでいる。各判定ニレメン） ＪＥｌ、 ＪＥ２
・・・ＪＥｎには標本データＳと試料データＴとが与え
られその出力Ｊ□、Ｊ２・・・Ｊｌｌがオアゲー）ＯＲ
に与えられ、オアゲー）ＯＲの出力ＴＪは総合判定信号
となる。
各判定エレメントはそれぞれ階調差許容値と欠陥許容個
数とが設定されており、その値は各エレメント毎に異な
る。例えばＪＥ工は階調差許容値が大きく欠陥許容個数
が小さく設定されていてスポット的汚れを検出するよう
になっており、またＪＥｎはその逆に階調差許容値を小
さく欠陥許容数を太き（設定してあり、絵柄全面に亘る
微妙な色調差を検出するようになっている。そしてＪＥ
２〜ＪＥｎ−□はＪＥ、とＪＥｎの中間的な設定とされ
る。
数とが設定されており、その値は各エレメント毎に異な
る。例えばＪＥ工は階調差許容値が大きく欠陥許容個数
が小さく設定されていてスポット的汚れを検出するよう
になっており、またＪＥｎはその逆に階調差許容値を小
さく欠陥許容数を太き（設定してあり、絵柄全面に亘る
微妙な色調差を検出するようになっている。そしてＪＥ
２〜ＪＥｎ−□はＪＥ、とＪＥｎの中間的な設定とされ
る。
これによりＪＥｌ ｓ ”’ｎは絵柄欠陥の両極端の性
質の欠陥を、ＪＥ２〜ＪＥ、 、はその中間的性質の欠
陥を検出する。
質の欠陥を、ＪＥ２〜ＪＥ、 、はその中間的性質の欠
陥を検出する。
これら判定エレメントＪＥ□〜ＪＥ１．のうも何れか１
つでも損紙である旨の出力を生じたときオアゲ＝）ＯＲ
から損紙信号が出力される。
つでも損紙である旨の出力を生じたときオアゲ＝）ＯＲ
から損紙信号が出力される。
第６図は第５図の回路における判定エレメントＪＥの内
部構成を示したものである。この回路において標本デー
タＳおよび試料データＴは差の絶対値回路２２に与えら
れてｌ５−Ｔｌが取出されコンパレータおのＢ入力に与
えられる。一方コンＡレークのＡ入力には標本データＳ
に基ぎ許容値発生回路２１から許容値Ｅが与えられる。
部構成を示したものである。この回路において標本デー
タＳおよび試料データＴは差の絶対値回路２２に与えら
れてｌ５−Ｔｌが取出されコンパレータおのＢ入力に与
えられる。一方コンＡレークのＡ入力には標本データＳ
に基ぎ許容値発生回路２１から許容値Ｅが与えられる。
この許容値Ｅの与え方は種々ある。例えば各画素毎に異
なる許容値を固定的に与えてもよい。ここでは標本画素
の階調に一定比率（０〜１）を乗じた値をその標本画素
に対応した試料画素に与えるべき許容値とする。これに
より許容値発生回路１１は順次入力される標本データＳ
に一定比率（０〜１）を乗じ階調差許容値Ｅを発生する
。
なる許容値を固定的に与えてもよい。ここでは標本画素
の階調に一定比率（０〜１）を乗じた値をその標本画素
に対応した試料画素に与えるべき許容値とする。これに
より許容値発生回路１１は順次入力される標本データＳ
に一定比率（０〜１）を乗じ階調差許容値Ｅを発生する
。
コン・ぞレータおは差の絶対値＋１９−ＴＩが階調差許
容値Ｅより大であるか否か（Ｉｓ−Ｔｌ＞Ｅ）を判別し
大なるとき沈欠陥侶号をカウンタ囚に与える。
容値Ｅより大であるか否か（Ｉｓ−Ｔｌ＞Ｅ）を判別し
大なるとき沈欠陥侶号をカウンタ囚に与える。
カウンタ冴は欠陥信号を計数し、この計数値は欠陥画素
数を表わす。この計数値はコン）Ｉ？レータ５によりラ
ッチ加からの欠陥許容個数と比較され、欠陥画素数が欠
陥許容個数を越えたか否かが判断され、越えたときに損
紙信号Ｊが出力される。
数を表わす。この計数値はコン）Ｉ？レータ５によりラ
ッチ加からの欠陥許容個数と比較され、欠陥画素数が欠
陥許容個数を越えたか否かが判断され、越えたときに損
紙信号Ｊが出力される。
第７図は第６図の回路における階調差許容値発生回路１
１の内部構成を示したもので、この回路は入力信号のビ
ット数と同数のバッファＢにより構成されている。この
場合標本データＳは８ピツトであるからバッファは８個
であり、そのうち２つは了−スを入力としてその出力を
ＭＳＢとし、次の６ピツトは試料データＳのＭＳＢを含
む上位６ビツトをバッファＢを介して取出したものとす
る。
１の内部構成を示したもので、この回路は入力信号のビ
ット数と同数のバッファＢにより構成されている。この
場合標本データＳは８ピツトであるからバッファは８個
であり、そのうち２つは了−スを入力としてその出力を
ＭＳＢとし、次の６ピツトは試料データＳのＭＳＢを含
む上位６ビツトをバッファＢを介して取出したものとす
る。
そして試料データＳのＬＳＢ ２ｔツトは接続しない。
これにより８ピツトの標本データＳはＬＳＢ方而に面ビ
ツトシフトされ、標本データＳの１２．５％の値の階調
差許容値Ｅを得ている。同格の方法でシフトするビット
数を変えることにより艶％、２５％、６．２５％、３．
１２５％等の値が得られる。これ以外の値を得るにはＴ
ＴＬ等の乗算器を用いればよい。
ツトシフトされ、標本データＳの１２．５％の値の階調
差許容値Ｅを得ている。同格の方法でシフトするビット
数を変えることにより艶％、２５％、６．２５％、３．
１２５％等の値が得られる。これ以外の値を得るにはＴ
ＴＬ等の乗算器を用いればよい。
第８図は第６図の回路における差の絶対値回路２２の内
部構成を示したもので、加算器３１．エクスクル−シブ
オフ回路３２．加算器３３およびインノ々−タ３４を主
たる構成要素とする。このｌＩＪ回路は周知のものであ
るから詳細説明は省略するが、標本データＳと試料デー
タ〒とを得てその差の絶対値ｌ５−Ｔｌを出力する。
部構成を示したもので、加算器３１．エクスクル−シブ
オフ回路３２．加算器３３およびインノ々−タ３４を主
たる構成要素とする。このｌＩＪ回路は周知のものであ
るから詳細説明は省略するが、標本データＳと試料デー
タ〒とを得てその差の絶対値ｌ５−Ｔｌを出力する。
本発明は上述のように、標本画素と試料画素との階調差
許容値とこの許容値を越えた欠陥ｎ＋Ｊ＋素数許容値と
の組合わせを複数設定し、これら組合わせの何れかによ
り欠陥検出されたときは絵柄欠陥ありと判定するように
したため、従来のように検出できる欠陥の性質が固定さ
れていたものと異なり、多種多様な欠陥を確実に検出す
ることができ。
許容値とこの許容値を越えた欠陥ｎ＋Ｊ＋素数許容値と
の組合わせを複数設定し、これら組合わせの何れかによ
り欠陥検出されたときは絵柄欠陥ありと判定するように
したため、従来のように検出できる欠陥の性質が固定さ
れていたものと異なり、多種多様な欠陥を確実に検出す
ることができ。
この結果検査精度を大幅に向上することができる。
しかもその装置構成は簡ヤである。
槁１図は本発明の対象である絵柄検査装置の画像情報検
出部のｉｆ／７成を示す図、第２図は絵柄検査のための
試料データと標本データの配録方式の模型的説明図、第
３図は欠陥検出のための判定レベル許容値と８′１・賓
欠陥個数との関係を示す特性図、第４図は本発明に係る
絵柄検査装置轟の構成を示すブロック線図、第５図は第
４図の回路における判定回路の内部構成を示す回路図、
第６図は第５図の回路における判定エレメントの内部構
成を示す回路図、第７図は第６図の回路におけｂ階調差
Ｗ「８値設定回路の内部構成を示す回路図、第８図は第
６図の１１！ｌ路における差の絶対値回路の内部構成を
示す回路図である。 ■・・・印刷「吻、２・・・カメラ、３・・・シリンダ
。 ４・・・ロータリーエンコーダ、５．６・・・メモリ。 ＪＥ・・・判定ニレメン）、ＯＲ・・・オアゲート。 Ｂ・・す々ツフ了、Ｓ・・・標本データ、Ｔ・・・試料
データ。 出願人代理人 猪 股 清第３因
出部のｉｆ／７成を示す図、第２図は絵柄検査のための
試料データと標本データの配録方式の模型的説明図、第
３図は欠陥検出のための判定レベル許容値と８′１・賓
欠陥個数との関係を示す特性図、第４図は本発明に係る
絵柄検査装置轟の構成を示すブロック線図、第５図は第
４図の回路における判定回路の内部構成を示す回路図、
第６図は第５図の回路における判定エレメントの内部構
成を示す回路図、第７図は第６図の回路におけｂ階調差
Ｗ「８値設定回路の内部構成を示す回路図、第８図は第
６図の１１！ｌ路における差の絶対値回路の内部構成を
示す回路図である。 ■・・・印刷「吻、２・・・カメラ、３・・・シリンダ
。 ４・・・ロータリーエンコーダ、５．６・・・メモリ。 ＪＥ・・・判定ニレメン）、ＯＲ・・・オアゲート。 Ｂ・・す々ツフ了、Ｓ・・・標本データ、Ｔ・・・試料
データ。 出願人代理人 猪 股 清第３因
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、試料印刷物の絵柄を画素マトリクスに分解し各画累
毎に対応する標本印刷物の絵柄における画素と順次濃度
階調を比較し絵柄の欠階検出を行う方法において、標本
画素と試料画素との階調差に対する許容値と、この許容
値を越えた欠陥画素数に対する許容値との組合わせを複
数設定し、これらの組合わせの何れかに該肖する欠陥が
あることにより絵柄欠陥ありと判定するよ５にしたこと
を特徴とする印刷物の絵柄検査方法０ ２、印刷物の搬送動作に応じて同期信号を形成する装置
と、前記同期信号に基き前記印刷物の絵柄を走査して画
像情報を取出すカメラと、このカメラにより標本印刷物
から取出した画像情報が書込まれるメモリと、標本画素
と試料画素との階調差に対する許容値とこの許容値を越
えた欠陥画素数に対する許容値との複数の組合わせがそ
れぞれ設定された複数の判定エレメントを有し、前記カ
メラからの試料印刷物の画像情報につき前記判定エレメ
ントの何れかが欠陥判定したとき欠陥信号を出力する判
定回路とをそなえた印刷物の絵柄検査方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57185063A JPS5973758A (ja) | 1982-10-21 | 1982-10-21 | 印刷物の絵柄検査方法およびその装置 |
| DE8383108547T DE3380997D1 (de) | 1982-08-31 | 1983-08-30 | Verfahren zur bilduntersuchung. |
| US06/527,947 US4677680A (en) | 1982-08-31 | 1983-08-30 | Method and device for inspecting image |
| EP83108547A EP0104477B1 (en) | 1982-08-31 | 1983-08-30 | Method for inspecting image |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57185063A JPS5973758A (ja) | 1982-10-21 | 1982-10-21 | 印刷物の絵柄検査方法およびその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5973758A true JPS5973758A (ja) | 1984-04-26 |
| JPH0414067B2 JPH0414067B2 (ja) | 1992-03-11 |
Family
ID=16164153
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57185063A Granted JPS5973758A (ja) | 1982-08-31 | 1982-10-21 | 印刷物の絵柄検査方法およびその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5973758A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0248857U (ja) * | 1988-09-30 | 1990-04-04 | ||
| JPH05108800A (ja) * | 1991-10-14 | 1993-04-30 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 画像欠陥判別処理装置 |
| US8126259B2 (en) | 2005-07-22 | 2012-02-28 | Hitachi High-Technologies Corporation | Method and apparatus for visual inspection |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5530668A (en) * | 1978-08-26 | 1980-03-04 | Kita Denshi:Kk | Recognizing apparatus of printed matter |
-
1982
- 1982-10-21 JP JP57185063A patent/JPS5973758A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| US8472697B2 (en) | 2005-07-22 | 2013-06-25 | Hitachi High-Technologies Corporation | Method and apparatus for visual inspection |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0414067B2 (ja) | 1992-03-11 |
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