JPH04144158A - 半導体冷却装置 - Google Patents

半導体冷却装置

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Publication number
JPH04144158A
JPH04144158A JP2266225A JP26622590A JPH04144158A JP H04144158 A JPH04144158 A JP H04144158A JP 2266225 A JP2266225 A JP 2266225A JP 26622590 A JP26622590 A JP 26622590A JP H04144158 A JPH04144158 A JP H04144158A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cooling
fins
nozzle
cooling fluid
bellows
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2266225A
Other languages
English (en)
Inventor
Noriyuki Ashiwake
芦分 範行
Takahiro Oguro
崇弘 大黒
Toshio Hatsuda
初田 俊雄
Shizuo Zushi
頭士 鎮夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP2266225A priority Critical patent/JPH04144158A/ja
Priority to US07/771,777 priority patent/US5365400A/en
Publication of JPH04144158A publication Critical patent/JPH04144158A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/851Dispositions of multiple connectors or interconnections
    • H10W72/874On different surfaces
    • H10W72/877Bump connectors and die-attach connectors
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W90/00Package configurations
    • H10W90/701Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
    • H10W90/721Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bump connectors
    • H10W90/724Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bump connectors between a chip and a stacked insulating package substrate, interposer or RDL

Landscapes

  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は機器の冷却の係り、特に、高発熱密度の半導体
チップ、又は、パッケージの冷却に好適である半導体冷
却装置に関する。
〔従来の技術〕
集積回路チップ上に冷却構造体を装着し、これに冷却流
体を流入流出させるために楕円断面をもつベローズ状の
管を二本取り付けた構造がUSP4686606号に記
載されている。また、伝熱面に同心円状の複数の環状突
出部を設け、伝熱面の中心にノズルにより冷媒を吹き付
ける形式のヒートシンクをベローズ状の可撓性構造体の
内部に設け、これにより個々の集積回路素子を冷却する
構造が特開昭62−119947号公報に記載されてい
る。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記従来技術には次のような問題があった。
USP4686606号で開示されている技術では、冷
却構造体内部に設けられたフィンが平行平板形のもので
あるため、流体の流れを均一化するために楕円断面をも
つ扁平ベローズを用いている。この構造は冷却能力には
優れるが次のような強度信頼性上の問題がある。楕円ベ
ローズには、短軸方向には変形しやすいが長軸方向には
容易には変形しないという性質がある。この性質により
長軸方向の熱変形が吸収しにくくなり、集積回路チップ
に過大な応力が加わる可能性がある。
他方、特開昭62−119947号公報において開示さ
九でいる技術では、円形断面ベローズを用いており、変
形が全方向に容易であるため、前述の楕円ベローズを用
いて従来技術のような強度信頼性上の問題は無い。しか
し、ベローズ底部に設けられた伝熱面の伝熱機構は、基
本的に衝突噴流による熱伝達を用いており、熱伝達を促
進するために同心円状の環状突出部による擾乱効果を用
いている。
しかし、環状突出部による伝熱促進効果は、突出部の高
さがあまり高くない(高さと幅の比がほぼ一程度)の場
合に得られ、あまり高くすると流体の流れが阻害され逆
効果になる。従って、伝熱面積拡大の点で制限があり冷
却性能に限界がある。
本発明の目的は、集積回路チップに過大な応力を加える
ことなく、かつ、冷却性能の高い半導体冷却装置を提供
することにある。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的は、基板上の個々の集積回路素子に、内部に平
行平板状のフィンをもつ冷却構造体を取り付けるととも
に、かかる冷却構造体に冷媒を排出するための円形断面
ベローズ状の可撓性構造体を設け、さらに、かかる可撓
性構造体の内部に、フィンに直交する方向に長軸をもつ
長方形断面ノズルを設け、このノズルによりスリット状
の冷媒噴流をフィンに吹きつけることにより達成される
さらに冷却性能を上げるには、フィンの高さ方向の端部
をおおり、かつ、スリット状の冷媒噴流の流入する部分
と冷媒が流出する部分のみを切り欠いた天板を設けるの
が効果的である。
また、冷却構造体を半導体素子、又は、パッケージに接
合する際に生じる熱応力を緩和するためには、フィンの
材料をSl又はSiC又はAQNにするのが効果的であ
る。
〔作用〕
個々の集積回路素子に取り付けられた冷却構造体は、冷
却流体を循環させるための容器として作用すると同時に
、集積回路素子から発生した熱を冷却流体に伝達する放
熱フィンとして作用する。
冷却構造体に設けられたベローズ状の可撓性構造体は、
冷却流体を冷却構造体から排出するための流路として作
用するとともに、冷却装置の組み立て公差や熱変形を吸
収する作用をする。また、ベローズ状の可撓性構造体内
部に設けられた長方形断面ダクトは、冷却構造体の内部
に設けられたフィンに冷却流体をフリット状の噴流とし
て供給するためのノズルとして作用すると同時に、ベロ
ーズ状の可撓性構造体の位置ずれ防止用の部材として作
用する。また、冷却構造体の内部に設けられた平行平板
状のフィンは、上記長方形断面ダクトよりスリット状の
噴流として供給された冷却流体の流路として作用すると
同時に、集積回路素子からの熱を冷却流体に伝達するた
めの放熱板として作用する。
フィンの高さ方向の端面に設けられた天板は、冷却流体
がフィンの上方に逃げるのを防ぎ冷却効率を上げるよう
に作用する。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を第1図及び第2図により説明
する。多数の入出力ピン1をもつセラミクスの多層配線
基板2上に微小な半田バンプ3によりLSIチップ4が
多数搭載されている。個々のLSIチップには冷却構造
体5が接触、又は、接合される。多層配線基板のチップ
搭載面はハウジング6により密閉される。ハウジングは
三重構造になっており、冷却流体を供給するための空間
7と冷却流体を排出するための空間8、及び、チップ搭
載面を密閉するための空間9からなる。冷却流体を供給
するための空間7には、個々のLSIチップに対応する
位置に、冷却流体を個々の冷却構造体5に供給するため
のノズル1oが設けられる。冷却流体を排出するための
空間8には、個々のLSIチップに対応する位置に、冷
却流体を個個の冷却構造体5から排出するためのベロー
ズ状の柔軟性の流路11が設けられ、このベローズ状流
路11により、個々の冷却構造体5とハウジング6の冷
却流体を排出するための空間8とが接続される。冷却構
造体5は直方体の容器でありその内部には、第2図に示
すような平行平板状のフィン12が設けられており、こ
のフィンと直交する方向に長方形断面のノズル10が設
けられている。
ベローズ状流路11は円形断面をしており、ノズル1o
の長辺はベローズ11の内径にほぼ等しい。
長方形断面ノズル10は平行平板フィン12の長手方向
の中央の位置に設けられる。
次に本実施例の作用を説明する。ハウジング6に供給さ
れた冷却流体13は、空間7を介して各各のノズル10
に分配され、このノズルによりLSIチップ4上に装着
された冷却構造体5にそれぞれ個別に供給される。ノズ
ル10は長方形断面をしているため、このノズルから噴
出される冷却流体は、スリット状の二次元噴流となって
、冷却構造体の内部に設けられている平行平板フィン1
2の長手方向の中央位置に供給される。平行平板フィン
12に供給された冷却流体は、フィン長手方向に二方向
に分かれて平板フィン12によって形成される流路14
内を流れ、LSIチップ4から発生した熱を吸熱する。
平行平板フィン間の流路14から流出した冷却流体は、
ベローズISの内部を通ってハウジングの空間8内を流
れ、ハウジングに設けられた出口部15から排出される
本実施例では、長方形断面ノズル10によって、複数の
フィン12のほぼ全数にわたって冷却流体を吹きつける
ので冷却流体が各フィン間の流体14に均一に分配され
、かつ、フィンの中心部から左右二方向に振り分けられ
るので、フィン間の流路長さがフィン長の半分となり、
かつ、流路が半分ずつ振り分けられるので、フィンの一
方の端から他端に向かって一方向に冷却流体を流す場合
に比べて流体圧力損失を四分の−にできるから流量を増
加させて冷却能力を向上させることが容易となる。また
平行平板フィンを用いているため、フィン枚数を増加さ
せ、冷却能力を向上させることも容易である。さらに本
実施例では、流体は冷却構造体5の内部を流れ、LSI
チップ4に直接接触することは無いから、水等の冷却能
力に優れた流体を用いることができる。また、本実施例
では、冷却構造体5とハウジング6を円形断面の柔軟な
ベローズ]−1により接続しているから、装置の組み立
て公差や熱変形を容易に吸収でき、LSIチップ4や半
田バンブ3に過大な応力が加わることが無い。さらに、
直方形断面ノズル10の長辺がベローズ11の内径とほ
ぼ等しい長さをしているために、ベローズ11の振動を
防止することができ、冷却構造体5の位置がLSIチッ
プ4がらず九ることが無い。
冷却構造体5をLSIチップ4上に接合し、LSIチッ
プと一体化すればさらに冷却能力を向上させることがで
きるが、この場合は、フィン12及びベース部コロを熱
伝導率が高く、且つ。
線膨張率の小さい材料2例えば、Sユ、SiC。
又はAQ、Nで形成し、フィンのベース部15を冷却構
造体5の底板17として用いれば、LSIチップ4と冷
却構造体5の線膨張率の差によって生しる熱応力を緩和
することができる。
第3図に本発明の他の実施例を示す。フィン12の上部
に図に示すような天板17を設は冷却流体がフィン12
の上部から逃げるのを防止し冷却効率を改善したもので
ある。
なお、第1図ないし第3図の例では、ノズル10は直方
形断面のダクトにより形成されているが、これの代わり
に、フィンに直交する方向に一列に並べられた円管群で
ノズルを形成してもよい。
〔発明の効果〕
本発明によれば、冷却能力の高い水を冷却流体として用
いることができ、且つ、伝熱面積拡大が容易で放熱性能
の高い平行平板フィンを用いることができ、かつ長方形
断面ノズルにより各フィンに均一に冷却流体を供給する
ことができるので、極めて高い放熱性能を得ることがで
きる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の断面図、第2図は各冷却構
造体の斜視図、第3図は本発明の他の実施例の斜視図で
ある。 1・・・入出力ピン、2・・多層配線基板、3・・半田
バンプ、4・・LSIチップ、5・・・冷却構造体、6
ハウジング、7 冷却流体を供給するための空間、8・
・冷却流体を排出するための空間、9 ・チップ搭載面
を密閉するための空間、10・・長方形断面ノズル、1
1・・ベローズ、12・・フィン、13・冷却流体、1
4・フィン間流路、15・・・出口部、16・・フィン
ベース、17・底抜。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、基板上の個々の集積回路素子、又は、パッケージに
    当接あるいは熱的に接合され、内部に冷媒を循環させた
    冷却構造体と、前記冷却構造体に設けられた可撓性構造
    体と、前記可撓性構造体内に設けられたノズルから構成
    され、前記ノズルより冷媒を冷却部材に導き、前記可撓
    性構造体より排出する半導体冷却装置において、前記冷
    却構造体の内部に、表面に複数の平行平板状のフィンを
    もつた伝熱面を設け、前記ノズルがフィンに直交する方
    向におかれた矩形断面ダクト又は、フィンに直交する方
    向に一列に並べられた円管群であることを特徴とする半
    導体冷却装置。
JP2266225A 1988-09-09 1990-10-05 半導体冷却装置 Pending JPH04144158A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2266225A JPH04144158A (ja) 1990-10-05 1990-10-05 半導体冷却装置
US07/771,777 US5365400A (en) 1988-09-09 1991-10-04 Heat sinks and semiconductor cooling device using the heat sinks

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2266225A JPH04144158A (ja) 1990-10-05 1990-10-05 半導体冷却装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04144158A true JPH04144158A (ja) 1992-05-18

Family

ID=17428007

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2266225A Pending JPH04144158A (ja) 1988-09-09 1990-10-05 半導体冷却装置

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JP (1) JPH04144158A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5403783A (en) * 1992-12-28 1995-04-04 Hitachi, Ltd. Integrated circuit substrate with cooling accelerator substrate

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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