JPH0414930Y2 - - Google Patents
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- JPH0414930Y2 JPH0414930Y2 JP5763886U JP5763886U JPH0414930Y2 JP H0414930 Y2 JPH0414930 Y2 JP H0414930Y2 JP 5763886 U JP5763886 U JP 5763886U JP 5763886 U JP5763886 U JP 5763886U JP H0414930 Y2 JPH0414930 Y2 JP H0414930Y2
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Landscapes
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- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この考案は半導体のオープナー装置に関するも
のである。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] This invention relates to a semiconductor opener device.
従来、半導体(I・C)の不良解析時又は品質
チエツクを行なう際に、半導体のパツケージに溶
解液、例えば加熱した熱硫酸を当ててチツプを露
出させる手段がとられている。
2. Description of the Related Art Conventionally, when analyzing semiconductor (I/C) defects or performing quality checks, a method has been used to expose the chip by applying a dissolving solution, such as heated hot sulfuric acid, to the semiconductor package.
半導体のパツケージはオープナー装置のエツチ
プレートに載置セツトされ、噴射ノズルより噴射
された溶解液が前記パツケージに当たる構造とな
つている。 A semiconductor package is placed and set on an etch plate of an opener device, and the solution is sprayed from a spray nozzle and hits the package.
かかる装置において、半導体のパツケージを載
置セツトするエツチプレートのセツト部は半導体
のパツケージの形状と対応する形状に形成され、
正しく位置決めされると共にシールされる。これ
により、下方から、噴射された溶解液が四周に飛
散しないようになる。
In such an apparatus, the setting portion of the etch plate on which the semiconductor package is placed and set is formed in a shape corresponding to the shape of the semiconductor package,
Correctly positioned and sealed. This prevents the solution injected from below from scattering all around.
この場合、半導体のパツケージの形状が異なる
とエツチプレートのセツト部は対応が図れなくな
り、噴射時にシール洩れを起こす不具合いが発生
する。半導体のパツケージは、機能及び使用目的
に応じて各種形状のものが作られるようになつて
いる。このため、各種半導体のパツケージに対応
させるためには、例えばオープナー装置を複数用
意することが考えられるが、大きな設備投資が必
要となり、コスト面において望ましくない。 In this case, if the shape of the semiconductor package is different, the setting portion of the etch plate will not be able to match, resulting in problems such as seal leakage during injection. Semiconductor packages are now manufactured in various shapes depending on their function and purpose of use. Therefore, in order to accommodate various semiconductor packages, it is conceivable to prepare a plurality of opener devices, for example, but this requires a large investment in equipment, which is not desirable in terms of cost.
そこで、この考案は各種半導体のパツケージに
対応が図れる汎用性を備えた半導体のオープナー
装置を提供することを目的としている。 Therefore, the object of this invention is to provide a semiconductor opener device that has versatility and can be used with various semiconductor packages.
前記目的を達成するために、この考案にあつて
は、エツチブロツクに載置セツトされた半導体の
パツケージに噴射ノズルより溶解液を噴射してチ
ツプを露出させるオープナー装置において、前記
エツチブロツクにセツト部を備えたエツチブロツ
クカバーを装着し、該カバーのセツト部に、半導
体のパツケージの形状と対応可能なパツケージ位
置決め部を備えたエツチプレートを着脱自在に装
着支持してある。
In order to achieve the above object, the present invention provides an opener device that sprays a solution from a spray nozzle onto a semiconductor package set on an etching block to expose the chip, and the etching block is provided with a setting section. An etching block cover is attached, and an etching plate having a package positioning portion that can correspond to the shape of the semiconductor package is detachably attached to and supported on the setting portion of the cover.
かかるオープナー装置において、半導体のパツ
ケージをパツケージ位置決め部にセツトすること
で正しく位置決め載置される。
In such an opener device, the semiconductor package is correctly positioned and placed by setting it in the package positioning section.
次に、半導体のパツケージが異なる場合には、
該パツケージと同一形状の位置決め部を備えたエ
ツチプレートをエツチブロツクカバーのセツト部
に装着する。これより、エツチプレートの交換
で、各種半導体のパツケージに対して対応が図れ
るようになる。 Next, if the semiconductor package is different,
An etching plate having a positioning portion having the same shape as the package is attached to the setting portion of the etching block cover. This makes it possible to handle various semiconductor packages by replacing the etch plate.
以下、第1図乃至第10図の図面を参照しなが
らこの考案の一実施例を詳細に説明する。
Hereinafter, one embodiment of this invention will be described in detail with reference to the drawings of FIGS. 1 to 10.
図中1はオープナー装置3の機体を示してい
る。機体1内には半導体開口部5のほかに硫酸を
貯蔵する貯蔵タンク部7と該タンク部7より送ら
れくる硫酸を約250℃まで加熱する予熱ヒータ部
9と、前記半導体開口部5で仕事を終えた熱硫酸
を約100℃まで冷却フアンで冷却する排液冷却部
11と、その排液を一時貯留する排液タンク部1
3とが配置されている。 In the figure, 1 indicates the body of the opener device 3. In addition to the semiconductor opening 5, the fuselage 1 includes a storage tank section 7 that stores sulfuric acid, a preheater section 9 that heats the sulfuric acid sent from the tank section 7 to about 250°C, and a preheater section 9 that heats the sulfuric acid sent from the tank section 7 to about 250°C. A waste liquid cooling section 11 that cools the heated sulfuric acid that has been heated to approximately 100°C using a cooling fan, and a waste liquid tank section 1 that temporarily stores the waste liquid.
3 are arranged.
半導体開口部5は、エツチブロツク15と該ブ
ロツク15の下位に配置されたケーシング17
と、該ケーシング17内に配置されたポンプ装置
19とからなつている。 The semiconductor opening 5 is formed by an etching block 15 and a casing 17 disposed below the block 15.
and a pump device 19 disposed within the casing 17.
ケーシング17は磁力を透し、かつ耐熱耐酸性
の材質で形成され硫酸が所定量溜られる貯留槽と
なつている。ケーシング17には予熱ヒータ部9
を介して硫酸貯留槽7は続く取入口23と排液冷
却部11を介して排液貯留タンク部13へ続く取
出口25が設けられている。 The casing 17 is made of a material that is magnetically permeable and heat-resistant and acid-resistant, and serves as a storage tank in which a predetermined amount of sulfuric acid is stored. The casing 17 has a preheating heater section 9.
An intake port 23 that continues to the sulfuric acid storage tank 7 via the sulfuric acid storage tank 7 and an outlet port 25 that continues to the waste liquid storage tank section 13 via the waste liquid cooling section 11 are provided.
取入口23から送り込まれるケーシング17内
の硫酸はヒータ(図示していない)によつて約
290℃に高められる。なお、ヒータの電源部は温
度センサ(図示省略)によつて硫酸が約290℃に
なるよう管理制御される。 The sulfuric acid in the casing 17 fed through the intake port 23 is heated to approximately
Raised to 290℃. Note that the power supply section of the heater is managed and controlled by a temperature sensor (not shown) so that the temperature of the sulfuric acid is approximately 290°C.
ケーシング17の底部下位には駆動モータ27
の出力軸29に回転磁石31が装着支持されてい
る。そして、前記磁石31と対向し、かつ、ケー
シング17内には磁石33aが埋設された羽根車
33が配置されている。 A drive motor 27 is located at the bottom of the casing 17.
A rotating magnet 31 is mounted and supported on the output shaft 29 of the motor. Further, an impeller 33 is disposed facing the magnet 31 and having a magnet 33a embedded within the casing 17.
羽根車33は回転磁石31の磁力によつて回転
すると共に、耐熱耐酸性の合成樹脂の材質で形成
されている。 The impeller 33 is rotated by the magnetic force of the rotating magnet 31 and is made of a heat-resistant and acid-resistant synthetic resin material.
羽根車33の本体上方は円錐部37となつてい
て下方に中央部の凸部39より放射方向に翼板4
1が設けられている。 The upper part of the main body of the impeller 33 is a conical part 37, and the blade plate 4 is formed in a radial direction from a convex part 39 in the center part.
1 is provided.
翼板41は回転時において案内ケース35の底
部に設けられた取入口(図示していない)より取
入れられた硫酸を上方へ送り出す形状となつてい
る。案内ケース35は磁力を透す材質で羽根車3
3に沿う形状となつており、先端の噴射ノズル4
3は前記エツチブロツク15の下位に望んでい
る。 The vane plate 41 is shaped to send upward the sulfuric acid taken in from an intake port (not shown) provided at the bottom of the guide case 35 when it rotates. The guide case 35 is made of a material that allows magnetic force to pass through, and the impeller 3
3, and the injection nozzle 4 at the tip
3 is desired below the etching block 15.
噴射ノズル43の先端が望む前記エツチブロツ
ク15には貫通孔45が設けられると共に該ブロ
ツク45にはエツチブロツクカバー47が固着さ
れている。 A through hole 45 is provided in the etching block 15 from which the tip of the injection nozzle 43 is visible, and an etching block cover 47 is fixed to the block 45.
エツチブロツクカバー47の上面にはリング状
のセツト部49が形成されると共に中央部は前記
貫通孔45と対応する開口51が設けられてい
る。 A ring-shaped set portion 49 is formed on the upper surface of the etch block cover 47, and an opening 51 corresponding to the through hole 45 is provided in the center portion.
エツチブロツクカバー47のセツト部49には
別体に形成されたエツチプレート53が脱着自在
に装着されている。 A separately formed etching plate 53 is detachably attached to the setting portion 49 of the etching block cover 47.
エツチプレート53は円板状に形成され、前記
エツチブロツクカバー47の開口51と対応する
位置に半導体のパツケージと同形状のパツケージ
位置決め部55が設けられている。 The etch plate 53 is formed into a disk shape, and a package positioning portion 55 having the same shape as a semiconductor package is provided at a position corresponding to the opening 51 of the etch block cover 47.
エツチプレート53は複数用意され各エツチプ
レート53のパツケージ位置決め部55は、各種
半導体のパツケージの形状と対応する形状となつ
ている。 A plurality of etch plates 53 are prepared, and the package positioning portion 55 of each etch plate 53 has a shape corresponding to the shape of various semiconductor packages.
なお、57はヒンジ59を支点として開閉可能
なカバーを示しており。内側に半導体を押えるホ
ルダー61が設けられている。 Note that 57 indicates a cover that can be opened and closed using the hinge 59 as a fulcrum. A holder 61 for holding the semiconductor is provided inside.
このように構成されたオープナー装置におい
て、エツチプレート53のパツケージ位置決め部
55に半導体のパツケージをセツトし噴射ノズル
43より溶解液を噴射することで半導体のパツケ
ージは溶解しチツプが露出するようになる。 In the opener device constructed in this manner, a semiconductor package is set in the package positioning portion 55 of the etch plate 53 and a dissolving solution is injected from the injection nozzle 43, thereby dissolving the semiconductor package and exposing the chip.
次に、半導体のパツケージが異なる場合には、
先に使用したエツチプレート53を取外し、新た
なエツチプレート53をセツト部49に装着セツ
トすることで異なる半導体のパツケージに対して
対応が図れる。この場合、半導体のパツケージは
正しく位置決めされるためシール洩れは起きな
い。またオープナー装置はプレート53は各種用
意するだけで済むようになる。 Next, if the semiconductor package is different,
By removing the previously used etch plate 53 and installing a new etch plate 53 in the setting section 49, it is possible to adapt to different semiconductor packages. In this case, the semiconductor package is correctly positioned and no seal leakage occurs. Further, the opener device only requires preparing various types of plates 53.
以上説明したように、この考案の半導体のオー
プナー装置によれば、エツチプレートを各種用意
するだけで各種の半導体のパツケージに対応が図
れる。しかも確実にパツケージの位置決めができ
るため、シール洩れは置きない。
As explained above, the semiconductor opener device of this invention can be used for various semiconductor packages simply by preparing various types of etch plates. Moreover, since the package can be positioned reliably, seal leaks will not occur.
第1図はこの考案を実施した半導体のオープナ
ー装置の要部の一部断側面図、第2図はエツチブ
ロツクカバーの平面図、第3図は第2図の−
線断面図、第4図は同上の底面図、第5図はエツ
チプレートの平面図、第6図は5図の−線断
面図、第7図は別のエツチプレートの平面図、第
8図は第7図の−線断面図、第9図は全体の
概要一部切断面図、第10図は同上の概要平面図
である。
主要な図面符号の説明、15……エツチブロツ
ク、43……噴射ノズル、47……エツチブロツ
クカバー、49……セツト部、53……エツチプ
レート。
Fig. 1 is a partially sectional side view of the main parts of a semiconductor opener device embodying this invention, Fig. 2 is a plan view of the etching block cover, and Fig. 3 is the same as that shown in Fig. 2.
4 is a bottom view of the same as above, FIG. 5 is a plan view of the etching plate, FIG. 6 is a sectional view taken along the - line of FIG. 5, FIG. 7 is a plan view of another etching plate, and FIG. 8 7 is a sectional view taken along the - line in FIG. 7, FIG. 9 is a schematic partial sectional view of the entire structure, and FIG. 10 is a schematic plan view of the same. Explanation of main drawing symbols: 15... Etch block, 43... Injection nozzle, 47... Etch block cover, 49... Set portion, 53... Etch plate.
Claims (1)
ツケージに噴射ノズルより溶解液を噴射してチツ
プを露出させるオープナー装置において、前記エ
ツチブロツクにセツト部を備えたエツチブロツク
カバーを装着し、該カバーのセツト部に、半導体
のパツケージの形状と対応可能なパツケージ位置
決め部を備えたエツチプレートを着脱自在に装着
支持したことを特徴とする半導体のオープナー装
置。 In an opener device that sprays a dissolving solution from a spray nozzle onto a semiconductor package set on an etch block to expose the chip, an etch block cover having a set portion is attached to the etch block, and the set portion of the cover is provided with: A semiconductor opener device is characterized in that an etching plate is removably mounted and supported and has a package positioning part that can correspond to the shape of a semiconductor package.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5763886U JPH0414930Y2 (en) | 1986-04-18 | 1986-04-18 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5763886U JPH0414930Y2 (en) | 1986-04-18 | 1986-04-18 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62170630U JPS62170630U (en) | 1987-10-29 |
| JPH0414930Y2 true JPH0414930Y2 (en) | 1992-04-03 |
Family
ID=30887531
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5763886U Expired JPH0414930Y2 (en) | 1986-04-18 | 1986-04-18 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0414930Y2 (en) |
-
1986
- 1986-04-18 JP JP5763886U patent/JPH0414930Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62170630U (en) | 1987-10-29 |
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