JPH0414932Y2 - - Google Patents

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JPH0414932Y2
JPH0414932Y2 JP19155287U JP19155287U JPH0414932Y2 JP H0414932 Y2 JPH0414932 Y2 JP H0414932Y2 JP 19155287 U JP19155287 U JP 19155287U JP 19155287 U JP19155287 U JP 19155287U JP H0414932 Y2 JPH0414932 Y2 JP H0414932Y2
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marking
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movable iron
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Description

【考案の詳細な説明】 <産業上の利用分野> 本考案は、半導体チツプ検査装置に用いられる
処の、不良チツプを識別するための半導体チツプ
マーキング装置に関するものである。
[Detailed Description of the Invention] <Industrial Application Field> The present invention relates to a semiconductor chip marking device for identifying defective chips, which is used in a semiconductor chip inspection device.

<従来の技術> 半導体ウエハ上に形成された多数の集積回路素
子は、いわゆるプローピングマシンと称される半
導体チツプ検査装置により、各素子毎にその電気
的特性の良・不良が検査され、そして後の工程で
素子毎に分割されて良チツプのみが半導体装置と
してパツケージ化され製品として提供されてい
る。従つて、上記不良チツプは上記、後工程で除
去されるものであるが、多数の同様回路を形成し
ている素子のなかの不良チツプのみを除去するに
は、該不良チツプに識別マークを付して該識別マ
ークを選別装置で判読させるようにした方が、正
確で自動化の意味においても非常に便利である。
そこで従来、上記識別マークを付する手段として
いわゆる半導体チツプマーキング装置が提供され
ている。
<Prior art> A large number of integrated circuit elements formed on a semiconductor wafer are inspected for electrical characteristics of each element by a semiconductor chip inspection device called a proping machine, and then In a later process, the chip is divided into elements, and only good chips are packaged as semiconductor devices and provided as products. Therefore, the above-mentioned defective chips are removed in the post-process, but in order to remove only the defective chips from a large number of similar circuit elements, it is necessary to attach an identification mark to the defective chips. It is more accurate and very convenient in terms of automation to have the identification mark read by a sorting device.
Therefore, a so-called semiconductor chip marking device has conventionally been provided as a means for attaching the above-mentioned identification mark.

半導体チツプマーキング装置には、ウエハの不
良チツプ上にマークとしての引つ掻き傷(打刻
点)をつけるスクラツチ式、レーザ光を照射して
焼き切るレーザ式又は、インクを付着せしめるイ
ンク式等がある。第2図はインク式マーキング装
置の構成概要を示している。図において、ケーシ
ング1の軸心部に挿通された円筒型可動鉄芯2
は、該鉄芯を囲んでケーシング1内に設けられた
電磁コイル3への通電をON・OFFすることでそ
の軸心方向へ所要量進退できるように復帰スプリ
ング4を備えせしめて構成配置されている。即ち
通電ONで復帰スプリング4に抗して進出し、通
電OFFで該スプリング4により元位置に後退す
るのである。上記可動鉄芯2にはマーキングピン
5が挿通されており、該ピンはその先端側をケー
シング1より突出して後述するインクタンクに臨
む長さとし、後部側はねじ軸5aとして可動鉄芯
2の筒内面に形成した雌ねじ2aに螺合してい
る。6は上記マーキングピン5の上端に設けた位
置調整用のフランジ状ピンヘツドであり、該ピン
ヘツドと可動鉄芯2の間にスプリング7を介在さ
せている。尚、上記マーキングピン5の先端側部
は後述するインクを不良チツプ面に導くものであ
るから、材質的には所要の剛性を備えたスチール
ピンのほか、ナイロンコードのようなプラスチツ
クピンが利用される。8はインクタンクであり、
上記ケーシング1の下側に上記マーキングピン5
の先端側を内部に臨ませて配置されている。9は
インクタンク8内に充填されたインクであり、後
工程の選別装置で判読容易な色が利用される。イ
ンクタンク8は上記マーキングピン5を内部に臨
ませると共に、所要時刻ピンがタンク下端(底
部)からインクを付着せしめて突き出ることが可
能なように該底部をインクの毛細管現象、表面張
力等で封止する細径ノズル形状としている。
Semiconductor chip marking devices include a scratch type, which creates marks on defective chips on wafers, a laser type, which burns out by irradiating laser light, and an ink type, which attaches ink. . FIG. 2 shows an outline of the configuration of the ink-type marking device. In the figure, a cylindrical movable iron core 2 is inserted into the axial center of the casing 1.
is provided with a return spring 4 so as to be able to advance and retreat a required amount in the axial direction by turning on and off the power to the electromagnetic coil 3 provided in the casing 1 surrounding the iron core. There is. That is, when the power is turned on, it moves forward against the return spring 4, and when the power is turned off, the spring 4 moves it back to its original position. A marking pin 5 is inserted through the movable iron core 2, and the tip of the pin has a length that protrudes from the casing 1 and faces an ink tank to be described later, and the rear side serves as a threaded shaft 5a for the cylinder of the movable iron core 2. It is screwed into a female thread 2a formed on the inner surface. Reference numeral 6 denotes a flange-shaped pin head for position adjustment provided at the upper end of the marking pin 5, and a spring 7 is interposed between the pin head and the movable iron core 2. The tip side of the marking pin 5 is used to guide ink, which will be described later, to the defective chip surface, so in terms of material, in addition to a steel pin with the required rigidity, a plastic pin such as a nylon cord can be used. Ru. 8 is an ink tank;
The marking pin 5 is attached to the bottom of the casing 1.
It is arranged with the tip side facing inside. Reference numeral 9 indicates ink filled in the ink tank 8, and a color that is easy to read by a sorting device in a subsequent process is used. The ink tank 8 has the marking pin 5 facing inside, and the bottom of the ink tank 8 is sealed by capillary action, surface tension, etc. of the ink so that the required time pin can adhere to ink and protrude from the lower end (bottom) of the tank. It has a small diameter nozzle shape that stops.

上記のような構成のマーキング装置を半導体ウ
エハ検査装置に取り付けて半導体ウエハW上方に
配置し、素子回路検査により不良素子(チツプ)
にマーキングする場合は、自動制御によりマーキ
ング装置の電磁コイル3に通電すると、電磁誘導
により可動鉄芯2が復帰スプリング4に抗して下
方に進出し、即ちマーキングピン5先端部がイン
クタンク8から突き出て該ピン先に導出している
インクを対応するチツプ面に付着せしめる。上記
通電は瞬間的に行なわれるので、通電OFF後は
復帰スプリング4の弾発力により可動鉄芯2は元
位置に復帰せしめられ、即ちマーキングピン5が
後退することになる。
A marking device configured as described above is attached to a semiconductor wafer inspection device and placed above the semiconductor wafer W, and defective devices (chips) are detected by device circuit inspection.
When marking is performed, when the electromagnetic coil 3 of the marking device is energized by automatic control, the movable iron core 2 advances downward against the return spring 4 due to electromagnetic induction, that is, the tip of the marking pin 5 moves away from the ink tank 8. The ink protruding and led out to the tip of the pin is made to adhere to the corresponding chip surface. Since the above-mentioned energization is carried out instantaneously, after the energization is turned off, the movable iron core 2 is returned to its original position by the elastic force of the return spring 4, that is, the marking pin 5 is moved back.

このように、マーキングピン5の先端が正確に
チツプ面にマーキングするためにはマーキングピ
ン5の進出時の位置決めが重要となる。この位置
決め調整は、可動鉄芯2の移動量が当該装置毎の
組み付け時に規定されるので、マーキングピン5
と該可動鉄芯の相対位置をねじ軸5aを利用して
行なうことになる。
In this way, in order for the tip of the marking pin 5 to accurately mark the chip surface, positioning the marking pin 5 when it advances is important. This positioning adjustment is performed using the marking pin 5 because the amount of movement of the movable iron core 2 is determined at the time of assembly for each device.
The relative position of the movable iron core is determined using the screw shaft 5a.

スクラツチ式マーキング装置においては、上記
インク式装置のインクタンク構成部をなくし、マ
ーキングピン5をチツプ面に打刻可能な程度の硬
度、剛性を持つた例えばスチールピンで形成した
ような構成となり、これにより引つ掻き傷等をチ
ツプ面に刻印するもので、その他の動作機能とし
てはインク式と同様となる。
In the scratch-type marking device, the ink tank component of the above-mentioned ink-type device is eliminated, and the marking pin 5 is made of, for example, a steel pin that has enough hardness and rigidity to stamp on the chip surface. The device stamps scratches, etc. on the chip surface, and other operating functions are similar to the ink type.

<考案が解決しようとする問題点> 上記の如く、従来のマーキング装置は、スクラ
ツチ式及びインク式はそのマーキングピンの位置
決めがマーキング機能に重大な影響を及ぼすこと
になる。
<Problems to be Solved by the Invention> As described above, in the conventional marking devices of the scratch type and the ink type, the positioning of the marking pin has a significant effect on the marking function.

しかし、位置決めは、前述のようにマーキング
ピンをねじ調整により行なつているので、ピン先
の摩耗による調整は簡単であるものの、電磁動作
による可動鉄芯の頻繁な進退震動等によりねじず
れを起こし、多くはピンが僅かずつ回動後退し
て、ついにはマーキングができないといつた事態
を生じせしめるおそれがある。そこでこれを可及
的防ぐために、第2図に例示するように、可動鉄
芯2とマーキングピン5を、スプリング7により
ねじのバツクラツシの吸収はもとより相対的にね
じ部に押圧力を負荷して反発させ、係合固定をは
かるといつたような手段、或いはいわゆるダブル
ナツトによる締め付け等の手段が利用されていた
が、結局長時間的自動運転では僅かずつの緩みが
出てピンが次第に後退してしまうことになり、実
用性上問題点の存しているものであつた。
However, as mentioned above, positioning is done by adjusting the marking pin with a screw, so although it is easy to adjust the pin tip due to wear, the screw may become misaligned due to the frequent movement of the movable iron core due to electromagnetic operation. In many cases, the pin rotates back little by little, which may eventually lead to a situation where marking cannot be performed. Therefore, in order to prevent this as much as possible, the movable iron core 2 and the marking pin 5 are connected by a spring 7 that not only absorbs the loosening of the screw but also applies a relative pressing force to the screw part, as shown in FIG. Methods such as repulsion and engagement fixation, or methods such as tightening with a so-called double nut, were used, but in the end, during long-term automatic operation, the pin gradually loosened and the pin gradually retreated. This caused problems in terms of practicality.

<問題点を解決する為の手段> 上記の如き問題点を解決する為に本考案は、マ
ーキングピンをその軸方向位置調整自在に螺合し
た円筒型可動鉄芯がケーシング内に設けられた電
磁コイルを挿通して、該電磁コイルへの通電ON
により進出し通電OFFにより元位置へ後退する
ように復帰スプリングを備えて進退自在に配設さ
れたウエハマーキング装置において、マーキング
ピンの軸基端に上記位置調整操作用ピンヘツドを
形成し、上記可動鉄芯に該ピンヘツドが挿通する
スリーブを形成すると共に、該ピンヘツドとスリ
ーブの挿通部間には弾性変形で双方に圧接する摩
擦リングを介在せしめた構成としたものである。
<Means for Solving the Problems> In order to solve the problems as described above, the present invention is an electromagnetic device in which a cylindrical movable iron core is provided in a casing, and a marking pin is screwed onto the marking pin so that its axial position can be freely adjusted. Insert the coil and turn on the power to the electromagnetic coil.
In a wafer marking device that is equipped with a return spring and is arranged to move forward and backward, the marking pin advances forward and returns to its original position when the energization is turned off. A sleeve through which the pin head is inserted is formed on the core, and a friction ring is interposed between the insertion portion of the pin head and the sleeve to press against both through elastic deformation.

<作用> マーキングピンのピンヘツドと該ピンヘツドが
挿通する可動鉄芯のスリーブとの間には、弾性変
形で双方に圧接する摩擦リングが介在しているの
で、その弾発力がピンヘツドとスリーブの周方向
に作用し、即ち螺合しているマーキングピンのね
じ軸の回動方向及び軸方向変位力を全周で摩擦抵
抗により吸収し、しかも可動鉄芯の進退による衝
撃及び震動を上記弾性で吸収するので、上記衝撃
等によるマーキングピンのねじずれを防止するこ
とができる。
<Function> There is a friction ring between the pin head of the marking pin and the sleeve of the movable iron core through which the pin head is inserted, which presses against both through elastic deformation, so the elastic force is applied to the circumference of the pin head and sleeve. In other words, the rotational and axial displacement forces of the threaded shaft of the screwed marking pin are absorbed by the frictional resistance all around the circumference, and the shock and vibration caused by the movement of the movable iron core are absorbed by the elasticity mentioned above. Therefore, it is possible to prevent the marking pin from being screwed off due to the above-mentioned impact or the like.

<実施例> 以下本考案の好適な実施例を第1図に基づき説
明する。
<Example> A preferred example of the present invention will be described below with reference to FIG.

図はインク式のウエハマーキング装置を示して
いるもので、10は有底円筒状のケーシングであ
り、内周底部近傍には電磁コイル11が配設され
ている。11aは電磁コイル押さえであり、ケー
シング10の外部からビス11bで押さえられて
いる。ケーシング10は、断面コ字形のホルダH
にビスH1で一体的に保持される。ホルダHは上
下のホルダアーム部に夫々開口Ha,Hbを有して
おり、上部の開口側にケーシング10が臨み、下
部の開口側にインクタンクTが取り付けられる。
12は円筒型の可動鉄芯であり、上記電磁コイル
11部を挿通して進退自在に配設されている。し
かして進退は、上記電磁コイル11に通電したと
きに該コイル側に引き寄せられるように進出し、
通電を断つたときには元位置に復帰後退するよう
に該ケーシング10と可動鉄芯12間に復帰スプ
リング13を介在せしめて行なうようにしてい
る。この可動鉄芯12の上端部は、後述するマー
キングピンのピンヘツドが自在に挿通する程度の
内径開口を有するスリーブ12aを形成してい
る。また、可動鉄芯12の上記復帰位置は、ホル
ダHの上部開口Haに螺合せしめる円筒のストツ
パボルト14により設定規制されるようにしてい
る。そして、該可動鉄芯12が、作動時にその進
退両位置で上記ケーシング10の底部とストツパ
ボルト14の規制端面とに衝突しても震動を受け
ないように、該両部には弾性の緩衝リング(Oリ
ング)15が配されている。この緩衝リングは可
動鉄芯12側、或いは対向する上記両部材側の何
れに設けてもよい。
The figure shows an ink-type wafer marking device, in which 10 is a cylindrical casing with a bottom, and an electromagnetic coil 11 is disposed near the bottom of the inner periphery. Reference numeral 11a denotes an electromagnetic coil holder, which is held from the outside of the casing 10 with a screw 11b. The casing 10 includes a holder H having a U-shaped cross section.
It is held together with screw H1 . The holder H has openings Ha and Hb in the upper and lower holder arm parts, respectively, the casing 10 faces the upper opening side, and the ink tank T is attached to the lower opening side.
Reference numeral 12 denotes a cylindrical movable iron core, which is inserted through the electromagnetic coil 11 and is disposed so as to be freely movable forward and backward. Therefore, when moving forward and backward, when the electromagnetic coil 11 is energized, it moves forward so as to be attracted to the coil side,
A return spring 13 is interposed between the casing 10 and the movable iron core 12 so that the movable iron core 12 returns to its original position when the power supply is cut off. The upper end of the movable iron core 12 forms a sleeve 12a having an inner diameter opening large enough to allow a pin head of a marking pin (described later) to be freely inserted therethrough. Further, the return position of the movable iron core 12 is regulated by a cylindrical stopper bolt 14 screwed into the upper opening Ha of the holder H. In order to prevent vibrations even if the movable iron core 12 collides with the bottom of the casing 10 and the regulating end surface of the stopper bolt 14 in both forward and backward positions during operation, elastic buffer rings ( O-ring) 15 is arranged. This buffer ring may be provided either on the movable iron core 12 side or on the opposing sides of both members.

16はマーキングピンであり、可動鉄芯12を
挿通して、該鉄芯の挿通部に部分的に形成された
雌ねじ12bに螺合するねじ軸16aを基端側に
有すると共に、さらに該軸端には可動鉄芯12の
前記スリーブ12aの開口内に挿通する外径とし
たピンヘツド16bを有している。ピンヘツド1
6bの端面は外方から六角レンチ若しくはドライ
バ等の工具で回動操作可能なように工具穴、溝等
が形成されている。又、マーキングピン16の他
端側は所要長さの細線16cとしてインクタンク
Tに臨み、後述するマーキング動作進退時にイン
クをウエハ上に付着せしめ得るようにしている。
該細線16cの材質としては従来と同様のものが
利用できる。
Reference numeral 16 denotes a marking pin, which has a screw shaft 16a on its proximal end side which is inserted through the movable iron core 12 and screwed into a female thread 12b partially formed in the insertion portion of the iron core, and further has a screw shaft 16a on the base end side. The movable iron core 12 has a pin head 16b having an outer diameter that is inserted into the opening of the sleeve 12a. pin head 1
The end face of 6b is formed with a tool hole, groove, etc. so that it can be rotated from the outside with a tool such as a hexagonal wrench or a driver. The other end of the marking pin 16 faces the ink tank T as a thin line 16c of a required length, so that ink can be deposited on the wafer during the forward and backward marking operation described later.
As the material of the thin wire 16c, the same material as conventional ones can be used.

17は、マーキングピン16のピンヘツド16
bと可動鉄芯12のスリーブ12aの挿通部間に
介在せしめた摩擦リングであり、図例のようにピ
ンヘツド16bにリング溝を形成して該溝に嵌合
させたり、或いはスリーブ12a側の溝に嵌合さ
せている。該摩擦リング17は、例えばいわゆる
Oリング材のようなゴム質で弾性があり、しかも
ピンヘツド16bとスリーブ12aの双方に対し
摩擦係数の大きい材質のものが利用される。しか
して上記介在状態は、その介在間〓に弾性により
圧縮変形して位置せしめられている。
17 is the pin head 16 of the marking pin 16
This is a friction ring interposed between the pin head 16b and the insertion portion of the sleeve 12a of the movable iron core 12.As shown in the figure, a ring groove is formed in the pin head 16b and the ring is fitted into the groove, or a groove on the sleeve 12a side is fitted. It is mated to The friction ring 17 is made of a rubbery and elastic material, such as a so-called O-ring material, and has a large coefficient of friction against both the pin head 16b and the sleeve 12a. Thus, the intervening state is compressed and deformed due to elasticity and positioned between the intervening states.

インクタンクTは従来既知の構成であり、内部
にマーキングインクMIを充填しており、該タン
ク先端部はタンクノズルTNとして、マーキング
ピン16の細線16cがインクMIを導出できる
ように形成されている。
The ink tank T has a conventionally known configuration, and is filled with marking ink MI, and the tip of the tank is formed as a tank nozzle TN so that the thin line 16c of the marking pin 16 can lead out the ink MI. .

以上のような構成からなるマーキング装置を、
所要の半導体ウエハ検査装置の取り付けブラケツ
トにホルダHを利用して固定する。ウエハへのマ
ーキングは、従来と同様に所要の制御信号で電磁
コイル11がON・OFF動作し、インクMIをウ
エハ上に付着せしめる。従つて、マーキングピン
16はピンヘツド16bの操作により予めその進
出動作位置を調整されているものである。
The marking device with the above configuration is
It is fixed to the mounting bracket of the required semiconductor wafer inspection equipment using the holder H. For marking on the wafer, the electromagnetic coil 11 is turned on and off by a required control signal as in the conventional method, and the ink MI is deposited on the wafer. Therefore, the advancing position of the marking pin 16 has been adjusted in advance by operating the pin head 16b.

上記により、マーキング動作を行なつた場合、
電磁コイル11のON・OFFにより可動鉄芯12
が進退を繰り返すと、特に進退両位置部において
生ずる震動がマーキングピン16に伝わることに
なる。該震動はマーキングピン16と可動鉄芯1
2の螺合部に作用して、該ネジ傾斜面による回動
力をマーキングピン16に及ぼそうとするが、ピ
ンヘツド16bと可動鉄芯のスリーブ12a間に
は摩擦リング17が介在しているので、その軸方
向及び軸回動方向のずれ作用力は摩擦リング17
の弾性及び摩擦抵抗で吸収し、震動によるマーキ
ングピン16の位置ずれが防止される。即ち、摩
擦リング17は圧縮変形によりその周囲でピンヘ
ツドとスリーブに接触しているので、ずれ作用は
全周で均等に受け、吸収することになる。また、
可動鉄芯12の進退両位置部に緩衝リング15を
配していれば、特に復帰後退時の衝撃震動を該緩
衝リングでも吸収させることができ、一層効果的
となる。
If the marking operation is performed according to the above,
The movable iron core 12 is turned on and off by turning the electromagnetic coil 11 on and off.
When the marking pin 16 repeatedly advances and retreats, vibrations occurring particularly at both the advancing and retreating positions are transmitted to the marking pin 16. The vibration is caused by the marking pin 16 and the movable iron core 1.
2, and the turning force due to the threaded inclined surface is applied to the marking pin 16, but since the friction ring 17 is interposed between the pin head 16b and the sleeve 12a of the movable iron core, The force acting on the displacement in the axial direction and the axial rotation direction is the friction ring 17
This is absorbed by the elasticity and frictional resistance of the marking pin 16, thereby preventing the marking pin 16 from shifting due to vibration. That is, since the friction ring 17 is in contact with the pin head and the sleeve at its periphery due to compression deformation, the shearing effect is uniformly received and absorbed over the entire circumference. Also,
If the buffer rings 15 are arranged at both forward and backward positions of the movable iron core 12, the shock vibrations especially at the time of returning and retreating can be absorbed by the buffer rings as well, making it even more effective.

マーキングピン16の細線16cが使用により
摩耗してきた場合は、前述したようにピンヘツド
16bを所要の工具で操作してやればよく、摩擦
リング17はピンヘツドとスリーブの双方に摺接
して回動を許容することになる。
If the thin wire 16c of the marking pin 16 becomes worn due to use, the pin head 16b can be operated with the necessary tool as described above, and the friction ring 17 slides on both the pin head and the sleeve to allow rotation. become.

尚、上記実施例はインク式のウエハマーキング
装置を説明したが、これに限らずスクラツチ式の
マーキング装置にも利用できることは前述の従来
例で説明した通りである。又、上記実施例はホル
ダHを利用してケーシング10とストツパボルト
14を分離して構成したが、該ストツパボルトを
ケーシングに螺合させれば上記実施例構成を必ず
しも要するものではなく、この場合インク式であ
ればインクタンクTはケーシング10に取り付け
ればよい。しかしながら実施例のような構成によ
れば、ホルダHを利用して検査装置への取り付け
治具とすることができ、さらに修理交換等のメン
テナンスにも利便となる。
Although the above embodiment describes an ink-type wafer marking device, the present invention is not limited to this and can also be used in a scratch-type marking device, as explained in the prior art example. Further, in the above embodiment, the casing 10 and the stopper bolt 14 are separated using the holder H, but if the stopper bolt is screwed into the casing, the structure of the above embodiment is not necessarily required. If so, the ink tank T may be attached to the casing 10. However, according to the configuration of the embodiment, the holder H can be used as a mounting jig for the inspection device, and it is also convenient for maintenance such as repair and replacement.

<考案の効果> 以上詳細に述べてきたように、本考案によれ
ば、極めて簡単な構成でありながら長時間の連続
使用に際し、実用性に優れた効果を発揮せしめ得
ることができる。又、構成的には可動鉄芯にマー
キングピンのピンヘツドを挿通できるように両者
を円筒形に形成し、該部に摩擦リングを介在させ
るだけの機構であるから、コスト的にも何らの不
利益を及ぼすことはない。
<Effects of the invention> As described above in detail, according to the invention, although it has an extremely simple configuration, it can exhibit excellent practical effects when used continuously for a long time. In addition, since the structure is such that both the movable iron core is formed into a cylindrical shape so that the pin head of the marking pin can be inserted through it, and a friction ring is interposed in that part, there is no disadvantage in terms of cost. It will not affect you.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本考案の一実施例に係る半導体ウエハ
マーキング装置の構成を示す断面側面図、第2図
は従来装置の概要構成例を示す断面図である。 10……ケーシング、11……電磁コイル、1
2……可動鉄芯、12a……スリーブ、13……
復帰スプリング、14……ストツパボルト、15
……緩衝リング、16……マーキングピン、16
a……ねじ軸、16b……ピンヘツド、16c…
…細線、17……摩擦リング、H……ホルダ、T
……インクタンク、MI……マーキングインク。
FIG. 1 is a cross-sectional side view showing the configuration of a semiconductor wafer marking device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a cross-sectional view showing an example of the general configuration of a conventional device. 10... Casing, 11... Electromagnetic coil, 1
2...Movable iron core, 12a...Sleeve, 13...
Return spring, 14...Stopper bolt, 15
... Buffer ring, 16 ... Marking pin, 16
a...Screw shaft, 16b...Pin head, 16c...
...Thin wire, 17...Friction ring, H...Holder, T
...Ink tank, MI...Marking ink.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] マーキングピンをその軸方向位置調整自在に螺
合した円筒型可動鉄芯がケーシング内に設けられ
た電磁コイルを挿通して、該電磁コイルへの通電
ONにより進出し通電OFFにより鉄芯が元位置へ
後退するように復帰スプリングを備えて進退自在
に配設された半導体チツプマーキング装置におい
て、マーキングピンの軸基端に上記位置調整操作
用ピンヘツドを形成し、上記可動鉄芯に該ピンヘ
ツドが挿通するスリーブを形成すると共に、該ピ
ンヘツドとスリーブの挿通部間には弾性変形で双
方に圧接する摩擦リングを介在せしめたことを特
徴とする半導体チツプマーキング装置。
A cylindrical movable iron core, in which a marking pin is screwed together so that its axial position can be freely adjusted, passes through an electromagnetic coil provided in the casing, and the electromagnetic coil is energized.
In a semiconductor chip marking device that is equipped with a return spring and is arranged to move forward and backward so that the iron core advances when turned on and retreats to its original position when turned off, the pin head for position adjustment operation is formed at the base end of the marking pin shaft. A semiconductor chip marking device characterized in that a sleeve through which the pin head is inserted is formed in the movable iron core, and a friction ring is interposed between the insertion portion of the pin head and the sleeve to be pressed against both by elastic deformation. .
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