JPH04154197A - 部品内蔵多層基板 - Google Patents
部品内蔵多層基板Info
- Publication number
- JPH04154197A JPH04154197A JP2280309A JP28030990A JPH04154197A JP H04154197 A JPH04154197 A JP H04154197A JP 2280309 A JP2280309 A JP 2280309A JP 28030990 A JP28030990 A JP 28030990A JP H04154197 A JPH04154197 A JP H04154197A
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- Japan
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- board
- components
- component
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- circuit
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- Pending
Links
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- 239000002245 particle Substances 0.000 claims 1
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Landscapes
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
この発明は、チップ電解コンデンサ等の受動部品や、ト
ランジスタ等の能動部品を内蔵するとともに、内蔵され
ている部品を任意に選択して回路を変更可能な部品内蔵
多層基板に関する。
ランジスタ等の能動部品を内蔵するとともに、内蔵され
ている部品を任意に選択して回路を変更可能な部品内蔵
多層基板に関する。
従来、電子部品や複数の回路パターンが内蔵された部品
内蔵多層基板は、特定の用途や機能回路として用いられ
ている。
内蔵多層基板は、特定の用途や機能回路として用いられ
ている。
ところで、従来の部品内蔵多層基板では、特定の用途や
機能の実現に向けて部品や回路パターンが構成されてお
り、設計上の変更や、予期しないトラブルのため、回路
を修正する等、変更を余儀無くされる場合がある。 また、用途によっては、任意の回路パターンや部品を内
蔵して置き、必要に応して回路や部品の選択が可能であ
れば、非常に便利である。 そこで、この発明は、内蔵された部品や導体パターンの
選択により、容易に回路パターンや回路の変更を可能に
した部品内蔵多層基板の提供を目的とする。
機能の実現に向けて部品や回路パターンが構成されてお
り、設計上の変更や、予期しないトラブルのため、回路
を修正する等、変更を余儀無くされる場合がある。 また、用途によっては、任意の回路パターンや部品を内
蔵して置き、必要に応して回路や部品の選択が可能であ
れば、非常に便利である。 そこで、この発明は、内蔵された部品や導体パターンの
選択により、容易に回路パターンや回路の変更を可能に
した部品内蔵多層基板の提供を目的とする。
即ち、この発明の部品内蔵多層基板は、硬質の第1の基
板(2)の上に任意の部品(8a、8b、8c、8d)
を設置するとともに、導電性微粒子(12)を含む異方
導電性部材(1o)を設置し、この異方導電性部材の上
面に導体パターン(6)が選択的に形成された柔軟な第
2の基板(4)苓設置し、この第2の基板の表面に前記
部品の位1に対応して没入可能なブツシュハック部(1
4a14b、14c、14d)を形成した第3の基板(
5)を設置したものである。
板(2)の上に任意の部品(8a、8b、8c、8d)
を設置するとともに、導電性微粒子(12)を含む異方
導電性部材(1o)を設置し、この異方導電性部材の上
面に導体パターン(6)が選択的に形成された柔軟な第
2の基板(4)苓設置し、この第2の基板の表面に前記
部品の位1に対応して没入可能なブツシュハック部(1
4a14b、14c、14d)を形成した第3の基板(
5)を設置したものである。
硬質の第1の基板によって部品、異方導電性缶材及び柔
軟な第2の基板が支持され、第3の基板の表面には第1
の基板上に設置されている部品の位置がブツシュハック
部によって表示されているこの場合、第2の基板には、
導体パターンが形成されており、部品の電極と導体パタ
ーンとの間には異方導電性部材が設置され、部品、異方
導電性部材及び導体パターンはサンドインチ構造を成し
でいる。 異方導電性部材には、例えば、接着性マトリクス樹脂の
内部に導電性微粒子を混入した異方導電性接着剤を用い
ることができる。このような異方導電性部材では、部分
的に加圧すると、その加圧部分の導電性微粒子が導通状
態となる。 この発明は、このような異方導電性部材の選択的な導通
特性を利用したものであり、第3の基板表面のブツシュ
ハック部から接続すべき部品を選択し、例えば、そのブ
ツシュハック部を加圧して第1の基板側に没入させるこ
とにより、その部品と特定の回路パターンとを電気的に
接続することができる。このような選択接続性を利用し
、回路の組立てだけでなく、任意の回路パターンに変更
することも可能である。
軟な第2の基板が支持され、第3の基板の表面には第1
の基板上に設置されている部品の位置がブツシュハック
部によって表示されているこの場合、第2の基板には、
導体パターンが形成されており、部品の電極と導体パタ
ーンとの間には異方導電性部材が設置され、部品、異方
導電性部材及び導体パターンはサンドインチ構造を成し
でいる。 異方導電性部材には、例えば、接着性マトリクス樹脂の
内部に導電性微粒子を混入した異方導電性接着剤を用い
ることができる。このような異方導電性部材では、部分
的に加圧すると、その加圧部分の導電性微粒子が導通状
態となる。 この発明は、このような異方導電性部材の選択的な導通
特性を利用したものであり、第3の基板表面のブツシュ
ハック部から接続すべき部品を選択し、例えば、そのブ
ツシュハック部を加圧して第1の基板側に没入させるこ
とにより、その部品と特定の回路パターンとを電気的に
接続することができる。このような選択接続性を利用し
、回路の組立てだけでなく、任意の回路パターンに変更
することも可能である。
以下、この発明を図面に示した実施例を参照して詳細に
説明する。 第11ffl及び第2図は、この発明の部品内蔵多層基
板の一実施例を示す。 第1の基板2には、セラミック板等の硬質の絶縁基板が
用いられ、この基板2に対向して柔軟性シートから成る
第2の基板4が設置され、この基板4には任意の回路パ
ターンを形成すべき導体パターン6が形成されている。 したがって、基板2の表面には基板4の導体パターン6
に対応して複数の部品8a、8b、8c、8dが設置さ
れている。第3の基板5には、基板2と同様にセラミッ
ク板等の絶縁基板が用いられている。各部品8a〜8d
には、部品本体80の両端に導体パターン6と選択的に
接続すべき電極81.82が設けられている。 各基板2.40間には、各部品8を覆う異方導電性部材
10が挟み込まれており、この異方導電性部材10には
、導電性微粒子12が含まれており、例えば、接着性マ
トリクス樹脂に導電性微粒子を混入させた異方導電性接
着剤を用いることができる。 そして、基板5には、各部品8の位置を表示するととも
に、加圧により没入するブツシュハック部14a、14
b、14c、14dが形成され、この実施例の場合、各
ブツシュハック部14a〜14dは、各部品8a〜8d
より僅かに大きい範囲で各部品8a〜8dに対応して形
成されている以上のように構成したので、例えば、第3
図に示すように、基板5のブツシュハック部14bの長
手方向の端に矢印pで示す方向に力を加えると、各部品
83〜8d、異方導電性部材1o及び基板4.5が基板
2に支持されているので、ブツシュハック部14bは基
板4から選択的に没入して下降し、異方導電性部材10
が圧縮される。この結果、異方導電性部材10に含まれ
ている導電性微粒子12がその圧縮により導通し、基板
4例の導体パターン6と部品8bの電極81.82とを
電気的に接続することができる。そして、異方導電性部
材10に異方導電性接着剤を用いた場合には、この加圧
状態で加熱することにより、その接続状態を安定化させ
、所望の回路パターンに形成することができる。 ここで、各部品8a〜8dをチップ抵抗とすれば、ブツ
シュバンク部14a−14dの加圧前には、第4図の(
A)に示すように、各部品8a〜8d及び導体パターン
6が配置され、16は加圧により接続すべき異方導電性
部材10の介在部分を示している。 そこで、第1図に示した部品8a〜8d及び導体パター
ン6では、ブツシュバンク部14a〜14dを選択的に
基板4側に没入させれば、例えば、第4図の(B)に示
すように、部品8a、8b、8dの直列回路、第4図の
(C)に示すように、部品8a、8C18dの直列回路
、第4図の(D)に示すように、部品8aと、部品8b
、8cの並列回路と、部品8dとの直列回路等の任意の
回路パターンを形成することができる。 なお、実施例では、部品8a〜8dの選択接続について
説明したが、この発明は、部品8a〜8dに代えて導体
パターン間の接続や、部品及び導体パターン間の選択的
な接続に利用して任意の回路パターンを形成することが
できるものである。
説明する。 第11ffl及び第2図は、この発明の部品内蔵多層基
板の一実施例を示す。 第1の基板2には、セラミック板等の硬質の絶縁基板が
用いられ、この基板2に対向して柔軟性シートから成る
第2の基板4が設置され、この基板4には任意の回路パ
ターンを形成すべき導体パターン6が形成されている。 したがって、基板2の表面には基板4の導体パターン6
に対応して複数の部品8a、8b、8c、8dが設置さ
れている。第3の基板5には、基板2と同様にセラミッ
ク板等の絶縁基板が用いられている。各部品8a〜8d
には、部品本体80の両端に導体パターン6と選択的に
接続すべき電極81.82が設けられている。 各基板2.40間には、各部品8を覆う異方導電性部材
10が挟み込まれており、この異方導電性部材10には
、導電性微粒子12が含まれており、例えば、接着性マ
トリクス樹脂に導電性微粒子を混入させた異方導電性接
着剤を用いることができる。 そして、基板5には、各部品8の位置を表示するととも
に、加圧により没入するブツシュハック部14a、14
b、14c、14dが形成され、この実施例の場合、各
ブツシュハック部14a〜14dは、各部品8a〜8d
より僅かに大きい範囲で各部品8a〜8dに対応して形
成されている以上のように構成したので、例えば、第3
図に示すように、基板5のブツシュハック部14bの長
手方向の端に矢印pで示す方向に力を加えると、各部品
83〜8d、異方導電性部材1o及び基板4.5が基板
2に支持されているので、ブツシュハック部14bは基
板4から選択的に没入して下降し、異方導電性部材10
が圧縮される。この結果、異方導電性部材10に含まれ
ている導電性微粒子12がその圧縮により導通し、基板
4例の導体パターン6と部品8bの電極81.82とを
電気的に接続することができる。そして、異方導電性部
材10に異方導電性接着剤を用いた場合には、この加圧
状態で加熱することにより、その接続状態を安定化させ
、所望の回路パターンに形成することができる。 ここで、各部品8a〜8dをチップ抵抗とすれば、ブツ
シュバンク部14a−14dの加圧前には、第4図の(
A)に示すように、各部品8a〜8d及び導体パターン
6が配置され、16は加圧により接続すべき異方導電性
部材10の介在部分を示している。 そこで、第1図に示した部品8a〜8d及び導体パター
ン6では、ブツシュバンク部14a〜14dを選択的に
基板4側に没入させれば、例えば、第4図の(B)に示
すように、部品8a、8b、8dの直列回路、第4図の
(C)に示すように、部品8a、8C18dの直列回路
、第4図の(D)に示すように、部品8aと、部品8b
、8cの並列回路と、部品8dとの直列回路等の任意の
回路パターンを形成することができる。 なお、実施例では、部品8a〜8dの選択接続について
説明したが、この発明は、部品8a〜8dに代えて導体
パターン間の接続や、部品及び導体パターン間の選択的
な接続に利用して任意の回路パターンを形成することが
できるものである。
以上説明したように、この発明によれば、内蔵された部
品や導体パターンの選択により、任意の回路を実現でき
、設計途上等でも容易に回路の変更をすることができる
。
品や導体パターンの選択により、任意の回路を実現でき
、設計途上等でも容易に回路の変更をすることができる
。
第1図はこの発明の部品内蔵多層基板の一実施例を示す
一部を切り欠いた平面回、 第2図は第1図に示した部品内蔵多層基板の■■線断面
図、 第3図は第1図に示した部品内蔵多層基板の接続選択性
を示す図、 第4図は第1図に示した部品内蔵多層基板によって得ら
れる回路パターンを示す回路図である。 2・・・第1の基板 4・・・第2の基板 5・・・第3の基板 6・・・導体パターン 8a、8b、8c、8d−−一部品 10・・・異方導電性部材 12・・・導電性微粒子 14a、14b、14c、14d・−−ブツシュハック
部 (t U) 〜 第 図
一部を切り欠いた平面回、 第2図は第1図に示した部品内蔵多層基板の■■線断面
図、 第3図は第1図に示した部品内蔵多層基板の接続選択性
を示す図、 第4図は第1図に示した部品内蔵多層基板によって得ら
れる回路パターンを示す回路図である。 2・・・第1の基板 4・・・第2の基板 5・・・第3の基板 6・・・導体パターン 8a、8b、8c、8d−−一部品 10・・・異方導電性部材 12・・・導電性微粒子 14a、14b、14c、14d・−−ブツシュハック
部 (t U) 〜 第 図
Claims (1)
- 第1の基板の上に任意の部品を設置するとともに、導
電性微粒子を含む異方導電性部材を設置し、この異方導
電性部材の上面に導体パターンが選択的に形成された柔
軟な第2の基板を設置し、この第2の基板の表面に前記
部品の位置に対応して没入可能なプッシュバック部を形
成した第3の基板を設置したことを特徴とする部品内蔵
多層基板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2280309A JPH04154197A (ja) | 1990-10-18 | 1990-10-18 | 部品内蔵多層基板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2280309A JPH04154197A (ja) | 1990-10-18 | 1990-10-18 | 部品内蔵多層基板 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04154197A true JPH04154197A (ja) | 1992-05-27 |
Family
ID=17623200
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2280309A Pending JPH04154197A (ja) | 1990-10-18 | 1990-10-18 | 部品内蔵多層基板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04154197A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001339165A (ja) * | 2000-02-25 | 2001-12-07 | Ibiden Co Ltd | 多層プリント配線板およびパッケージ基板 |
| US8186045B2 (en) | 2000-02-25 | 2012-05-29 | Ibiden Co., Ltd. | Multilayer printed circuit board and multilayer printed circuit board manufacturing method |
| US8959756B2 (en) | 2000-09-25 | 2015-02-24 | Ibiden Co., Ltd. | Method of manufacturing a printed circuit board having an embedded electronic component |
-
1990
- 1990-10-18 JP JP2280309A patent/JPH04154197A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001339165A (ja) * | 2000-02-25 | 2001-12-07 | Ibiden Co Ltd | 多層プリント配線板およびパッケージ基板 |
| US8186045B2 (en) | 2000-02-25 | 2012-05-29 | Ibiden Co., Ltd. | Multilayer printed circuit board and multilayer printed circuit board manufacturing method |
| US8438727B2 (en) | 2000-02-25 | 2013-05-14 | Ibiden Co., Ltd. | Multilayer printed circuit board and multilayer printed circuit board manufacturing method |
| US8959756B2 (en) | 2000-09-25 | 2015-02-24 | Ibiden Co., Ltd. | Method of manufacturing a printed circuit board having an embedded electronic component |
| US9245838B2 (en) | 2000-09-25 | 2016-01-26 | Ibiden Co., Ltd. | Semiconductor element |
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