JPH04155202A - 渦電流式非接触変位計 - Google Patents

渦電流式非接触変位計

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JPH04155202A
JPH04155202A JP28279990A JP28279990A JPH04155202A JP H04155202 A JPH04155202 A JP H04155202A JP 28279990 A JP28279990 A JP 28279990A JP 28279990 A JP28279990 A JP 28279990A JP H04155202 A JPH04155202 A JP H04155202A
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JP
Japan
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voltage
frequency component
current
circuit
output
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JP28279990A
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Tsukasa Fujita
司 藤田
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Keyence Corp
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Keyence Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は渦電流を利用した非接触変位計に1するもの
であり、特にその温度変化による測定1差を排除した渦
電流式非接触変位計に関するも(である。
[従来の技術] 測定対象物との距離(変位)を測定するため1渦電流式
非接触変位計が用いられており、例え1第5図に示すよ
うなものが存在する。2はLC4振器であり、このLC
発振器2の発振出力は、]波回路4において検波された
後、積分器等のり。
アライブ6に与えられて平坦化される。
LC発振器2のコイル8を検査対象物10に近−けると
、検査対象物10に渦電流が生じ、発振器:の出力振幅
が減少する。この減少の度合いは、手出コイル8と検査
対象物10との距離に依存する。
したがって、発振出力を検波して、リニアライニした出
力に基づいて、検出コイル8と検査対象中10との距離
(変位)を知ることができる。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、従来の渦電流式変位計には、と■  の
ような問題点があった。
誤   検出コイル8のインダクタンスおよび直流抵抗
っ  は、周囲の温度によって変化するため、これに伴
って発振振幅、発振周波数か変化し、測定される変位量
に誤差を生じるという問題を内包している。
こ、   この発明は、上記のような問題点を解決して
、よ  温度変化によって測定変位量に誤差を生じるこ
と飴  のない渦電流式非接触変位計を提供することを
目金  的とする。
=   [課題を解決するための手段]本発明は上記目
的を達成するために、 ゴ   少なくとも2以上の周波数成分を有する交流型
2  流または交流電圧を生成する複合発振回路と、尖
   測定対象物と磁気的に結合され、インダクタンス
値L1および抵抗値R1を有し、前記複合発振回路〈 
 からの交流電力が印加されるインダクタンス素子グ 
  と、 該インダクタンス素子に流れる電流またはインダクタン
ス素子の両端の電圧を各周波数成分こと(に分離すると
ともに、分離した各周波数成分の虚数外または実数分を
抽出する分離抽出回路と、各周波数成分に分離した電圧
または電流の虚た分または実数分に基づいて、インダク
タンス値りおよび抵抗値R2に依存しない電圧または電
流値苓演算し、測定対象物の変位を算出する演算回路と
を備えたことを特徴とする渦電流式非接触変位計を構成
するものである。
ここで、複合発振回路の出力する交流電流まtコは交流
電圧が、第1の周波数成分と、第1の周滋数成分のn倍
の周波数である第2の周波数成分とを有するものとする
ことかできる。
また、前記演算回路が、インダクタンス素子C両端の電
圧またはインダクタンス素子に流れる1流の内の第1の
周波数成分に係るものをn倍したものから、第2の周波
数成分に係るものを減算したものの虚数外に基ついて変
位を算出するように構成できる。
また、演算回路が、インダクタンス素子の両端の電圧ま
たはインダクタンス素子に流れる電流の内の第1の周波
数成分に係るものから、第2の周波数成分に係るものを
減算したものの実数分に基k  づいて変位を算出する
構成とすることもできる。
[作用] この発明に係る渦電流式非接触変位計は、少な5、  
くとも2以上の周波数成分を有する交流電流またL  
は交流電圧をインダクタンス素子に印加し、インダクタ
ンス素子に流れる電流またはインダクタン゛  ス素子
の両端の電圧を各周波数成分ごとに分離するとともに、
分離した各周波数成分の虚数外または実数分を抽出し、
これに基ついて、インダクタンス値L1および抵抗値R
3に依存しない電圧または)  電流値を演算して、測
定り、j象物の変位を算出するに  ようにしている。
すなわち、測定対象物の変位の゛  演算の基礎が、イ
ンダクタンス値し、および抵抗値R1に依存していない
ので、インダクタンス値し、および抵抗値R1の温度変
化によって測定変位か影響を受けない。
[実施例コ )   第1図に、この発明の一実施例による渦電流式
1  非接触変位計のブロック図を示す。この実施例に
おいては、発振器20、電圧・電流変換器22、発振器
24、電圧・電流変換器26、電流合成回路28によっ
て複合発振回路が構成されている。発振器24は周波数
fの発振出力を出すものであり、発振器20は周波数n
fの発振出力を出すものである。なお、ここで、n≠1
である。これらの発振出力は、電圧・電流変換器22.
26において、電流に変換された後、電流合成回路28
に与えられる。したがって、電流合成回路28からは、
周波数fの成分と周波数nfの成分を有する交流電流が
出力される。この交流電流は、検出ヘッド30に与えら
れる。検出ヘッド30は、インダクタンス値し1、抵抗
値R1を有するコイル8を備えている。
検出ヘッド30のコイル8の両端の電圧が、バッファア
ンプ32を介して取り出される。このようにして取り出
されるコイル8両端の電圧■(ω+nω)は、次のよう
に表わされる。
まず、周波数fの成分によってもたらされる電圧V(ω
)は、下式のとおりである。
ただし、 ω=2πf L、:コイル8の自己インタ′クタンスR1:コイル8
の直流抵抗 L!:測定対象物10の自己インダクタンスR7:測定
対象物10の直流抵抗 M:コイル8と測定対象物lOとの相互インダクタンス である。
同様に、周波数nfの成分によってもたらされる電圧V
(nω)は、下式のとおりとなる。
n”ω″M″       n″CLJ ’M’V (
nω) = i(R+ ’ R”i占用Rt)+ jn
(oi(L+ −iiiiim−L已、)・・・・・・
(2) すなわち、コイル8の両端には、電圧■(ω)と電圧V
(nω)の合成電圧か表われる。この合成電圧は、(1
)(2)式から明らかなように、LIR2,Mの関数と
なっている。これらり、、R,、Mは、検出ヘッド30
と検出対象物IOとの距離によって変化するものである
。したかって、検出ヘッド30と検出対象物10との距
離によって、合成電圧か変化する。
以下、この合成電圧に基ついて、距離を算出する演算課
程を示す。
(1)式の両辺をn倍して(2)式を引算すると、””
’   R1)−;(R+橿 −1゜二1す;  Rt
)nV+llJ+  V+nω1=ni(Ru Ni’
i;”UIB、、ncI、 1゜(IJ’M’n’c+
〕’M’ −jnω1(Hr、石vB4L+   1iiii’;
+’L冨 ”となる。
(3)式の虚数部を整理すると、 ・・・(4) となる。
この(4)式には、R,、L、か含まれていない。した
がって、R,、L、の温度変化かあっても、測定誤差を
生じない。
上記のような演算を回路によって実現しく4)式の出力
を得るためには、まず、バッファアンプ32の出力を、
■(ω)とV(nω)に分離する必要がある。
これを行うのが、同期検波回路34.36である。同期
検波回路34は周波数f成分を分離して出力するもので
あり、同期検波回路36は周波数nf酸成分分離して出
力するものである。
第2図に、同期検波回路の一例を示す。バッファアンプ
32の出力電圧を、端子52に印加する。スイッチ54
を周波数fのパルスによってオンオフさせることにより
、オペアンプ50の出力端子56から周波数f成分の電
圧か分離される。この実施例においては、発振器24の
出力に基づいて周波数fのパルスを得て、移相器40に
よって移相した後、スイッチ54に与えている。移相器
40によって90’移相することにより、虚数部のみを
抽出している。
なお、この実施例において用いた移相器を第3図に示す
同様にして、発振器20の出力に基づいて周波数nfの
パルスを得て同期検波回路36に与え、周数nf酸成分
電圧を分離している。ここでも、相器38によって90
°の移相を行い、虚数部のみ抽出している。
次に、同期検波回路34の出力はn倍増幅器42介して
引算回路44に与えられる。引算回路44のう一方の入
力には、同期検波回路36の出力かそまま与えられる。
したがって、引算回路44の出からは、(4)式に示す
電圧値が得られる。
この出力を、リニアライザに与えれば、検出象物10と
検出ヘッド30との距離に比例した電圧1得られる。
なお、上記実施例においては、虚数部を抽出で演算を行
ったが、実数部を抽出してもよい。′なわち、(1)式
から(2)式を減算し、実数部を抽1して、下式を得る
Re(V tω+ −V tnω、)”” ”t ・ω
’M’ (g同ヨnカカLJ)・・・・(5 (5)式の結果を得るための回路を、第4図に示渡  
す。第1図の回路と異なる点は、移相器38.40と移
  n倍増幅器42が設けられていないことである。第
を  4図の回路においても、引算回路44の出力に基
づいて、検出ヘット30と検出対象物10との距離を得
を   ることかできる。
ち   また、上記実施例においては、検出ヘッド30
の   (コイル8)に対し電流を印加したが、電圧を
印力  加するようにしてもよい。
さらに、上記実施例においては、検出ヘッド30吋  
 (コイル8)の両端の電圧を取り出したが、これう曳
  に流れる電流を取り出してもよい。
なお、それぞれ異なる周波数を有する3以上のし  発
振器を用意し、任意の2つの周波数によって演「  算
した距離を平均してもよい。すなわち、周波数B  を
変更して、任意の2つの周波数による測定を行い、その
測定結果を平均して、距離を算出するようにしてもよい
[発明の効果] )    この発明に係る渦電流式非接触変位計は、少
なくとも2以上の周波数成分を有する交流電流または交
流電圧をインダクタンス素子に印加し、インダクタシス
素子に流れる電流またはインダクタシス素子の両端の電
圧を各周波数成分ごとに分離するとともに、分離した各
周波数成分の虚数部まt、は実数分を抽出し、これに基
づいて、インダクタンス値し、および抵抗値R2に依存
しない電圧またに電流値を演算して、測定対象物の変位
を算出すZようにしている。したがって、測定対象物の
変化の演算の基礎が、インダクタンス値し、および抵V
値R7に依存していないので、インダクタンス値しおよ
び抵抗値R7の温度変化によって測定変位が既響を受け
ない。すなわち、温度変化により測定ご差を生しること
のない渦電流式非接触変位計を径ることかできる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による渦電流式11接触変
位計のブロック図、 第2図は同期検波回路の詳細を示す図、第3図は90°
移相回路の詳細を示す図、第4図は他の実施例による渦
電流式1接触変a計のブロック図、 第5図は従来の渦電流式非接触変位計のブロック図であ
る。 20.24・・・発振器 i       30・・・検出ヘット34 、36・
・・同期検波回路 l       44・・・引算回路 し 第2 図 R 第 3 図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)少なくとも2以上の周波数成分を有する交流電流
    または交流電圧を生成する複合発振回路と、測定対象物
    と磁気的に結合され、インダクタンス値L_1および抵
    抗値R_1を有し、前記複合発振回路からの交流電力が
    印加されるインダクタンス素子と、 該インダクタンス素子に流れる電流またはインダクタン
    ス素子の両端の電圧を各周波数成分ごとに分離するとと
    もに、分離した各周波数成分の虚数分または実数分を抽
    出する分離抽出回路と、各周波数成分に分離した電圧ま
    たは電流の虚数分または実数分に基づいて、インダクタ
    ンス値L_1および抵抗値R_1に依存しない電圧また
    は電流値を演算し、測定対象物の変位を算出する演算回
    路と、を備えたことを特徴とする渦電流式非接触変位計
  2. (2)複合発振回路の出力する交流電流または交流電圧
    が、第1の周波数成分と、第1の周波数成分のn倍の周
    波数である第2の周波数成分を有し、演算回路が、イン
    ダクタンス素子の両端の電圧またはインダクタンス素子
    に流れる電流の内の第1の周波数成分に係るものをn倍
    したものから、第2の周波数成分に係るものを減算した
    ものの虚数分に基づいて変位を算出する請求項1記載の
    渦電流式非接触変位計。
  3. (3)複合発振回路の出力する交流電流または交流電圧
    が、第1の周波数成分と、第1の周波数成分のn倍の周
    波数である第2の周波数成分を有し、演算回路が、イン
    ダクタンス素子の両端の電圧またはインダクタンス素子
    に流れる電流の内の第1の周波数成分に係るものから、
    第2の周波数成分に係るものを減算したものの実数分に
    基づいて変位を算出する請求項1記載の渦電流式非接触
    変位計。
JP28279990A 1990-10-18 1990-10-18 渦電流式非接触変位計 Pending JPH04155202A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017111073A (ja) * 2015-12-18 2017-06-22 株式会社ディスコ 静電気検出装置
CN108489370A (zh) * 2018-02-28 2018-09-04 天津职业技术师范大学 一种适用于铝材的电涡流测距系统及方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2017111073A (ja) * 2015-12-18 2017-06-22 株式会社ディスコ 静電気検出装置
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