JPH041620B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

（産業上の利用分野） 本発明は、人眼の障害検査装置、殊に人眼水晶
体の検査装置に関する。さらに詳細に述べると、
本発明は、人眼水晶体の光断面像の観察または記
録と、徹照法による水晶体の観察または記録によ
り、眼障害たとえば自内障の有無あるいはその進
行状態を知ることのできる眼障害検査装置に関す
る。 （従来技術） 人眼水晶体にスリツト光を投影し、そのスリツ
ト光投影軸に対し斜め方向から水晶体を観察する
ことにより、水晶体の光断面像を観察できるよう
にした、眼球水晶体断面観察装置はすでに公知で
ある。このばあい、観察光学系の結像面を、眼球
に投影されるスリツト光を含むをスリツト面と、
観察光学系の中の結像光学系の主平面との間の交
線を含む平面上に配置することにより、水晶体の
光断面像全体を合焦状態で観察できるようにする
ことも知られている。このような光学的配置はシ
ヤインプルの原理として知られているものであ
り、この原理を利用した水晶体断面観察装置は、
たとえば特願昭52−18511号に開示されている。
この公知の装置は、スリツト投影光により形成さ
れる水晶体の光断面像全体を合焦状態で観察でき
る利点はあるが、一回の観察は一つの断面につい
てしか行い得ないので、被検眼全体について観察
を行うには時間を要し、患者にあたる苦痛も大き
い。したたつて、たとえば白内障の検査のばあ
い、その白濁位置の正確な判断およびその経時的
な変化を常に観察し記録するには非常に不便であ
る。 水晶体の全体像の観察のために、被検眼にスリ
ツト光を投影し、スリツト投影光の眼底反射光に
より水晶体を照明するようにした方法も徹照法と
して知られている。また、この徹照法による観察
にさいし、有害角膜反射光が観察光学系に入り込
むのを防止するために、照明系に偏光子を、観察
系に検光子を配置することも知られており、その
例は、「臨床眼科」第32巻、第６号（1978年６月）
および日本眼科紀要1958年第62巻第380ページに
記載されている。しかし、従来の徹照法を利用し
た装置では、スリツト照明の照明方向の一定性、
照明光量の一定性、観察方向の一定性、観察位置
の一定性などについての保証がなく、記録、計測
などの対象にはなり得ない、という問題がある。 （発明の目的） 本発明は、被検眼水晶体の断面観察と徹照法に
よる全体観察の両方が可能であり、しかもそれら
の観察の記録も可能な眼障害検査装置を提供する
ことを目的とする。 （発明の構成） 上記目的を達成するため、本発明による眼障害
検査装置は次の構成を有する。すなわち、本発明
の装置は、被検眼にスリツト光を投影するための
スリツト投影手段と、該スリツト光による被検眼
水晶体の光断面を観察または撮像するための第１
光学系と、スリツト投影手段の投影光軸とほぼ同
軸の対物レンズ光軸を有する徹照法観察または撮
像用の第２光学系とを有する。本発明の好ましい
態様においては、第２光学系の結像点位置に、投
影スリツト光の水晶体入射位置を示す指標を有す
るレチクルが配置される。このレチクルと、第２
光学系の接眼レンズは、スリツト投影光学系の投
影光軸とほぼ同軸に配置し、スリツト投影光学系
と、水晶体の光断面を観察または撮像するための
第１光学系と、第２光学系のレチクルとは、スリ
ツト投影光軸のまわりに回転自在に配置すること
が好ましい。 さらに好ましい態様としては、第１光学系の接
眼レンズと第２光学系の接眼レンズとを共通に
し、両光学系のいずれか一方を選択して共通の光
学系により観察し得るようにする。また、第２光
学系による観察または撮像のさいに、有害角膜反
射光が観察または撮影光学系に入るのを防止する
ために、スリツト投影光学系に偏光板を配置し、
第２光学系にもこの偏光板による偏光光の偏光軸
と直角な偏光軸を持つ別の偏光板を配置すること
が好ましい。この第２光学系に配置される偏光板
は光路に対し挿脱自在にすることが好ましい。ま
た、第１光学系は、結像レンズの主平面と結像面
とが、水晶体の光断面に対しシヤインプルフの原
理を満足するように配置することが好ましい。 （発明の効果） 本発明によれば、被検眼のスリツト光による光
断面を観察または撮像するための第１光学系と、
徹照法観察または撮像のための第２光学系とが設
けれれているので、一台の装置で被検眼水晶体の
断面像と徹照像とを得ることができ、白内障など
の眼障害の経時的な変化を観察するのに非常に便
利である。また、徹照像の観察または撮像のため
の第２光学系にスリツト投影位置を示す指標を設
け、これを撮像時に徹照像とともに写し込むよう
にすれば、白内障などの経時変化の観察記録にさ
いし、同一のスリツト断面を容易に得ることがで
き、非常に便利である。 （実施例の説明） 全体構成 第１図を参照すると、本発明を実施した眼障害
検査装置は、スリツト投影光学系１０と、水晶体
断面撮影光学系２０と、徹照法撮影光学系３０
と、観察光学系４０と、濃度チヤート撮影系４５
とからなり、これらの光学系はすべてハウジング
１００内に収容されている。 スリツト投影光学系１０ スリツト投影光学系１０は、光源として観察用
タングステン電球１０１と写真撮影用キセノンラ
ンプ１０３とを有し、タングステン電球１０１と
キセノンランプ１０３との間には集光レンズ１０
２が配置されている。さらに、光源からの光束を
投影光路１０ａに沿つて導くために、集光レンズ
１０４が設けられており、投影光路１０ａに沿つ
て絞り１０５およびスリツト絞り１０６が配置さ
れている。スリツト絞り１０６は、光源からの光
束を細いスリツト状にして通すもので、このスリ
ツト絞り１０６を通過したスリツト光束は、第１
対物レンズ１０７を通り、ミラー１１０により直
角に反射されたのち、第２対物レンズ１０８を通
つてハーフミラー１０９により直角に反射され、
被検眼Etに投影光軸O₀方向に投影される。投影
光路１０ａには、必要に応じてフイルター１１１
が出し入れ可能に配置される。 集光レンズ１０２は、タングステン電球１０１
のフイラメント像をキセノンランプ１０３の電極
間隙すなわち発光点位置に集光させ、集光レンズ
１０４は、これらの光源からの光を平行光束とす
る。第１対物レンズ１０７は、スリツト絞り１０
６の位置に前側焦点をもち、スリツト絞り１０６
を通つた光束を平行光束とする。第２対物レンズ
１０８は第１対物レンズ１０７を通つた光束を被
検眼Etの前眼部主水晶体にスリツト像S₀として
結像させる。一般のスリツトランプにおいてよく
知られているように、スリツト絞り１０６はスリ
ツト長およびスリツト巾を任意に調節可能とする
ことが望ましく、またスリツト絞り１０６に近接
して種々の開口径をもつ円形開口板を配置して、
任意の大きな円形スポツト光を被検眼前眼部に投
影できるようにすることが望ましい。さらに、投
影光路１０ａには偏光フイルタからなる偏光子１
１２が後述の目的で挿入される。 水晶体断面撮像光学系２０ この光学系２０は、結像レンズ２０１とはね上
げミラー２０２と撮像フイルム面２０３とを有す
る。結像レンズ２０１はその光軸２０ａが被検眼
Et上のスリツト像S₀に対し斜めになるように配
置され、撮像フイルム面２０３も、光軸２０ａに
対し斜めに配置されている。結像レンズ２０１と
フイルム面２０３とは、被検眼Et上のスリツト
像S₀に対しシヤインプルフの原理を満足するよう
に、すなわち結像レンズ２０１の主面２０１ａと
フイルム面２０３の延長とが、スリツト像S₀を含
む平面上で交わるように配置される。この配置に
より、フイルム面２０３上に形成されるスリツト
断面像S₁は、断面ほぼ全体で合焦状態にすること
ができる。 はね上げミラー２０２は撮像フイルム面２０３
の前方に配置され、常時は撮像光路内に図に実線
で示すように挿入され、結像レンズ２０１を通る
光束を光軸２０ｂ方向に観察光学系４０に向けて
反射する。このミラー２０２は、図示しないシヤ
ツターと同期して、図に想像線で示す位置にはね
上げられ、結像レンズ２０１からの光束をフイル
ム面２０３に通す。 徹照法撮影光学系３０ この光学系３０は、スリツト投影光学系１０の
透過光軸すなわちスリツト光束の投影光軸O₀上
に光軸O₁を有するように配置された対物レンズ
３０１を有し、この対物レンズ３０１を通つた光
束を結像させるためにレチクル３０２が設けられ
る。レチクル３０２からの光束は、ミラー３０３
により反射され、リレーレンズ３０４，３０７を
経てはね上げミラー２０２にむけられる。リレー
レンズ３０７からの光束は、撮影時すなわちはね
上げミラー２０２が図に想像線で示すはね上げ位
置にあるときに、該ミラー２０２によりフイルム
面２０３に向けられて、フイルム面２０３に被検
眼Etの水晶体の全体像を結像させる。リレーレ
ンズ３０４，３０４間には偏光板からなる検光子
３０６が設けられており、この検光子３０６はそ
の偏光軸の方向が偏光子１１２の偏光軸と直角に
なるように配置され、投影光の被検眼角膜におけ
る反射光がフイルム面に達するのを防止する。リ
レーレンズ３０４の後方にはハーフミラー３０５
があり、リレーレンズ３０４を通つた光束の一部
を観察光学系４０に向けて反射する。 観察光学系４０ この光学系４０は、光学系２０のはね上げミラ
ー２０２の反射光軸２０ｂ上に配置されたレチク
ル４０１を有する。このレチクル４０１はフイル
ム面２０３と共役に配置されており、後述の目的
で、第３図に示すように指標線４０１ａ，４０１
ｂを有する。そして、ミラー２０２が図の実線位
置にあるとき、被検眼Et上のスリツト像S₀に対
応したスリツト断面像S₁′がこのレチクル４０１
上に結像される。光軸２０ｂ上にミラー４０２が
あり、このミラー４０２は光軸２０ｂに沿つて入
射する光束を観察光軸O₂に沿つて反射する。観
察光軸O₂は、対物レンズ３０１の光軸O₁と同軸
でありこの光軸O₂上にはリレーレンズ４０３お
よび回転レクチル４０４が設けられている。リレ
ーレンズ４０３と回転レチクル４０４は、レチク
ル４０１に対しシヤインプルフの原理にもとづい
て光学的に配置されており、レチクル４０１上に
スリツト断面像S₁′はレンズ４０３によりレチク
ル４０４上にスリツト断面像S₁″を形成する。回
転レチクル４０４上の像を観察するために、接眼
レンズ４０５が設けられている。 徹照法撮影光学系３０のハーフミラー３０５の
反射光路には、リレーレンズ４０６が配置され、
リレーレンズ４０６を通つた光束はミラー４０７
により光軸O₂の方に反射される。光軸O₂上には
ハーフミラー４０８が配置されてミラー４０７か
らの光束を回転レチクル４０４に向けて反射し、
該レチクル４０４上被検眼Etの徹照像を形成す
る。また、ハーフミラー３０５の反射光路には、
検光子３０６と同様な検光子４０９が光路に対し
出し入れ自在に配置されている。また、この観察
光学系４０には、レチクル４０１からの光束とハ
ーフミラー３０５からの光束のいずれか一方を選
択的に回転レチクル４０４に導くための切換シヤ
ツター４１０が設けられている。 指標投影系 第５図および第６図に示すように、レチクル３
０２は、保持枠５００と、これに嵌入接着された
透明なガラス板５０１から成り、ガラス板５０１
には周方向に90゜間隔に刻線溝５０２，５０３，
５０４，５０５が形成されている。この刻線溝５
０２〜５０５の各々の上には、内壁が光反射性を
有する半円管５３０，５３１，５３２，５３３が
接着されている。 一方保持枠５００には、周方向にそつて溝５１
０，５１１，５１２，５１３が形成され、これら
溝内には、それぞれオプテイカルフアイバー５２
０，５２１，５２２，５２３がそれぞれ嵌入接着
されている。これらオプテイカルフアイバーの射
出端面５２０ａ，５２１ａ，５２２ａ，５２３ａ
は斜めに切断されており、この斜切断面が上方に
くるよう上記刻線溝の端部に配置されている。４
本のオプテイカルフアイバー５２０〜５２３は一
束のフアイバー５２４にまとめられ、投影光学系
１０に配線され、途中から２又に分岐され１方の
入射端５２５はキセノンランプ１０３に他方の入
射端５２６はタングステンランプ１０１に対置さ
れている。入射端５２６とタングステンランプ１
０１の間にはたとえばグリーン色の単色フイルタ
ー５４０が配置される。 タングステンランプ１０１からの光はフイルタ
ー５４０でグリーン光にされオプテイカルフアイ
バーに入射し、射出端から射出される。このとき
射出端面は斜切断されているため射出光の多くは
ガラス板５０１の刻線溝５０２〜５０５側に屈折
射出され、さらに刻線溝壁の拡散面で拡散された
後ガラス板５０１を透過しミラー３０３側へ射出
していく。また刻線溝と反射側に射出した光束
は、半円管５３０〜５３３の反射内壁で反射され
刻線溝へ入射される。 回転レチクル４０４は第１図および第７図に示
すように透明ガラス板に２本の水平黒線４０４ｄ
をもつ観察視野部４０４ａとその円周方向にそつ
て形成された光学式あるいは磁気式のコード板部
４０４ｂと、このコード板のコードを検出する検
出ヘツド４０４ｃとから構成され、観察視野部４
０４ａは観察光軸を回転軸として回転可能に保持
され、検出ヘツド４０４ｃは接眼鏡筒に固定され
ている。検出ヘツド４０４ｃはレチクル回転量を
検出し、それを検出回路１０００で回転角値に変
換し、表示器１１００にてデジタル表示させる。
一方、回路１０００からの回転角値はデータ写し
込みコントローラ１２００を介してフイルム２０
３に直接配置されたデータ写込ヘツド１３００を
発光させフイルム上に回転角値をデジタル撮影す
る。 濃度チヤート撮影系４５ 第１図に示すように、オプテイカルフアイバー
４５１が一端をキセノンランプ１０３に向けて配
置され、オプテイカルフアイバー４５１の他端は
リレーレンズ４５２、NDフイルタ４５３および
濃度チヤート４５４からなる光学系に対向して置
かれている。。濃度チヤート４５４を通つた光束
はミラー４５６により反射されたのち、結像レン
ズ４５５を通り、はね上げ状態のミラー２０２に
より反射されてフイルム面２０３上に結像する。
これらの光学配置により濃度チヤート撮影系４５
が形成される。 ハウジング１００とその保持手段 前述のように、ハウジング１００内には上述の
光学系が収められており、このハウジング１００
は、Ｕ字型アームなどの適当な支持手段５によ
り、同軸は光軸O₀，O₁，O₂まわりに回転自在に
支持されている。接眼レンズ４０５と回転レチク
ル４０４の検出ヘツド４０４ｃは、保持手段５の
固定部に固着されており、ハウジング１００が回
転したときにも静止状態に保たれるように構成さ
れている。 作 動 シヤツター４１０を操作し、徹照法観察系を開
き、かつ検光子４０９を光路から引込めたのち、
投影光学系１０の観察用光源１０１を点燈し、ス
リツト１０６からのスリツト光を被検眼に投射す
る。光源１０からの光はグリーン色フイルター５
４０とオプテイカルフアイバー５２４を通り、レ
チクル３０２の刻線５０２〜５０５を照明し検者
は第２図に示すように接眼レンズ視野内にグリー
ン十字線像５０２′〜５０５′を観察できる。被検
眼と本装置のアライメントが不完全なとき、第２
ａ図に示すように被検眼瞳像Ｐとスリツト光の被
検眼角膜による一部反射光による像Ｒは、その中
心が互いにずれるとともに、十字線像５０２′〜
５０５′の交点中心からもずれて観察される。保
持手段５の上下左右動調節により瞳像Ｐの中心を
スリツト像交点中心に合致させ、スリツト像Ｒが
水平スリツト像５０３′〜５０５′と合致するよう
にする（第２ｂ図）。 次いで、検光子３１０を光路内に挿入する。角
膜から反射してきたスリツト光によるスリツト像
Ｒは、その偏光軸が検光子３１０の偏光軸と直角
なため、検光子３１０によりカツトされる。一
方、スリツト光の眼底からの反射光は、眼底の拡
散作用により偏光性をほとんど消失した無偏光な
光束となり、この反射光により照明されて被検眼
の徹照像が形成される。したがつて、検光子３１
０でカツトされない光束による徹照像を検者は観
察でき、かつ、その観察は、角膜反射光の影響を
まつたく受けない。徹照像の焦点合わせは保持手
段の前後動によりなされる。 次に、徹照像をもとに、白内障部位例えばＣで
示す混濁部の断面像観察を望む場合は、回転レチ
クル４０４を回転させ黒線４０４ｄを所望断面経
線にセツトする。（第２ｃ図）。 再び光路内から検光子３１０を引込め、ハウジ
ングを回転し、スリツト光の角膜反射像Ｒ及びこ
れと合致している水平スリツト像５０３′，５０
５′が黒線４０４ｄと一致する位置へ移動させる
（第２ｄ図）。 次に、光路切換シヤツター４１０を切換え、水
晶体断面観察光学系側の光路を開ける。スリツト
光による水晶体の光断面像は結像レンズ２０１に
よりレチクル４０１上に一旦結像される。このレ
チクル４０１には第３図に示したように指標線４
０１ａ，４０１ｂが形成されている。この指標線
４０１ａに角膜断面像_CS₁′の前面が、指標線４０
１ｂに水晶体断面像_LS₁′が一致していることをチ
エツクする。もし一致していないときは、ハウジ
ング１００を前後動させ一致させる。この操作に
より徹照像位置を常に一定にしうる。レチクル４
０１上の断面像_LS₁′はミラー４０２、リレーレン
ズ４０３、ハーフミラー４０８を介して回転レチ
クル４０４上に結像され、その像S₁′を接眼レン
ズで観察する。 これら観察された徹照像、断面像を写真撮影す
る場合には、図示しない写真撮影用レリーズスイ
ツチを操作することにより、はね上げミラー２０
２がはね上げられると同時にキセノンランプ１０
３が点燈する。 はね上げミラー２０２のはね上がりにより、水
晶体断面撮影光路が開かれ、断面像がフイルム２
０３上に第４図に示すように写し込まれる。これ
と同時に、徹照法像は、レチクル３０２の十字線
像とともにハーフミラー３０５を透過し、検光子
３０６で角膜反射スリツト像がカツトされたの
ち、はね上げミラーのはね上がり位置で反射さ
れ、フイルム２０３に写し込まれる。 ハウジング１００の回転によりフイルム２０３
も一体に回転されるためにフイルム２０３上への
十字線像５０２′び〜５０５′の位置は変わらない
が、水晶体徹照像Ｐはハウジング１００の回転に
ともなう相対回転位置で写し込まれる。このた
め、水平十字線像５０３′，５０５′の位置がスリ
ツト切断面すなわち水晶体断面位置を示すことに
なる。 白内障の継時変化を観察・記録するために、前
回の撮影記録をもとに、同一水晶体経線の断面を
観察・記録したいときは、フイルム内の十字線回
転角データ１５００ａの数値に、まず回転レチク
ルの黒線４０４ｄを表示器１１００の表示を見な
がら合わせ、次に接眼レンズをのぞいて、そのセ
ツトされた黒線４０４ｄの位置に水平十字線像が
くるようにハウジング１００を回転させ、スリツ
ト投影方向をセツトさせる。 また同時に、濃度チヤート像４５４ａが濃度チ
ヤート撮影光学系を介してはね上げミラーのはね
上がり位置で反射され、フイルム２０３に写し込
まれる。 さらに、このフイルムには黒線４０４ｄの回転
角量、すなわちスリツト入射角量１３００ａがデ
ータ写し込みヘツドによりデジタル値として写し
込まれる。 その他の実施例 第８ａ図および第８ｂ図に示すように、刻線溝
５０２〜５０５の後に反射プリズム２０００をは
り合わせ、この反射プリズム２０００の一面にオ
プテイカルフアイバー５２４を接着し、フアイバ
ーからの光をプリズム２０００の反射面で反射さ
せ刻線溝から透過させるようにしてもよい。 また、接眼レンズの代わりに撮影管を設け、観
察用照射を赤外光によつて行つてもよく、撮影フ
イルムの代わりにVTR装置を使用してもよい。
さらに徹照法観察はスリツト光ではなく円形光束
で行つてもよい。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す眼障害検査装
置の光学系の概略図、第２図ａ，ｂ，ｃ，ｄはそ
の使用方法を示す接眼部の略図、第３図は接眼部
の回転レチクルの略図、第４図は撮影された像の
例を示す略図、第５図は徹照法撮影光学系内のレ
チクルを示す正面図、第６図は第５図のレチクル
のＡ−Ａ線断面図、第７図は接眼部の回転レチク
ルの正面図、第８ａ図は徹照法撮影光学系のレチ
クルの部分正面図、第８ｂ図は第８ａ図のレチク
ルの一部の断面図である。 １０……スリツト投影光学系、２０……水晶体
断面撮影光学系、３０……徹照法撮影光学系、４
０……観察光学系、４５……濃度チヤート撮影
系、１０６……スリツト絞り、２０１……結像レ
ンズ、２０２……はね上げミラー、２０３……撮
影フイルム面、３０１……対物レンズ、４０３…
…結像レンズ、４０５……接眼レンズ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 被検眼にスリツト光を投影するためのスリツ
   ト投影手段と、該スリツト光による被検眼水晶体
   の光断面を観察するための第１光学系とを有する
   眼障害検査装置において、前記スリツト投影手段
   の投射光軸とほぼ同軸の対物レンズ光軸を有す
   る、被検眼水晶体の徹照法観察用の第２光学系が
   設けられたことを特徴とする眼障害検査装置。 ２ 第２光学系は結像点を有し、該結像点位置に
   はスリツト光の水晶体入射位置を指す指標を有す
   るレチクルが配置されたことを特徴とする特許請
   求の範囲第１項記載の検査装置。 ３ 第２光学系の前記レクチル及び接眼レンズは
   スリツト投影手段の投射光軸とほぼ同軸であり、
   かつ水晶体光断面を観察するための第１光学系、
   スリツト投影手段及び前記第２光学系の少なくと
   もレクチルは前記投射光軸と回転軸として回転可
   能としたことを特徴とする特許請求の範囲第２項
   記載の検査装置。 ４ 第１光学系の接眼レンズと第２光学系の接眼
   レンズとは共通であり、両光学系のいずれか一方
   を選択する選択手段を有することを特徴とする特
   許請求の範囲第２項または第３項記載の検査装
   置。 ５ スリツト投影手段は第１の偏光板を有し、第
   ２光学系は該第１偏光板による偏光光の偏光軸と
   直角な偏光軸をもつ第２偏光板を有していること
   を特徴とする特許請求の範囲第１項記載の検査装
   置。 ６ スリツト投影手段は第１の偏光板を有し、第
   ２光学系には該第１偏光板による偏光光の偏光軸
   と直角な偏光軸をもつ第２偏光板が挿脱自在に配
   置されたことを特徴とする特許請求の範囲第２項
   ないし第４項いずれかに記載の検査装置。 ７ 第１光学系は水晶体の光断面と、結像レンズ
   の主平面と、該結像レンズによる該光断面の像と
   がシヤインプルフの原理にもとずく光学配置であ
   ることを特徴とする特許請求の範囲第１項ないし
   第６項いずれかに記載の検査装置。 ８ 被検眼水晶体にスリツト光を投影するための
   スリツト投影手段と、該スリツト光による該水晶
   体の光断面を撮像するための第１の撮像光学系
   と、前記スリツト投影手段の投射光軸とほぼ同軸
   の対物レンズ光軸を有する、被検眼水晶体の徹照
   法撮像用の第２の撮像光学系を有することを特徴
   とする眼障害検査装置。 ９ 第２の撮像光学系は水晶体の徹照法像を観察
   するための徹照法観察光学系を有することを特徴
   とする特許請求の範囲第８項記載の検査装置。 １０ 第１撮像光学系は水晶体光断面を観察する
   ための水晶体断面観察光学系を有することを特徴
   とする特許請求の範囲第９項記載の検査装置。 １１ 第２撮像光学系は中間結像点を有し、該結
   像点にはスリツト光の水晶体入射位置を指す指標
   を有するレチクルが配置されたことを特徴とする
   特許請求の範囲第１０項記載の検査装置。 １２ 徹照法観察光学系の前記レクチル及び接眼
   レンズはスリツト投影手段の投射光軸とほぼ同軸
   であり、かつ第１撮像光学系、スリツト投影手段
   及び前記レチクルは前記投射光軸を回転軸として
   回転可能としたことを特徴とする特許請求の範囲
   第１１項記載の検査装置。 １３ 徹照法観察光学系の接眼レンズと水晶体断
   面観察光学系の接眼レンズは共通であり、両視察
   光学系のいずれか一方を選択する選択手段を有す
   ることを特徴とする特許請求の範囲第１０項ない
   し１２項いずれかに記載の検査装置。 １４ スリツト投影手段は第１の偏光板を有し、
   第２撮像光学系のレクチルと撮像面との間に前記
   第１偏光板と直角の偏光軸を有する第２の偏光板
   を配したことを特徴とする特許請求の範囲第１１
   項ないし第１３項いずれかに記載の検査装置。 １５ 徹照法観察光学系には第１偏光板と直角の
   偏光軸を有する第３の偏光板をレクチルと接眼レ
   ンズの間に挿脱自在に配したことを特徴とする特
   許請求の範囲第１４項記載の検査装置。 １６ 前記第１または第２の撮像光学系の撮像手
   段は写真撮像手段であることを特徴とする特許請
   求の範囲第８項ないし第１５項のいずれかに記載
   の検査装置。 １７ 写真撮像手段は、水晶体断面像と徹照法像
   をフイルムの１つのコマに写し込むことを特徴と
   する特許請求の範囲第１６項記載の検査装置。 １８ 第１撮像光学系の結像レンズの主平面と撮
   像面及び水晶体光断面とはシヤインプルフの原理
   にもとずく光学配置であることを特徴とする特許
   請求の範囲第８項ないし第１７項いずれかに記載
   の検査装置。