JPH04169003A - 非還元性誘電体磁器組成物 - Google Patents
非還元性誘電体磁器組成物Info
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- JPH04169003A JPH04169003A JP2296546A JP29654690A JPH04169003A JP H04169003 A JPH04169003 A JP H04169003A JP 2296546 A JP2296546 A JP 2296546A JP 29654690 A JP29654690 A JP 29654690A JP H04169003 A JPH04169003 A JP H04169003A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は非還元性誘電体磁器組成物に関し、特にたと
えば積層コンデンサなどの材料として使用される、非還
元性誘電体磁器組成物に関する。
えば積層コンデンサなどの材料として使用される、非還
元性誘電体磁器組成物に関する。
(従来技術)
従来の誘電体磁器組成物では、中性または還元性の低酸
素分圧下で焼成すると還元され、半導体化してしまうと
いう性質を有していた。そのため、このような誘電体材
料を積層コンデンサなどの材料として用いると、内部電
極材料としては、誘電体磁器材料の焼結する温度で熔融
せず、かつ誘電体磁器材料を半導体化させない高酸素分
圧下で焼成しても酸化されないパラジウム、白金などの
貴金属を用いる必要があった。このように、内部電極材
料として高価なものを使用しなければならないため、積
層コンデンサの製造コストが大きくなっていた。
素分圧下で焼成すると還元され、半導体化してしまうと
いう性質を有していた。そのため、このような誘電体材
料を積層コンデンサなどの材料として用いると、内部電
極材料としては、誘電体磁器材料の焼結する温度で熔融
せず、かつ誘電体磁器材料を半導体化させない高酸素分
圧下で焼成しても酸化されないパラジウム、白金などの
貴金属を用いる必要があった。このように、内部電極材
料として高価なものを使用しなければならないため、積
層コンデンサの製造コストが大きくなっていた。
そこで、このような問題を解決するために、ニッケルな
どの安価な卑金属を内部電極材料として使用することが
考えられる。しかしながら、このような卑金属を内部電
極材料として使用し、従来の条件下で焼成すると、電極
材料が酸化してしまい、電極としての機能を果たさない
、このような卑金属を電極材料として使用するためには
、酸素分圧の低い中性または還元性の雰囲気中で焼成し
ても半導体化せず、コンデンサ用の誘電体材料として十
分な比抵抗と優れた誘電特性とを有する誘電体磁器材料
が必要とされている。
どの安価な卑金属を内部電極材料として使用することが
考えられる。しかしながら、このような卑金属を内部電
極材料として使用し、従来の条件下で焼成すると、電極
材料が酸化してしまい、電極としての機能を果たさない
、このような卑金属を電極材料として使用するためには
、酸素分圧の低い中性または還元性の雰囲気中で焼成し
ても半導体化せず、コンデンサ用の誘電体材料として十
分な比抵抗と優れた誘電特性とを有する誘電体磁器材料
が必要とされている。
これらの条件を満たすものとして、たとえば特開昭62
−256422号公報に示されたBaTiC3−CaZ
rC)+ −MnO−MgO系の材料や、特公昭61−
14611号公報に示されたBaTio、、 (M
g、Zn、Sr、Ca)○−B203−5iO□系の材
料などの非還元性誘電体磁器組成物が提案されている。
−256422号公報に示されたBaTiC3−CaZ
rC)+ −MnO−MgO系の材料や、特公昭61−
14611号公報に示されたBaTio、、 (M
g、Zn、Sr、Ca)○−B203−5iO□系の材
料などの非還元性誘電体磁器組成物が提案されている。
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら、特開昭62−256422号公報に示さ
れた非還元性誘電体磁器組成物では、CaZro、や焼
成過程で生成するCaTiO2がMnなどとともに2次
相を生成しやすいため、高温における信頼性の低下につ
ながる危険性がある。
れた非還元性誘電体磁器組成物では、CaZro、や焼
成過程で生成するCaTiO2がMnなどとともに2次
相を生成しやすいため、高温における信頼性の低下につ
ながる危険性がある。
また、特公昭61−14611号公報に示された非還元
性誘電体磁器組成物では、得られる誘電体の誘電率が2
000〜2800であり、パラジウムなどの貴金属を使
用している従来の誘電体磁器組成物を用いた誘電体の誘
電率3000〜3500に比べると劣っている。したが
って、コストダウンのために特公昭61−14611号
公報に示された組成物を従来材料に代えることは、小型
大容量化という点で不利であり、問題が残る。
性誘電体磁器組成物では、得られる誘電体の誘電率が2
000〜2800であり、パラジウムなどの貴金属を使
用している従来の誘電体磁器組成物を用いた誘電体の誘
電率3000〜3500に比べると劣っている。したが
って、コストダウンのために特公昭61−14611号
公報に示された組成物を従来材料に代えることは、小型
大容量化という点で不利であり、問題が残る。
さらに、特公昭61−14611号公報に示された非還
元性誘電体磁器組成物を用いた誘電体では、容量の温度
変化率は、+20℃の容量値を基準としたときに、−2
5℃〜+85℃の範囲では±10%であるが、+85℃
を越える高温では10%を大きく超えてしまい、EIA
規格に規定されているX7R特性をも大きくはずれてし
まう。
元性誘電体磁器組成物を用いた誘電体では、容量の温度
変化率は、+20℃の容量値を基準としたときに、−2
5℃〜+85℃の範囲では±10%であるが、+85℃
を越える高温では10%を大きく超えてしまい、EIA
規格に規定されているX7R特性をも大きくはずれてし
まう。
それゆえに、この発明の主たる目的は、低酸素分圧下で
焼成しても半導体化せずに焼成でき、絶縁抵抗および誘
電率が大きく、容量の温度特性が良好で、かつ積層コン
デンサなどの素子を薄膜化することができる非還元性誘
電体磁器組成物を提供することである。
焼成しても半導体化せずに焼成でき、絶縁抵抗および誘
電率が大きく、容量の温度特性が良好で、かつ積層コン
デンサなどの素子を薄膜化することができる非還元性誘
電体磁器組成物を提供することである。
(課題を解決するための手段)
この発明は、未反応のBaOの含有量が0.7重量%以
下でかつB a / T iモル比が1.005〜1.
025であるBaTiOsが95.0〜98.0モル%
と、La、Nd、Sm、 Dy、Erの中から選ばれる
少なくとも1種類の希土類酸化物が2.0〜5.0モル
%とからなる主成分100重量部に対して、副成分とし
てM n Oを0. 3〜1.5重量部およびBaO−
SrO−Li20−3in、を主成分とする酸化物ガラ
スを0. 5〜2.5重量部含有した、非還元性誘電体
磁器組成物である。
下でかつB a / T iモル比が1.005〜1.
025であるBaTiOsが95.0〜98.0モル%
と、La、Nd、Sm、 Dy、Erの中から選ばれる
少なくとも1種類の希土類酸化物が2.0〜5.0モル
%とからなる主成分100重量部に対して、副成分とし
てM n Oを0. 3〜1.5重量部およびBaO−
SrO−Li20−3in、を主成分とする酸化物ガラ
スを0. 5〜2.5重量部含有した、非還元性誘電体
磁器組成物である。
(発明の効果)
この発明によれば、低酸素分圧下においても半導体化せ
ずに焼成可能である。したがって、この非還元性誘電体
磁器組成物を用いれば、内部電極材料として卑金属を使
用することができる。そのため、貴金属を電極材料とし
て用いた従来のものに比べて、積層セラミックコンデン
サのコストダウンを図ることができる。
ずに焼成可能である。したがって、この非還元性誘電体
磁器組成物を用いれば、内部電極材料として卑金属を使
用することができる。そのため、貴金属を電極材料とし
て用いた従来のものに比べて、積層セラミックコンデン
サのコストダウンを図ることができる。
また、得ら・れた誘電体は、誘電率が3000以上であ
り、絶縁抵抗の対数値1oglRが11゜0以上の値を
有する。さらに、容量の温度特性は、+20℃の容量値
を基準としたときに、−55℃〜+125℃の広い範囲
で±15%以内の値を有する。
り、絶縁抵抗の対数値1oglRが11゜0以上の値を
有する。さらに、容量の温度特性は、+20℃の容量値
を基準としたときに、−55℃〜+125℃の広い範囲
で±15%以内の値を有する。
この発明の上述の目的、その他の目的、特徴および利点
は、以下の実施例の詳細な説明から一層明らかとなろう
。
は、以下の実施例の詳細な説明から一層明らかとなろう
。
(実施例)
まず、原料としてBa CO3およびTiO□を準備し
、BaTiO3を生成するような比率で秤量したのち、
ジルコニアボールを用いたボールミルで十分混合粉砕し
て、混合物を得た。次に、この混合物中の分散媒を蒸発
させたのち、1150℃で3時間仮焼し、微粉砕してB
aTiC)+を作製した。このBaTiC)+中に含ま
れる未反応BaOの含有量は、0.4%であった。同様
に、仮焼条件を変えることによって、未反応BaTiO
3の含有量がそれぞれ0.6%、0.8%、1゜0%で
あるB a T i O=を作製した。
、BaTiO3を生成するような比率で秤量したのち、
ジルコニアボールを用いたボールミルで十分混合粉砕し
て、混合物を得た。次に、この混合物中の分散媒を蒸発
させたのち、1150℃で3時間仮焼し、微粉砕してB
aTiC)+を作製した。このBaTiC)+中に含ま
れる未反応BaOの含有量は、0.4%であった。同様
に、仮焼条件を変えることによって、未反応BaTiO
3の含有量がそれぞれ0.6%、0.8%、1゜0%で
あるB a T i O=を作製した。
また、73 a T i OzのBa/Tiモル比補正
のためのBaC○:+ 、La、Nd、Sm、D)’、
ErO中から選ばれる少なくとも1種類の希土類酸化物
Rez O3,MnOおよびBaO−SrO−L t
z OS iOzを主成分とする酸化物ガラスを準備し
た。そして、これらの材料とBaTiO3とを表1に示
す組成比率となるように秤量し、秤量物を得た。この秤
量物に酢酸ビニル系バインダを5重量%添加し、湿式混
合したのち、蒸発。
のためのBaC○:+ 、La、Nd、Sm、D)’、
ErO中から選ばれる少なくとも1種類の希土類酸化物
Rez O3,MnOおよびBaO−SrO−L t
z OS iOzを主成分とする酸化物ガラスを準備し
た。そして、これらの材料とBaTiO3とを表1に示
す組成比率となるように秤量し、秤量物を得た。この秤
量物に酢酸ビニル系バインダを5重量%添加し、湿式混
合したのち、蒸発。
乾燥および整粒の工程を経て粉末を得た。得られた粉末
を2ton/c!1の圧力で、直径10fi、厚さ11
の円板状にプレス成形して成形体を得た。
を2ton/c!1の圧力で、直径10fi、厚さ11
の円板状にプレス成形して成形体を得た。
この成形体を空気中において400℃で3時間保持する
ことにより脱バインダ処理し、体積比でH2:N2−3
: 100の還元雰囲気ガス気流中において、表2に
示す温度で2時間焼成して磁器を得た。得られた磁器の
両面にAgペーストを塗布し、焼き付けることによって
、Ag電極を形成してコンデンサとした。
ことにより脱バインダ処理し、体積比でH2:N2−3
: 100の還元雰囲気ガス気流中において、表2に
示す温度で2時間焼成して磁器を得た。得られた磁器の
両面にAgペーストを塗布し、焼き付けることによって
、Ag電極を形成してコンデンサとした。
このコンデンサについて、室温における誘電率(ε)、
誘電損失(tanδ)、絶縁抵抗および容量の温度変化
率を測定し、その結果を表2に示した。
誘電損失(tanδ)、絶縁抵抗および容量の温度変化
率を測定し、その結果を表2に示した。
なお、誘電率(ε)、誘電損失(tanδ)については
、温度25℃1周波数1kHz、交流IVの条件で測定
した。また、絶縁抵抗については、温度25℃、直流5
00Vの条件で測定し、その対数値(n o g I
R)を示した。さらに、容量温度変化率については、2
5℃における容量値を基準としたときの一55℃におけ
る変化率(ΔC−5,7□5)および125℃における
変化率(ΔC,!S。
、温度25℃1周波数1kHz、交流IVの条件で測定
した。また、絶縁抵抗については、温度25℃、直流5
00Vの条件で測定し、その対数値(n o g I
R)を示した。さらに、容量温度変化率については、2
5℃における容量値を基準としたときの一55℃におけ
る変化率(ΔC−5,7□5)および125℃における
変化率(ΔC,!S。
25)を示した。また、−55〜125℃における容量
温度変化率の最大値の絶対値、いわゆる最大変化率(1
ΔC/ Czs l□X)を示した。
温度変化率の最大値の絶対値、いわゆる最大変化率(1
ΔC/ Czs l□X)を示した。
表中、試料番号1〜19は、未反応のBaOの含有量が
0.4%のBaTi0iを使用した。また、試料番号2
0,21.22は、それぞれ未反応のBaOの含有量が
0.6%、0.8%、1゜0%のB a T i Oz
を使用した。
0.4%のBaTi0iを使用した。また、試料番号2
0,21.22は、それぞれ未反応のBaOの含有量が
0.6%、0.8%、1゜0%のB a T i Oz
を使用した。
次に、主成分および副成分の組成範囲を限定した理由に
ついて説明する。
ついて説明する。
試料番号2,3のように、BaTi0.の構成比率が9
5.0モル%未満すなわち希土類酸化物の構成比率が5
.0モル%を超えると、低温側および高温側での容量温
度変化率が大きくなり、−15%を大きく超えてしまう
ためである。また、試料番号4のように、BaTi0i
の構成比率が98.9モル%を超えると、すなわち希土
類酸化物の構成比率が2.0モル%未満であると、キュ
リー点付近での容量温度変化率が大きくはずれてしまう
ためである。
5.0モル%未満すなわち希土類酸化物の構成比率が5
.0モル%を超えると、低温側および高温側での容量温
度変化率が大きくなり、−15%を大きく超えてしまう
ためである。また、試料番号4のように、BaTi0i
の構成比率が98.9モル%を超えると、すなわち希土
類酸化物の構成比率が2.0モル%未満であると、キュ
リー点付近での容量温度変化率が大きくはずれてしまう
ためである。
試料番号5のように、BaTiO3のBa/Tiモル比
が1.005未満であると、中性あるいは還元性雰囲気
中で焼成した際に組織が半導体化してしまうためである
。また、試料番号8のように、BaTi0.のB a
/ T iモル比が1.025を超えると、焼結性が著
しく低下するためである。
が1.005未満であると、中性あるいは還元性雰囲気
中で焼成した際に組織が半導体化してしまうためである
。また、試料番号8のように、BaTi0.のB a
/ T iモル比が1.025を超えると、焼結性が著
しく低下するためである。
試料番号21.22のように、BaTi0.中の未反応
のBaOが0.7重蓋%を超えると、低温側および高温
側における容量温度変化率が大きくマイナス側にはずれ
るためである。
のBaOが0.7重蓋%を超えると、低温側および高温
側における容量温度変化率が大きくマイナス側にはずれ
るためである。
試料番号12のように、M n Oの添加量が0゜3重
量部未満であると、組織の耐還元性向上に効果がなくな
り、絶縁抵抗値が大きく低下するとともに、容量温度変
化率が高温部、低温部ともに大きくはずれてしまうため
である。また、試料番号11のように、MnOの添加量
が1.5重量部を超えると、絶縁抵抗値の低下が認めら
れるためである。
量部未満であると、組織の耐還元性向上に効果がなくな
り、絶縁抵抗値が大きく低下するとともに、容量温度変
化率が高温部、低温部ともに大きくはずれてしまうため
である。また、試料番号11のように、MnOの添加量
が1.5重量部を超えると、絶縁抵抗値の低下が認めら
れるためである。
試料番号16のように、Ba0−S ro−L i、0
−5iO,を主成分とする酸化物ガラスの添加量が0.
5重量部未満であると、耐還元性の向上に効果がないた
めである。また、試料番号15のように、酸化物ガラス
の添加量が2,5重量部を超えると、誘電率の低下が生
じるためである。
−5iO,を主成分とする酸化物ガラスの添加量が0.
5重量部未満であると、耐還元性の向上に効果がないた
めである。また、試料番号15のように、酸化物ガラス
の添加量が2,5重量部を超えると、誘電率の低下が生
じるためである。
それに対して、この発明の非還元性誘電体磁器組成物で
は、BaTiOxおよび希土類酸化物を主成分とする誘
電体材料にM n O、酸化物ガラスを添加することに
より、中性または還元性雰囲気中において1260〜1
300℃の温度で焼成しても、セラミックが還元されて
半導体化することがない。しかも、loglRで11.
0以上の高い絶縁抵抗を示し、3000以上の高誘電率
を有し、さらに容量温度変化率もEIA規格のX7R特
性を満足する非還元性誘電体磁器組成物を得ることがで
きる。
は、BaTiOxおよび希土類酸化物を主成分とする誘
電体材料にM n O、酸化物ガラスを添加することに
より、中性または還元性雰囲気中において1260〜1
300℃の温度で焼成しても、セラミックが還元されて
半導体化することがない。しかも、loglRで11.
0以上の高い絶縁抵抗を示し、3000以上の高誘電率
を有し、さらに容量温度変化率もEIA規格のX7R特
性を満足する非還元性誘電体磁器組成物を得ることがで
きる。
また、この非還元性誘電体磁器組成物を、たとえば積層
セラミックコンデンサの誘電体材料として用いれば、ニ
ッケルなどで代表される卑金属を内部電極材料として使
用することが可能となり、従来より使用されてきたパラ
ジウムなどの貴金属を内部電極とする積層セラミックコ
ンデンサと比較して、特性を劣化させることなく大幅な
コストダウンを行うことができる。
セラミックコンデンサの誘電体材料として用いれば、ニ
ッケルなどで代表される卑金属を内部電極材料として使
用することが可能となり、従来より使用されてきたパラ
ジウムなどの貴金属を内部電極とする積層セラミックコ
ンデンサと比較して、特性を劣化させることなく大幅な
コストダウンを行うことができる。
なお、この実施例では、単板コンデンサについて各特性
を測定したが、同じ組成物をシート成形しチップ加工を
行った積層コンデンサにおいても、はぼ同様の結果が得
られる。
を測定したが、同じ組成物をシート成形しチップ加工を
行った積層コンデンサにおいても、はぼ同様の結果が得
られる。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 未反応のBaOの含有量が0.7重量%以下でかつBa
/Tiモル比が1.005〜1.025であるBaTi
O_3が95.0〜98.0モル%と、La,Nd,S
m,Dy,Erの中から選ばれる少なくとも1種類の希
土類酸化物が2.0〜5.0モル%とからなる主成分1
00重量部に対して、 副成分としてMnOを0.3〜1.5重量部およびBa
O−SrO−Li_2O−SiO_2を主成分とする酸
化物ガラスを0.5〜2.5重量部含有した、非還元性
誘電体磁器組成物。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2296546A JP2869900B2 (ja) | 1990-10-31 | 1990-10-31 | 非還元性誘電体磁器組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2296546A JP2869900B2 (ja) | 1990-10-31 | 1990-10-31 | 非還元性誘電体磁器組成物 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04169003A true JPH04169003A (ja) | 1992-06-17 |
| JP2869900B2 JP2869900B2 (ja) | 1999-03-10 |
Family
ID=17834932
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2296546A Expired - Lifetime JP2869900B2 (ja) | 1990-10-31 | 1990-10-31 | 非還元性誘電体磁器組成物 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2869900B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE112012000451T5 (de) | 2011-01-12 | 2013-10-24 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Keramischer Mehrschichtenkondensator und Verfahren zur Herstellung eines keramischen Mehrschichtenkondensators |
| KR20150023546A (ko) | 2012-07-10 | 2015-03-05 | 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 | 적층 세라믹 콘덴서 및 그 제조방법 |
| KR20150027165A (ko) | 2012-07-10 | 2015-03-11 | 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 | 적층 세라믹 콘덴서 및 그 제조방법 |
-
1990
- 1990-10-31 JP JP2296546A patent/JP2869900B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE112012000451T5 (de) | 2011-01-12 | 2013-10-24 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Keramischer Mehrschichtenkondensator und Verfahren zur Herstellung eines keramischen Mehrschichtenkondensators |
| US9153382B2 (en) | 2011-01-12 | 2015-10-06 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Multilayer ceramic capacitor and method for manufacturing multilayer ceramic capacitor |
| KR20150023546A (ko) | 2012-07-10 | 2015-03-05 | 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 | 적층 세라믹 콘덴서 및 그 제조방법 |
| KR20150027165A (ko) | 2012-07-10 | 2015-03-11 | 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 | 적층 세라믹 콘덴서 및 그 제조방법 |
| US9362053B2 (en) | 2012-07-10 | 2016-06-07 | Murata Manufacturing Co. Ltd. | Multilayer ceramic capacitor and method of manufacturing the same |
| US9373445B2 (en) | 2012-07-10 | 2016-06-21 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Multilayer ceramic capacitor and method of manufacturing the same |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2869900B2 (ja) | 1999-03-10 |
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