JPH04172830A - エラーパルス延伸回路 - Google Patents
エラーパルス延伸回路Info
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- JPH04172830A JPH04172830A JP2303254A JP30325490A JPH04172830A JP H04172830 A JPH04172830 A JP H04172830A JP 2303254 A JP2303254 A JP 2303254A JP 30325490 A JP30325490 A JP 30325490A JP H04172830 A JPH04172830 A JP H04172830A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pulses
- error
- pulse
- counters
- frame
- Prior art date
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/0703—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation
- G06F11/0751—Error or fault detection not based on redundancy
- G06F11/0754—Error or fault detection not based on redundancy by exceeding limits
- G06F11/076—Error or fault detection not based on redundancy by exceeding limits by exceeding a count or rate limit, e.g. word- or bit count limit
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/01—Shaping pulses
- H03K5/04—Shaping pulses by increasing duration; by decreasing duration
- H03K5/05—Shaping pulses by increasing duration; by decreasing duration by the use of clock signals or other time reference signals
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L1/00—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
- H04L1/24—Testing correct operation
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- Nonlinear Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[概要]
デジタルデータ伝送において、データ中に検出されるエ
ラーパルスを時間的に延伸して出力するエラーパルス延
伸回路に関し、 1フレームのデータに複数のエラーパルスが含まれる場
合にそれらのエラーパルスを時間的に延伸して、エラー
パルスの検出を確実に行うことを目的とし、 各フレームで検出された複数のエラーパルスを時間的に
延伸して出力するエラーパルス延伸回路であって、エラ
ーパルスをカウントするカウント手段と、データの基準
クロックパルスを所定の比率で分周する分周手段と、カ
ウント手段のカウントした個数だけの分周クロックパル
スを連続的に出力するパルス発生手段を備えたことを特
徴とするエラーパルス延伸回路である。
ラーパルスを時間的に延伸して出力するエラーパルス延
伸回路に関し、 1フレームのデータに複数のエラーパルスが含まれる場
合にそれらのエラーパルスを時間的に延伸して、エラー
パルスの検出を確実に行うことを目的とし、 各フレームで検出された複数のエラーパルスを時間的に
延伸して出力するエラーパルス延伸回路であって、エラ
ーパルスをカウントするカウント手段と、データの基準
クロックパルスを所定の比率で分周する分周手段と、カ
ウント手段のカウントした個数だけの分周クロックパル
スを連続的に出力するパルス発生手段を備えたことを特
徴とするエラーパルス延伸回路である。
[産業上の利用分野]
この発明は、デジタルデータ伝送において、デ−タの各
フレームで検出されれるエラーパルスを時間的に延伸し
て出力するエラーパルス延伸回路に関する。
フレームで検出されれるエラーパルスを時間的に延伸し
て出力するエラーパルス延伸回路に関する。
[従来の技術]
従来、この種のエラーパルス延伸回路においては、いわ
ゆるパリティチエツク方式によって伝送誤り率を検出す
るためにデータの各フレームに1ビツトずつ検出される
エラーパルスのパルス幅を延伸するようにしf二回路が
知られている(例えば特開昭64−46339号公報参
照)。
ゆるパリティチエツク方式によって伝送誤り率を検出す
るためにデータの各フレームに1ビツトずつ検出される
エラーパルスのパルス幅を延伸するようにしf二回路が
知られている(例えば特開昭64−46339号公報参
照)。
し発明が解決しようとする課題]
ところで、デジタルデータ伝送においては、たとえば、
第4図に示すS OS E T (5ynchrono
usOptical NETvork)の5TS−12
のフレームフォーマットのように1フレーム中にエラー
パルス(パリティbit)が複数個(B1 :8bit
、 B2 :96bit)存在するものが見られる。し
かし、従来のエラーパルス延伸回路は、lフレームに1
ビツトだけ含まれるエラーパルスの延伸には適用可能で
あるが、1フレームに複数のエラーパルスか含まれる場
合には、適用できないという問題点があった。
第4図に示すS OS E T (5ynchrono
usOptical NETvork)の5TS−12
のフレームフォーマットのように1フレーム中にエラー
パルス(パリティbit)が複数個(B1 :8bit
、 B2 :96bit)存在するものが見られる。し
かし、従来のエラーパルス延伸回路は、lフレームに1
ビツトだけ含まれるエラーパルスの延伸には適用可能で
あるが、1フレームに複数のエラーパルスか含まれる場
合には、適用できないという問題点があった。
[課題を解決するための手段j
この発明は、各フレームのデータ中に検出される複数の
エラーパルスを時間的に延伸して出力するエラーパルス
延伸回路であって、エラーパルスをカウントするカウン
ト手段と、データの基準クロックパルスを所定の比率て
分周する分周手段と、カウント手段のカウントした個数
だけの分周クロックパルスを連続的に出力するパルス発
生手段を備えたことを特徴とするエラーパルス延伸回路
である。
エラーパルスを時間的に延伸して出力するエラーパルス
延伸回路であって、エラーパルスをカウントするカウン
ト手段と、データの基準クロックパルスを所定の比率て
分周する分周手段と、カウント手段のカウントした個数
だけの分周クロックパルスを連続的に出力するパルス発
生手段を備えたことを特徴とするエラーパルス延伸回路
である。
上記パルス発生手段は、カウント手段によってカウント
された数だけ分周クロックパルスをカウントするカウン
タ回路と、航記カウンタ回路のカウント期間だけ分周ク
ロックパルスを出力するフリップフロブプ回路を備えた
回路であることが好ましい。
された数だけ分周クロックパルスをカウントするカウン
タ回路と、航記カウンタ回路のカウント期間だけ分周ク
ロックパルスを出力するフリップフロブプ回路を備えた
回路であることが好ましい。
第1図はこの発明の原理を示すブロック図であり、lo
tはlフレームのデータ中に検出される複数のエラーパ
ルスをカウントするカウント手段、102はデータの基
準クロックパルスを所定の比率に分周する分周手段、1
03はカウント手段lO1をカウントした個数だけの分
周クロックパルスを連続的に出力するパルス発生手段で
ある。
tはlフレームのデータ中に検出される複数のエラーパ
ルスをカウントするカウント手段、102はデータの基
準クロックパルスを所定の比率に分周する分周手段、1
03はカウント手段lO1をカウントした個数だけの分
周クロックパルスを連続的に出力するパルス発生手段で
ある。
[作用コ
第【図において、カウント手段101は各フレームのデ
ータ中に検出される複数のエラーパルスの数をカウント
すると、そのカウント値をパルス発生手段103に入力
する。パルス発生手段103は分周手段102によって
分周されたクロックパルスを受けてカウント手段101
のカウントした個数だけの分周クロックパルスを連続的
に出力する。従って、各フレームに含まれる複数のエラ
ーパルスは分周手段102における分周周期だけ延伸さ
れてパルス発生手段103から出力される。
ータ中に検出される複数のエラーパルスの数をカウント
すると、そのカウント値をパルス発生手段103に入力
する。パルス発生手段103は分周手段102によって
分周されたクロックパルスを受けてカウント手段101
のカウントした個数だけの分周クロックパルスを連続的
に出力する。従って、各フレームに含まれる複数のエラ
ーパルスは分周手段102における分周周期だけ延伸さ
れてパルス発生手段103から出力される。
[実施例]
以下、図面に示す実施例に基づいて、この発明を詳述す
る。これによってこの発明が限定されるものではない。
る。これによってこの発明が限定されるものではない。
第4図はこの実施例に適用する5ONETの5TS−1
2のフレームフォーマットを示すが、このフレームフォ
ーマットは各行が1080バイト(8640bit)の
9行からなるデータによって構成され、領域B1には8
ビツトのパリティ−ビットが含まれ、領域B2には96
ビツトのパリティ−ビットが含まれている。
2のフレームフォーマットを示すが、このフレームフォ
ーマットは各行が1080バイト(8640bit)の
9行からなるデータによって構成され、領域B1には8
ビツトのパリティ−ビットが含まれ、領域B2には96
ビツトのパリティ−ビットが含まれている。
第2図はTTL論理回路で構成したこの発明の一実施例
を示すエラーパルス延伸回路であり、101は各フレー
ムで検出した複数のエラーパルスをカウントとするカウ
ント手段、102はデータ用の基準クロックパルスを所
定の比率で分周する分周手段、103はカウント手段1
01のカウントした個数だけの分周クロックパルスを連
続的に出力するパルス発生手段である。
を示すエラーパルス延伸回路であり、101は各フレー
ムで検出した複数のエラーパルスをカウントとするカウ
ント手段、102はデータ用の基準クロックパルスを所
定の比率で分周する分周手段、103はカウント手段1
01のカウントした個数だけの分周クロックパルスを連
続的に出力するパルス発生手段である。
第2図において、lは基準クロックパルスCK1を17
27に分周して分周クロックパルスCK2を出力する分
周回路であるが、これには公知のものが適用できるので
、その詳細な説明は省略する。
27に分周して分周クロックパルスCK2を出力する分
周回路であるが、これには公知のものが適用できるので
、その詳細な説明は省略する。
2λ、2b及び3a、3bはそれぞれ同期式4biLカ
ウンタ(例えばT T L74160) 、4〜10は
インバータ(例えばT T L 7404)、11.1
3はNANDゲート(例えばT T L 7430)、
12はNANDゲート(例えばT T L 7400)
、14はORゲート(例えばT T L 7432)、
15.16はORゲート(例えばT T L 4072
)、17はANDゲート(例えばT T L 740g
)、18はNORゲート(例えばT T L 7402
)、19はインバータ(例えばTTL7404)。20
はJKフリップフロップ(例えばT T L 7470
)、21はNORゲート(例えば7402)である。T
Pは第4図に示すフレームフォーマットの領域B2の位
置を表す位置パルスであり、カウンタ2a及び2bのL
OAD端子に入力される。
ウンタ(例えばT T L74160) 、4〜10は
インバータ(例えばT T L 7404)、11.1
3はNANDゲート(例えばT T L 7430)、
12はNANDゲート(例えばT T L 7400)
、14はORゲート(例えばT T L 7432)、
15.16はORゲート(例えばT T L 4072
)、17はANDゲート(例えばT T L 740g
)、18はNORゲート(例えばT T L 7402
)、19はインバータ(例えばTTL7404)。20
はJKフリップフロップ(例えばT T L 7470
)、21はNORゲート(例えば7402)である。T
Pは第4図に示すフレームフォーマットの領域B2の位
置を表す位置パルスであり、カウンタ2a及び2bのL
OAD端子に入力される。
EPはB2で検出されたエラーパルスであり、カウンタ
2+L及び2bのENABLE−P端子にそれぞれ人力
される。CKIはカウンタ2λ、2bのCLOCK端子
に入力される基準クロックパルスである。
2+L及び2bのENABLE−P端子にそれぞれ人力
される。CKIはカウンタ2λ、2bのCLOCK端子
に入力される基準クロックパルスである。
LPはフレームの領域B2からエラーパルスが出力を完
了するタイミングで出力されるロードパルスであり、N
ANDゲート12に入力される。CRはクリア信号であ
り、カウンタ2a、2b、3λ、3b及びJKフリップ
フロップ20のCLEAR端子に入力される。また、カ
ウンタ2a及び2bのデータ入力端子はすべてグラウン
ドに接続されると共にカウンタ2λ、3aのENABL
E−T端子は常に「1」が入力されるよう電源に接続さ
れ、また、カウンタ2a、3aのR[PPLE−CAR
RY出力端子はそれぞれカウンタ2b、3bのENAB
LE−T端子に接続される。なお、この実施例に適用さ
れるフレームフォーマットは前述のように1フレーム当
り最大96bit(B2領域)を含むので、4 bit
のカウンタ2λ、2bによって7ビツトのバイナリ−カ
ウンタを構成している。カウンタ22L及び2bの出力
は、インバータ4〜【0によってそれぞれ反転され、カ
ウンタ3a、3bのデータ入力端子に入力されると共に
NANDゲートllに入力される。また、NANDゲー
ト!■の出力はロードパルスLPと共にNANDゲート
12に入力され、NANDゲート12の出力はインバー
タ19及びカウンタ32L、3bのLOAD端子に入力
される。分周クロックパルスCK2はカウンタ3a。
了するタイミングで出力されるロードパルスであり、N
ANDゲート12に入力される。CRはクリア信号であ
り、カウンタ2a、2b、3λ、3b及びJKフリップ
フロップ20のCLEAR端子に入力される。また、カ
ウンタ2a及び2bのデータ入力端子はすべてグラウン
ドに接続されると共にカウンタ2λ、3aのENABL
E−T端子は常に「1」が入力されるよう電源に接続さ
れ、また、カウンタ2a、3aのR[PPLE−CAR
RY出力端子はそれぞれカウンタ2b、3bのENAB
LE−T端子に接続される。なお、この実施例に適用さ
れるフレームフォーマットは前述のように1フレーム当
り最大96bit(B2領域)を含むので、4 bit
のカウンタ2λ、2bによって7ビツトのバイナリ−カ
ウンタを構成している。カウンタ22L及び2bの出力
は、インバータ4〜【0によってそれぞれ反転され、カ
ウンタ3a、3bのデータ入力端子に入力されると共に
NANDゲートllに入力される。また、NANDゲー
ト!■の出力はロードパルスLPと共にNANDゲート
12に入力され、NANDゲート12の出力はインバー
タ19及びカウンタ32L、3bのLOAD端子に入力
される。分周クロックパルスCK2はカウンタ3a。
3bのCLOCK端子及びJKフリブプフロブプ20の
CLOCK端子、更ニN ORゲート21に入力される
。カウンタ3a、3bの出力はORゲート15.16に
入力される。また、カウンタ3λ、3bの7つの出力の
内3つはNANDゲート13に入力され、残る1つはN
ANDゲート13の出力と共にORゲート14に入力さ
れる。ORゲート14の出力はカウンタ3a、3bのE
NABLE−P端子にそれぞれ入力され、またORゲー
ト15の出力と共にANDゲート17に入力される。
CLOCK端子、更ニN ORゲート21に入力される
。カウンタ3a、3bの出力はORゲート15.16に
入力される。また、カウンタ3λ、3bの7つの出力の
内3つはNANDゲート13に入力され、残る1つはN
ANDゲート13の出力と共にORゲート14に入力さ
れる。ORゲート14の出力はカウンタ3a、3bのE
NABLE−P端子にそれぞれ入力され、またORゲー
ト15の出力と共にANDゲート17に入力される。
ANDゲート17の出力とインバータ19の出力がNO
RORゲート14力され、NORゲート18の出力はJ
Kフリップフロップ20のに端子に入力される。そして JKフリップフロップ20ので端子の出力は分周クロッ
クパルスCK2と共にNORゲート2!に入力され、N
ORゲート21は延伸されたエラーパルスEOを出力す
る。
RORゲート14力され、NORゲート18の出力はJ
Kフリップフロップ20のに端子に入力される。そして JKフリップフロップ20ので端子の出力は分周クロッ
クパルスCK2と共にNORゲート2!に入力され、N
ORゲート21は延伸されたエラーパルスEOを出力す
る。
このような構成における動作を第3図に示す波形説明図
を用いて説明する。今、第4図に示すフレームフォーマ
ットの領域B2によって8個のエラーパルスEPが存在
するものとすると、そのエラーパルスEPは、カウンタ
2a、2bに入力されて、カウントアツプされる。そし
て、領域B2ニヨルエラーハルスが終了するタイミンク
テ、第3図の(a)に示すようにロードパルスLPが入
力されると、カウンタ2a、2bのカウント値がインバ
ータ4〜10によって反転してカウンタ3a。
を用いて説明する。今、第4図に示すフレームフォーマ
ットの領域B2によって8個のエラーパルスEPが存在
するものとすると、そのエラーパルスEPは、カウンタ
2a、2bに入力されて、カウントアツプされる。そし
て、領域B2ニヨルエラーハルスが終了するタイミンク
テ、第3図の(a)に示すようにロードパルスLPが入
力されると、カウンタ2a、2bのカウント値がインバ
ータ4〜10によって反転してカウンタ3a。
3bをロードさせる。カウンタ3a、3bは第3図の(
b)に示す1727分周クロックパルスに同期してカウ
ントを開始し、箪3図の(c)に示すようにrlllo
lllJからrllllllOJまでのデータを連続的
に出力する。カラ/り3a、3bがデータを出力する期
間、JKフリップ70ツブ20のQ端子の出力は第3図
の(d)に示すように「IJとなるので、NORゲート
21からは第3図の(e)に示すように8個の分周クロ
ックパルス、すなわち、延伸されたエラーパルスEOが
順次出力される。なお、NANDゲート+3及びNOR
ゲート14はカウンタ3a、3bの出力するデータがr
llllllOJになった時、カウンタ3&、3bのカ
ウント動作を停止させるための回路であり、NANDゲ
ート11及び!2はエラーパルスEPが全く入力されな
い時にロードパルスLPをマスクするための回路であり
、更にORゲート15.16はリセット解除後の誤動作
を防止するために設けられた回路である。
b)に示す1727分周クロックパルスに同期してカウ
ントを開始し、箪3図の(c)に示すようにrlllo
lllJからrllllllOJまでのデータを連続的
に出力する。カラ/り3a、3bがデータを出力する期
間、JKフリップ70ツブ20のQ端子の出力は第3図
の(d)に示すように「IJとなるので、NORゲート
21からは第3図の(e)に示すように8個の分周クロ
ックパルス、すなわち、延伸されたエラーパルスEOが
順次出力される。なお、NANDゲート+3及びNOR
ゲート14はカウンタ3a、3bの出力するデータがr
llllllOJになった時、カウンタ3&、3bのカ
ウント動作を停止させるための回路であり、NANDゲ
ート11及び!2はエラーパルスEPが全く入力されな
い時にロードパルスLPをマスクするための回路であり
、更にORゲート15.16はリセット解除後の誤動作
を防止するために設けられた回路である。
なお、上記実施例においては分周回路lの分周比を17
27としているが、次のフレームまでに延伸エラーパル
スEOのすべてが出力される上うに配慮して分周比を変
化させることにより、延伸されたエラーパルスのパルス
幅を任意に変化させることができる。
27としているが、次のフレームまでに延伸エラーパル
スEOのすべてが出力される上うに配慮して分周比を変
化させることにより、延伸されたエラーパルスのパルス
幅を任意に変化させることができる。
[発明の効果]
この発明によれば、lフレームに検出される複数のエラ
ーパルスを時間的に延伸して、ンリアル出力することが
できると共に、エラーパルスのパルス幅を任意に設定す
ることができるので、エラーパルスのモニターが極めて
容易になる。
ーパルスを時間的に延伸して、ンリアル出力することが
できると共に、エラーパルスのパルス幅を任意に設定す
ることができるので、エラーパルスのモニターが極めて
容易になる。
第1図はこの発明の原理を示すブロック図、第2図はこ
の発明の一実施例を説明する回路図、第3図は第2図の
回路の動作を説明する波形説明図、第4図は第2図に示
す実施例に適用されるフレームフォーマットの説明図で
ある。 第1図及び第2図において、 101・・・・・・カウント手段、 102・・・・・・分周手段、 103・・・・・・出力手段である。
の発明の一実施例を説明する回路図、第3図は第2図の
回路の動作を説明する波形説明図、第4図は第2図に示
す実施例に適用されるフレームフォーマットの説明図で
ある。 第1図及び第2図において、 101・・・・・・カウント手段、 102・・・・・・分周手段、 103・・・・・・出力手段である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 〔1〕各フレームのデータにおいて検出された複数のエ
ラーパルスを時間的に延伸して出力するエラーパルス延
伸回路であって、エラーパルスをカウントするカウント
手段(101)と、データの基準クロックパルスを所定
の比率で分周する分周手段(102)と、カウント手段
のカウントした個数だけの分周クロックパルスを連続的
に出力するパルス発生手段(103)を備えたことを特
徴とするエラーパルス延伸回路。 〔2〕パルス発生手段(103)が、カウント手段(1
01)によってカウントされた数だけ分周クロックパル
スをカウントするカウンタ回路(3a、3b)と、前記
カウンタ回路(3a、3b)のカウント期間だけ分周ク
ロックパルスを出力するフリップフロップ回路(20)
を備えてなる請求項1記載のエラーパルス延伸回路。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2303254A JP2695037B2 (ja) | 1990-11-07 | 1990-11-07 | エラーパルス延伸回路 |
| US08/272,518 US5463631A (en) | 1990-11-07 | 1994-07-11 | Error pulse width expanding circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2303254A JP2695037B2 (ja) | 1990-11-07 | 1990-11-07 | エラーパルス延伸回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04172830A true JPH04172830A (ja) | 1992-06-19 |
| JP2695037B2 JP2695037B2 (ja) | 1997-12-24 |
Family
ID=17918739
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2303254A Expired - Lifetime JP2695037B2 (ja) | 1990-11-07 | 1990-11-07 | エラーパルス延伸回路 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5463631A (ja) |
| JP (1) | JP2695037B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005081107A1 (de) * | 2004-02-20 | 2005-09-01 | Continental Teves Ag & Co. Ohg | Verfahren und integrierter schaltkreis zur erhöhung der störfestigkeit |
| JP5015166B2 (ja) * | 2005-11-08 | 2012-08-29 | エフ.ホフマン−ラ ロシュ アーゲー | mGlu5受容体アンタゴニストとしてのチアゾロ[4,5−c]ピリジン誘導体 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS62214733A (ja) * | 1986-03-17 | 1987-09-21 | Fujitsu Ltd | 符号誤り検出装置 |
| JPS63292851A (ja) * | 1987-05-26 | 1988-11-30 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 誤り率検出方式 |
Family Cites Families (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| CA1063719A (en) * | 1975-04-28 | 1979-10-02 | Control Data Corporation | Phase locked loop decoder |
| IT1041378B (it) * | 1975-06-10 | 1980-01-10 | Cselt Centro Studi Lab Telecom | Dispositivo per il rilevamento della qualita di trasmissione nei ricevitori di segnali numerici |
| US4006977A (en) * | 1976-01-22 | 1977-02-08 | Cgr Medical Corporation | Phase control system for polarized synchronous motors |
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