JPH04176042A - 測定装置 - Google Patents
測定装置Info
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- JPH04176042A JPH04176042A JP32244090A JP32244090A JPH04176042A JP H04176042 A JPH04176042 A JP H04176042A JP 32244090 A JP32244090 A JP 32244090A JP 32244090 A JP32244090 A JP 32244090A JP H04176042 A JPH04176042 A JP H04176042A
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
クアップ装置の光出力、または、光磁気ディスク駆動装
置に配設されている補助磁界発生用磁気ヘッドの磁界分
布を測定する測定装置に関する。
るために用いられている光ピックアップ装置では、デー
タ記録時およびデータ再生時に出力するレーザビームの
レベルが所定値になるように、工場出荷時に調整してい
る。
出力を検出する必要があり、従来、次のような方法によ
り光ピックアップ装置の光出力の測定が行なわれていた
。
DRを分解して、光ピックアップ装置PUを直接子で扱
えるようにし、先出力計(図示路)のセンサSCを、手
操作で光ピックアップ装置PUの対物レンズOLに位置
決めする。
力計の測定値を読み取ることで、光ピックアップ装置P
Uの光出力を測定していた。
ーンテーブルTTに固定した状態で、先出力計のセンサ
SCを所定位置に位置決めする治具JGを用いていた。
ピックアップ装置の光出力の調整に加えて、データ記録
/消去時に補助磁界を発生する磁気ヘッドの磁界強度が
、データ記録/消去するために必要なレベルになってい
ることを検出する必要がある。
、第13図に示すように、磁気ヘッドHDが設けられて
いるトレイTRを光磁気ディスク装置MODから引き出
し、光磁気ディスク装置i!MODをデータ記録/消去
状態に制御して磁気ヘッドHDを駆動させ、ガウス・メ
ータGMを用いて、その磁界を測定するようにしていた
。
都合を生じていた。
駆動装置DRを分解するための手間がかかる。測定位置
のバラツキが大きくて信頼性の高い測定値を得ることが
困難である。周囲の外乱光の影響を除去できるように留
意する必要があるなどの不都合を生じていた。
ブルTTに対する治具JGの取り付は状態が不安定にな
り、信頼性の高い測定値を得ることが困難になるという
不都合を生じていた。
光磁気ディスク装置に実際に装着されている状態で測定
が行なわれないので、測定結果が不確定になるという不
都合を生じていた。また、測定作業が煩わしい。
ックアップ装置の光出力および磁気ヘッドの磁界分布を
簡単に測定できるとともに、信頼性の高い測定値を得る
ことができる測定装置を提供することを目的としている
。
トリッジと略同型に形成されたダミーディスクと、この
ダミーディスクの所定位置に配設された受光素子と、こ
の受光素子の受光信号を外部に出力するためのコネクタ
手段と、このコネクタ手段を介して受光信号を入力し光
出力測定値を表示する光レベル測定表示手段と、光ディ
スク駆動装置に所定の光出力測定動作を行なわせる制御
手段を備えたものである。
トリッジと略同型に形成されたダミー“カートリッジと
、このダミーカートリッジの所定位置に配設された少な
くとも1つの磁界検出素子と、この磁界検出素子の検出
信号を外部に出力するためのコネクタ手段と、このコネ
クタ手段を介して検出信号を入力し磁界測定値を表示す
る磁界測定表示手段と、光磁気ディスク駆動装置に所定
の磁界測定動作を行なわせる制御手段を備えたものであ
る。
の取り付けは、ダミーディスクを装着することで行なえ
るので、操作が非常に簡単になる。
測定時の手間が軽減されるとともに、外乱光などの影響
を受けないので信頼性の高い測定値を得ることができる
。また、光磁気ディスク駆動装置に磁気ヘッドを装着し
た状態で磁界分布を測定できるので、信頼性のよい測定
結果を得ることができる。
に説明する。
示している。
ィスク駆動装置1には、電源ユニット2により電源が供
給されるとともに、その動作を制御スルためのコントロ
ールユニット3が接続されている。
媒体として用いられる追記型光ディスクを収容している
ディスクカートリッジと略同型に形成されており、その
下面は解放されていて、ホームポジションに相当する位
置には、光ピックアップ装置(後述)の出力光を受光す
る受光素子5が配設されている。この受光素子5の出力
は、コネクタ7を介し、光ピックアップ装置の光出力を
測定する先出力計8に加えられている。
の形状が同一な光磁気ディスク駆動装置にも適用できる
ように、メディアの種類を指定するメディアセンサマー
クを変更できるメディア変更機構10が設けられている
。
構成する孔11が設けらでメディアセンサマークの変更
方向に移動可能に取り付けられた摺動板12、この摺動
板12をダミーカートリッジ4に保持するための板バネ
13、および、メディアセンサマークを検出できるよう
にダミーカートリッジに設けられた長孔14からなる。
追記型光ディスクを収容したディスクカートリッジと同
じメディアセンサマークを構成でき、図の破線の態様に
孔11を位置させると、追記型光ディスクのメディアマ
ーク位置を閉じることができ、それにより、光磁気ディ
スクを収容したディスクカートリッジと同じメディアセ
ンサマークを構成できる。
ディスク駆動装置1に挿入すると、図示しないローディ
ング機構により、第3図に示すように、ダミーカートリ
ッジ4が光ディスク駆動装置1の所定位置に位置決めさ
れる。
ターンテーブルTTに固定される追記型光ディスクOD
の記録面と同じ高さに、受光素子5の受光面が位置する
。また、受光素子5は、光ピックアップ装置PUの待機
位置であるホームポジションHPの直上に位置する。
ト3を操作して、光ピックアップ装置pUをホームポジ
ションHPに移動させる指令を光ディスク駆動装置1に
出力する。
装置PUをホームポジションHPに移動させ、その移動
を完了すると、その旨をコントロールユニット3に通知
する。
プ装置PUがホームポジションHPに移動完了したこと
を表示して、オペレータにその旨を通知する。
して、光ピックアップ装置PUを再生時レベルで発光さ
せる指令を光ディスク駆動装置1に出力する。
装置PUを再生時レベルで発光し、それにより、光ピッ
クアップ装置PUより出力された光は、受光素子5で受
光され、その受光量に応じた受光信号が受光素子5より
先出力計8に出力されて、先出力計8でその大きさが表
示される。
、光ピックアップ装置PUの再生時レベルを判定する。
て、光ピックアップ装置PUを記録時レベルで発光させ
る指令を光ディスク駆動装置1にaカする。
装置PUを記録時レベルで発光し、上述と同様にして、
その発光量に応じたレベルが先出力計8に表示される。
、光ピックアップ装置IPUの記録時レベルを判定する
。
Uの再生時レベルおよび記録時レベルを判定すると、そ
の値に応じて周知の調整作業を行ない、光ピックアップ
装置PUの出力レベルを所定値に調整する。
ックアップ装置PUの出力レベルを測定することができ
、調整時の作業性が大幅に向上する。
ップ装置11PUの光出力レベルを測定できるので、外
乱光の影響を受けず、信頼性の高い測定値を得ることが
できる。
ッジを示している。
ともに、先出力計8の回路要素8′を備えたものであり
、ダミーカートリッジ20を光ディスク駆動装置1に装
着したときに、外部から見えるダミーカートリッジ20
の端部には、測定値を表示するための表示装置8aが設
けられている。
に装着した状態で、表示装置8aの表示を外部から見や
すくするために、表示装置8aの表示画面には仰角が付
されている。
ションHPが第3図に示した位置とは違う位置に設定さ
れているものがある。
明のさらに他の実施例にかかるダミーカートリッジ25
およびダミーカートリッジ26を第5図(a)、(b)
に示す。
を光ピックアップ装置PUのホームポジションHPに一
致できるように、追記型光ディスクの半径方向に移動で
きる摺動機構25aに配設されている。
定する光ディスク駆動装置1のホームポジションHPに
受光素子5が一致するように、摺動機構25aを操作す
ることで、このダミーカートリッジ25を用いて、種類
の異なる光ディスク駆動装置1における光ピックアップ
装置PUの出力レベルを検出することができる。
子26aは、追記型光ディスクの半径方向の寸法が、追
記型光ディスクの有効記録範囲よりも若干大きい寸法に
設定されている受光素子26aが設けられている。
のどの位置にあっても、受光素子26aが光ピックアッ
プ装fiPUの出力光を受光できるので、ダミーカート
リッジ26を装着するだけでよく、光ピックアップ装置
PUをホームポジションHPに移動する必要がない。
データ記録/消去時の補助磁界を発生する磁気ヘッドの
磁界分布を測定するための磁界測定装置の一例を示して
いる。
ク装置(図示路)に記憶媒体として用いられる光磁気デ
ィスクを収容しているディスクカートリッジと略同型に
形成されており、その上面は開放されていて、磁気ヘッ
ド(後述)の磁界分布測定範囲に相当する位置には、磁
界を検出するためのホール素子を複数配列して形成され
たホール素子アレイ31が配設されている。この場合、
ホール素子アレイ31には、10個のホール素子H3I
〜H8l0が配列されている。
の開口部30aと略同型に形成された回路基板32に取
り付けられており、ホール素子アレイ31の検出信号は
、コネクタケーブル33を介し、磁気ヘッドの磁界強度
を測定するための測定装置34に加えられている。
ホール素子H3I〜H3IOの出力を較正するための可
変抵抗器のつまみNBI〜NBIOが配設され、おのお
ののつまみNBI〜NBIOの直下位置には、おのおの
のホール素子H8I〜H8l0の検出信号を出力するた
めのテストピンTPI〜TPIOが配設されている。ま
た、電源装置35は、測定装置34およびホール素子ア
レイ31に電源を供給するためのものである。
側電源端−■は、プラス側電源端十■と直列接続されて
おり、ホール素子H81のプラス側電源端+Vには、コ
ネクタケーブル33を介して電源装r1135から駆動
電圧Vdが印加されて、また、ホール素子H8l0のマ
イナス側電源端−■は、コネクタケーブル33を介して
電源装置1135の接地側に接続されている。
E、 −Eは、差動アンプDFI〜DFIOの入力端に
加えられており、差動アンプDFI〜DFIOからは、
それぞれのホール素子H3I〜H8l0が検出した磁界
強度に対応した検出信号SSI〜5SIOが出力され、
この検出信号81〜SIOは、コネクタケーブル33を
介して測定装置34に加えられている。
Oには、コネクタケーブル33を介して検出信号81〜
810が加えられており、この可変利得アンプAGI〜
AGIOの出力は、測定信号SAI〜5AIOとしてテ
ストピンTPI〜TPIOに加えられている。
て、可変抵抗器VRI〜VRIOが用いられており、こ
の可変抵抗器VR1〜VRIOの抵抗値は、つまみNB
I〜NBIOにより変更される。
布を測定するとき、その測定に先立って、各測定値の較
正を行なう。
32を取り外し、ホール素子アレイ31を既知の磁界中
に配置して、そのときにテストピンTPI〜TPIOか
ら得られる測定信号SAI〜5AIOの電圧値が、所定
の関係になるように、電圧計でテストピンTPI〜TP
IOの電圧を測定しながら、っまみNBI〜NBIOを
操作して、おのおのの測定信号SAI〜5AIOの較正
を行なう。例えば、第9図に示すように、500(Oe
)で1. 5 (V)の関係になるように調整する。
了すると、回路基板32をダミーカートリッジ30に装
着し、そのダミーカートリッジ30を光磁気ディスク駆
動装置MODに装着する。
ジ30が、光磁気ディスク装置MODの所定位置に位置
決めされる。
ターンテーブルTTに固定される光磁気ディスクOMの
記録面と同じ高さに、ホール素子アレイ31が位置する
。また、ホール素子アレイ31は、磁気ヘッドHDの磁
気作用範囲に位置する。
MODの動作を制御するコントロールユニット(図示路
)を操作して、磁気ヘッドHDを駆動させて、磁界を発
生させる。
圧値を順次電圧計で測定し、おのおのの測定信号SAI
〜5AIOを測定する。
オペレータは、それに基づいて磁気ヘッドHDが光磁気
ディスクMOの記録面に作用する磁界分布を判定する。
て、周知の作業を行なう。
置MODに組込まれた状態で、磁気ヘッドHDの磁界分
布を測定しているので、その測定作業が非常に簡単にな
る。また、外部からの影響を受けにくいため、信頼性の
高い磁界分布測定を行なうことができる。
び磁界測定のためのセンサの取り付けがダミーディスク
を装着することで行なえるので、操作が非常に簡単にな
る。また、光ディスク駆動装置および光磁気ディスク駆
動装置を分解する必要がないので、測定時の手間が軽減
されるとともに、外乱光や外部磁界などの影響を受けな
いので信頼性の高い測定値を得ることができるという効
果を得る。
した概略斜視図、第2図(a)はメディアセンサマーク
の変更機構の一例を示す概略平面図、同図(b)は同図
(a)のA−A’ 断面矢視図、第3図は光ピックアッ
プ装置の光出力測定動作を説明するための概略部分断面
図、第4図は本発明の他の実施例にかかるダミーカート
リッジを示した概略斜視図、第5図(a)は本発明のさ
らに他の実施例にかかるダミーカートリッジを示した概
略正面図、同図(b)は本発明の別な実施例にかかるダ
ミーカートリッジを示した概略正面図、第6図は本発明
のさらに別な実施例にかかるダミーカートリッジを示し
た概略斜視図、第7図は本発明のさらに別な実施例にか
かる磁界測定装置を示す概略図、第8図は磁界測定装置
の一例を示す回路図、第9図はホール素子の較正例を示
すグラフ図、第10図は磁界測定動作を説明するための
概略部分断面図、第11図は光出力測定の従来方法の一
例の示した概略図、第12図は光出力測定の従来方法の
他の例を示した概略図、第13図は磁界測定の従来方法
を例示した概略図である。 2・・・電源ユニット、3・・・コントロールユニット
、4.20,25,26.30・−・ダミーディスク、
5.26a・・・受光素子、7・・・コネクタ、8・・
・先出力計、31・・・ホール素子アレイ、32・・・
回路基板、33・・・コネクタケーブル、34・・・磁
界測定装置、35・・・電源装置。
Claims (2)
- (1)光ディスク駆動装置に配設されている光ピックア
ップ装置の光出力を測定する測定装置において、光ディ
スク駆動装置に装着するディスクカートリッジと略同型
に形成されたダミーディスクと、このダミーディスクの
所定位置に配設された受光素子と、この受光素子の受光
信号を外部に出力するためのコネクタ手段と、このコネ
クタ手段を介して受光信号を入力し光出力測定値を表示
する光レベル測定表示手段と、光ディスク駆動装置に所
定の光出力測定動作を行なわせる制御手段を備えたこと
を特徴とする測定装置。 - (2)光磁気ディスク駆動装置に配設されている補助磁
界を発生するための磁気ヘッドの磁界分布を測定する測
定装置において、光磁気ディスク駆動装置に装着するデ
ィスクカートリッジと略同型に形成されたダミーカート
リッジと、このダミーカートリッジの所定位置に配設さ
れた少なくとも1つの磁界検出素子と、この磁界検出素
子の検出信号を外部に出力するためのコネクタ手段と、
このコネクタ手段を介して検出信号を入力し磁界測定値
を表示する磁界測定表示手段と、光磁気ディスク駆動装
置に所定の磁界測定動作を行なわせる制御手段を備えた
ことを特徴とする測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/743,090 US5237551A (en) | 1990-08-20 | 1991-08-09 | Apparatus measuring an output of a disk drive |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21712790 | 1990-08-20 | ||
| JP2-217127 | 1990-08-20 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04176042A true JPH04176042A (ja) | 1992-06-23 |
| JP2793358B2 JP2793358B2 (ja) | 1998-09-03 |
Family
ID=16699280
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32244090A Expired - Lifetime JP2793358B2 (ja) | 1990-08-20 | 1990-11-28 | 測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2793358B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007185927A (ja) * | 2006-01-16 | 2007-07-26 | Seiko Epson Corp | 調整方法および測定装置 |
| JP2011515787A (ja) * | 2008-10-06 | 2011-05-19 | テラダイン、 インコーポレイテッド | 格納装置エミュレーターとその使用方法 |
-
1990
- 1990-11-28 JP JP32244090A patent/JP2793358B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007185927A (ja) * | 2006-01-16 | 2007-07-26 | Seiko Epson Corp | 調整方法および測定装置 |
| JP2011515787A (ja) * | 2008-10-06 | 2011-05-19 | テラダイン、 インコーポレイテッド | 格納装置エミュレーターとその使用方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2793358B2 (ja) | 1998-09-03 |
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