JPH04178582A - 継電器用耐電圧試験装置 - Google Patents

継電器用耐電圧試験装置

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Publication number
JPH04178582A
JPH04178582A JP2307756A JP30775690A JPH04178582A JP H04178582 A JPH04178582 A JP H04178582A JP 2307756 A JP2307756 A JP 2307756A JP 30775690 A JP30775690 A JP 30775690A JP H04178582 A JPH04178582 A JP H04178582A
Authority
JP
Japan
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test
withstand voltage
relay
probe
terminal
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Pending
Application number
JP2307756A
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English (en)
Inventor
Katsuyoshi Sasaki
勝好 佐々木
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NEC Tohoku Corp
Original Assignee
NEC Tohoku Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は継電器の特性値の−っである耐電圧を試験する
試験装置に関する。
〔従来の技術〕
従来この種の試験装置は、第3図に示すように耐圧試験
器9の試験プローブ5を被試験継電器1の接点端子3.
コイル端子4等の端子に機械的に接続させていたが、電
気的に接続していることを確認していなかった。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の試験装置は、被試験物である継電器の端
子と、試験プローブとが電気的に接続していることを確
認していないので、試験プローブの断線や、被試験継電
器と試験プローブ間に接触不良が発生した場合、耐圧試
験の試験電圧が被試験物の継電器に印加されないため、
実質の耐圧試験を行っていないにもかかわらず必ず試験
結果が良品となってしまうという欠点があり、試験装置
として信頼性に欠けていた。
また試験プローブの断線が発見された場合、試験が終了
した継電器は再試験が必要となり、いつから試験プロー
ブに断線が生じたか明確でないため、必要以上の継電器
を再試験しなければならないという問題点があった。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の継電器用耐電圧試験装置は、被試験継電器の端
子に接続される試験プローブと、前記試験プローブを介
して前記被試験継電器の端子間の耐電圧試験を行う耐圧
試験器と、前記試験プローブの前記耐圧試験器との接続
を切替え、前記試験プローブを介して前記被試験継電器
のコイル端子間に電源を供給し接点端子間の導通を確認
する電気的接続検出手段とを備えている。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例を示す回路図である。耐圧試
験器9は、電気的接続検出回路6の切替継電器8を介し
て、試験プローブ5によって被試験継電器1の接点端子
3およびコイル端子4に接続される。また、接続検出ラ
イン10及び電源供給回路11は、電気的接続検出回路
6の切替継電器7を介して試験プローブ5に接続される
次に動作を説明する。第2図は第1図に示す実施例のタ
イムチャートである。
いま、被試験継電器1のコイルと接点間の耐電圧試験を
行うとき、印加すべき端子は、接点端子3とコイル端子
4の合計4本の端子である。最初に切替継電器7を動作
させ、つぎに電源供給回路11を動作させると、コイル
端子4と試験プローブ5とが電気的に接続していれば内
部接点2が動作する。接点端子3と試験プローブ5とが
電気的に接続していれば、接続検出ライン10の2本の
ライン間は内部接点2により電気的に接続している状態
となる。
以上から、接続検出ライン10の2本のライン間の電気
的な接続を検出することにより、耐電圧試験に必要なす
べての端子である接点端子3及びコイル端子4と試験プ
ローブ5間が電気的に接続していることの確認がされる
つぎに、切替継電器7及び電源供給回路11の動作を停
止し、切替継電器8を動作させて、耐圧試験器9の試験
電圧を被試験継電器1に印加し、耐電圧試験を行う。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、耐電圧試験を行う前に、
被試験継電器の端子と、試験グローブとが電気的に接続
していることを確認してから耐電圧試験を行うことによ
り、被試験継電器に耐圧試験の試験電圧が印加されずに
結果が良品となることを防止し、また、試験装置の電気
的接続の不具合を早期に発見できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す回路図、第2図は第1
図に示した回路のタイムチャート、第3図は従来の試験
装置の回路図である。 1・・・被試験継電器、2・・・内部接点、3・・・接
点端子、4・・・コイル端子、5・・・試験プローブ、
6・・・電気的接続検出回路、7・・・切替継電器、8
・・・切替継電器、9・・・耐圧試験器、10・・・接
続検出ライン、11・・・電源供給回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 被試験継電器の端子に接続される試験プローブと、前記
    試験プローブを介して前記被試験継電器の端子間の耐電
    圧試験を行う耐圧試験器と、前記試験プローブの前記耐
    圧試験器との接続を切替え、前記試験プローブを介して
    前記被試験継電器のコイル端子間に電源を供給し接点端
    子間の導通を確認する電気的接続検出手段とを備えたこ
    とを特徴とする継電器用耐電圧試験装置。
JP2307756A 1990-11-14 1990-11-14 継電器用耐電圧試験装置 Pending JPH04178582A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0894702A (ja) * 1994-09-28 1996-04-12 Nec Tohoku Ltd 電磁継電器用耐電圧試験装置
CN102193017A (zh) * 2010-03-18 2011-09-21 中国科学院电子学研究所 一种继电器触点上的电压降的间接测试方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0894702A (ja) * 1994-09-28 1996-04-12 Nec Tohoku Ltd 電磁継電器用耐電圧試験装置
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