JPH04184272A - 絶縁診断回路および装置 - Google Patents
絶縁診断回路および装置Info
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- JPH04184272A JPH04184272A JP31559490A JP31559490A JPH04184272A JP H04184272 A JPH04184272 A JP H04184272A JP 31559490 A JP31559490 A JP 31559490A JP 31559490 A JP31559490 A JP 31559490A JP H04184272 A JPH04184272 A JP H04184272A
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- insulation
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Landscapes
- Testing Relating To Insulation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は、高電圧用として使用されている開閉器や変
圧器やコンデンサ等の機器、およびケーブル等の絶縁診
断をするため、交流電圧課電時の直流成分と交流電圧課
電に直流電圧をバイアスした時の直流成分の増大量の大
小により絶縁診断を行う回路および装置に関する。
圧器やコンデンサ等の機器、およびケーブル等の絶縁診
断をするため、交流電圧課電時の直流成分と交流電圧課
電に直流電圧をバイアスした時の直流成分の増大量の大
小により絶縁診断を行う回路および装置に関する。
［従来の技術］
高電圧用として使用されている開閉器１変圧器またはコ
ンデンサ等の機器、およびケーブル等の絶縁診断方法と
しては直流電圧試験法がある。この方法では、高電圧用
機器に絶縁劣化が生ずると、その劣化部分からの漏れ電
流を測定しているため、絶縁体が破壊したり、劣化部分
に直流電圧の残留電荷が残り試験終了時に接地した際、
残留電荷から劣化部分に水トリーや電気トリー等が発生
して絶縁劣化を促進し、試験終了後に交流使用電圧を印
加した際に絶縁体を破壊する等の問題がある。
ンデンサ等の機器、およびケーブル等の絶縁診断方法と
しては直流電圧試験法がある。この方法では、高電圧用
機器に絶縁劣化が生ずると、その劣化部分からの漏れ電
流を測定しているため、絶縁体が破壊したり、劣化部分
に直流電圧の残留電荷が残り試験終了時に接地した際、
残留電荷から劣化部分に水トリーや電気トリー等が発生
して絶縁劣化を促進し、試験終了後に交流使用電圧を印
加した際に絶縁体を破壊する等の問題がある。
［発明が解決しようとする問題点］
上記従来方法によると、機器の絶縁診断のため機器を破
壊させ、復旧のための停電が問題となる上に軽度な劣化
状態を劣化促進させてしまう問題があった。
壊させ、復旧のための停電が問題となる上に軽度な劣化
状態を劣化促進させてしまう問題があった。
［課題を解決するための手段］
この発明の目的は、上記した従来技術の問題点を解消し
、高電圧用として使用されている開閉器、変圧器または
コンデンサ等の機器、およびケーブル等の絶縁診断をす
るため、線路を停止し、この発明の絶縁診断回路で試験
用交流トランスの２次コイルの低電圧側から直列に組込
まれたバイパスコンデンサと並列に組込まれたプロワキ
ングコイルもしくは保護抵抗を通して直流電源を組込み
、交流電圧に直流電圧をバイアスし、直流電源とアース
間に直流成分測定器を組込んで直流成分として検出する
構成とし、被測定体に交流常規電圧を課電しながら直流
電源とアース間から交流課電時の直流成分と直流課電直
流バイアス時の直流成分を測定できるようにすることで
、２２ｋＶ以上の送配電線路等の多点接地系での交流課
電時の直流成分を測定できるようにした。
、高電圧用として使用されている開閉器、変圧器または
コンデンサ等の機器、およびケーブル等の絶縁診断をす
るため、線路を停止し、この発明の絶縁診断回路で試験
用交流トランスの２次コイルの低電圧側から直列に組込
まれたバイパスコンデンサと並列に組込まれたプロワキ
ングコイルもしくは保護抵抗を通して直流電源を組込み
、交流電圧に直流電圧をバイアスし、直流電源とアース
間に直流成分測定器を組込んで直流成分として検出する
構成とし、被測定体に交流常規電圧を課電しながら直流
電源とアース間から交流課電時の直流成分と直流課電直
流バイアス時の直流成分を測定できるようにすることで
、２２ｋＶ以上の送配電線路等の多点接地系での交流課
電時の直流成分を測定できるようにした。
また、この発明は、高電圧用として使用されている開閉
器、変圧器またはコンデンサ等の機器、およびケーブル
等の絶縁診断をするため、線路を停止し、この発明の絶
縁診断用トランスによって常規交流電圧を課電して２次
コイル低圧側からフィルターを介して直流成分を測定す
ることができるようにトランス筐体内に油中ブッシング
を設け、交流電圧課電時の直流成分を測定できるように
した絶縁診断装置である。
器、変圧器またはコンデンサ等の機器、およびケーブル
等の絶縁診断をするため、線路を停止し、この発明の絶
縁診断用トランスによって常規交流電圧を課電して２次
コイル低圧側からフィルターを介して直流成分を測定す
ることができるようにトランス筐体内に油中ブッシング
を設け、交流電圧課電時の直流成分を測定できるように
した絶縁診断装置である。
さらにバイパスコンデンサを設置し、直流電圧を印加で
きるようにし、直流電圧をバイアスさせたときに、被測
定体が発生する直流電流より小さな漏洩電流とするため
、２次コイル低電圧側および１次コイルと２次コイル間
のサポート材料を含水性のない絶縁物で構成する。その
上、２次コイル高電圧ブッシングも油中化することで高
電圧側からの漏洩電流を少なくすることで、被測定体に
直流電圧をバイアスしたときの直流成分の増大量の大小
が判別できるようにした試験トランスを供給することで
絶縁診断を可能にする。
きるようにし、直流電圧をバイアスさせたときに、被測
定体が発生する直流電流より小さな漏洩電流とするため
、２次コイル低電圧側および１次コイルと２次コイル間
のサポート材料を含水性のない絶縁物で構成する。その
上、２次コイル高電圧ブッシングも油中化することで高
電圧側からの漏洩電流を少なくすることで、被測定体に
直流電圧をバイアスしたときの直流成分の増大量の大小
が判別できるようにした試験トランスを供給することで
絶縁診断を可能にする。
［作 用］
この発明の絶縁診断回路構成は、交流電圧課電時の直流
成分と交流電圧に微弱な直流電圧をバイアスした時の直
流成分を測定することで、交流課電により活性化した絶
縁体での劣化現象からのシグナルを微弱な直流電圧で増
大させて測定できる。このことで絶縁体の絶縁破壊を防
止し、さらに絶縁体を劣化させずに絶縁体の劣化状態を
診断することができる絶縁診断回路を提供できる。
成分と交流電圧に微弱な直流電圧をバイアスした時の直
流成分を測定することで、交流課電により活性化した絶
縁体での劣化現象からのシグナルを微弱な直流電圧で増
大させて測定できる。このことで絶縁体の絶縁破壊を防
止し、さらに絶縁体を劣化させずに絶縁体の劣化状態を
診断することができる絶縁診断回路を提供できる。
また、この発明の絶縁診断装置は、試験用トランスの２
次コイル低電圧側直流バイアス油中ブッシングおよび高
電圧側油中ブッシングを設置し、被測定体に交流常規電
圧を課電しながら２次コイル低電圧側から交流課電時の
直流成分を測定できるようにすることで、２２ｋＶ以上
の送配電線路等の多点接地系での交流課電時の直流成分
を測定できるようにした。
次コイル低電圧側直流バイアス油中ブッシングおよび高
電圧側油中ブッシングを設置し、被測定体に交流常規電
圧を課電しながら２次コイル低電圧側から交流課電時の
直流成分を測定できるようにすることで、２２ｋＶ以上
の送配電線路等の多点接地系での交流課電時の直流成分
を測定できるようにした。
さらに交流課電に微弱な直流電圧をバイアスすることで
、交流課電により活性化した絶縁体での劣化現象からの
シグナルを微弱な直流電圧で増大させて測定することが
できる。そのため絶縁体への悪影響を防止し、さらに絶
縁体を劣化させずに絶縁体の劣化状態を診断することが
できる絶縁詑断装置を提供できる。
、交流課電により活性化した絶縁体での劣化現象からの
シグナルを微弱な直流電圧で増大させて測定することが
できる。そのため絶縁体への悪影響を防止し、さらに絶
縁体を劣化させずに絶縁体の劣化状態を診断することが
できる絶縁詑断装置を提供できる。
［実 施 例］
以下１、この発明の実施例を図面を参照して説明する。
第１図および第２図は、この発明に係る絶縁診断回路の
具体的な実施例を示すブロック回路図である。
具体的な実施例を示すブロック回路図である。
第１図において、試験用交流トランスｌの低電圧側から
直列にバイパスコンデンサ２を組込み、並列に保護抵抗
１４を組込んだ後に交流・直流バイアス切換えスイッチ
４と極性切換えスイッチ６を組込み、さらに極性切換え
スイッチ６に直流電源５を組込み、この直流電源５とア
ース間に直流成分測定器７を組込み直流成分として検出
する回路を構成し、被測定体１２の交流課電時および交
流課電直流バイアス時の直流成分をＣＰＬＩ８に記憶し
、この記憶したデータを処理して、ＣＲＴ９に表示し、
また、プリンタ１０にプリントアウトする回路構成とす
る。
直列にバイパスコンデンサ２を組込み、並列に保護抵抗
１４を組込んだ後に交流・直流バイアス切換えスイッチ
４と極性切換えスイッチ６を組込み、さらに極性切換え
スイッチ６に直流電源５を組込み、この直流電源５とア
ース間に直流成分測定器７を組込み直流成分として検出
する回路を構成し、被測定体１２の交流課電時および交
流課電直流バイアス時の直流成分をＣＰＬＩ８に記憶し
、この記憶したデータを処理して、ＣＲＴ９に表示し、
また、プリンタ１０にプリントアウトする回路構成とす
る。
第２図は、試験用交流トランスｌの低電圧側から直列に
バイパスコンデンサ２を組込み、並列にブロッキングコ
イル１５を組込んだ後に交流・直流バイアス切換えスイ
ッチ４と極性切換えスイッチ６を組込み、さらに極性切
換えスイッチ６に直流電源５を組込み、この直流電源５
とアース間に直流成分測定器７を組込み直流成分として
検出する回路を構成し、被測定体１２の交流課電時およ
び交流課電直流バイアス時の直流成分をＣＰＵ８に記憶
し、記憶したデータを処理してＣＲＴ９に表示し、また
、プリンタ１０にプリントアウトする回路構成とする。
バイパスコンデンサ２を組込み、並列にブロッキングコ
イル１５を組込んだ後に交流・直流バイアス切換えスイ
ッチ４と極性切換えスイッチ６を組込み、さらに極性切
換えスイッチ６に直流電源５を組込み、この直流電源５
とアース間に直流成分測定器７を組込み直流成分として
検出する回路を構成し、被測定体１２の交流課電時およ
び交流課電直流バイアス時の直流成分をＣＰＵ８に記憶
し、記憶したデータを処理してＣＲＴ９に表示し、また
、プリンタ１０にプリントアウトする回路構成とする。
記憶したデータ処理においては、交流課電時の直流成分
で劣化極性を判定するようにし、交流課電直流バイアス
に増大量の大小によって劣化の程度までを判定診断する
ことが可能である。
で劣化極性を判定するようにし、交流課電直流バイアス
に増大量の大小によって劣化の程度までを判定診断する
ことが可能である。
次に、この発明の絶縁診断装置の実施例を第３図を参照
して説明する。第３図は、この発明に係る絶縁診断試験
用トランス１の具体的な構成を示す説明図である。この
図において、サポート絶縁物２１は高耐電圧材（例えば
含水性のない、磁器、セラミック、ポリエチレン樹脂、
エポキシ樹脂等）で構成され、２次コイル２２は、コイ
ルの周りにコイル絶縁物２３を施し、１次コイル２４が
設けられサポート絶縁物２１の上に設置されている。こ
の２次コイル２２の高電圧側は高電圧ブッシング２５に
接続され、低電圧側は低電圧ブッシング２８に接続され
る。２次コイル低電圧側２２と低電圧ブッシング２８の
間の接続綿２６も絶縁被覆を施す。１次コイル２４と電
源ブッシング３１の接続は、２次コイル２２と低電圧ブ
ッシング２８の接続線２６と一定以上の距離を持たせて
構成することで絶縁する。高電圧ブッシング２５と低電
圧ブッシング２８にはそれぞれケーブル３０によって接
続される。このケーブル３０はストレスコーン２７が設
けられ絶縁される。そして、筐体３３内に充填される絶
縁油３２は、高温高真空状態（９０℃、１／１００ｍｍ
Ｈｇ以下）で高温高真空処理された絶縁油（ＯＦ油等）
を注入する。さらに絶縁油３２の温度膨張を吸収するガ
ス室２９を筐体３３上に設け、このガス室２９には乾燥
窒素等不活性ガスで正圧（０，２〜０．５ｋｇ／ｃｍ”
Ｇ）に密閉する。
して説明する。第３図は、この発明に係る絶縁診断試験
用トランス１の具体的な構成を示す説明図である。この
図において、サポート絶縁物２１は高耐電圧材（例えば
含水性のない、磁器、セラミック、ポリエチレン樹脂、
エポキシ樹脂等）で構成され、２次コイル２２は、コイ
ルの周りにコイル絶縁物２３を施し、１次コイル２４が
設けられサポート絶縁物２１の上に設置されている。こ
の２次コイル２２の高電圧側は高電圧ブッシング２５に
接続され、低電圧側は低電圧ブッシング２８に接続され
る。２次コイル低電圧側２２と低電圧ブッシング２８の
間の接続綿２６も絶縁被覆を施す。１次コイル２４と電
源ブッシング３１の接続は、２次コイル２２と低電圧ブ
ッシング２８の接続線２６と一定以上の距離を持たせて
構成することで絶縁する。高電圧ブッシング２５と低電
圧ブッシング２８にはそれぞれケーブル３０によって接
続される。このケーブル３０はストレスコーン２７が設
けられ絶縁される。そして、筐体３３内に充填される絶
縁油３２は、高温高真空状態（９０℃、１／１００ｍｍ
Ｈｇ以下）で高温高真空処理された絶縁油（ＯＦ油等）
を注入する。さらに絶縁油３２の温度膨張を吸収するガ
ス室２９を筐体３３上に設け、このガス室２９には乾燥
窒素等不活性ガスで正圧（０，２〜０．５ｋｇ／ｃｍ”
Ｇ）に密閉する。
上記の構成により、１次コイル２４と２次コイル２２の
間、および２次コイル２２と筺体３３の間で高度な絶縁
抵抗の絶縁診断試験用トランスが構成され、前記試験用
トランスの２次コイル低電圧側直流バイアス油中ブッシ
ングおよび高電圧側油中ブッシングを設置し、被測定体
に交流常規電圧を課電しながら２次コイル低電圧側から
交流課電時の直流成分を測定できるようにすることで、
２２ｋＶ以上の送配電線路等の多点接地系での交流課電
時の直流成分を測定できるようにしたものである。
間、および２次コイル２２と筺体３３の間で高度な絶縁
抵抗の絶縁診断試験用トランスが構成され、前記試験用
トランスの２次コイル低電圧側直流バイアス油中ブッシ
ングおよび高電圧側油中ブッシングを設置し、被測定体
に交流常規電圧を課電しながら２次コイル低電圧側から
交流課電時の直流成分を測定できるようにすることで、
２２ｋＶ以上の送配電線路等の多点接地系での交流課電
時の直流成分を測定できるようにしたものである。
第２図は、この発明に係る絶縁診断試験用トランス１を
使用した絶縁診断回路のブロック回路図である。既に説
明したように、試験トランス１により、リードケーブル
１１を通じ、被測定体１２に交流電圧を課電し、切換ス
イッチ６の切換えにより交流課電時の直流成分を直流成
分測定器７により測定し、ＣＰＵ８に記憶する。さらに
交流課電直流バイアス時の直流成分を測定するため、切
換スイッチ６を切換え、直流電源５からブロックキング
コイル１５を通じ、バイパスコンデンサ２によりフロー
ティングさせ、直流電圧をバイアスする。その時の直流
成分を直流成分測定器７により測定し、ＣＰＵ８に記憶
する。ＣＰＵ８による記憶データの処理結果に基づいて
、ＣＲＴ９に表示したり、プリンター１０でプリントア
ウトするように構成されている。交流課電時の直流成分
で劣化極性を判定し、交流課電直流バイアスに増大量の
大小によって劣化の程度までを判定診断することができ
るためである。
使用した絶縁診断回路のブロック回路図である。既に説
明したように、試験トランス１により、リードケーブル
１１を通じ、被測定体１２に交流電圧を課電し、切換ス
イッチ６の切換えにより交流課電時の直流成分を直流成
分測定器７により測定し、ＣＰＵ８に記憶する。さらに
交流課電直流バイアス時の直流成分を測定するため、切
換スイッチ６を切換え、直流電源５からブロックキング
コイル１５を通じ、バイパスコンデンサ２によりフロー
ティングさせ、直流電圧をバイアスする。その時の直流
成分を直流成分測定器７により測定し、ＣＰＵ８に記憶
する。ＣＰＵ８による記憶データの処理結果に基づいて
、ＣＲＴ９に表示したり、プリンター１０でプリントア
ウトするように構成されている。交流課電時の直流成分
で劣化極性を判定し、交流課電直流バイアスに増大量の
大小によって劣化の程度までを判定診断することができ
るためである。
［発明の効果］
以上説明したとおり、この発明に係る絶縁診断回路によ
れば、水トリー劣化によって生じる２２ｋＶ以上の送配
電線路等の多点接地系での交流課電時の直流成分を測定
できるようにし、劣化極性を判定する。
れば、水トリー劣化によって生じる２２ｋＶ以上の送配
電線路等の多点接地系での交流課電時の直流成分を測定
できるようにし、劣化極性を判定する。
さらに交流課電に微弱な直流電圧をバイアスすることで
、交流課電により活性化した絶縁体での劣化現象からの
シグナルを微弱な直流電圧で増大させて８り定すること
ができ、交流課電直流バイアス時の直流成分の増大量の
大小によって、絶縁体の劣化状態を判定できる。そのた
め絶縁体の絶縁破壊を防止し、さらに絶縁体を劣化させ
ずに絶縁体の劣化状態を診断することができる絶縁診断
回路を提供することができ、数々の優れた特徴を発揮す
ることができる。
、交流課電により活性化した絶縁体での劣化現象からの
シグナルを微弱な直流電圧で増大させて８り定すること
ができ、交流課電直流バイアス時の直流成分の増大量の
大小によって、絶縁体の劣化状態を判定できる。そのた
め絶縁体の絶縁破壊を防止し、さらに絶縁体を劣化させ
ずに絶縁体の劣化状態を診断することができる絶縁診断
回路を提供することができ、数々の優れた特徴を発揮す
ることができる。
また、この発明に係る絶縁診断試験用トランスを組み込
んだ診断装置によれば、水トリー劣化によって生じる２
２ｋＶ以上の送配電線路等の多点接地系での交流課電の
直流成分を測定できるようにし、劣化極性を判定する。
んだ診断装置によれば、水トリー劣化によって生じる２
２ｋＶ以上の送配電線路等の多点接地系での交流課電の
直流成分を測定できるようにし、劣化極性を判定する。
さらに交流課電に微弱な直流電圧をバイアスすることで
、交流課電により活性化した絶縁体での劣化現象からの
シグナルを微弱な直流電圧で増大させて測定することが
でき、交流課電直流バイアス時の直流成分の増大量の大
小によって、絶縁体の劣化状態を判定できる。そのため
絶縁体への悪影響を防止し、さらに絶縁体を劣化させず
に絶縁体の劣化状態を診断することができる絶縁診断装
置を提供することができる等の優れた特徴を発揮するこ
とができる。
、交流課電により活性化した絶縁体での劣化現象からの
シグナルを微弱な直流電圧で増大させて測定することが
でき、交流課電直流バイアス時の直流成分の増大量の大
小によって、絶縁体の劣化状態を判定できる。そのため
絶縁体への悪影響を防止し、さらに絶縁体を劣化させず
に絶縁体の劣化状態を診断することができる絶縁診断装
置を提供することができる等の優れた特徴を発揮するこ
とができる。
第１図および第２図は、この発明に係る絶縁診断回路構
成の具体例を示すブロック回路図。 第３図は、この発明に係る絶縁診断装置試験トランスの
具体例を示す説明図である。 １・・・試験用交流トランス ２・・・バイパスコンデンサ ４・・・交流・直流バイアス切換えスイッチ５・・・直
流電源 ６・・・極性切換えスイッチ７・・・直
流成分測定器 ８・・・ＣＰＵ９・・・ＣＲＴ
１０・・・プリンタ１１・・・リードケーブル １２・・・被測定体 ２１・・・サポート絶縁物２
２・・・２次コイル ２３・・・コイル絶縁物２４・
・・１次コイル ２５・・・高電圧ブッシング２６・
・・絶縁被覆 ２７・・・ストレスコーン２８・・
・低電圧ブッシング ２９・・・ガス室 ３０・・・ケーブル３１・・
・電源ブッシング ３２・・・絶縁油 ３３・・・筐体特許出願人
日立電線株式会社
成の具体例を示すブロック回路図。 第３図は、この発明に係る絶縁診断装置試験トランスの
具体例を示す説明図である。 １・・・試験用交流トランス ２・・・バイパスコンデンサ ４・・・交流・直流バイアス切換えスイッチ５・・・直
流電源 ６・・・極性切換えスイッチ７・・・直
流成分測定器 ８・・・ＣＰＵ９・・・ＣＲＴ
１０・・・プリンタ１１・・・リードケーブル １２・・・被測定体 ２１・・・サポート絶縁物２
２・・・２次コイル ２３・・・コイル絶縁物２４・
・・１次コイル ２５・・・高電圧ブッシング２６・
・・絶縁被覆 ２７・・・ストレスコーン２８・・
・低電圧ブッシング ２９・・・ガス室 ３０・・・ケーブル３１・・
・電源ブッシング ３２・・・絶縁油 ３３・・・筐体特許出願人
日立電線株式会社
Claims (5)
- （１）高電圧機器の絶縁診断をする回路において、試験
用交流トランスの２次コイル低電圧側から直列に組込ま
れたバイパスコンデンサと並列に組込まれたブロッキン
グコイル、もしくは保護抵抗を通して直流電源を組込み
、直流電源とアース間に交流フィルタを組込み直流成分
として検出する構成の絶縁診断回路。 - （２）特許請求の範囲第１項記載の絶縁診断をする回路
において、直流電源とバイパスコンデンサのアース側を
接続し、アース間に交流フィルタを組込み直流成分とし
て検出する構成の絶縁診断回路。 - （３）特許請求の範囲第１項記載の絶縁診断をする回路
において、試験用交流トランスの２次コイル低電圧側か
ら直列に組込まれたバイパスコンデンサと並列に組込ま
れたブロッキングコイルもしくは保護抵抗を通して同一
直流電源の極性切換えるスイッチを組込み、直流電源と
バイパスコンデンサのアース側を接続し、アース間に交
流フィルタを組込み直流成分として検出する構成の絶縁
診断回路。 - （４）高電圧機器の絶縁診断試験をする装置において、
試験用交流トランスの１次コイル用ブッシングと２次低
圧側ブッシングおよび２次高圧側ブッシングを絶縁性液
体を筐体内に充填収納した試験用交流トランスを使用す
る構成の絶縁診断装置。 - （５）試験用交流トランスにおいて、筐体と２次コイル
間、および１次コイルと２次コイル間に直流電圧に対す
る絶縁補強層を設けてなる上記請求項第４項記載の絶縁
診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2315594A JP2871075B2 (ja) | 1990-11-20 | 1990-11-20 | 絶縁診断回路および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2315594A JP2871075B2 (ja) | 1990-11-20 | 1990-11-20 | 絶縁診断回路および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04184272A true JPH04184272A (ja) | 1992-07-01 |
| JP2871075B2 JP2871075B2 (ja) | 1999-03-17 |
Family
ID=18067238
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2315594A Expired - Lifetime JP2871075B2 (ja) | 1990-11-20 | 1990-11-20 | 絶縁診断回路および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2871075B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103257306A (zh) * | 2012-10-25 | 2013-08-21 | 国网电力科学研究院武汉南瑞有限责任公司 | 换流变压器直流局部放电绝缘状态诊断方法及测量系统 |
| CN104345254A (zh) * | 2014-11-21 | 2015-02-11 | 西安伯龙高铁电气有限公司 | 列车绝缘检测控制装置 |
-
1990
- 1990-11-20 JP JP2315594A patent/JP2871075B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103257306A (zh) * | 2012-10-25 | 2013-08-21 | 国网电力科学研究院武汉南瑞有限责任公司 | 换流变压器直流局部放电绝缘状态诊断方法及测量系统 |
| CN104345254A (zh) * | 2014-11-21 | 2015-02-11 | 西安伯龙高铁电气有限公司 | 列车绝缘检测控制装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2871075B2 (ja) | 1999-03-17 |
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