JPH0418742B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0418742B2 JPH0418742B2 JP20386985A JP20386985A JPH0418742B2 JP H0418742 B2 JPH0418742 B2 JP H0418742B2 JP 20386985 A JP20386985 A JP 20386985A JP 20386985 A JP20386985 A JP 20386985A JP H0418742 B2 JPH0418742 B2 JP H0418742B2
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- Japan
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- test
- test device
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- tester
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は交換機に接続された加入者線及び宅内
装置を試験する加入者試験方式に関し、特に広域
に散在する複数の交換機に収容された多数の加入
者の集中試験を行う方式に関する。
装置を試験する加入者試験方式に関し、特に広域
に散在する複数の交換機に収容された多数の加入
者の集中試験を行う方式に関する。
従来の加入者試験方式の構成例を第２図に示
す。第２図において、宅内装置１０は加入者線２
０を通して交換機３０に接続されている。交換機
３０はスイツチ網３１及び中央制御部３２を具備
している。この交換機３０の１台あるいは２台程
度ごとに試験装置４０が設置される。試験装置４
０はスイツチ回路４１、試験器４２、制御部４３
をもち、制御部４３はデータリンク５０により試
験制御装置６０の制御部６１と接続される。試験
制御装置６０は試験者が直接操作する試験操作台
７０に接続される。試験装置４０の試験器４２
は、実際には各試験項目ごとの複数の試験器から
なる。
す。第２図において、宅内装置１０は加入者線２
０を通して交換機３０に接続されている。交換機
３０はスイツチ網３１及び中央制御部３２を具備
している。この交換機３０の１台あるいは２台程
度ごとに試験装置４０が設置される。試験装置４
０はスイツチ回路４１、試験器４２、制御部４３
をもち、制御部４３はデータリンク５０により試
験制御装置６０の制御部６１と接続される。試験
制御装置６０は試験者が直接操作する試験操作台
７０に接続される。試験装置４０の試験器４２
は、実際には各試験項目ごとの複数の試験器から
なる。
加入者試験は、試験者が試験内容を試験操作台
７０より指示し、これを試験制御装置６０を介し
て試験装置４０の制御部４３が受け、スイツチ４
１及び試験器４２を動作させることにより行う。
即ち、試験者は試験集中局（親局）に設置された
試験操作台７０より加入者番号、試験項目等の試
験に必要な指令情報を指定して試験制御装置６０
を起動する。試験制御装置６０は加入者番号によ
り試験装置４０を識別し、前記指令情報をデータ
リンク５０を介して該当試験装置４０の制御部４
３に送出する。指令を受けた試験装置４０の制御
部４３は、交換機３０の中央制御部３２に該当試
験項目に対する試験パスの接続を要求し、パス設
定が完了すると、当該試験を行う試験器４２を選
択起動し、指令情報を送出する。試験指令を受け
た試験器４２は試験実行後、試験結果を試験装置
４０の制御部４３に返送する。制御部４３は前記
試験結果を試験開始と逆ルートで試験制御装置６
０の制御部６１に返送し、制御部６１は試験操作
台７０にて試験者に結果を表示せしめる。
７０より指示し、これを試験制御装置６０を介し
て試験装置４０の制御部４３が受け、スイツチ４
１及び試験器４２を動作させることにより行う。
即ち、試験者は試験集中局（親局）に設置された
試験操作台７０より加入者番号、試験項目等の試
験に必要な指令情報を指定して試験制御装置６０
を起動する。試験制御装置６０は加入者番号によ
り試験装置４０を識別し、前記指令情報をデータ
リンク５０を介して該当試験装置４０の制御部４
３に送出する。指令を受けた試験装置４０の制御
部４３は、交換機３０の中央制御部３２に該当試
験項目に対する試験パスの接続を要求し、パス設
定が完了すると、当該試験を行う試験器４２を選
択起動し、指令情報を送出する。試験指令を受け
た試験器４２は試験実行後、試験結果を試験装置
４０の制御部４３に返送する。制御部４３は前記
試験結果を試験開始と逆ルートで試験制御装置６
０の制御部６１に返送し、制御部６１は試験操作
台７０にて試験者に結果を表示せしめる。
第２図の試験方式においては、各交換局等に設
置する試験装置ごとに各試験項目の試験器を設置
する必要があり、不経済であるばかりでなく、試
験器の機能変更、追加が必要になつた時、広域に
散在する試験装置ごとに、変更追加作業のため作
業者を現地に派遣して作業を行う必要がある。ま
た、設置する試験器数も多いので、全体としての
故障も多くなり、故障修理についても各局ごとに
行う必要がある。
置する試験装置ごとに各試験項目の試験器を設置
する必要があり、不経済であるばかりでなく、試
験器の機能変更、追加が必要になつた時、広域に
散在する試験装置ごとに、変更追加作業のため作
業者を現地に派遣して作業を行う必要がある。ま
た、設置する試験器数も多いので、全体としての
故障も多くなり、故障修理についても各局ごとに
行う必要がある。
本発明の目的は、広域に散在する複数の交換機
に収容された加入者に対し、少数の試験器を共用
可能として、経済的な加入者試験方式を提供する
ことにある。
に収容された加入者に対し、少数の試験器を共用
可能として、経済的な加入者試験方式を提供する
ことにある。
本発明は、試験機能を、特性劣化があり交換機
の近傍にて測定する必要があるものと、特性劣化
がなく遠距離で測定可能なものに分け、それぞれ
に対応して試験器を交換機の近傍と試験集中局に
分離設置し、試験集中局の試験器を多数の加入者
で供用することにより、経済的な加入者試験方式
を実現するものである。
の近傍にて測定する必要があるものと、特性劣化
がなく遠距離で測定可能なものに分け、それぞれ
に対応して試験器を交換機の近傍と試験集中局に
分離設置し、試験集中局の試験器を多数の加入者
で供用することにより、経済的な加入者試験方式
を実現するものである。
第１図は本発明の加入者試験方式の一実施例を
示す。第１図において、宅内装置１０は加入者線
２０を通して交換機３０に接続される。交換機
（デイジタル加入者線交換機）３０はスイツチ網
３１及び中央制御部３２を具備している。この交
換機３０の１台あるいは２台程度ごとに第１試験
装置４０が設置される。第１試験装置４０はスイ
ツチ回路４１、試験器４２、制御部４３からな
る。この第１試験装置４０がもつ試験器４２は、
特性劣化があり、交換機３０の近傍にて測定する
必要がある試験項目に対応する試験器のみとす
る。交換機３０の近傍に設置された各第１試験装
置４０はデータリンク５０及び試験線（デイジタ
ル試験線）５１により試験集中局の第２試験装置
８０に収容される。第２試験装置８０もスイツチ
回路８１、試験器８２、制御部８からなるが、こ
の第２試験装置８０がもつ試験器８２は、特性劣
化がなく、交換機から遠距離で測定可能な試験項
目に対応する試験器とする。第２試験装置８０は
試験制御装置６０に接続され、試験制御装置６０
は試験操作台７０に接続される。
示す。第１図において、宅内装置１０は加入者線
２０を通して交換機３０に接続される。交換機
（デイジタル加入者線交換機）３０はスイツチ網
３１及び中央制御部３２を具備している。この交
換機３０の１台あるいは２台程度ごとに第１試験
装置４０が設置される。第１試験装置４０はスイ
ツチ回路４１、試験器４２、制御部４３からな
る。この第１試験装置４０がもつ試験器４２は、
特性劣化があり、交換機３０の近傍にて測定する
必要がある試験項目に対応する試験器のみとす
る。交換機３０の近傍に設置された各第１試験装
置４０はデータリンク５０及び試験線（デイジタ
ル試験線）５１により試験集中局の第２試験装置
８０に収容される。第２試験装置８０もスイツチ
回路８１、試験器８２、制御部８からなるが、こ
の第２試験装置８０がもつ試験器８２は、特性劣
化がなく、交換機から遠距離で測定可能な試験項
目に対応する試験器とする。第２試験装置８０は
試験制御装置６０に接続され、試験制御装置６０
は試験操作台７０に接続される。
以下、動作を説明する。試験者は試験集中局
（親局）に設置された試験操作台７０より、加入
者番号、試験項目等の試験に必要な指令情報を指
定し、試験制御装置６０を起動する。試験制御装
置６０の制御部６１は、加入者番号により第２試
験装置８０及び第１試験装置４０を識別し、指令
情報を第２試験装置８０の制御部８３、データリ
ンク５０を経由して該当第１試験装置４０の制御
部４３に送出する。この時、試験項目が第２試験
装置８０の試験器８２により行われるものである
と、第２試験装置８０の制御部８３は、該当試験
を行う試験器８２を選択すると共に、スイツチ８
１により該試験器８２と試験線５１の接続パスを
選択設定する。第１試験装置４０の制御部４３で
は、受信した指令情報により該当交換機３０を識
別し、該当交換機３０の中央制御部３２に該当加
入者とスイツチ回路４１のとのパス設定を要求
し、パス設定が完了すると、スイツチ回路４１に
より該当交換機３０と試験線５１を接続する。
（親局）に設置された試験操作台７０より、加入
者番号、試験項目等の試験に必要な指令情報を指
定し、試験制御装置６０を起動する。試験制御装
置６０の制御部６１は、加入者番号により第２試
験装置８０及び第１試験装置４０を識別し、指令
情報を第２試験装置８０の制御部８３、データリ
ンク５０を経由して該当第１試験装置４０の制御
部４３に送出する。この時、試験項目が第２試験
装置８０の試験器８２により行われるものである
と、第２試験装置８０の制御部８３は、該当試験
を行う試験器８２を選択すると共に、スイツチ８
１により該試験器８２と試験線５１の接続パスを
選択設定する。第１試験装置４０の制御部４３で
は、受信した指令情報により該当交換機３０を識
別し、該当交換機３０の中央制御部３２に該当加
入者とスイツチ回路４１のとのパス設定を要求
し、パス設定が完了すると、スイツチ回路４１に
より該当交換機３０と試験線５１を接続する。
これにより、交換機３０−第１試験装置４０の
スイツチ回路４１−試験線５１−第２試験装置８
０のスイツチ回路８１−試験器８２のルートが完
成し、試験器８２により試験が行われる。この第
２試験装置８０の試験器８２で行われる試験は、
例えば加入者試験のうち論理レベルの試験、即
ち、宅内装置１０の機能試験などである。試験器
８２の試験結果は第２試験装置８０の制御８３、
試験制御装置６０の制御部６１を経由して試験操
作台７０に返送される。
スイツチ回路４１−試験線５１−第２試験装置８
０のスイツチ回路８１−試験器８２のルートが完
成し、試験器８２により試験が行われる。この第
２試験装置８０の試験器８２で行われる試験は、
例えば加入者試験のうち論理レベルの試験、即
ち、宅内装置１０の機能試験などである。試験器
８２の試験結果は第２試験装置８０の制御８３、
試験制御装置６０の制御部６１を経由して試験操
作台７０に返送される。
一方、試験項目が第１試験装置４０の試験器４
２で行われるものであると、第２試験装置８０の
制御部８３は自装置内の試験器８２の選択は行わ
ず、試験指令情報をデータリンク５０によりその
まゝ該当第１試験装置４０の制御部４３に送出す
る。第１試験装置４０の制御部４３は該当交換機
３０を識別し、該交換機３０に加入者線２０とス
イツチ回路４１間のパス設定を要求し、パス設定
が完了すると、スイツチ回路４１により試験を行
う試験器４２を選択し、該試験器４２を起動して
試験を行う。この第１試験装置４０の試験器４２
で行われる試験は、例えば加入者線２０の品質試
験などである。試験器４２での試験結果は、第１
試験装置４０の制御部４３、データリンク５０、
第２試験装置８０の制御部８３、試験制御装置６
０の制御部６１のルートで試験操作台７０に返送
される。
２で行われるものであると、第２試験装置８０の
制御部８３は自装置内の試験器８２の選択は行わ
ず、試験指令情報をデータリンク５０によりその
まゝ該当第１試験装置４０の制御部４３に送出す
る。第１試験装置４０の制御部４３は該当交換機
３０を識別し、該交換機３０に加入者線２０とス
イツチ回路４１間のパス設定を要求し、パス設定
が完了すると、スイツチ回路４１により試験を行
う試験器４２を選択し、該試験器４２を起動して
試験を行う。この第１試験装置４０の試験器４２
で行われる試験は、例えば加入者線２０の品質試
験などである。試験器４２での試験結果は、第１
試験装置４０の制御部４３、データリンク５０、
第２試験装置８０の制御部８３、試験制御装置６
０の制御部６１のルートで試験操作台７０に返送
される。
以上、デイジタル加入者線系システムの場合に
ついて説明したが、本発明はアナログ・デイジタ
ル交換技術を用いることによつてアナログ加入者
系システムにも適用できることは云うまでもな
い。
ついて説明したが、本発明はアナログ・デイジタ
ル交換技術を用いることによつてアナログ加入者
系システムにも適用できることは云うまでもな
い。
以上説明したように、本発明によれば、複数の
交換機に収容された多数の加入者で少数の試験器
を設備供用可能となる。即ち、試験器をスイツチ
により任意の試験線と接続可能なため、大群化効
果により、試験器を個々の交換局に設置するより
も、システム全体の所要試験器数を減少させるこ
とができる。
交換機に収容された多数の加入者で少数の試験器
を設備供用可能となる。即ち、試験器をスイツチ
により任意の試験線と接続可能なため、大群化効
果により、試験器を個々の交換局に設置するより
も、システム全体の所要試験器数を減少させるこ
とができる。
又、１箇所に集中して試験器を配備できるの
で、保守者常駐の場所に試験器を設置すること
で、試験器故障時に、各子局まで出向くことなく
修理でき、修理時間の短縮を図れる他、試験器の
機能の追加変更の必要が生じた際、試験器数が少
ないので、作業が少なく、短時間で作業完了でき
るばかりでなく、作業ミスなどによる故障も発生
しにくい。
で、保守者常駐の場所に試験器を設置すること
で、試験器故障時に、各子局まで出向くことなく
修理でき、修理時間の短縮を図れる他、試験器の
機能の追加変更の必要が生じた際、試験器数が少
ないので、作業が少なく、短時間で作業完了でき
るばかりでなく、作業ミスなどによる故障も発生
しにくい。
第１図は本発明による加入者線試験方式の一実
施例を示す図、第２図は従来の加入者試験方式の
構成例を示す図である。 １０……宅内装置、２０……加入者線、３０…
…加入者交換機、４０……第１試験装置、４１…
…スイツチ回路、４２……試験器、４３……制御
部、５０……データリンク、５１……試験線、６
０……試験制御装置、７０……試験操作台、８０
……第２試験装置、８１……スイツチ回路、８２
……試験器、８３……制御部。
施例を示す図、第２図は従来の加入者試験方式の
構成例を示す図である。 １０……宅内装置、２０……加入者線、３０…
…加入者交換機、４０……第１試験装置、４１…
…スイツチ回路、４２……試験器、４３……制御
部、５０……データリンク、５１……試験線、６
０……試験制御装置、７０……試験操作台、８０
……第２試験装置、８１……スイツチ回路、８２
……試験器、８３……制御部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 複数の加入者交換機と宅内装置及びこれらを
結ぶ加入者線を具備する加入者系システムの前記
宅内装置及び加入者線を試験する加入者試験方式
において、 前記加入者交換機の近傍に設置した第１試験装
置と、複数の前記第１試験装置と接続された第２
試験装置と、前記第２試験装置に接続された試験
制御装置とを具備し、 前記第１試験装置には特性劣化のある試験項目
に対応する第１試験器を設け、前記第２試験装置
には特性劣化のない試験項目に対応する第２試験
器を設け、前記第１試験装置と前記第２試験装置
の間にはさらに試験線を設け、 前記試験制御装置は試験指令情報を前記第２試
験装置及び該第２試験装置を介して前記第１試験
装置に送信し、 前記試験指令情報が前記第２試験器による試験
項目を示していると、前記第１試験装置は前記加
入者交換機と前記試験線を接続し、前記第２試験
装置は前記試験線と前記第２試験器を接続し、該
第２試験器による試験結果を前記試験制御装置に
送信し、 前記試験指令情報が前記第１試験器による試験
項目を示していると、前記第１試験装置は前記加
入者交換機と前記第１試験器を接続し、該第１試
験器による試験結果を前記第２試験装置を介して
前記試験制御装置に送信することを特徴とする加
入者試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20386985A JPS6264157A (ja) | 1985-09-14 | 1985-09-14 | 加入者試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20386985A JPS6264157A (ja) | 1985-09-14 | 1985-09-14 | 加入者試験方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6264157A JPS6264157A (ja) | 1987-03-23 |
| JPH0418742B2 true JPH0418742B2 (ja) | 1992-03-27 |
Family
ID=16481053
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20386985A Granted JPS6264157A (ja) | 1985-09-14 | 1985-09-14 | 加入者試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6264157A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03196749A (ja) * | 1989-11-30 | 1991-08-28 | Nec Corp | 複数の交換機の回線保守統合装置 |
| JPH04117150A (ja) * | 1990-09-06 | 1992-04-17 | Fanuc Ltd | ステータ巻線と端子台との接続構造 |
| KR100454921B1 (ko) * | 1997-08-30 | 2004-12-17 | 삼성전자주식회사 | 키폰시스템에서 일반가입자 회로 테스트 방법 |
-
1985
- 1985-09-14 JP JP20386985A patent/JPS6264157A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6264157A (ja) | 1987-03-23 |
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