JPH041923A - デイスク基板 - Google Patents

デイスク基板

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Publication number
JPH041923A
JPH041923A JP10206190A JP10206190A JPH041923A JP H041923 A JPH041923 A JP H041923A JP 10206190 A JP10206190 A JP 10206190A JP 10206190 A JP10206190 A JP 10206190A JP H041923 A JPH041923 A JP H041923A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
disk substrate
substrate
lubricant
recording
view
Prior art date
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Pending
Application number
JP10206190A
Other languages
English (en)
Inventor
Naohiko Fujino
直彦 藤野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP10206190A priority Critical patent/JPH041923A/ja
Publication of JPH041923A publication Critical patent/JPH041923A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明はディスク基板に関するものであり、特にディ
スク基板の塗りむらの要因となるいわゆる「液だれ」を
防止するための側面の構造の改良に関する。
〔従来の技術〕
最近、めっき、蒸着、スパッタ等によって成膜される薄
膜磁気記録媒体の耐摩耗性等の機械的耐久性改善の要求
が高まってきている。この耐久性は、潤滑処理技術に大
きく左右され、たとえ優えた潤滑処理技術に大きく左右
され、たとえ優れた潤滑性能を有する潤滑剤を用いて処
理したとしても、その処理方法(条件)が適切でないと
十分な性能を発揮しない。そのため潤滑性能の優れた材
料開発も急がれていることはどうまでもないが、その材
料特性を十分活かしきるための最通処理方法を開発する
ことは、より重要なテーマと考えられる。
第6図は、例えば刊行物(Ths symposium
 onmemory  mad  advanasd 
 rsaording  &eahnologi@s。
wa −3−a −1(1986))に示されたディッ
ピング装置(潤滑剤塗布装置)の概略構成を示す斜視図
である。図において、(1)は例えばフッ素系潤滑剤を
フッ素溶媒で稀釈した潤滑剤溶液、[2)は潤滑剤溶液
(1)を収容する潤滑剤溶液槽、(3)はディスク基板
、(4)は複数枚のディスク基板(3)を束ねて支持す
る基板支持体、45)は基板支持体14)を下に動かし
ディスク基板(3)を潤滑剤溶液(2)に浸漬し、上方
に移動させてディスク基板(3)を潤滑剤溶液(2)か
ら引き1げるアクチュエータである。
第7図は上記ディッピング装置(第6図)によって塗布
されたディスク基板の塗りむらの要因となるいわゆる「
液だれ」の生じ易い箇所を示した平面図である。図にお
いて、(6)はディスク基板(3)の記録面、(7)は
斜線によって表示され、潤滑剤溶液[21の厚く看いて
くるいわゆる「液だれ」部である。
88図は例えば実開昭64−151415号公報に示さ
れたディスク基板への潤滑剤塗布の均一化をはかった従
来例を示す平面図である。図において、(6)はディス
ク基板の記録面、(7)は斜線によって表示され、潤滑
剤溶液(2)の厚く看いてくるいわゆる「液だれ」部、
(8)はディスク基板の記録面(6)と同一面に嵌合さ
れた基板ホルダーで、「液だれ」部(7)は、基板ホル
ダー(8)の周辺部に発生箇所が移っている。そのため
潤滑剤の塗布を行なった後基板ホルタ−(81を取りは
ずすと、潤滑剤が端部まで均等に塗布されたディスク基
板が得られる。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記のような従来の基板ホルダーを用いてディスク基板
に潤滑剤を塗布する場合、別途基板ホルダーを製作しな
ければならず、またこの基板ホルダーを取り付けたり取
りはずしたりする手間も必要で、その分デイスク基板の
単価も高くつくという問題点があった。
この発明はかかる課題を解決するためになされたもので
、基板ホルダーを用いずに、しかも記録面に潤滑剤が均
一に塗布できるディスク基板を得ることを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
請求項(1)の発明に係るディスク基板は、ディスク基
板の一方の記録面端部と、上記ディスク基板の他方の記
録面端部とを接続するアール形状の側面を有したもので
ある。
また、請求項(2)の発明に係るディスク基板は、徽細
な凹凸の形成された側面を有したものである。
〔作用〕
請求項(1)における発明のアール形状の側面は、記録
面との不連続点・角の存在を解消する。
また、請求項(21における発明のディスク基板の側面
につけられた鍬細な凹凸は、毛細管現象により潤滑剤溶
液をすいよせる。
〔実施例〕
第1図はこの発明の一実施例におけるディスク基板を示
す平面図、第2図はその側断面図である。
図において、(3)はディスク基板、(6)はディスク
基板(31の記録面、(9)はディスク基板のアール形
状側面である。
@3図はこの発明の他の実施例におけるディスク基板を
示す平面図、第4図はその側面図である。
図において、(至)はディスク基板の厚み方向に溝が形
成された微細な凹凸側面である。
第5図はこの発明のさらに他の実施例におけるディスク
基板を示す側面図である。図において、0は例えばギザ
ギザやつや消しなどの徽細な凹凸側面である。
以上のように構成されたこの発明の動作について、実験
データにもとすいて説明する。
まず、外径30am 、内径10om、厚63mm(7
)フルミニラム製ディスク基板に対し、上記@6図に示
すディッピング装置を用い、フッ素変成オイルのフッ素
系潤滑剤(商品名KRYτφx143An、デュポン製
)を、トリフルオロトリクロロエタン(フッ素変成稀釈
液)で濃度がICf//1〕、3Cf/IIJ、5Cf
l/1〕  となるように稀釈した溶液中に浸漬し、基
板の引き上げ速度を0.2(m/分〕で引き上げる。
時間の経過とともに潤滑剤溶液は重力によって下方に流
れ落ち、平衡状態になった残存塗液が最終的には潤滑剤
塗膜としてディスク基板に固着し、潤滑剤の厚さが決定
される。ディスク基板が引き上げられ乾いていく過程で
残存塗液はぬれの良い部分へ引き寄せられていく。表1
ないし表3は、このフッ素系潤滑剤(KRY rφ!1
43AD)の膜厚を、発明者らが開発し、例えば(日本
潤滑学会、秋期大会、予稿集(1987) P、485
〜488)において発表したFT−IRによる高感度反
射法により測定した結果である。
はじめに第1図および第2図に示した基板の潤滑剤膜厚
測定結果を表1に示す。半径位置5〜15[am]の基
板半径方向測定点8点の膜厚0人〕を示したものである
表1.各測定位置での潤滑剤膜厚〔A)C第11に1第
2図に示した側面形状の基板)もよい。
汲2.各測定位置での工滑剤膜厚〔λ〕(第3図および
第4図に示した側面形状の基板)また、“第3図および
第4図によって示した基板の潤滑剤膜厚測定結果を汲2
に、第2図と115図とを組み合わせた形状の側面をも
つ基板の潤滑剤膜厚測定結果を表3に示す。
いずれの実施例の結果からも、問題のない範囲の均一な
塗布膜が得られていることが分った。
表3は、アール形状の側面の上に象細な凹凸をつけた組
み合せ例で、より均一な潤滑剤の塗膜ができている。ま
た、会細な凹凸は部分的につけて表3.各測定位置での
潤滑剤膜厚〔λ〕(974図と第5図とを組み合せた側
面形状の基板)〔発明の効果〕 請求項(1)の発明に係るディスク基板は、ディスク基
板の一方の記録面端部と、上記ディスク基板の他方の記
録面端部とを接続するアール形状の側面を有するように
したので、また請求項(2)の発明に係るディスク基板
は、微細な凹凸の形成された側面を有するようにしたの
で、基板ホルダーを用いずに、しかも記録面に潤滑剤が
均一に塗布できるディスク基板が得られる。
【図面の簡単な説明】
!!1図はこの発明の一実施例におけるディスク基板を
示す平面図、第2図は第1図におけるディスク基板の側
断面図、第3図はこの発明の他の実施例におけるディス
ク基板を示す平面図、第4図は第3図のディスク基板の
側面図、第5図はこの発明のさらに他の実施例を示すデ
ィスク基板の側面図、第6図はディッピング装置の概略
斜視図、!!7図は従来のディスク基板を示す平面図、
第8図は第7図従来のディスク基板に基板ホルダーを嵌
合した従来例のディスク基板を示す平面図である。 図において、(3)はディスク基板、(6)は記録面、
+91はアール形状側面、α0. IDは微細な凹凸が
形成された側面である。 なお、各図中同一符号は同−又は相当部分を示す。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ディスク基板の一方の記録面端部と、上記ディス
    ク基板の他方の記録面端部とを接続するアール形状の側
    面を有したことを特徴とするディスク基板。
  2. (2)微細な凹凸が形成された側面を有したことを特徴
    とするデイスク基板。
JP10206190A 1990-04-17 1990-04-17 デイスク基板 Pending JPH041923A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10206190A JPH041923A (ja) 1990-04-17 1990-04-17 デイスク基板

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10206190A JPH041923A (ja) 1990-04-17 1990-04-17 デイスク基板

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH041923A true JPH041923A (ja) 1992-01-07

Family

ID=14317254

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10206190A Pending JPH041923A (ja) 1990-04-17 1990-04-17 デイスク基板

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JP (1) JPH041923A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0744860A (ja) * 1993-07-29 1995-02-14 Nec Corp 磁気記憶体
WO2008053733A1 (fr) * 2006-10-31 2008-05-08 Konica Minolta Opto, Inc. Procédé de retenue de disque en verre pour un support d'enregistrement d'informations et support utilisé pour le procédé

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0744860A (ja) * 1993-07-29 1995-02-14 Nec Corp 磁気記憶体
WO2008053733A1 (fr) * 2006-10-31 2008-05-08 Konica Minolta Opto, Inc. Procédé de retenue de disque en verre pour un support d'enregistrement d'informations et support utilisé pour le procédé

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