JPH041925B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 発明の分野および背景 本発明は、おおむね、磁性媒体データ記憶装置
におけるトランスデユーサのヘツド調整をテスト
するための装置に関するものであり、とりわけ、
このような調整をテストするために前もつて特別
に記録されたデータを利用する装置に関するもの
である。本発明は、主としてフロツピイデイスク
駆動装置におけるトランスデユーサのヘツド調整
に応用されることが好ましい。もつとも、本発明
が、ハードデイスクおよびドラムを含むハードな
媒体に関連するヘツド調整に応用されることは可
能である。

磁性媒体上にデータトラツクを有する磁気デー
タ記憶装置におけるトランスデユーサのヘツドを
正しく調整することは、正確なデータ転送にとつ
て必須のことである。最近、システムの一部のデ
イスク駆動装置、および別売りのデイスク駆動装
置を伴う小型コンピユータが普及した結果、非常
におびただしい数の磁気記憶装置が、比較的無防
備の状態に置かれている。家庭用および事務用の
小型コンピユータの安価なデイスク駆動装置が、
大型本体を有するコンピユータの装置と比較し
て、機械的に損傷を受け易いということは重要な
意味をもつている。

デイスク駆動装置におけるトランスデユーサの
ヘツド調整に何らかの変化が起こつても、その変
化後にデイスク駆動装置に記憶されたデータを、
同じデイスク駆動装置が確実に読出す能力は、そ
のような変化によつては、何ら影響を受けない。
しかし、読出しに用いられるデイスク駆動装置と
異なるデイスク駆動装置に記録されたデータ、ま
たは、前記変化前に、読出しに用いられるデイス
ク駆動装置と同じデイスク駆動装置に記録された
データは、そのような変化後は使用できない。

フロツピイデイスクデータ記憶装置の基本的機
能は、異なるコンピユータからくる異なるデータ
のインタフエースを図ることにある。このような
データ転送を遂行させるために、デイスク駆動装
置は、共通の基準に合わせて調整されることが必
要である。フロツピイデイスクのトラツクの位置
は、ANS（米国規格）×3.82−1980によつて決め
られている。これらのトラツクの中にデータを配
列する方法は、実際には、メーカの間で異なり、
そのため、異なるメーカーの設備に使用されるデ
イスクの間には互換性はないけれども、データト
ラツクの位置が共通している結果フロツピイデイ
スク駆動装置のヘツド調整は、メーカに関係な
く、基本的に一貫していることが必要である。

自動的に調整を行なう複雑なサーボ系を含め
て、ヘツド調整には多くの方法が可能であるが、
普通、実際には、フロツピイデイスク駆動装置に
関するヘツド調整は、特別に記録されたデイスク
およびオシロスコープを用いて、サービス技術者
が行なうマニユアルの調整によつてなされてい
る。よく知られた“キヤツツアイ”調整技術は、
米国特許明細書第4053937号の背景になつている
ように、ハーセイジユニアによつて記述されてい
る。その技術には、ハーセイジユニアの発明によ
つて発表されたいろいろな実施態様が付加されて
いるが、その技術はフロツピイデイスク駆動装置
のヘツド調整に関しては卓越している。このよう
な調整は、特殊な装置および質の高い技術者を必
要とするので、デイスク駆動装置の多くのユーザ
は、問題が表面化するまで、ヘツド調整にあまり
注意を払おうとしない。問題が深刻になつてきた
ときにだけ、そのデイスク駆動装置はサービス店
に持込まれるのである。

デイスク駆動装置のヘツド調整において、ずれ
が徐々に起こるという問題がある。ユーザは、コ
ンピユータを使う場合、新しいフアイルにはたび
たびアクセスをするが、古いフアイルにはまれに
しかアクセスをしないために、勢い、新しいフア
イルの作成に多くの時間を費す傾向がある。その
ため、ユーザはデイスク駆動装置において無視で
きないようなヘツドの調整ずれという問題が起き
ていても全く気が付かないことがある。アクセス
されているデータだけは、また調整不良のヘツド
によつて記録された場合であつても、そのヘツド
によつて正しく読出される。異なつたデイスク駆
動装置によつて記録されたデイスク、またはずつ
と前に記録されたデイスクがアクセスされたとき
のみ、ヘツド調整のずれによる何らかの影響が現
われる。もし、そのときデイスク駆動装置のヘツ
ド調整が修正された場合には、その前に記録され
たデイスク上のすべてのデータは、それによつ
て、アクセス不可能となる。ユーザを悩ますもう
一つの問題は、前記デイスク駆動装置からデータ
を元の状態へ戻すことが信頼できないものになる
という状態である。ユーザにとつて、問題の原因
がどこにあるのかを決定することは必ずしも容易
でない。コンピユータ、またはデイスク駆動装置
のコントローラが故障すると、ヘツドの調整不良
と似たような徴候が現われる。

比較的専門家でないユーザがデイスク駆動装置
のヘツド調整のテストを経済的にすることができ
る装置を用いるのであれば、前記ユーザは、前記
調整不良がデータアクセスの信頼性を脅す程深刻
になる前に適切な処置をすることのみならず、デ
ータアクセスの信頼性が低下するという問題をよ
り効果的に診断することができるはずである。

発明の要約 そこで、本発明の目的は、比較的専門家でない
人が、磁気記憶装置のヘツド調整を簡単にテスト
することができる装置を提供することである。

さらに、本発明の目的は、磁気データ記憶装置
のヘツド調整のテストを可能にする経済的な装置
を提供することである。

さらに、本発明の目的は、オシロスコープのよ
うな特殊のテスト計器を必要とせずに、磁気デー
タ記憶装置のヘツド調整のテストを可能にする装
置を提供することである。

さらに、本発明の目的は、磁気データ記憶装置
を分解せずに、該装置のヘツド調整のテストを可
能にする装置を提供することである。

さらに、本発明の目的は、磁気記憶装置のヘツ
ド調整のテストをするための装置を提供すること
によつて、前記諸目的を達成させるのみならず、
このような磁気記憶装置において他に起こり得る
問題の診断を可能にすることである。

簡単に言えば、本発明の実施例は、標準でない
フオーマツトで記録されるデータトラツクを有す
るフロツピイデイスクのような磁性媒体を構成要
素としている。該磁性媒体要素は、データ記憶装
置の特定のタイプに対しては、予め分かるような
位置に配列されている少なくとも一つのトラツク
を有している。

例えば、フロツピイデイスク駆動装置では、前
記トラツクは、ANS ×3.82−1980に従つて配
列されている。前記トラツクの両隣りには、基準
トラツクの位置とは一致しない半径を持つ複数の
データトラツクが配列されている。当該実施例に
おいては、前記複数のトラツクは、フロツピイデ
イスク上に、その隣り合うトラツクの中心間隔
が、ANSI（米国規格協会）で定められている1.89
本／mmのトラツク密度に対する間隔よりも0.033
mmだけ狭い間隔で配列されている。前記データト
ラツクは、データ部分と、データ転送の精度を検
査するチエツクサムの部分とから成る。前記デイ
スクのフオーマツトが、テストのためにデイスク
駆動装置において通常使われるデイスクのフオー
マツトと異なる点は、前記トラツク間隔にある。
一つのトラツクは、ANSによつて定められた
トラツクの位置にあり、その両側には、それぞれ
９個のトラツクが標準化されていない位置に配列
されている。このようなトラツクの各々の位置
と、ANSに従つて定められている対応するト
ラツクの位置との差は、0.033mmに、ANSによ
つて定められているトラツクから数えたトラツク
の番号の数を掛けた値である。

前記デイスクが、正しくヘツド調整されたデイ
スク駆動装置に差し込まれると、該ヘツドは、
ANSIによつて定められた半径上に位置するトラ
ツクにアクセスすることができ、したがつて、前
記トラツクに対して正しく配置される。正しく調
整されたヘツドが、標準化されていない位置にあ
るトラツクの何れかにアクセスすると、アライメ
ントエラー（調整誤差）が存在していることにな
る。アライメントエラーが正確なデータ転送を妨
害するほど大きくなるようなトラツクにおいて
は、読出されたデータはチエツクサムと一致しな
くなり、それによつて、不完全なデータ転送が検
出される。上記トラツクは、標準化されていない
位置に配列されているとはいえ、ANSIによつて
定められた位置にあるトラツクに対しては対称に
一様な間隔で配列されているので、正しく調整さ
れたヘツドがANSI標準位置にあるトラツクに記
憶されたデータを正確に読出すことは可能であ
り、しかし、データ転送が、ANSI標準位置にあ
るトラツクから次第に遠くのにあるトラツクから
行なわれると、前記ヘツドが記憶されたデータを
正確に読出す公算が次第に弱くなつている。

ANSI標準位置にあるトラツクからのデータ転
送を正しく行なうことができるようにほぼ完全に
調整された任意のヘツドは、他のいくつかのトラ
ツクからも精度よくデータ転送をすることができ
る。ANSI標準位置にあるトラツクからその各片
側方向に、前記ヘツドが読出し不可能になる最初
のトラツクを決めることによつて、かつ、どのト
ラツクが、これら読出し不可能な二つのトラツク
の中間になるかを計算することによつて、前記ヘ
ツドが最も厳密に位置決めされるトラツクがどれ
であるかを決めることができる。前記複数のトラ
ツクは、0.033mmの増分の倍数だけ、それぞれの
対応する標準位置からずれているので、それによ
つてヘツドの位置決め誤差が正確に算出される。

デイスクには、さらに、ANSIによつて定めら
れた位置に配列された複数のトラツクが設けられ
ているが、これは読出しを制御するプログラム、
および標準化されていない位置にあるトラツクか
ら読出された結果を評価するためのプログラムを
格納するためである。ANSI標準位置にあるこれ
らの複数のトラツクには、また、毎分回転数およ
び偏心のテスト等の、デイスク駆動装置に関する
他のテストを実行させるためのプログラムおよび
データが格納されている。

本発明の利点は、本発明が提供する装置によつ
て、比較的専門家でない人が磁気記憶装置におけ
るヘツド調整のテストを簡単に行なうことができ
ることである。

本発明の他の利点は、本発明が提供する経済的
な装置によつて、磁気記憶装置のヘツド調整のテ
ストが可能であることである。

本発明の他の利点は、本発明が提供する装置に
よつて、オシロスコープのような特別のテスト計
器を必要とせずに、磁気記憶装置のヘツド調整の
テストが可能であることである。

本発明の他の利点は、本発明が提供する装置に
よつて、磁気記憶装置を分解せずに、該装置のヘ
ツド調整のテストが可能であることである。

本発明のなお一層の利点は、磁気記憶装置のヘ
ツド調整のテストのために本発明が提供する装置
が、上記いろいろな利益をもたらすことだけでな
く、さらに、該装置が、このような磁気記憶装置
において他に起こり得る問題の診断を行なう装置
を構成することである。

本発明のこれらのおよび他の目的ならびに利点
は、当業者が、いくつかの図面に示されている最
良の実施例についての以下の詳細な説明を読め
ば、彼らにとつて明白になることは疑いない。

実施例の詳細な説明 第１図には、典型的なフロツピイデイスクが図
示されており、参照番号５０がその全体を表わし
ている。デイスク５０に記憶されるデータは、後
述のデータトラツク内に記憶され、そして、複数
個のセクタ５２内に配列される。通常、この技術
においては、10個、13個、14個、または26個のセ
クタが用いられ、本発明においては、その何れを
用いてもよいのであるが、デイスク５０には、16
個のセクタが図示されている。通常、データを、
フロツピイデイスク５０のような種々のデイスク
に記憶する場合、その記憶のために、セクタ５２
内の各トラツクの殆どが使われるが、誤り検出符
号として時々参照されるチエツクサム用として、
このようなセクタ５２の各々の端部における各ト
ラツク内には、１または、それ以上のバイト（１
バイトは８ビツト）のエリアが確保されている。
このようなチエツクサムは、該検査が行なわれる
セクタ５２に記憶されるデータのすべての合計の
うち、最も重要でない部分から構成される。セク
タ５２の一つにデータを読込み、そのデータを合
計し、そして、その合計を１バイトまたは数バイ
トのチエツクサム用のデータと比較をすることに
よつて、データが正確に読込まれたかどうかが決
められる。

デイスク５０には、通常、その片面または両面
全体に、磁性材料のコーテイング５４が施されて
いる。セクタ５２の全領域にコーテイング５４が
施されることが必要である。通常、片面記録およ
び両面記録の両方がなされているが、もし、両面
記録が用いられるのであれば、デイスク５０の両
面にコーテイング５４が施されなければならない
ことを理解すべきである。デイスク５０がセクタ
５２に分割されるのは、完全に、記録の過程を通
して行なわれ、そして、該分割は、デイスク５０
の全面に施されているコーテイング５４の位置を
表わしているのでなく、磁気的に記録された情報
の位置を表わしている。デイスク５０の中心に
は、デイスク駆動装置と中心を合わせるために開
口５６が設けられている。

第２図には、デイスク５０上のセクタ５２内に
並んでいるいろいろなトラツクの空間的な位置関
係が相対的に示されている。半径方向の直線６０
は、トラツクの位置を説明するための基準線とし
て与えられている。直線６０の位置が第１図に代
表的に示されているが、該直線６０は、一つのセ
クタ５２内を通る任意の半径方向の直線であるこ
とが認識されなければならない。第２図に示され
ている直線６０上を左から右へ進行することは、
デイスク５０のセクタ５２内を、外側のトラツク
から内側のトラツクへ進行することを表わしてい
る。

本発明の最良の実施例においては、直径133.4
mm、トラツク数40、トラツク密度1.89本／mmのフ
ロツピイデイスクが用いられている。実際のトラ
ツクの位置は、半径方向の直線６０上に示される
番号００から番号３９が、各トラツクの中心線の
位置を示すように決められている。トラツク００
からトラツク２０までの各々はANS ×3.82−
1980に従つて配置されている結果として、寸法
“Ａ”で示されている各トラツクの中心線間隔は
約0.53mmとなる。トラツク３０は、また、ANS
×3.82−1980に従つて配置され、したがつて、
トラツク００からの距離が、寸法“Ａ”の30倍で
ある。トラツク３０は標準的な位置にあるので、
それは正しく配置されたトラツク（以下トラツク
“PA”という）として、基準となる。その他のト
ラツクの位置は、トラツク３０から一様に変化す
るような非標準的な半径によつて示される。寸法
“Ｃ”は、トラツク２１からトラツク３９までの
各トラツクの中心線間隔を示す。当該実施例にお
いては、寸法“Ｃ”は、寸法“Ａ”より約約
0.033mmだけ小さく設定されている。トラツク３
０の半径方向の内側と外側の両側には、それぞ９
個のトラツクがあり、それらのトラツクは、トラ
ツク３０から数えたトラツク数と0.033mmの積に
等しい量だけ、それぞれの対応する標準位置から
隔たつている。したがつて、各トラツクの位置
は、それぞれの標準位置からトラツク２９及び３
１に対する0.033mmからトラツク２１及び３９に
対する0.297mmまで変化している。ANS ×3.82
−1980によれば、トラツク幅は0.300mmに定めら
れている。非標準位置にあるそれぞれのトラツク
は、トラツク３０から両方向において、それぞれ
の対応する標準位置から標準トラツク幅の約1/9
から約１倍の量だけずれていることが分かる。寸
法“Ｅ”と寸法“Ｆ”とは互いに等しく、それぞ
れ、寸法“Ｃ”の９倍に等しい。トラツク２１か
らトラツク３９は、ANS ×3.82−1980に指定
されているような標準的配置である場合の分布よ
りも小さな半径方向の空間分布を占めることが分
かる。結局、トラツク３０を標準的な配置にする
一方で、寸法“Ｃ”を標準の寸法より縮小した分
だけ、寸法“Ｂ”は寸法“Ａ”よりも大きくなつ
ている。トラツク１からトラツク２０までは、コ
ンピユータプログラムと他のデータを記憶させる
のに用いられ、トラツク２１からトラツク２９ま
では、これらのトラツクの読出しを通じて、ヘツ
ド調整（ヘツドの位置決め）のテストに用いられ
る。

第３図Ａおよび第３図Ｂは、トラツク３０から
トラツク３９の相対的な位置を示したものであ
り、この中で第３図Ａは、ANS ×3.82−1980
に定められた配置を示したものであるのに対し、
第３図Ｂは、本発明におけるトラツクの配置を示
したものである。トラツク２１からトラツク２９
に対しても同様の関係があり、これらはすべて、
標準の位置に比べて、トラツク３０の方向に圧縮
されている。

第４図におけるフローチヤートは、本発明によ
つて、デイスク駆動装置におけるトランスデユー
サのヘツド調整のテストを行なうための方法を示
したものである。このフローチヤートにおいて
は、トラツク“PA”は、デイスク５０上に適正
に配置されたトラツクであることを意味し、本実
施例においては、前述のごとく、トラツク３０に
相当する。前記フローチヤートに従つてデイスク
５０を用いる手順は、先ず、トラツク３０の各セ
クタ５２において、トランスデユーサのヘツドを
トラツク“PA”にアクセスすることと、前記デ
ータとチエツクサムの両者を読出すことである。
各セクタ５２内のデータは、合計されて、その対
応するチエツクサムと比較される。もし、そのデ
ータが前記チエツクサムと正確に一致しなけれ
ば、エラーメツセージが表示され、テストは終了
する。そのような状態では、デイスク駆動装置
は、正しく整列されたトラツクからデータを正確
に読出すことが不可能となる。読出しの失敗の原
因は、ヘツドが正しく調整されていないこと以外
のいろいろな原因によるものがあるが、もし、そ
の原因が前記調整にあるならば、その調整不良は
ひどいものである。

もし、前記データが、チエツクサムと一致する
ならば、ヘツドは次のトラツクへ位置合わせさ
れ、データとチエツクサムが再び読出されそして
比較される。読出されたデータがチエツクサムと
一致する限り、トランスデユーサのヘツドは、次
のトラツクへ位置合わせされ、データとチエツク
サムは読出され、そして比較される。読出しの間
違いが発生した最初のトラツクにおいて、前記手
順は変更される。すなわち、読出しのエラーが発
生したトラツクの番号が記憶され、トランスデユ
ーサのヘツドはトラツク“PA”へ戻される。

トラツク“PA”はそれから２回目の読出しを
され、そのデータとチエツクサムは再び比較さ
れ、そして、もし、そのデータがチエツクサムと
一致しない場合、エラーメツセージとともに、そ
のテストは終了する。しかし、もし、トラツク３
０（トラツク“PA”）が正確に読出されると、ヘ
ツドは次のより小さい番号のトラツク（トラツク
２９）へ移動され、そして、そのデータとチエツ
クサムが読出され、そして比較される。前記デー
タとチエツクサムが一致する限り、ヘツドは、よ
り小さい番号のトラツクに位置合わせされ続け、
そして、データとチエツクサムが読出され、そし
て比較される。前記データとチエツクサムが一致
をしないトラツクになると、前記手順は再び変更
される。すなわち、トラツクの番号がまた記憶さ
れる。

データの読出しが正確に行なわれなかつた二つ
のトラツクの番号が合計され、そしてその合計が
２で割算される。その計算結果の数が、もし、整
数であるならば、その数は、ヘツドが最も接近し
て調整されたトラツクの番号を表わし、前記結果
の数が、もし、1/2の余りを有していると、その
数は、ヘツドが最も接近して調整された隣り合う
二つのトラツクを同一に取扱つてもよいことを表
わす。トラツク２１からトラツク２９までの
各々、およびトラツク３１からトラツク３９まで
の各々は、それぞれの対応する標準位置から正確
な変位量をもつて、異なる位置に配列されている
ので、ヘツドが最も接近して調整されるトラツク
または、隣り合う一組のトラツクを同定すること
によつて、ヘツドの調整誤差を非常に正確に評価
することができる。

本発明によれば、トラツクの中心線間隔が、基
準の間隔よりも0.033mmだけ小さい間隔であるの
で、ヘツドの調整誤差は概算、トラツク間隔のほ
ぼ半分となり、このようにして、分解能は0.025
mmよりも高くなる。このテストの結果は、いくつ
かの方法によつて、利用される。例えば、前記調
整誤差の値が、ヘツドの調整に用いられたり、そ
の反対に、ヘツド調整が“許容される”か“許容
されない”かのどちらかに決定されるというテス
トに用いられる。“許容される”誤差の量は、特
定の装置が通常の方法で使われるのか、またはデ
イスク駆動装置が特殊の感度を有する読出し装置
を伴うのか等、どのような装置が用いられるのか
によつて、異なるので、どのような調整誤差も越
えてはならない一般のリミツトとしては、標準ト
ラツク間隔と使用されるトラツク間隔との差の１
1/2倍（0.050mm）の公差が用いられる。各方向
に0.05mmまでの調整誤差を許すことは、いろいろ
な磁気デイスク駆動装置においてヘツドの調整誤
差の程度が異なつてくることを意味することに注
意しなければならない。ヘツドが、標準半径の内
側に0.05mmの誤差でもつて調整されているデイス
ク駆動装置において記録されたデイスクは、ヘツ
ドが標準半径の外側に0.05mmの誤差でもつて調整
されているデイスク駆動装置において読出される
ときは、0.10mmの調整誤差を生ずる。0.01mmとい
う誤差は、トラツク幅の1/3以上であり、そして、
これは一般に、正確なデータ転送を可能にしてい
るとはいえ、これがリミツトであり、これを超え
ると、正確なデータ転送は困難になる。

上述の如き本発明を利用する方法は、コンピユ
ータによつて容易に実行することができる。第４
図に示された処理を実行するための簡単なプログ
ラムによつて、殆ど技術的知識を持たない人々、
または、このようなコンピユータプログラムの中
に含まれている命令を追跡するだけの技術しか持
たない人々でも、本発明を利用することができ
る。このようなコンピユータプログラムが格納さ
れる場所は、デイスク５０において、ヘツドの調
整がなされるために使われるトラツク２１からト
ラツク３９までとは独立しているので、前記プロ
グラムが格納される都合のよい場所は、デイスク
５０のトラツク００からトラツク２０での範囲内
である。

デイスクの標準的な場所に記録されているプロ
グラムおよびデータ用のトラツクを用いてデイス
ク駆動装置の毎分当りの回転数を測定する技術分
野においては、いろいろな方法が開発されてい
る。このようなプログラムおよびデータを、本発
明のデイスク５０のトラツク００からトラツク２
０までの範囲内に含ませることも可能である。本
発明のデイスクにおいて、前記回転数のテストが
含まれる結果として、デイスク駆動装置のスピー
ドおよびデイスク駆動装置のヘツド調整が一つの
デイスクでもつて都合よくテストされ得る。

本発明を利用するための前記方法に対して、い
ろいろな改良がなされ得ることは、認識されなけ
ればならない。例えば、トラツク２１からトラツ
ク３９は、それぞれ両方向から読出されることが
可能である。これは、特に、二つの役目を果た
す。すなわち、第一に、それによつてトラツク
“PA”（トラツク３０）が、結果を得るために読
出し可能である必要性がなくなること、第二に、
両方向から読出されたトラツクの位置によつて、
ヘツドが最も接近して調整されたトラツクの位置
を同定することができることである。すなわち該
トラツクが両方向アプローチによる最も近い位置
のトラツクとして認められる。もし、異なつたト
ラツク（または一組の隣り合つた二つのトラツ
ク）が、２方向から調整された最も近いトラツク
であると決められた場合、その不一致は、ヘツド
の移動のバツクラツシユ、すなわちヒステリシス
によるものである。もし、そのバツクラツシユが
無視できなくなつてくると、ヘツドの駆動機構
は、メインテナンスを受けなければならなくな
る。許容できるバツクラツシユの量は、デイスク
駆動装置の特定の機種によつて異なるが、バツク
ラツシユの量が１トラツク分のずれ（標準トラツ
ク間隔と使用されるトラツク間隔との差）（0.033
mm）に達すると非常に問題である。

精度を向上させるという、さらに考えられる改
良は、本発明に従つてデイスクを製造する場合の
トラツクの配列精度が完全なものではないという
認識に立脚している。製造における公差は、最も
多くの場合、異なるデイスク間のトラツクの位置
の誤差、およびトラツクの実際の位置の平均値と
設計値との誤差の両者となつて現われる。生産さ
れたデイスクについて、トラツクの実際の位置を
正確に測定することによつて、いろいろなトラツ
クの実際の位置の平均値を表わす一組の測定値が
得られる。実際のデイスクのトラツク位置に非常
に近いこれらの測定値は、本発明のデイスクを応
用する際に用いられるコンピユータプログラムの
中で一覧表にまとめられる。これら一覧表になつ
た値を用いることによつて、ヘツドの位置の測定
に関し、設計値が想定される場合よりも、精度の
高い測定値を与えるプログラムを作ることができ
る。

標準でない位置にあるトラツクの数、およびこ
のようなトラツクの各々に対する標準の位置から
の変位量は、本発明に従つてデイスクを設計する
人の目標によつて異なることを認識しなければな
らない。本発明の実施例における構成は、合理的
な分解能を与え、そして、デイスクに対して非常
に大きなエリアを必要としない。すなわち、寸法
“Ｃ”を寸法“Ａ”により近づけることによつて、
高分解能が得られることが分かる。しかし、ヘツ
ドがそれぞれの方向において、精度よく読出しを
することができないトラツクにまで確実に達する
ようにするために、トラツク“PA”の両側には
十分な数のトラツクを設けることが必要である。
大ざつぱに計算すると、各方向において、トラツ
ク“PA”から最も遠いトラツクは、対応する標
準のトラツクの位置からトラツクの全幅だけ離れ
た位置にあることは確かである。例えば、もし、
もつと大きな分解能を得るために、寸法“Ｃ”を
寸法“Ａ”より僅かに0.025mmだけ小さい値に設
定すると、両末端のトラツクのそれぞれの対応す
る標準位置からのずれを１トラツク幅の範囲に納
めるために、トラツク“PA”の各片側に12個の
トラツクが必要となる。同様に、もし、寸法
“Ｃ”を寸法“Ａ”より0.061mmだけ小さい値に設
定すると、トラツク“PA”の各片側に、今度は、
５個のトラツクだけが必要となるが、分解能はそ
れ相応に小さくなる。

寸法“Ｃ”を寸法“Ａ”よりもわずかに小さく
するのでなく、わずかに大きくしても、本発明の
原理には変わりはない。それは、次の点におい
て、余り重要ではない欠点を伴う。すなわち、第
２図に示した実施例において、寸法“Ｃ”を寸法
“Ａ”よりも大きくすることは、寸法“Ｂ”を寸
法“Ａ”よりも小さくしなければならないことを
意味し、そして多分、トラツク２０を完全に取除
かなければならなくなることを意味している。寸
法“Ｃ”が寸法“Ａ”よりも小さい配置において
は、ヘツドとトラツクの位置誤差が大きくなるに
つれて、トラツクとトラツクの干渉が生じる傾向
にあるため、データ転送の誤差は全体の調整誤差
よりもやや小さめに抑えられている。データ転送
誤差がトラツク“PA”を中心として対称である
傾向にあるので、ヘツドの調整に対しては、どの
トラツクが最もヘツドと一致するかどうかという
ことを決定することに実質的な影響を与えるもの
は何もない。しかし、与えられた分解能の状態
で、ヘツドの調整を決定するために必要な標準で
ないトラツク数を減少させることは可能である。

ヘツドの調整テストが、標準でないトラツク間
隔によつて決まるようなトラツクのグループは、
正しく位置決めされたヘツドの位置に対応する位
置にあるトラツク（基準トラツク）のまわりに分
布されなければならない。しかし、それらは、内
側に分布する必要はなく、セクタ５２の中にある
限り、デイスク５０のどの部分に分布していても
よい。

本発明は、当該最良の実施例によつて説明され
てきたが、ここに開示されたものに限定されるも
のでないことは理解されるであろう。当該技術に
精通している人が前記開示された内容を読めば、
いろいろな変更や改良がなされることは明らかで
ある。従つて、追加された特許請求の範囲は、本
発明の思想および範囲内にあるすべての改変およ
び改良を網羅するように記述されている。

【図面の簡単な説明】

第１図は、磁気データ記憶のフレキシブルデイ
スク（フロツピイデイスク）の平面図の概略であ
り、このようなデイスクへデータを記憶するため
の代表的な構造を示したものである。第２図は、
本発明の最良の実施例に従つて配列されたデータ
トラツクの中心間隔を図式的に拡大して示したも
のである。第３図Ａは、ANS ×3.82−1980に
従つて配列されたトラツク３０からトラツク３９
までのトラツクの位置を図式的に拡大して示した
ものである。第３図Ｂは、本発明の最良の実施例
に従つて配列されたトラツク３０からトラツク３
９までのトラツクの位置を図式的に拡大して示す
とともに、第３図Ａに示された標準のトラツク間
隔との比較を表わしたものである。第４図は、磁
性媒体記憶装置におけるヘツド調整のテストを完
遂させるために、本発明を実施する手順を示した
フローチヤートである。 ００〜３９……トラツク、５０……フロツピイ
デイスク、５２……セクタ、５４……コーテイン
グ、５６……開口、６０……半径方向の直線。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 磁気記録媒体を磁化することによつてデータ
   を記憶する磁気記録媒体５０と、 トランスジユーサの調整に使用される複数のデ
   ータが記憶されている前記磁気記録媒体５０上の
   複数のトラツク００−３９からなり、前記複数の
   トラツク００−３９は、標準位置に正しく配置さ
   れた一つの標準トラツク３０と標準位置にそれぞ
   れ配列されていない複数の非標準トラツク２１−
   ２９，３１−３９とからなる複数の調整用トラツ
   ク２１−３９を少なくとも含み、前記複数の非標
   準トラツク２１−２９，３１−３９のそれぞれの
   実際の半径方向の距離と、標準位置に配列された
   それぞれの対応するトラツクの半径方向の距離と
   の差の絶対値は、前記非標準トラツク２１−２
   ９，３１−３９の各々が、前記標準位置に配置さ
   れている一つの標準トラツク３０から離れるに従
   つて増加することを特徴とするトランスジユーサ
   用調整装置。 ２ 特許請求の範囲第１項のトランスジユーサ用
   調整装置において、 上記磁気記録媒体５０は、 円板５０、磁性材料の被膜５４、および該被膜
   に磁気的に記憶された情報の集合からなり、前記
   被膜は、情報を磁気的に符号化するために、前記
   円板の少なくとも１面に塗布され、前記磁気的に
   記憶された情報は、複数のデータおよび複数のチ
   エツクサムを有するフオーマツト５２に従つて配
   列され、前記データの予め定められた部分とそれ
   に対応するチエツクサムとの間には、該データと
   該チエツクサムとを比較することによつて、該デ
   ータのトランスジユーサのヘツドによる読出し精
   度を知ることができる関係にあり、 前記フオーマツト５２は、前記円板５０上に複
   数の同心円状のトラツク００−３９を有し、該ト
   ラツクの一つ３０は標準位置に正しく配置されて
   いるため、該標準位置に配置された標準トラツク
   ３０の中心線の前記円板５０の中心からの半径方
   向の距離は、正しく調整された前記トランスジユ
   ーサのヘツドが前記標準位置に配置された標準ト
   ラツク３０を読出すために位置決めされたときの
   該ヘツドの中心線の前記円板５０の中心からの半
   径方向の距離に等しく、前記標準位置に配列され
   ていない複数の非標準トラツク２１−２９，３１
   −３９は、前記一つの標準トラツク３０の外側と
   内側の両側に置かれ、かつ、前記複数の非標準ト
   ラツク２１−２９，３１−３９のそれぞれの中心
   線が前記標準トラツク３０の中心線から半径方向
   に変位している距離（寸法ＣのＸ倍）は、それぞ
   れの標準位置の半径方向の距離（寸法ＡのＸ倍）
   とは、所定の量だけ異なるように配列されている
   ことを特徴とするトランスジユーサ用調整装置。 ３ 特許請求の範囲第１項のトランスジユーサ用
   調整装置において、 前記磁気記録媒体５０上の前記複数のトラツク
   ００−３９は、コンピユータが前記複数の調整用
   トラツク２１−３９を利用してトランスジユーサ
   のヘツドの調整をテストするためのプログラムを
   記録したデータトラツク００−２０を含むことを
   特徴とするトランスジユーサ用調整装置。 ４ 特許請求の範囲第１項のトランスジユーサ用
   の調整装置において、 前記磁気記録媒体５０上の前記複数のトラツク
   ００−３９は、前記記録媒体５０の駆動装置の毎
   分当りの回転数RPMをテストするための情報を
   記録したデータトラツク００−２０を含むことを
   特徴とするトランスジユーサ用調整装置。 ５ 特許請求の範囲第２項のトランスジユーサ用
   調整装置において、 前記円板５０上の複数のトラツク００−３９
   は、複数のプログラムトラツク００−２０を含
   み、前記プログラムトラツクはそれぞれ正しく標
   準位置に配置され、かつ、コンピユータが前記複
   数の調整用トラツク２１−３９を利用してトラン
   スジユーサの調整のテストをするための磁気的に
   符号化されたプログラムを記録し、 これにより、トランスジユーサが前記複数の調
   整用トラツク２１−３９からデータを正しく読出
   すことができるかどうかをテストすることにより
   トランスジユーサの調整を評価することを特徴と
   するトランスジユーサ用調整装置。